「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 108 109 110 111 112 113 114 115 116 .... 135 136 次へ＞- The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.
ピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験を実行可能なピックアップ装置１，２，３，４の試験機３００であって、複数のピックアップ装置１，２，３，４の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁 - To provide a device and method for precisely evaluating the hydrogen embrittlement of a thin steel sheet by loading the thin steel sheet with stress while charging hydrogen by improving a conventional stress corrosion testing machine of a thick steel sheet.
従来の厚鋼板の応力腐食試験装置を改良し、水素チャージしながら応力を負荷して、薄鋼板の水素脆化を精度良く評価するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - The kit for testing bladder cancer contains a primer capable of efficiently amplifying a gene polymorphism site-containing region present in the ABO-type blood group gene in the No.9 chromosome.
本発明に係る膀胱癌検査キットは、９番染色体のＡＢＯ式血液型遺伝子に存在する遺伝子多型部位を含む領域を効率的に増幅できるプライマーを含んでいる。 - 特許庁 - To provide an optical pulse testing device for accurately analyzing events in a short time when simultaneously displaying waveform of loss distribution characteristics and analysis result of the events appearing on the waveform.
損失分布特性の波形と波形上に現れるイベントの解析結果を同時に表示する場合に、短時間で精度よくイベントの解析を行うことが出来る光パルス試験器を実現する。 - 特許庁 - The system and the apparatus include a simultaneous code checker for testing the error in an encoded data packet through a static characteristic of a data packet and a dynamic characteristic of a data stream including a packet.
システム及び装置は、データパケットの静的特性及びパケットを含むデータストリームの動的特性を通じて符号化済みデータパケット内のエラーを検査するための同時コードチェッカーを含むことができる。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor device capable of detecting an open failure without increasing a test cost, a semiconductor tester for testing this semiconductor device, and a semiconductor test system using this semiconductor tester.
テストコストを増大させることなく、オープン不良を検出することができる半導体装置、これを試験するための半導体テスタおよびこの半導体テスタを用いた半導体テストシステムを実現する。 - 特許庁 - To provide a laser beam machining method capable of smoothly removing a low-k film on streets formed on a semiconductor substrate and metallic patterns for testing partially disposed on the streets.
半導体基板に形成されたストリート上のＬｏｗ−ｋ膜およびストリート上に部分的に配設されたテスト用の金属パターンを円滑に除去することができるレーザー加工方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus capable of facilitating the measurement of pattern execution time performed for shortening test time and performing off-line measurement through the use of a simulator and to provide the simulator.
テスト時間を短縮するために行うパターン実行時間の計測を、従来より容易に計測でき、更にシミュレータを用いてオフラインでも計測できる半導体試験装置及びそのシミュレータを提供する。 - 特許庁 - The test method comprises a step of varying a threshold voltage which is used for judging a logic level of a signal in a cell in a semiconductor integrated circuit, only when testing the semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路内のセルにおいて信号の論理レベルを判定するのに用いる閾値電圧を、半導体集積回路の試験時にのみ変化させるステップを含むように構成する。 - 特許庁 - To improve the reproducibility of a target waveform signal by compensating for the reactive force of a specific frequency component received from a sample, in a vibration-testing apparatus that conducts shaking test on a structure.
構造物の加振実験を行う振動試験装置において、供試体から受ける特定の周波数成分の反力を補償することで、目標波形信号の再現性を向上させる。 - 特許庁 - To surely detect overshoot and undershoot and accurately measure peak voltages thereof in a device for testing a semiconductor having a voltage generation circuit the output voltage of which is changed stepwise.
出力電圧がステップ状に変化する電圧発生回路を有する半導体試験装置において、オーバシュート及びアンダーシュートを確実に検出し、かつそのピーク電圧を精密に測定する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method capable of manufacturing a semiconductor device having fine pitch electrodes, and including a process for testing a number of semiconductor devices in a batch processing.
ファインピッチの電極を有する半導体デバイスの製造が可能であり，多数の半導体デバイスを一括して試験することが可能な工程を含む半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - When the design is directly performed on the MPLD, restriction of the compatible UPLD is taken into account when the user intends that the design is migrated to the UPLD for testing.
