「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 106 107 108 109 110 111 112 113 114 .... 135 136 次へ＞- Apparatus for testing an opto-switch includes a first sense resistor coupled between a power source and an input of the opto-switch, and a second sense resistor coupled to an output of the opto-switch.
光スイッチをテストする装置は、電源と光スイッチの入力部との間に接続する第１の検出抵抗器と、光スイッチの出力部に接続する第２の検出抵抗器とを含む。 - 特許庁 - The biosubstance-inspecting device is constituted by separating chip components for individual testing specimens each loading reagents/solution-sending elements, and control/detection components as inspection main bodies.
本発明の生体物質検査デバイスは、試薬類・送液系用のエレメントを搭載した、検体ごとのチップコンポーネントと、検査デバイス本体として、制御・検出コンポーネントとを別個にするシステム構成である。 - 特許庁 - To provide an emergency operation controller capable of easily testing the emergency operation of each elevator in its actual installation environment when the elevator is simply tested for emergency operation.
管制運転の試験をエレベーター毎に簡単に実施するにあたり、エレベーター毎に簡単に実設備環境下で管制運転の試験を行うことが可能な管制運転制御装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of finding a gene-testing system for identifying animals and food products.
本発明は、動物及び食品の完全な追跡可能性を保証する遺伝子検査システムに関するものであり、データ収集、記録管理及び検索目的で動物を唯一のものとして同定する方法を含む。 - 特許庁 - To provide a material testing machine capable of preventing damages of an upper cross head or a table and a lower cross head by collision even when a limit switch for collision prevention is omitted.
衝突防止用のリミットスイッチを省略した場合においても、上部クロスヘッドまたはテーブルと下部クロスヘッドとが衝突により損傷することを防止することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a hardness testing machine for ensuring accurate test-force holding time by sensing the moment a test force is exerted completely on a sample and the instant, when the test force is removed from the sample.
試験力が完全に試料へ加わった瞬間の感知、及び、試験力が試料から除かれた瞬間の感知をすることにより、正確な試験力保持時間を確保する硬さ試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a material testing machine for reducing power consumption by a servo amplifier or a servo motor in a non-operation time when a material test or an operation relating to the material test is not executed.
材料試験または材料試験に関連する操作が実行されていない非稼働時に、サーボアンプまたはサーボモータによる消費電力を低減することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁 - A testing method is employed for evaluating a permeation resistance to a permeable substance of every kind such as chloride ions or water with respect to the surface impregnation material applied to the surface of an inspection target such as reinforced concrete or the like.
鉄筋コンクリート等の被検査物の表面に塗布される表面含浸材に対する塩化物イオンや水等の各種透過物に対する透過抵抗を評価する試験方法である。 - 特許庁 - To provide a travel testing device for vehicles having multiple power sources whose driving source has a battery as an energy source, performing mode driving evaluation while changing a driving condition of the driving source.
駆動源がバッテリーをエネルギー源とする複数の動力源を持つ車両の走行試験装置として、駆動源の運転条件を変化させながらモード運転評価を可能とするものが要望されている。 - 特許庁 - To provide a load test apparatus and a method of load testing for safely removing a load after reaching the maximum load, without destroying a test specimen, even with respect to specimen having a flexible structure.
柔な構造をした供試体に対しても、最大荷重に達した後の除荷が供試体を破壊することなく安全に行える荷重負荷装置および荷重負荷試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a tape for wafer processing that has good sensor recognition properties, and also has good productivity and testing accuracy, even if an adhesive layer is thin (≤10 μm), and to provide a method of manufacturing the same.
接着剤層が薄い（１０μｍ以下）場合であっても、センサ認識性が良好であり、生産性や検査精度が良好であるウエハ加工用テープ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a tether cable capable of accurately performing nondestructive testing on the buckling or disorder of array of a power line or a tensile strength body, easy to be manufactured, and capable of being non-destructively tested for its whole length.
