「For testing」を含む例文一覧(6759)

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  • To provide a pattern control device for a game machine, for which the variable configurations of patterns of a pattern display means can be easily and inexpensively changed, and at the same time, the inspection can be easily performed at the time of an inspection after a change at a testing organization or the like.
    図柄表示手段の図柄の変動態様を容易且つ安価に変更できると共に、検定機関等での変更後の検査に際してもその検査を容易にできる遊技機の図柄制御装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an SRAM device having a configuration for effectively detecting a product, which is small in noise margin and has possibility to cause a malfunction in a market, and the defective connection of one of a pair of read-out bit lines, and to provide a method for testing the SRAM device.
    ノイズマージンが小さく市場で誤動作をする可能性が高い物や、読み出しビット線対の片側の接続不良を有効に検出するための構成を有するＳＲＡＭ装置とそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for setting up a system of a coloration type inspection chip analyzer adapted to modify parameters and testing conditions to improve the adaptability range of the analyzer for coloration type inspection chips of multiple specifications.
    分析装置のパラメータおよび検査条件を変更することにより、分析装置の適用範囲を多種規格の呈色型の検査チップに対して拡張可能な、呈色型の検査チップ分析装置のシステム設定方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for estimating residual magnetic flux of a transformer for estimating residual magnetic flux after testing or inspection, when an onsite test and inspection accompanying the application of a direct-current voltage to a transformer coil are executed.
    変圧器巻線への直流電圧印加を伴う現地試験や点検を実施した場合において、試験や点検後の残留磁束を推定する変圧器の残留磁束推定方法及び残留磁束推定装置を提供する。 - 特許庁
  • When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether or not the data contents of the data ROMs 124-1 to 3 are correct using the read out data and the data for confirmation.
    データチェック用の制御データが設定されると、データＲＯＭ１２４−１〜３に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データＲＯＭ１２４−１〜３のデータ内容が正しいか否かがチェックされる。 - 特許庁
  • The connecting machine for watt-hour meter 10 is a connecting machine for connecting the watt-hour meter 1 provided with a lower external terminals 2 provided under the meter and a profile external terminals 3 provided on the profile side and the electric power side of the testing apparatus.
    電力量計用結線器１０は、下面に設けられた下方外部端子２と側面に設けられた側方外部端子３とを有する電力量計１と、試験装置の電源側とを結線するものである。 - 特許庁
  • To provide a testing device for a semiconductor element wherein the actual temperature of a wafer, etc., is controlled to a set temperature in a heated acceleration test for a silicon wafer, etc., while no dispersion occurs due to the kind, or percent defective of a wafer.
    シリコンウエハ等の加熱加速試験においてウエハ等の実際の温度が設定温度通りに制御することができ、かつ、ウエハ等の種類や不良率によってばらつかないような半導体素子の試験装置を実現する。 - 特許庁
  • To provide a testing device for a control device capable of easily performing rearranging work of a needed test circuit in the case of performing a confirmation test for a control device housed in a control panel and appropriately performing test data collection and decision work.
    制御盤に収納された制御機器の確認試験を行う際に必要な試験回路の組替え作業を容易に行え、試験データの採集や判定作業を適切に行える制御機器試験装置を得ることである。 - 特許庁
  • The IC tester is characteristically constituted of: a memory for storing the test program composed of pass test and fail test; and performing means for controlling the testing part by performing either all of the test program or performing the pass test.
    本装置は、パステストとフェイルテストからなるテストプログラムを記憶する記憶部と、この記憶部のテストプログラムの全実行またはパステストのどちらかを実行し、試験部を制御する実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • To provide an anvil for a hardness testing machine for reducing the irregularity of measurement by attaching a sample support mechanism, which performs measurement even if a measuring person does not lay his hands, to a spot anvil.
    本発明は、測定者が手を添えなくても測定が行える試料支持機構をスポットアンビルに取り付けることにより、測定のばらつきを小さくすることができる硬さ試験機用アンビルを提供することを目的とするものである。 - 特許庁
  • To provide a material testing method for a steel plate for identifying the microstructure configuration of the steel plate and estimating tensile strength, yield strength, and the amount of extension quickly in the manufacture line or offline of the steel plate.