設計が直接ＭＰＬＤ上でなされる場合には、その設計を試験のためにＵＰＬＤに移行することをユーザーが意図するときに、互換性を有するＵＰＬＤの制約が考慮される。 - 特許庁 - The definitions of R50, R51 and R52 correspond to those of Acute 1, Acute 2 and Acute (GHS classification). However, the former differ from the latter in that Crustacea refers to Daphnia only, and that the testing time for algae is fixed at 72 hours.
Ｒ５０、５１、５２の定義はそれぞれGHSの急性１、２、３に対応するが、甲殻類がミジンコ類に限られていること、藻類の試験時間が７２時間のみに決められていることがGHSと異なる。 - 経済産業省 - The method for testing radioactive substances in food, which has been stipulated in Article 4-4 of the Notice to be provided separately, is provided in the Annex, so please be thoroughly informed of this and advise all parties concerned accordingly.
施行通知中、第４の４において示すこととしていた食品中の放射性物質試験法について、別添のとおり定めることとしたので、関係者への周知方よろしくお願いする。 - 厚生労働省 - To provide a tracking function automatic generation system of a process control which realizes creation of a tracking function program, decreasing number of man-hours for testing, leveling of a generation program level and improvement of maintenanability of an automatic generation program.
トラッキング機能プログラムの製作、試験工数削減、作成プログラムレベルの平準化、自動生成プログラムの保守性向上を実現したプロセス制御のトラッキング機能自動生成システムを得る。 - 特許庁 - A pair of feeble pulses for testing and an intensive single pulse preceding this pair by an interval on the order of microseconds, are generated inside the DME device through the use of an attenuator 40 using a high-speed PIN switch.
高速ＰＩＮスイッチを用いた減衰器４０により、試験用の微弱なパルスペアと、これにマイクロ秒オーダで先行する強大なシングルパルスとをＤＭＥ装置内部で生成することが可能になる。 - 特許庁 - To provide a low cost testing arrangement for Doppler radar systems capable of reducing interference caused by disturbance, reducing its circuit scale, and moreover generating a signal of a frequency whose Doppler shift has been carried out with high precision.
外乱による干渉を低減し、かつ回路規模を小さくすると同時に精度の良いドップラシフトした周波数の信号を生成する低コストのドップラレーダ装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor element testing apparatus capable of improving test efficiently and reducing manufacturing costs by generating a constitution, which has been used for generating timing in a conventional apparatus, only by a time delay.
従来装置においてタイミング生成のために使用した構成を時間遅延だけで生成し、テスト効率及び製造コストを低減することができる半導体素子のテスト装置を提供する。 - 特許庁 - A deleted inspection point index calculating part 111 calculates deleted inspection point index information 123 reflected with an index expressing easiness for testing an inspection point based on circuit information 121 and inspection point information 122.
削除検査点指標計算部１１１は、回路情報１２１と検査点情報１２２から、検査点のテスト容易性を表わす指標を反映した削除検査点指標情報１２３を計算する。 - 特許庁 - The comparison score calculating means 11, an LLR measuring section 14 and a threshold identifying section 16 perform hypothesis testing for each object, and output an identification result to which object each time-series data belongs to.
比較スコア算出手段11、LLR測定部14および閾値識別部16は、各オブジェクトについての仮説検定を行い、各時系列データがどのオブジェクトのいずれに属するかの識別結果を出力する。 - 特許庁 - To provide a program test program, program test method, and program test device for testing a program capable of easily, quickly, uniformly, and efficiently preparing highly precise test results.
本発明は、番組の考査を行う番組考査プログラム、番組考査方法および番組考査装置に関し、精度の高い考査結果を簡易、迅速かつバラツキなく効率的に作成することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device that is capable of executing, at high frequencies, a disturb test which requires a long time for testing, when a burn-in tester which can supply only clocks with low frequencies is used.
低周波数のクロックしか供給できないバーンインテスタを用いた場合であっても、テストに長時間を要するディスターブテストを、高周波数で実行可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To efficiently compare analysis results of incidents in a wide area network and characteristics of respective malwares to obtain correlations between them, by creating a method for precisely testing similarity between sequence data.
系列データ間の類似性を高精度に検査する手法を創出し、それによって広域ネットワークにおけるインシデントの解析結果と、各マルウェアの特性とを効率よく比較し、両者の相関を得ること。 - 特許庁 - In addition, the National Institute of Advanced Industrial Science and Technology provided radiation measuring equipment and sent experts for radiological testing of industrial products in Fukushima.