動力線と抗張力体の座屈や配列の乱れを正確に非破壊検査でき、製造が簡単でありテザーケーブルの全長にわたって非破壊検査が可能なテザーケーブルを提供する。 - 特許庁 - To provide a biological substance test device, particularly to provide a microreactor for testing biological substances enabling multi-item test in high reliability by changing a loaded probe as appropriate, and to provide a related device.
生体物質検査デバイス、特に搭載するプローブを適宜変更することにより多項目検査を高い信頼性で可能とする生体物質検査用マイクロリアクタおよびデバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.
検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁 - This invention relates to the method for producing a growth medium testing sheet comprising a step printing a plurality of growth spots 10 on the surface of a substrate by coating droplets of a growth medium on the substrate 12.
基板上１２に増殖培地の滴を付着させることによって、基板の表面上に複数の増殖スポット１０をプリントするステップを含む、増殖培地検査シートを製造する方法。 - 特許庁 - To provide a bioassay apparatus for testing an adhered organism-preventing method using chlorine, which can improve repeatability in the adhesion test, is inexpensive, and can easily be handled, and to provide a test method.
塩素を利用した付着生物防止方法を試験する装置において、該付着試験における再現性を向上させ、安価にかつ取り扱い容易な試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a device and method for testing cracking of a power generation cell in which a cracking test of a circular flat plate type power generation cell is performed under the same temperature condition as that of an actual fuel cell stack.
円形平板型の発電セルを、実際の燃料電池スタックと同じ温度条件下おいて割れ試験を行うことができる発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device, a high-speed serial controller, and an image processor which don't require preparation of apparatus for error function evaluation when evaluating an error function between connected semiconductors.
接続された半導体間におけるエラー機能評価を行う際に、エラー機能評価を行うための機器類を用意する必要がないテスト装置、高速シリアルコントローラ及び画像処理装置を提供する。 - 特許庁 - A probe card 18 is equipped with a relay 38 for connecting a probe 16A to a voltage source of a tester 14 at the wafer 12 testing time, and grounding the probe 16A at the contact resistance measuring time of the probe.
プローブカード１８は、ウェハ１２の試験時にはプローブ１６Ａをテスタ１４の電圧源と接続し、プローブの接触抵抗測定時にはプローブ１６Ａを接地するリレー３８を備えている。 - 特許庁 - A flexible printed wiring board is used as wiring for transmitting a vibration signal, which is detected by a vibration detector installed to the vibration base in the vibration testing machine, from this vibration detector to another device.
振動試験機の振動台の取り付けられた振動検出器で検出した振動信号を前記振動検出器から他の装置に送信するための配線をフレキシブルプリント基板にする。 - 特許庁 - To provide a portable mobile mold material evaluation system for collecting a minute sample from an actual product structure, processing the minute sample in the field and testing a material.
実機構造物から微小なサンプル試料を採取し、その場で微小なサンプル試料を加工し材料試験を行うことができる持ち運び可能なモバイル型材料評価システムを提供することである。 - 特許庁 - To facilitate production of a test piece so as to provide a friction testing machine and a method thereof for carrying out measurement with good reproducibility by using the test piece requiring no V-shaped notching process.
Ｖ字状切れ込み加工を必要としない試験片を利用することができ、これにより試験片の作製が容易で、再現性のよい計測が可能な摩擦試験機および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a system, method, and program product for interpreting, optimizing, and customizing data mining models through the use of statistical techniques that utilize diagnostic measures and statistical significance testing.
診断尺度および統計的有意性検定を利用する統計技術の使用を通じてデータ・マイニング・モデルを解釈し、最適化し、及びカスタマイズするためのシステム、方法およびプログラム製品を提供する。 - 特許庁 - The base paper for the corrugated cardboard obtained by the method has ≥50 sec smoothness based on J Tappi paper pulp testing method No. 5, and ≥20% glossiness based on JIS-P-8142.
Ｊ Ｔａｐｐｉ紙パルプ試験方法Ｎｏ．５に準ずる平滑度が５０秒以上で、かつＪＩＳ−Ｐ−８１４２に準ずる光沢度が２０％以上であることを特徴とする段ボール原紙。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device and a method capable of improving handleability of a user by mitigating a restriction for connection to a DUT (Device Under Test), and utilizing a resource effectively.
