「For testing」を含む例文一覧(6759)
＜前へ 1 2 .... 111 112 113 114 115 116 117 118 119 .... 135 136 次へ＞- To provide a display testing device for displaying images or the like by arranging a great number of pixels such as a liquid crystal display in the form of a matrix, individually modifying the transmittance of each pixel, and setting to switch on/off the respective pixels.
液晶ディスプレイなどの多数の画素をマトリックス状に並べ、各画素の透過率を個別に変更して、それぞれの画素を点灯・消灯を設定し、画像などを表示するディスプレイの試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and a test generation program for testing a buried core efficiently while separating a custom logic section and a buried core section in a semiconductor integrated circuit having a custom logic section and a buried core.
カスタムロジック部と埋め込みコアを有する半導体集積回路において、カスタムロジック部と埋め込みコア部とを分離して効率よく埋め込みコアをテストする半導体集積回路およびテスト生成プログラムを得ること。 - 特許庁 - To provide a circuit for testing the operation of switching gain control signals, which controls the gain of each amplifier, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of gain-controllable amplifiers, and to shorten the test time.
ゲイン制御可能な複数のアンプを備える半導体集積回路において、各アンプのゲインを制御するゲイン制御信号の切り換え動作をテストするための回路を設け、かつテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁 - Operation information that records operation data generated by an operation unit 3a of a target device 3 and a temporary stopping instruction waiting for completion of operation of a machine unit 3b is stored in a storage means 1a of a testing device 1.
試験装置１の記憶手段１ａには、予め、対象装置３の操作部３ａが生成する操作データと、機械部３ｂの動作終了を待つ一時停止指令と、を記録した操作情報が記憶される。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.
半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a technology for efficiently testing whether any content whose output is inappropriate is included in content to be output via display devices arranged under various environments.
様々な環境下に配置された表示装置を介して出力されるコンテンツの中に、出力することが不適切な内容が含まれていないか、効率的に考査するための技術を提供することを課題とする。 - 特許庁 - A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.
前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁 - METHOD OF PROVIDING PRODUCER, CONSUMER AND THE LIKE WITH DATA FROM DEVICE OR THE LIKE FOR MEASURING AND TESTING ARTICLE VIA COMMUNICATION LINE
商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて生産者等に提供する方法と商品を計測・試験する装置等からのデータを通信回線を通じて消費者等に提供する方法 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing an electronic circuit device whereby the overall action of the electronic circuit device, the action of a single computing circuit chip, and the action of a single memory chip can be easily tested.
電子回路装置の全体動作のテストと、演算回路チップの単体動作テストと、メモリチップの単体動作テストを容易に行うことができる電子回路装置のテスト方法、およびテスト装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test, while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time, in a comparatively narrow footprint.
比較的狭い設置面積で、衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法を提供する。 - 特許庁 - In the method for testing or calibrating the lithographic device or the part thereof, a measurement point is individually excluded at each field of view or each substrate by using a predetermined objective criterion such as a Chauvenet's criterion.
リソグラフィ装置又はその一部を検定又は較正する方法において、チョーベネットの判定基準などの所定の客観的判定基準を使用して、視野毎に、又は基板毎に個々に測定ポイントが除外される。 - 特許庁 - To provide a disk evaluation device which can easily acquire a highly accurate data for searching the cause when disk quality does not satisfy a reference value in testing and evaluation of the disk such as a DVD.
ＤＶＤ等のディスクの試験、評価において、ディスクの品質が基準値を満たさない場合に、その原因を究明するための精度の高いデータを容易に取得することができるディスク評価装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.
携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing quickly and easily how an antithrombogenetic medicine inhibits the promotion of blood coagulation, when a platelet activity activator serves as a cause of the promotion of the blood coagulation.
血小板活性賦活剤が血液凝固促進の原因になっている場合、抗血栓薬が、どのように血液凝固の促進を阻害するのかを迅速かつ簡易に試験する方法を提供しようとするものである。 - 特許庁 - A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.
半導体装置４の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置４の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路５を設ける。 - 特許庁 - The test apparatus comprises a head load mechanism for receiving and positioning the read/write head during testing, and a multi-channel preamplifier arranged to interface plural channels to a measurement system.
前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。 - 特許庁 - A method of testing a blood sample from an individual for diagnosing chronic renal failure in the individual comprises determining the presence of BMP-1 isoforms BMP-1-3 and BMP-1-5 in the sample.
個体の慢性腎不全を診断するために個体からの血液試料を試験する方法であって：ＢＭＰ−１イソ型であるＢＭＰ−１−３、およびＢＭＰ−１−５の試料中の存在を確定する。 - 特許庁 - To acquire a dynamic behavior or performance evaluation of a railway vehicle loading apparatus during traveling of an actual vehicle inexpensively in a short period under various vibration environments, in a running testing device for a railway vehicle.
鉄道車両用走行試験装置において、様々な振動環境下で短期間及び低コストで実車両走行中の鉄道車両搭載機器の動的な挙動や性能評価を把握できるようにする。 - 特許庁 - To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating.