また、独立行政法人産業技術総合研究所では、福島県で行われている鉱工業製品の放射線量検査に対し、放射線測定機器の貸出しや専門家派遣等の支援をしている。 - 経済産業省 - To provide a pattern generating device for testing a memory which can access a memory to be tested having an address region being in relation of 2n or more without generating a needless address other than the region.
２^n以上の関係にあるアドレス領域を持つ被試験メモリに対して、その領域以外の無駄なアドレスを発生させることなく、アクセスすることができるメモリ試験用パターン発生装置を提供する。 - 特許庁 - To provide means for improving the arrangement density of pads and preventing missing of a passivation film, using a probe which is used in electrical testing, in a method of manufacturing a pad and a semiconductor device.
パッドと半導体装置の製造方法において、パッドの配置密度を向上させると共に、電気的試験で使用されるプローブによってパシベーション膜が欠損するのを防止する手段の提供。 - 特許庁 - ?for example, by convincing governments to require elaborate RFI testing on computers, or by creating `consensus' standards which are so complex that they cannot be implemented effectively from scratch without large resources.
——たとえば政府に対し、コンピュータに入念な RFI テストを義務づけさせたり、ポケットが深くない限り、複雑すぎて1から実装するのが実質的に不可能な「合意に基づく」規格を作ったりするわけだ。 - Eric S. Raymond『ノウアスフィアの開墾』 - To provide a semiconductor-testing device for improving the degree of design freedom and reducing manufacturing costs of a probe card, or the like by enhancing the degree of freedom for correlating a comparator for comparing a signal from a DUT with a prescribed expectation value to a fail memory for storing fail information, namely the comparison result.
ＤＵＴからの信号と所定の期待値との比較を行う比較器とその比較結果であるフェイル情報を記憶するフェイルメモリとの対応付けの自由度を高め、これによりプローブカード等の設計自由度の向上及び製造コストの削減を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - The drop testing apparatus comprises a clamp mechanism for locking a rope when the steel ball is pulled up to a specific height by a rope, and a locking mechanism for pushing the rope between the rollers to the roller side for preventing the second collision when a clamp mechanism cancels locking and the steel ball drops on the object for rebounding.
鋼球をロープで所定高さに引き上げたときに当該ロープをロックするクランプ機構と、クランプ機構がロックを解除して鋼球が被試験体上に落下して跳ね返ったときにローラの間にあるロープを当該ローラ側に押し込んで引き上げ、２度衝突を防止するロック機構とを備えた落下試験装置である。 - 特許庁 - This horizontal balancing machine 10 for testing a balancing condition of a body W to be tested when rotating the body W is provided with a support part 1 for supporting the body W to be tested, a driving means for rotating the body W to be tested, and the belt 3 for transmitting driving force of the driving means to the body W to be tested.
被試験体Ｗを回転させたときの被試験体Ｗの釣合い状態を試験する横型釣合い試験機１０は、被試験体Ｗを支持する支持部１と、被試験体Ｗを回転させる駆動手段と、駆動手段の駆動力を被試験体Ｗに伝達するベルト３と、を備えている。 - 特許庁 - An apparatus for testing an array includes a guide member for movably supporting the plurality of supporting plates and a driver for moving the plurality of support plates to adjust an interval between the supporting plates, and includes a plate moving unit for moving at least one of the plurality of support plates.
複数の支持プレート間の間隔を調節するために、それら支持プレートを移動可能に支持するガイド部材及び複数の上記支持プレートを移動させる駆動装置を備えて、複数の上記支持プレートのうち少なくとも一つの該支持プレートを移動させるプレート移動ユニットを備えて、アレイテスト装置を構成する。 - 特許庁 - In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.
２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁 - g) The national government shall request that the Hepatitis Information Center, National Center for Global Health and Medicine (hereinafter referred to as the Hepatitis Information Center) conducts training for hepatitis testing and treatment, based on the latest information and knowledge, for health care workers who are supervisors in regional core centers, based on the midterm goal and plan of the National Center for Global Health and Medicine.
キ 国は、肝炎医療費助成制度、高額療養費制度、傷病手当金、障害年金等の肝炎医療に関する制度について情報を取りまとめ、地方公共団体と連携を図り、拠点病院の肝疾患相談センターを始めとした医療機関等における活用を推進する。 - 厚生労働省 - A test apparatus for testing vibration characteristics of a tire includes a drum, rotation drive means for rotatably supporting the drum, tire supporting means for rotatably supporting a test tire while bringing the test tire into contact with the outer peripheral surface of the drum at a required ground contact load, and measurement means for measuring a change in axial force of the test tire during the rotation.