ＤＵＴとの接続上の制約を緩和することにより、ユーザの使い勝手を向上することができるとともにリソースを有効利用することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a spring limit value testing device and an efficient spring limit value measurement method for reducing a sample cost, working man-hours and a working time while securing accuracy of data.
データの正確性を担保しつつ試料コストの削減が図れ、且つ作業工数および作業時間を軽減したばね限界値試験機および効率的なばね限界値測定方法を提供する。 - 特許庁 - The model animal for testing pruritus caused by drying is provided, wherein the glabrous skin of a tested animal is dried and the pruritus is caused by physical stimulation on the glabrous skin.
試験動物の無毛皮膚を乾燥皮膚とし、前記乾燥皮膚に物理的な刺激を与えることにより掻痒が惹起され、乾燥による掻痒を試験するモデル動物を作製できることを見出した。 - 特許庁 - To provide a system for measuring maximum value of applied stress voltage which can determine whether burn-in test of a semiconductor device has been performed under proper conditions or not during the burn-in testing.
本発明は、半導体装置のバーンインテスト時にバーンインテストが適切な条件で実施されたか否かを判断することができる印加ストレス電圧の最大値を測定する装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.
対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁 - To establish a test method eliminating the effect of reduction in conducting a heating test for baked and densified stability evaluation of gadolinia-added uranium dioxide pellets and prevent the increase of testing cost.
ガドリニア添加二酸化ウランペレットの焼きしまり安定性評価のための加熱試験を行う場合に、還元による影響を排除する試験方法を確立すると共に、試験コストの増加を防止すること。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for testing a noise reduction performance of a drainage pavement which tests the noise reduction performance without use of an expensive measuring vehicle in a high S/N ratio in real time.
高価な測定車両を用いることなく、高いＳ／Ｎ比で騒音低減性能をリアルタイムに試験することができる排水性舗装の騒音低減性能試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.
ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing a semiconductor storage device capable of efficiently discriminating a memory cell having disturbance generation possibility and discriminating defective products, and to provide a test program and the semiconductor storage device.
ディスターブが生じる可能性のあるメモリセルを効率よく判定することができ、不良品を判定できる半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus for film thickness unevenness by which thickness unevenness of a film formed on a member may be appropriately tested even when a phase characteristic of light may not be recognized.
部材表面に形成された皮膜の膜厚むらを、光の位相特性を認識することができない場合においても適切に検査することが可能な膜厚むらの検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing the fracture toughness of a thin-walled pipe material which can easily perform a three-point bending test by fixing a holding member to the test piece sampled from the thin-walled pipe material.
薄肉管材から採取した試験片に対し、保持部材を固定することにより、容易に３点曲げ試験を行うことができる薄肉管材の破壊靭性試験方法を提供する。 - 特許庁 - The reactor 20 for power includes an iron-core main leg 24 wound with the testing wiring 26 in the reactor wiring 21, an iron core-side leg 22 and a yoke 23 retained at a common end of each of these legs.
電力用リアクトル２０は、リアクトル巻線２１に試験用巻線２６を巻き込んである鉄心主脚２４と、鉄心側脚２２と、これらの脚の共通の端部に保持される継鉄２３とを備える。 - 特許庁 - To provide a biaxial tensile testing machine for enabling a tensile test in four directions, along two orthogonal axes by a drive means, such as one hydraulic cylinder, and preventing a test piece from being displaced.
１台の油圧シリンダ等の駆動手段によって直交する二軸に沿った四方向への引張試験が可能となり、試験片の位置が変動することがない二軸引張試験装置を提供する。 - 特許庁 - To perform highly accurate quality determination in measurement at high pushing-down speed during a line application time, concerning a quality determination method of a button of an electronic apparatus, a method for manufacturing the electronic apparatus, and an electronic apparatus button testing device.