    本発明の目的は、鋼鈑の製造ラインあるいはオフラインにおいて、鋼板のミクロ組織構成を同定するとともに、引張強度、降伏強度、伸び量を迅速に推定可能な鋼板の材質試験方法を提供することにある。 - 特許庁
  • In a reflector element 1 for material testing reactor structured with a box 6, small balls of a reflector material are filled in the gap between the outer wall of the box and a pipe 5 for loading a capsule by controlling filling density.
    筐体６構造になる材料試験炉用の反射体要素１において、該筐体の外壁とキャプセル装荷用パイプ５との間の空隙に、反射体材料の小球体を、その充填密度を調整しつつ充填する。 - 特許庁
  • The tester includes a plurality of cards testing the object under test without combination between cards and including a diagnosis means for performing self-diagnosis and a tester controller for controlling the cards.
    本装置は、カード間の組み合わせなく、被試験対象を試験すると共に、自身の診断を行う診断手段を有する複数のカードと、これらのカードの制御を行うテスタコントローラとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
  • To provide a laser beam machining method and a laser beam machining apparatus for smoothly removing a Low-k film on streets formed on a semiconductor substrate and a metal pattern for testing partially disposed on the street.
    半導体基板に形成されたストリート上のＬｏｗ−ｋ膜およびストリート上に部分的に配設されたテスト用の金属パターンを円滑に除去することができるレーザー加工方法およびレーザー加工装置を提供する。 - 特許庁
  • The plurality of optical micro plugs allow for the micro well plate to be integrated with macro analytical instrumentation for the analysis, examination, and/or testing of chemicals, reagents or samples provided within the vertical well reaction chamber openings.
    複数の光学的マイクロプラグは、マイクロウェルプレートを、垂直方向のマイクロウェル反応チャンバ開口部内に準備された化学物質、試薬又はサンプルを分析し、調べ、及び／又は検査するためのマクロ分析機器と組み込むことを可能にする。 - 特許庁
  • Each standard project has one classpath per project, but you can configure different versions of the classpath for testing, running,and debugging.The classpath for free-form projects is controlled by the Ant script and can therefore be complex.
    標準プロジェクトの場合は、プロジェクト 1 つにクラスパス 1 つですが、テスト、実行、デバッグのそれぞれに異なるバージョンのクラスパスを設定することができます。 自由形式のプロジェクトのクラスパスは、Ant スクリプトで制御するため複雑になることがあります。 - NetBeans
  • To provide a manufacturing method for a semiconductor device capable of realizing the cost reduction of an electrical characteristic test and that of a product by using existing test jigs and testing devices, and provide a carrier used for it.
    既存の試験治具や試験装置を流用することによって電気的特性試験のコストダウン、さらには製品のコストダウンを実現することができる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるキャリアを提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing vibration that substitutes a small mechanical piston cylinder for an electro-dynamic vibration tester of a vibration generation source and uses compressed air capable of easily generating a large excitation force, as power, and a device therefor.
    振動発生源である動電型振動試験機の代わりに、小さな機械系ピストンシリンダを用い、大きな加振力を簡単に発生できる圧縮空気を動力とする振動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a tool reduced in the number of required part items used for a test, and excellent in attachability to a tube fitting in the test, as to the tool for testing the airtightness or watertightness of a tube fitting base body.
    本発明は、管継手基体の気密又は水密試験のための治具に関するものであり、試験のために用いられるに必要な部品点数が少なく、試験時には管継手に対して装着性のよい治具を提案するものである。 - 特許庁
  • To provide a method and device for evaluation-testing exactly heat resistance, durability and the like of a heat-resistant tubular member used for a diesel engine or a gasoline engine, irrespective of types of the engines, without waiting completion of the engine.
    エンジンの完成を待つことなく、エンジンの種別に関係なくディーゼルエンジンまたはガソリンエンジンに用いられる耐熱管状部材の耐熱性、耐久性等を的確に評価試験できる試験方法および試験装置を得る。 - 特許庁
  • For those seeking employment in Germany, a labor market testing system has been adopted where in a work permit is issued according to the status and dynamics of the labor market, based on the Employment Promotion Act and the Work Permit Ordinance. The employment office in the area of the company planning to hire workers recruits for four weeks.
