「For testing」を含む例文一覧(6759)

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  • To provide a system and a method for automatic failure testing of macro-interface having a logical block and a logic gate in a chip which uses an at-speed logic built in self test circuit inside the chip.
    チップの内部にあるアットスピードの論理BIST回路を用いた、論理ブロックおよびチップ内の論理ゲートを持つマクロのインタフェースの自動的な故障テストのためのシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing an igniter 40 joined to the inside of a gas turbine engine 10 including a combustor 20, a pressure converter 44 joined to the combustor 20, and a spark detector 42.
    燃焼器(20)、該燃焼器(20)に結合された圧力変換器(44)、及びスパーク検出器(42)を含むガスタービンエンジン(10)内部に結合された点火器(40)をテストする方法を提供する。 - 特許庁
  • Since the servo press body is provided with a sequence for performing brake performance testing, there is no need of entrusting emergency stop confirmation inspection to inspection institutions, and the inspection can be performed in accordance with the convenience of working.
    サーボプレス本体がブレーキ性能試験を行うシーケンスを備えているので、非常停止確認検査を検査機関などに依頼する必要がなく、作業の都合に合わせて検査を行うことができる。 - 特許庁
  • To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.
    検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁
  • The electronic circuit has the at least one test module 30 provided for testing the electronic circuit, and connected to at least one wire 38, 40 and/or one terminal of the electronic circuit.
    この電子回路は、電子回路を試験するために提供され、電子回路の、少なくとも1つの線(38、40)および/または1つの端子と接続される、少なくとも1つの試験モジュール(30)を有する。 - 特許庁
  • To provide a test result verification server having a test result verification part separated from a specimen testing device for performing test result verification with excellent variety and flexibility.
    検査結果検証部を検体検査装置より切り離した検査結果検証サーバとし、多様性、融通性に優れた検査結果検証を行うことができる検査結果検証サーバを提供すること。 - 特許庁
  • A target apparatus M is selected from among a plurality of signal processing apparatuses, and a test circuit K is constituted on a reconfigurable circuit 31 of a support ECU 3 for testing the target apparatus M.
    複数設けられた信号処理装置の中から対象装置Mを選択し、この対象装置Mの検査のために、サポートECU3のリコンフィギュアラブル回路部31上に検査回路Kを構築する。 - 特許庁
  • To provide a burn-in method for an integrated semiconductor laser device that can constantly hold temperatures of a plurality of semiconductor laser elements when they are to be tested respectively and can shorten a testing time.
    複数の半導体レーザ素子のそれぞれの試験時の温度を均一に保持し且つ試験時間を短くすることができる集積型半導体レーザ装置のバーンイン方法を提供すること。 - 特許庁
  • Consequently, uniformization of speed over the parallel direction X for the blown-off airgases having passed the resistant substance 80 is accelerated, and the deviation in the speed of the testing wind over the parallel direction X can be suppressed.
    これによって外部抵抗体80を通過した送風気体について、並列方向Xの速度の均一化を促進し、並列方向Xにわたる試験風の速度の偏りを抑えることができる。 - 特許庁
  • To provide a testing method for evaluating segregation resistance of fresh concrete with a slump value of 18-23 cm which can be easily conducted by using a simple apparatus or device.
    簡単な器具ないし装置を用いて容易に実施することのできる、スランプ値が18〜23cmのコンクリートのフレッシュ時の材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for testing nuclear fuel pellets which enable accurate and efficient tests on the whole surface of them without being affected by inspectors'vision and the like.
    原子力燃料ペレットの全表面を検査員の視力等によって影響されることなく正確に効率良く検査することのできる原子力燃料ペレット検査方法および装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an inspection apparatus which takes advantage of the characteristics of each of an eddy current testing (ECT)-based flaw detection apparatus and an imaging-based flaw detection apparatus in an inspection system for detecting flaws on a metal bar.