電子機器のボタンの良否判定方法、電子機器の製造方法及び電子機器ボタン試験装置に関し、ライン適用時に高速の押下速度による測定で精度の高い良否判定を行う。 - 特許庁 - To achieve the size reduction of a power converter testing device for executing a loading test by allowing a power converter to simulate motor behavior instead of using a large motor whose mounting and replacement are troublesome, as a load.
大型で取り付けや交換が面倒なモータを負荷とする替わりに電力変換器にモータの挙動を模擬させて負荷試験を行う電力変換器試験装置の小型化を実現する。 - 特許庁 - To provide a method for testing a semiconductor memory device, which detects a minute defect in an SRAM memory cell without finely controlling a voltage or excessively increasing measuring time.
電圧を細かく制御させることなく、かつ測定時間を極端に増大させることなく、ＳＲＡＭメモリセルの微小欠陥を検出可能な半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a system, method and computer readable medium of instructions, which are useful for determining whether an evaluation testing method or device is clinically equivalent to a reference test method or device.
評価試験方法または機器が基準試験方法または機器と臨床的に等価であるかどうかを判定する際に役立つ、システム、方法、および命令のコンピュータ読取り可能媒体を提供する。 - 特許庁 - To provide a convenient in vitro membrane protein expression system using an inhibitor of drug efflux pump proteins and heterologous cells for testing other drug resistance-relating cell membrane proteins.
薬剤排出ポンプ蛋白質の阻害物質や異なる種由来の薬剤耐性に関連する他の細胞膜蛋白質を試験するための細胞を用いた簡便なin vitro膜蛋白質発現系を提供する。 - 特許庁 - To provide a gamma ray irradiation testing device which carries out a radiation irradiation test, utilizing effectively a radiation emitted from a radioactive waste, using an existing storage facility for the radioactive waste.
既存の放射性廃棄物の保管施設を用いて、放射性廃棄物から放射される放射線を有効利用して放射線の照射試験が行えるガンマ線照射試験装置を提供する。 - 特許庁 - In addition, the parts to be inspected are colored on the prepared layout drawing, and a file 5 of visually-inspected parts specifying drawings for each testing machine is prepared.
更に、試験機別目視検査対象部品一覧３に従って、作成されたレイアウト図上で目視検査の対象となる部品が色塗りされ、試験機別目視検査部品指定図ファイル５が作成される。 - 特許庁 - To provide a strength testing apparatus having a configuration for obtaining the stagnation of work and an experimental result as the result at a work field by achieving the strength experiment at an actual bar arrangement field.
実際の配筋現場での強度実験を可能にすることにより作業の停滞や実験結果を作業現場での結果として得られる構成を備えた強度試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an IC test system for testing IC functioning at high speed in real functioning speed using a general-purpose tester with low functioning frequency without reducing the functioning frequency.
高速動作するＩＣを、動作周波数の低い汎用テスタを用いて、その動作周波数を低減させることなく、実動作速度にて試験を行なうことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a lamp for testing weather and light resistant property capable of reducing estrangement between deterioration due to sunlight including energy of a visible area with 500 nm as a center and a result of the weather and light resistant property test, at the weather and light resistant property test of a sample.
試料の耐候光性試験において５００ｎｍを中心とした可視域のエネルギーを含む太陽光による劣化と耐候光性試験の結果との乖離を低減することができること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method capable of shortening furthermore a time required for a burn-in test, and hereby reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.
バーンイン試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for testing semiconductor device by which the reliability parameters of wiring can be found individually and accurately at conducting of reliability evaluation tests on the wiring in the state of a wafer.
ウェハ状態での配線の信頼性評価試験において、配線の信頼性パラメータを個別にかつ正確に求めることができる半導体装置の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁 - The test kit comprises a liquid impermeable support 12. a test part 13 containing a reagent for testing the humor components, and a treating part 14 which contains a viscosity reducing reagent and into which the humor components permeate.
液体不浸透性の支持体１２と、体液成分検査用試薬を含有する検査部１３と、粘性低減試薬を含有し体液成分が浸透する処理部１４とを有する検査具とする。 - 特許庁
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