ドラムと、このドラムを回転可能に保持する回転駆動手段と、前記ドラムの外周面に試験タイヤを所要の接地荷重で接触させながら該試験タイヤを回転可能に保持するタイヤ保持手段と、前記回転時の試験タイヤの軸力の変動を測定する測定手段とを具える。 - 特許庁 - In the coating device provided with an unwinding unit of the web, an infield unit, one or more coating units, an outfield unit and a winding unit for the web and for coating the moving web, one or more devices for testing to grasp and examine the coating state on the web are provided.
ウェブの巻出しユニットと、インフィールドユニットと、１つ又は複数のコーティングユニットと、アウトフィールドユニットと、ウェブの巻取りユニットとを備え、移動するウェブにコーティングを施すコーティング装置において、ウェブのコーティング状態を把握検査する装置を１つ又は複数備えることを特徴とするコーティング装置。 - 特許庁 - This is the sensitization development testing method for chemicals which includes (a) process to provide a test object for electroorganic reaction, (b) process to mix fluorescent cysteine derivative with the test object provided for electroorganic reaction, and (c) process to determine presence of bound substance by instrumental analysis.
(a)被験物質を有機電解反応に供する工程；及び、(b)蛍光システイン誘導体と、有機電解反応に供した被検物質とを混合させる工程：及び(c)結合物の有無を機器分析により判定する工程：を有する化学物質の感作性発現検定方法。 - 特許庁 - A method for testing a sub-word line drive circuit for receiving a sub-word selection signal supplied through a sub-word selection line includes a technology for supplying a Hi-Z signal and a Hi signal to the sub-word line drive circuit by improved FXT output circuit and FXB output circuit.
サブワード選択線を介して供給されるサブワード選択信号を受けるサブワード線駆動回路のテスト方法において、改良されたＦＸＴ出力回路とＦＸＢ出力回路により、Ｈｉ−Ｚ信号とＨｉ信号をサブワード線駆動回路に供給する技術を含む。 - 特許庁 - A new pollen disease-related gene is provided which consists of a nucleic acid molecule containing a base sequence shown by the formula or a partial sequence thereof, has relation with the cedarn pollen-specific IgE value, and is useful for testing the pollen disease and for screening candidate compounds for treating the pollen disease.
スギ花粉特異的IgE値が異なる複数の被験者から花粉飛散時期前後にＴ細胞を調製し、ディファレンシャルディスプレイ法により遺伝子を検索した結果、スギ花粉特異的IgE値が高値を示す被験者で有意に発現が高い新規遺伝子を単離することに成功した。 - 特許庁 - To eliminate the need for maintenance such as removing molten marks which damage the rear surface of a chip for reducing contact resistance by increasing contact points between a chip electrode and a contact of a testing device and for carrying out tests continuously, when the tests of power semiconductor chips are carried out.
パワー半導体チップの試験を行う際、チップ電極と試験装置の接触子との接触点を増加させて接触抵抗を低下させるとともに、連続して行うため、チップ裏面を損傷させるような溶融痕を除去するなどのメンテナンスを不要とする。 - 特許庁 - This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.
本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁 - To further facilitate adjustment work for evaluation test for rating suitability of a reactor for power, and to test a large-capacity reactor with a relatively small capacity power supply by using a reactor having a configuration previously added with a testing wiring, as well as, a regular reactor wiring.
通常のリアクトル巻線の他に試験用巻線を予め追加した構成のものを採用することにより電力用リアクトルの定格適否の判定試験のための調整作業をより簡易化すると共に、比較的小容量電源で大容量リアクトルの試験を実施できるようにする。 - 特許庁 - This testing device includes one or more substrate receivers for receiving a substrate for display, one or more contact devices, provided with a plurality of contacts pressed to an electrode of the substrate received by the substrate receivers, and a carrying device for carrying the substrate to the substrate receivers and also handing over the substrate.
検査装置は、表示用基板を受ける１以上の基板受けと、該基板受けに受けられた基板の電極に押圧される複数の接触子を備える１以上の接触子装置と、前記基板受けに対し基板を搬送しかつ受け渡す搬送装置とを含む。 - 特許庁 - To provide a testing device, method and program for an exchange controller that can adapt to TCP/IP, decrease the amount of operations for adaptation to different kind of exchanges, adapt to use of a redundancy system and a file transfer protocol, and reduce generating operations for data etc.