側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。 - 特許庁 - Even in the case the small lens to be a test object is a small eccentric lens, a standard pattern image for testing can be easily detected y moving the CCD camera 291 along the direction of curvature of the small lens.
測定対象となる小レンズが、小（偏心）レンズであっても、ＣＣＤカメラ２９１を小レンズの曲率方向に沿って移動させることで、検査用基準パターン画像を検出することを容易にできる。 - 特許庁 - To smoothly vary the waveform of torque even when alternating torque is loaded on a sample and to improve the durability of a gear, in a torque load testing device for applying load torque to the sample.
供試体に負荷トルクを加えることができるトルク負荷試験装置において、供試体に交番トルクを負荷しても、トルクの波形を滑らかに変化させることができるとともに、歯車の耐久性を向上させることができる。 - 特許庁 - (xxiv) Vibration test equipment or components therefor, or wind tunnels , combustion test equipment, environment test equipment, electron accelerators usable for the development or testing of rockets or unmanned aerial vehicles, or equipment using therefor
（二十四） 振動試験装置若しくはその部分品又はロケット若しくは無人航空機の開発若しくは試験に用いることができる風洞、燃焼試験装置、環境試験装置、電子加速器若しくはこれを用いた装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム - To provide a semiconductor integrated circuit where a scan pass test circuit having no malfunction is realized without taking time for designing, instantaneous current in the scan pass testing time is reduced, and shortage of current supply of the tester hardly occurs.
設計に時間をかけずに誤動作のないスキャンパス・テスト回路を実現することと、スキャンパス・テスト時の瞬時電流を削減し、テスターの電流供給不足が発生しにくい半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.
半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁 - To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which various semiconductor wafers are tested with an easy operation.
本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、簡易な操作により、種々の半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁 - A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program.
半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。 - 特許庁 - To provide a testing machine used for a test of an insulated bearing in a main motor of a rolling stock or the like, capable of evaluating the insulation performance of the individual insulated bearing in the state similar to the actual machine using state.
鉄道車両の主電動機等における絶縁軸受の試験に用いられ、実機使用状態に近似した状態での個々の絶縁軸受の絶縁性能を評価できる試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a wire rod for a spring excellent in surface properties and applicable not only in the case a surface quality control system executing EC testing is introduced before SV treatment but also in the case the system is not introduced.
ＳＶ処理前にＥＣ検査を行う表面品質管理システムを導入する場合は勿論のこと、該システムを導入しない場合においても適用可能な表面性状に優れたばね用線材を提供する。 - 特許庁 - The measurement method uses the testing apparatus for determination of the shrinkage amount, length and/or crimp properties such as the number of crimps, crimp removal and crimp stability of individual staple fiber.
本発明は、特に、この試験装置を利用することによる、個々のステープルファイバの収縮量、長さ及び／または、捲縮数、捲縮除去及び捲縮安定性のような、捲縮特性の決定のための方法に関する。 - 特許庁 - This running testing device 50 for the railway vehicle is equipped with a rail wheel 16, a rail wheel motor 7, a rail wheel hydraulic shaker, truck hydraulic shakers 34, 35, a car body hydraulic shaker 36, a hydraulic system, a flywheel device and a control means.
鉄道車両用走行試験装置５０は、軌条輪１６、軌条輪電動機７、軌条輪油圧加振機、台車油圧加振機３４、３５、車体油圧加振機３６、油圧システム、フライホイール装置、制御手段を備える。 - 特許庁 - In this condition, testing and inspection are performed in real time by setting a circuit, which is so integrated as to make the packet transmitting pattern and the packet receiving function (for confirming the filtering) be a pair, to each of the FPGAs of both the transmitting and receiving sides.
この状況で、パケット送出パターンとパケット受信機能（フィルタリングの確認用）を一対になるように統合した回路を送受信双方のＦＰＧＡにセットして、リアルタイムでの試験検査を行なう。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for inspecting a printed board that are capable of easily and inexpensively performing electrical testing of a printed board the position of which should be determined in such a state that a plurality of inspection probes are made close to each other.
複数の検査用プローブを接近させた状態で位置決めすることが必要なプリント基板の電気検査を簡単、かつ低コストで行えるプリント基板の検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁 - To easily and surely create, collect and store patient data as statistical information for every research or clinical testing purposes while securing confidentiality, in a medical information providing/obtaining system through a two-way communication network.
双方向通信ネットワークによる医療情報提供・取得システムにおいて、研究や治験の目的ごとに患者データを秘匿性を確保しながら統計情報として容易かつ確実に作成して収集・保管する。 - 特許庁 - This running testing device 50 for a railway vehicle is equipped with a rail wheel 16, a rail wheel motor 7, a rail wheel hydraulic shaker, a truck hydraulic shaker, a car body hydraulic shaker 36, a hydraulic system, a flywheel device and a control means.
鉄道車両用走行試験装置５０は、軌条輪１６、軌条輪電動機７、軌条輪油圧加振機、台車油圧加振機、車体油圧加振機３６、油圧システム、フライホイール装置、制御手段を備える。 - 特許庁 - To obtain the method and device for transmission line capacitance measurement of a packet switching network which can measure the capacitance of a transmission line at a distance from a testing device sending test packets, specially, transmission capacitance of the line beyond a bottleneck.