    ドイツ国内で雇用されることを希望する者は、原則、雇用促進法及び労働許可令に基づき、労働市場の状況と動態に応じて労働許可がなされる労働市場テスト制を採っている。 - 経済産業省
  • To provide a testing unit and a testing apparatus of conduction machine, capable of implementing correctly position adjusting of the output side for a conduction machine without misalignment to axial direction and also intercepting vibrations and noises from driving source and load by establishing a sound insulation wall between a driving source and a load and the conduction machine.
    伝導機に対して出力側の位置調整を軸方向に位置ずれしてしまうことなく正確に行うことが可能であるとともに駆動源及び負荷と伝導機との間に遮音壁を設けることで駆動源及び負荷からの振動及び騒音を遮断することが可能な伝導機の試験ユニット及び試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Article 61 (1) Those who wish to consider the Operation Manager Examination or to be granted the issuance or reissuance of the Operation Manager Qualification Certificate shall pay the commission in the amount prescribed by the Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism by taking into consideration of the actual cost to the State (for those who wish to consider the examination by the designated testing agency, the said designated testing agency).
    第六十一条　運行管理者試験を受けようとする者又は運行管理者資格者証の交付若しくは再交付を受けようとする者は、実費を勘案して国土交通省令で定める額の手数料を国（指定試験機関が行う試験を受けようとする者にあっては、当該指定試験機関）に納めなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The device 4 has a first cylindrical member 24 having the testing chamber 26 therewithin and having an upper surface opened so as to open the testing chamber 26 to the exterior, a first piston member 23 inserted from the opening of the cylindrical member 24 and capable of moving in close contact therewith, and a first cylinder device 16 for advancing or retreating the piston member 23.
    高圧装置４は、高圧試験室２６を内部に有し、高圧試験室２６を外部に開放するように上面が開口された第１筒状部材２４と、第１筒状部材２４の開口から密接状態で移動自在に内挿された第１ピストン部材２３と、第１ピストン部材２３を進退移動させる第１シリンダ装置１６とを有している。 - 特許庁
  • A water outlet 61e formed on an uppermost part of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 is communicated to a water testing port 66 for confirming the circulation of the cooling water by the operation of the cooling water pump 46, whereby the air retained inside of the exhaust manifold cooling water jacket JM2 can surely be discharged from the water testing port 66.
    排気マニホールド冷却ウオータジャケットＪＭ２の最上部に設けた水出口６１ｅを、冷却水ポンプ４６の作動による冷却水の循環を確認する検水口６６に連通させることで、排気マニホールド冷却ウオータジャケットＪＭ２の内部に滞留したエアを前記検水口６６から確実に排出することができる。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.
    本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a tester and a testing device for judging uniformity of an insulation film that do not damage a normal insulation film part, easily specify a failure position, sufficiently take measures against a residual charge effect and an absorbing phenomenon, and do not generate a malfunction to electrical noise, and are suitable as a tester and a testing device on a line.
    正常な絶縁皮膜部分を破壊することなく、不良個所の特定が容易であり、残留電荷効果・吸収現象に対する対策が十分に施され、また、電気的ノイズに対して誤動作が生ぜず、ライン上の試験器、試験装置として好適な絶縁皮膜均一性判定試験器および試験装置を安価に提供する。 - 特許庁
  • This is an initial setting apparatus for a fire detector, and while the fire detector is connected by a connector 6, a data acquisition part 16 makes the fire detector 3 perform the monitoring operation and testing operation and receives the photodetection signal outputted from a detection sensor as a result to obtain data characteristic of the detector needed to decide a fire and perform the testing operation.
    火災検知器の初期設定装置であって、コネクタ６による火災検知器の接続状態で、データ取得部１６が火災検知器３に監視動作及び試験動作を行わせ、これに伴って検知センサから出力される受光検知信号を取込んで火災判定及び試験動作に必要な検知器固有のデータを取得する。 - 特許庁
  • The collection capacity testing machine 1 of the mask 2 has a test chamber 100 capable of floating a particulate substance P in air, a suction part 200 capable of attaching and detaching the testing mask 2 in the test chamber 100 and a collection part 600 for collecting the particulate substance P passed through the mask to flow in the suction part 200.