ＴＣＰ／ＩＰに対応することができること、異機種交換機への対応作業の作業量を削減することができること、冗長化システム及びファイル転送プロトコルの利用に対応することができること、データ類の作成作業を削減できることを実現できるようにする。 - 特許庁 - An inspection device comprises: at least one socket for mounting an object to be inspected; a plurality of circuit boards each including the at least one socket, for testing the object to be inspected; and a tester head connected electrically to the plurality of circuit boards, for supplying a signal to the object to be inspected.
検査装置は、被検査対象を搭載するための少なくとも１つのソケットと、ソケットを有し、被検査対象を試験するための複数の回路基板と、複数の回路基板と電気的に接続され、被検査対象に信号を供給するためのテスタヘッドと、を備える。 - 特許庁 - The urine testing device comprises a urine-storing cell 8 for storing urine, an emission section 91 for emitting light to urine in the urine- storing cell 8, and a light reception section 71 for receiving light, that has passed the urine and comes from the emission section 91.
尿を貯める貯尿セル８と、前記貯尿セル内８の尿に発光する発光部９１と、尿を通過した発光部９１からの光を受光する受光部７１とを備え、前記貯尿セル内８で尿中の浮遊固形物質を局在化させて旋光性物質の濃度を判定する。 - 特許庁 - In this material testing machine, a collar 201b for fixing a grip 8 for holding a sample is made rotatable with respect to a body 202, the body 202 is made rotatable with respect to a color 201a having a constant relative position with a cross head 2, and bolts 203a, 203b, 205a, 205b are provided for regulating their rotating angles.
供試体を把持するグリップ８が固定されるカラー２０１ｂをボディ２０２に対して回転可能とし、かつ、ボディ２０２をクロスヘッド２との相対位置が一定なカラー２０１ａに対して回転可能とするとともに、それらの回転角度調整を行わせるボルト２０３ａ，２０３ｂ，２０５ａ，２０５ｂを設けた。 - 特許庁 - This micrcomputer is provided with a flash memory(memory part) 110, a CPU(logical part) 120, a test ROM 130 for storing a test program for testing at least a logic part and recording means 150 and 112 for storing the test result of at least one of the memory part and the logic part as a flag.
フラッシュメモリ（メモリ部）１１０と、ＣＰＵ（ロジック部）１２０と、少なくともロジック部をテストするためのテストプログラムを格納したテストＲＯＭ１３０と、メモリ部とロジック部の少なくとも一方のテスト結果をフラグとして格納可能な記録手段１５０，１１２とを備える。 - 特許庁 - This testing device for the rolling bearing includes a rotating driving means 14 for rotating the outer ring 19 of the rolling bearing 13, and an axial load application unit 16 for applying a load in the axial direction by pressing the axial direction end face of the outer ring 19 of the rolling bearing 13 to the axial direction.
本発明の転がり軸受用試験装置は、転がり軸受１３の外輪１９を回転させる回転駆動手段１４と、転がり軸受１３の外輪１９の軸方向端面を軸方向に押圧してアキシアル方向の荷重を与えるアキシアル荷重付与ユニット１６とを備える。 - 特許庁 - To provide a medicament for treating autoimmune diseases accompanied by faulty MHC (major histocompatibility complex) class I antigen presentation, and to provide a method for determining the predisposition of a mammal for developing an autoimmune disease by testing biological samples from the mammals.
欠陥のあるＭＨＣクラスＩ抗原提示に関連する自己免疫疾患を治療するための医薬および哺乳類からの生物学上のサンプルを試験することにより該哺乳類が自己免疫疾患を発症する素因を有するか否かを決定する方法を提供する。 - 特許庁
- 経済産業省
- Copyright Ministry of Economy, Trade and Industry. All Rights Reserved.
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
- 厚生労働省
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- 日英対訳文対応付けデータ
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- 原題：”Homesteading the Noosphere”
邦題：『ノウアスフィアの開墾』 - This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide.
Eric S. Raymond 著
山形浩生 YAMAGATA Hiroo 訳 リンク、コピーは黙ってどうぞ。くわしくはこちらを見よ。
プロジェクト杉田玄白 正式参加作品。
詳細は http://www.genpaku.org/ を参照のこと。
- 原題：”Homesteading the Noosphere”