テストパケットを送信する試験装置から離れた伝送路の容量、特に、ボトルネック以遠の伝送路容量も測定可能なパケット交換網の伝送路容量測定方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a suspension for testing a characteristic of a magnetic head slider, capable of easily attaching/detaching a magnetic head slider to/from a suspension and holding the magnetic head slider not to come off due to an impact, etc., in handling in a characteristic test and a manufacturing process.
磁気ヘッドスライダをサスペンションに取付け・取外しすることが容易で、特性試験及び製造工程での取扱いに際し衝撃等で磁気ヘッドスライダが脱落しないように保持できる構造が必要である。 - 特許庁 - To provide a bonding method for the production of a transparent material having thin thickness, producible at a low cost and exhibiting excellent adhesiveness, impact resistance, penetration resistance, temperature cycle testing resistance, transparency, anti-crime property, or the like.
厚みが薄く、かつ安価で接着性、耐衝撃性、耐貫通性、耐温度サイクル性、透明性、防犯性等に優れる等の特徴をもつ透明材料を作製する際に用いられる接着方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.
本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁 - To provide a technology for testing by specifying an element likely to generate malfunction among sensing system circuits in an wafer burn-in test while protecting this element, and to provide a semiconductor storage device provided with such a technical thought.
ウェハ・バーンイン・テストにおいてセンス系回路のうちで不具合の生じそうな素子を特定し、当該素子を保護しつつテストを行う技術及びその技術思想を実装した半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁 - In the environmental testing device 100 for the fuel cell 1, a hood 120 surrounding the fuel cell 1 and having gas permeability and moisture permeability is provided in a constant-temperature constant-humidity oven 110.
燃料電池１の環境試験装置１００であって、 恒温恒湿槽１１０内において、燃料電池１を取り囲むとともに透気性及び透湿性を有するフード１２０を備えたことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.
メモリテスタでのＤＵＴの試験中にＤＵＴ内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁 - At least one dilution chamber can be disposed adjacent to chambers, used for testing a patient sample that are provided on the immunodiagnostic test card or can be provided separately.
少なくとも１つの希釈チャンバーは、免疫診断テストカードに提供されるか、または別々に提供されることができる、患者サンプルを試験するために使用されるチャンバーに隣接して配置されることができる。 - 特許庁 - Particle removal performance is measured with non-aqueous solution having ferric hydroxide colloidal particles of an average particle diameter 13 to 200 nm where pH for stabilizing the colloidal particles ranges from 2.5 to 4.0 as testing liquid.
平均粒子径１３〜２００ｎｍの水酸化第２鉄コロイド粒子と該コロイド粒子を安定させるためのｐＨが２．５〜４．０であることを特徴とする非水溶液を試験液として粒子除去性能を測定する。 - 特許庁 - When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.
コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁 - To provide an environmental testing device for suppressing surely supply of the outside air containing moisture into a closed space inside a closed space constitution part constituting a test tank, when starting a test from a low-temperature test.
低温試験から試験を始める場合に試験槽を構成する閉空間構成部の内部の閉空間に湿気を含んだ外気が供給されるのを確実に抑制することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁 - To previously shut off a circuit defect, to improve the workability during testing or repairing and to make a module connector of a PCB easily usable by improving a protective cover for liquid crystal display device.
液晶表示装置の保護カバーを改善して、回路不良を予め遮断することは勿論、テスト時又は修理時の作業性を向上させると共に、ＰＣＢのモジュールコネクターが容易に使用できるようにすること。 - 特許庁 - Each visual acuity testing device is provided with a measurement data obtaining and outputting means 16 obtaining measurement data MD, ID, PRI (Person Response Information) and ISI necessary for calculating the visual acuity, and outputting them to the central management device.
各視力検査装置は、視力を演算するために必要な測定データＭＤ、ＩＤ、ＰＲＩ、ＩＳＩを取得して中央管理装置に出力する測定データ取得出力手段１６を有する。 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing a relationship between an axial load applied on a rotary shaft such as a main spindle 2 after the start of use and the output signal of a sensor unit 7 disposed to obtain the axial load.
使用開始後に、主軸２等の回転軸に加わるアキシアル荷重と、このアキシアル荷重を求める為に設けたセンサユニット７の出力信号との関係を検定する方法及び装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a connecting machine for watt-hour meter capable of easily connecting the external terminals of the watt-hour meter and the electric power side of the testing machine even the position of the external terminals are different depending on every maker or model.
電力量計の各外部端子の位置がメーカーや機種毎に異なっても、電力量計の各外部端子と試験装置の電源側とを容易に結線できる電力量計用結線器を提供する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for testing a model structure, which can test physical phenomena occurring when a mobile object moves in a structure, by using a simple model, and to provide the model structure.
構造物内を移動体が移動する際に発生する物理現象を簡単な模型によって試験することができる模型構造物の試験装置とその試験方法及び模型構造物を提供する。 - 特許庁
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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