    金属棒の欠陥を検出する検査システムにおいて、渦電流試験(ECT)系欠陥検出装置と画像系欠陥検出装置のそれぞれの特徴を生かした検査装置を提供する。 - 特許庁
  • In the method of ultrasonically testing the welding joint, the joint 12 is irradiated with ultrasonic waves from two focusing probes 8, 9 disposed oppositely on matrixes 10, 11 via the joint 12, for angle beam detection.
    溶接継手12を挟んで母材10、11上に対向配置させた2つの集束超音波探触子8、9から上記溶接継手12に対して各々、超音波を発射して斜角探傷する。 - 特許庁
  • To improve sensor testing method so as to use a signal for expressing a parameter to be measured at a very short time interval even when inspecting a sensor without interruption or relatively large interruption.
    センサが中断なしでまたは比較的に大きな中断なしで検査される場合でも、非常に短い時間間隔で、測定すべきパラメータを表す信号が使用されるように改善することである。 - 特許庁
  • To provide a method for testing corrosion capable of accurately evaluating long-term reliability with respect to corrosion that depends on the installation environment of electronic devices, while reflecting and atmospheric corrosion environment, and to provide a device therefor.
    電子機器等の設置環境に依存して生じる腐食に対する長期的な信頼性を、大気腐食環境を反映しつつ的確に評価しうる腐食試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor wafer in which the internal circuit of a chip is not short-circuited when a test pad is provided in a scribe region and the number of test pads can be reduced, and to provide a method for testing a semiconductor wafer.
    テストパッドをスクライブ領域に設けた場合に、チップの内部回路の短絡を生じないと共に、テストパッド数を削減できる半導体ウェハおよび該半導体ウェハのウェハテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a switching power supply circuit capable of preventing electric elements of the circuit from burning at testing safety standards for electric apparatuses because of a simple configuration using resisters consuming large power.
    消費電力の大きい抵抗体を用いる簡単な構成により、電気製品の安全規格試験時に回路の電気素子が焼損する問題を回避し得るスイッチング電源回路を提供する。 - 特許庁
  • By such configuration, the generation of particles which is an obstacle in a checking process of the magnetic disk etc., is averted in the spindle for testing the disk while the accuracy of rotation equal to that of the conventional air spindle is maintained.
    この構成により、本発明のディスク検査用スピンドルは、従来のエアスピンドルと同等の回転精度を維持しつつも、磁気ディスク等の検査工程で障害となるパーティクルの発生がない。 - 特許庁
  • In a dynamometer for controlling to drive a testing machine body, a shape of a test piece (round bar, rectangle, pipe) is selected from a panel face of an operation display panel part 1 of a control part 20c and a size is input.
    試験機本体を駆動制御する動力計において、制御部20cの操作表示パネル部1のパネル面から試験片の形状(丸棒、矩形、パイプ)を選択し、寸法を入力する。 - 特許庁
  • To provide a service life testing device for a bearing capable of realizing a long service life of a rolling bearing by acquiring establishment of a service life evaluation method in a slip generation domain, stability and high reliability.
    滑り発生領域での寿命評価法の確立、安定性、高信頼性を得ることにより転がり軸受の長寿命を図ることができる軸受用寿命試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To enable to use a system also with a penetration method by developing the testing system and method operated with incident light which has been used for inspecting a wafer.
    本発明の目的は、ウェーハの検査のために用いられてきた入射光によって操作する試験装置及び方法を発展させ、これらの装置を透過法によっても使用できるようにすることである。 - 特許庁
  • To provide a sensor capable of shortening a test time in the case of testing even if the sensor is provided with an abnormality deciding function (e.g. a function for deciding fire/non-fire) and to provide a monitoring and controlling system.
    異常判断の機能(例えば火災/非火災の判断を行なう機能)を備えた感知器であっても、試験時の試験時間を短縮することの可能な感知器および監視制御システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide the acceleration testing method of a computer for specifying a part where any failure is generated by reducing the reproducing period of any latent failure such as memory leak due to memory release leakage.