    マスク２の捕集性能試験機１が空気中に粒子状物質Ｐを浮遊させることが可能な試験室１００と、試験室１００の内部で試験用のマスク２を取り付け取り外しできる吸気部２００と、マスクを通過して吸気部２００へ流入した粒子状物質Ｐを捕集するための捕集部６００とを有する。 - 特許庁
  • This semiconductor device 1 having a testing circuit 2 operating at a high speed, internally stores a high speed pattern generating circuit 3 for coverting a low speed test pattern of a reference clock, an input signal and an output expected value signal inputted from the low speed LSI tester into a test pattern of a speed adapted to the testing circuit 2 operating at a high speed.
    高速動作する試験回路２を有する半導体装置１において、低速ＬＳＩテスター１２から入力する基準クロック，入力信号及び出力期待値信号の低速テストパターンを、高速動作する試験回路２に適応する速度のテストパターンに変換するための高速パターン発生回路３を内蔵したものである。 - 特許庁
  • To obtain a testing agent for dental plaque dyeing which utilizes the advantages of both liquid type and tablet type testing agents while eliminating their defects pointed out, is hygienic and easily handleable without causing troubles of staining clothes or faces when in use and also makes it possible to quickly and surely perform even the dyeing of children dental plaque.
    液状タイプの検査薬と錠剤タイプの検査薬に指摘される欠点を解消しつつ両者の利点を生かし、衛生的で且つ取扱いが簡便で、使用時に衣服や顔面を汚すといった問題を生じること無く、しかも児童などに対しても歯垢の染色を迅速且つ確実に行なえる様な歯垢染色用検査薬を提供すること。 - 特許庁
  • In this testing method for testing a short circuit in the connecting end 2 of the semiconductor electronic device arranged inside a housing 1 and fixed on the conductor board, the level of each connecting end 2 is set to a level different from that of the adjacent connecting end at least once, and current inflow of the semiconductor electronic device is monitored while the respective connecting ends are set.
    ハウジング１内に配置され，導体板上に固定される半導体電子デバイスの接続端２の短絡を検査する方法であって，−各接続端２のレベルを，少なくとも一度，隣接する接続端と異なるレベルにセットし；かつ−各接続端２のセット間に，半導体電子デバイスの電流流入が監視される。 - 特許庁
  • To provide an optical disk device control program capable of obtaining an optimum write setting value by testing recording quality and adding a user's arrangement to the obtained write setting value by allowing a user to set conditions, or the like for testing the recording quality and calculating the write setting value, and to provide a host computer therefor.
    記録品位テストを行うことで、より最適な書き込み設定値を求めることができ、なおかつ、ユーザーの手によって、記録品位テストや書き込み設定値の算出の条件等を設定できることで、求められる書き込み設定値にユーザーのアレンジを加えることができる、光ディスク装置制御プログラムおよびホストコンピュータを提供する。 - 特許庁
  • However, in particular fields, such as drug products, it takes a long time to conduct the testing and examinations etc. that are necessary for gaining the legally-mandated approvals etc. prescribed by the laws that are intended to ensure the safety of those products, which gives rise to the problem that while such testing and examinations are being conducted inventors cannot enjoy the benefits of the exclusive rights that they hold.
    しかしながら、医薬品等一部の分野では、安全性の確保等を目的とする法律の規定による許可等を得るにあたり所要の試験・審査等に相当の長期間を要するため、その間はたとえ特許権が存続していても権利の専有による利益を享受できないという問題が生じている。 - 特許庁
  • This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.
    本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a magnetic head for testing capable of generating a surface state equal to the surface state of a magnetic head after long time operation in a short time and with sufficient reproducibility so that evaluation of influence of the magnetic head to which a lubricant adheres by long time operation is efficiently performed and to provide a testing method using the same.
    長時間稼動により潤滑剤が付着した磁気ヘッドによる影響の評価を効率的に行うべく、長時間稼動後の磁気ヘッドの表面状態と同等の表面状態を短時間で再現性良く発生させることのできる試験用磁気ヘッドの製造方法及びこれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method and a test apparatus for testing integrated-circuit technology and, to be more precise, provide a probe card constituted in such a way as to reduce crosstalk between probes of a probe card.
    集積回路技術をテストするためのテスト方法及びテスト装置、さらに詳しくは、プローブカードのプローブ同士の間におけるクロストークを減少させるように構成されたプローブカードを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a board-mounted component and a mounting method therefor which is applied, for example, to a wireless LAN module, design and manage easier than the conventional types and simplify testing facility.