    メモリ解放漏れによるメモリリークなど潜在的な不具合は、不具合を持ったプログラムを計算機上で長期間動作させることではじめて顕在化するため、再現試験に長期間を要する。 - 特許庁
  • This materials testing machine, during a test, controls the movement of a projector 71 for dimensional measurements and a light-receiving unit 72 following a detection arm 52, and makes a detector 70S of a dimension measuring device 70 follow the movement of the detection arm 52.
    試験中、検出腕52に追従して測寸用投光器71と受光器72を移動制御して測寸装置70の検出器70Sを検出腕52の移動に追従させる。 - 特許庁
  • To provide an integrated circuit which cannot be reverse-engineered easily by a third party, to provide a testing method for the integrated circuit, and to provide an integrated-circuit component.
    本発明は、第3者が容易にリバースエンジニアリングを行うことができない良好な集積回路と、この集積回路の試験方法及び、集積回路部品とを提供することを目的とする。 - 特許庁
  • First, the engine in a sufficiently cooled state is started, shifted from the second to the fifth gear for testing, and an allowable work load is provided by the change of a fan rotational speed with time.
    まず、エンジンが十分冷却された状態からエンジンを始動し、2速から5速へと変速を行う試験を行い、ファン回転数の経時変化から許容限度仕事量45を求める。 - 特許庁
  • The depositary institution for the purposes of patent procedure issues a receipt of a reception immediately after receiving the application of patent depositary, and then it issues a Receipt of an Original Deposit after testing the microorganism and finding them to be viable.
    特許庁長官の指定する機関では、寄託申請を受け付けた際、直ちに「受領書」を発行し、生存確認試験を行って、微生物の生存を確認した後に「受託証」を交付する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing run-flat durability evaluation with the inputs to a tire being approached that of a general road so as to properly perform a traveling test of pneumatic rubber run-flat tire with safety wheels.
    中子式ランフラットタイヤの走行試験を適切に行うことができるように、タイヤへの入力を一般路に近づけたランフラット走行耐久性評価試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.
    テスト対象となるDUTとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁
  • A socket 1 for testing a BGA package 10, according to this invention, includes contact pins 20 consisting of spiral coil springs 20a and stored in spring storage holes 51 in a ball guide 50 and a positioning setting 40 provided thereon.
    本発明のBGAパッケージ10をテストするソケット1は、ボールガイド50のばね収納孔51に、螺旋状のコイルばね20aからなるコンタクトピン20を収納し、位置決め台座40を設けてある。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for testing a droplet ejecting head, capable of finding out a failure which could not be found in the past early by laying the head in a state equal to the actual using state.
    実際と同様の使用状態にすることで従来では発見できなかった不良を早期に発見することができる液滴吐出ヘッドの試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical pulse testing device and its adjusting method capable of adjusting light-receiving sensitivity of a light-receiving part for receiving back scattered light, regardless of the change in the ambient temperature, to desired light-receiving sensitivity.
    周囲温度の変化に拘わらず後方散乱光を受光する受光部の受光感度を所望の受光感度にすることができる光パルス試験装置及びその調整方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a compact apparatus for testing a material, which can apply a sufficient load to a minute object to be tested being sampled from an actual equipment structure and carry out a test at the site where the object to be tested is sampled.
    実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える小型材料試験装置を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a defect tolerance evaluation method for a structure within a reactor accurately carrying out defect tolerance evaluation by using material testing data obtained from a sample taken from an evaluation object portion itself.
    評価対象部位そのものから採取したサンプルから得られた材料試験データを用いて精度よく欠陥裕度評価を行う炉内構造物の欠陥裕度評価方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device for conducting a test by generating, in a real time, a response signal based on a control signal from a control part to transmit a reply to the control part, and a response signal generator.
    制御部からの制御信号に基づく応答信号をリアルタイムに生成して該制御部に返信し、試験を行うことを可能とする試験装置及び応答信号生成装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a command transmission control device for transmitting a command to a sound reproduction device at optional timing, and to provide an integrated circuit device, a sound reproduction evaluation system and a testing method of the sound reproduction device.