    本発明は、基板実装部品及び基板実装部品の実装方法に関し、例えば無線ＬＡＮモジュールに適用して、従来に比して設計、管理が容易で、かつ検査設備を簡略化できるようにする。 - 特許庁
  • The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.
    検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁
  • Settings and control for realizing this reproduction are automatically carried out by the testing control apparatus 44 using predetermined setting information 45a, 45b, 45c and control information 47a, 47b and 47c.
    この再現を行うための設定および制御を、予め定められた設定情報４５ａ，４５ｂ，４５ｃおよび制御情報４７ａ，４７ｂ，４７ｃを用いて試験制御装置４４により自動で行う。 - 特許庁
  • A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.
    透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、ＬＥＤチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してＬＥＤチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁
  • To provide a governor rope lifting tool enabling to conduct lifting work of a governor rope easily and securing safety of an operator, and a device for testing an elevator governor capable of conducting a test of the elevator governor accurately.
    業者の安全性が確保でき、かつ容易にガバナロープの引上げ作業が行えるガバナロープ引上げ治具及び精度良くエレベータ調速機の試験が行えるエレベータ調速機試験装置を提供する。 - 特許庁
  • It is further measured whether or not the selected testing material causes immature chromosomal condensation in a culture cell phased to a specific stage of a cell cycle as an additional step for confirmation.
    確認のための追加工程として、選択された被験物質が、細胞周期の特定段階に同調された培養細胞に未成熟染色体凝縮を起こすか否かを測定する。 - 特許庁
  • To shorten the test time of the testing method which tests an address line for a memory device formed on a printed wiring board and to make it easy to find a fault position.
    プリント配線板に形成されているメモリデバイス用のアドレス線をテストするアドレス線のテスト方法に関し、テスト時間の短縮化と、故障個所の発見の容易化とを図ることができるようにする。 - 特許庁
  • To provide a spindle stage for testing a magnetic head which can perform highly accurate servo following by an inexpensive VCM mechanism without using a piezoelectric element and a magnetic head which can perform automatic loading/unloading device.
    ピエゾ素子を使用せずに、安価なＶＣＭ機構により高精度なサーボフォローイングが可能な磁気ヘッド試験用スピンドルステージおよび磁気ヘッドを自動着脱できる磁気ヘッド自動着脱装置を提供する。 - 特許庁
  • The testing device includes a towing face, the first support body constituted to support the towing face while allowing rotation of the towing face, and a driving mechanism for rotating the towing face.
    試験装置には、牽引面、牽引面の回転を可能としながらその牽引面を支えるように構成された一番目の支持体、および当牽引面を回転させるための駆動機構が含まれる。 - 特許庁
  • The cylindrical roller bearing 3 is provided for testing between the inner circumference surface of a movable housing 4 arranged around the intermediate part of the rotation axis 2, and the intermediate part peripheral surface of this rotating axis 2.
    上記回転軸２の中間部周囲に配置した可動ハウジング４の内周面とこの回転軸２の中間部外周面との間に、供試軸受である、上記円筒ころ軸受３を設ける。 - 特許庁
  • The monitor/method also has a control part for emitting the light signal with the second condition applied, from the testing device, when the attenuation amount determining part determines the presence of the terminal device of which the reflected light intensity is attenuated.
    また、反射光強度が減衰している終端装置があると減衰量判定部が判定した場合に、第２の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁
  • The fire detector 24 operated by an environmental factor in fire is provided on the elevator shaft 1, and a testing means 25 for tentatively generating the environmental factor in fire is provided on an elevating body 2.
    火災時の環境要因によって動作する火災検出器２４を昇降路１に設け、また火災時の環境要因を試験的に発生する試験手段２５を昇降体２に設ける。 - 特許庁
  • To provide an operational test apparatus for a USB interface capable of testing an operation of the USB interface solely by an electric device, without using a specific additional test apparatus.
    ＵＳＢインターフェースの動作試験を実施するに際して、特別な付加的試験装置を用いることなく、当該電子機器単独で実施することが可能なＵＳＢインターフェースの動作試験装置を提供する。 - 特許庁
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