    音再生装置に対して、任意のタイミングでコマンドを送信することが可能なコマンド送信制御装置、集積回路装置、音再生評価システム及び音再生装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To inexpensively detect a loop including an orderwire communication system for testing an orderwire line, which occurs in an orderwire system, without mounting special means on the other orderwire communication systems.
    オーダワイヤ回線のテストを行うオーダワイヤ通信装置に関し、オーダワイヤシステム内において発生した自装置を含むループを、他のオーダワイヤ通信装置に特別な手段を実装することなく、安価に検出する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus for simply and inexpensively testing termite repellency performance of a wood or insulating material to be used in a building in a stringent condition corresponding to an actual status of use.
    建物に使用される木材や断熱材の防蟻性能を、実際の使用状況に即した厳しい条件下において、簡単且つ安価に把握することがきる防蟻性能試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a mount for a rotating equipment vibration test that evaluates vibration resistance of rotating equipment in a state near to an operation state, and also evaluates weatherability of the rotating equipment, and also to provide a vibration testing method of the rotating equipment.
    回転機器の耐振性を稼働状態に近い状態で評価でき、且つ回転機器の耐候性も評価できる、回転機器振動試験用マウントと回転機器の振動試験方法とを提供する。 - 特許庁
  • The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.
    回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁
  • This method has wide specificity over main first generation β-lactams, and can be used for testing milk, meat or the like on the existence of the remaining β-lactam antibiotic.
    本発明は、主な第1世代β−ラクタムにわたる広範な特異性を有し、そして残留β−ラクタム抗生物質の存在について牛乳および食肉などを試験するために使用することができる。 - 特許庁
  • To provide a DC testing device, or the like, capable of precisely measuring variations in DC signals applied to a semiconductor device, even when the setting for performing a DC test is changed.
    直流試験を行うための設定が変更された場合であっても半導体デバイスに印加される直流信号の変動を高い精度で測定することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁
  • To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.
    本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁
  • To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.
    本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a blood bag for testing and a blood sampling instrument, having good operability in sampling blood (sampling the initial flow blood), and surely sampling a required quantity of blood (initial flow blood).
    採血(初流血の採取)を行う際、その操作性がよく、また、確実に必要量の血液(初流血)を採取することができる検査用血液バッグおよび採血器具を提供すること。 - 特許庁
  • An on-board vehicle emissions testing system includes a flowmeter module adapted to be detachably connected to the exhaust pipe of a vehicle to provide for flow of exhaust gas therethrough.
    車両搭載型の排気物試験システムの中に、車両の当該排気管に対して取外し可能に接続されるように成した排気ガスの流れを規定する流量計モジュールを包含する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing many word lines of a semiconductor memory assembly in a multiple WL wafer test in which a multiple wafer test can be performed quickly without needing much cost.
    迅速に、そして多大の費用を伴わずにマルチプルWLウエハテストを実施できるような、マルチプルWLウエハテストにおける半導体メモリーアッセンブリーの多数のワード線のテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To shorten, remarkably compared with hitherto, a time required for display of a response signal by applying to emulation of an integrated circuit by a logic circuit, concerning a testing device.
    本発明は、試験装置に関し、ロジック回路による集積回路のエミュレーションに適用して、応答信号の表示に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができるようにする。 - 特許庁
  • To provide an electron beam tester capable of testing an electric component with a simple structure and accurately positioning it in a short time in measuring a voltage waveform, and a test method for it.
    簡易な構成で電気部品の試験を行うことのできる、また、電圧波形測定における位置決めを正確且つ短時間で行うことのできる電子ビームテスタ及び試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device which bears up against rapid temperature increase, with small temperature dispersion, without breaking semiconductor wafer by heat shock.
    迅速な昇温を行うことが可能であり、加熱面の温度ばらつきが小さく、半導体ウエハ等が熱衝撃により破損することのない半導体製造・検査装置用セラミック基板を提供すること。 - 特許庁
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