「For testing」を含む例文一覧(6759)
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さらに、その評価試験装置を使用し、複数の試験片（組）を時系列に取り外して、ステンレス鋼試験片の外面応力腐食割れ状況を観察することにより、外面応力腐食割れに抵抗性のある金属材料の組み合わせを見出す。 - 特許庁 - A first power shutdown switch (WTR1) is provided between a power supply line (VDD) and an internal power supply line (VDDM1) which is exclusive for a circuit block (BLK1), and has a current supply capability such that an on-state current is raised to an amplitude capable of protecting an external testing environment.
第１電源遮断スイッチ（ＷＴＲ１）は、電源線（ＶＤＤ）と回路ブロック（ＢＬＫ１）専用の内部電源線（ＶＤＤＭ１）との間に設けられ、オン電流が外部試験環境を保護可能な大きさになる電流供給能力を有する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit which can be suitably used for a measurement device, such as a semiconductor integrated circuit testing set and the like, in which junction temperature and jitters hardly fluctuate, even if the frequency of an inputted clock fluctuates, and high accuracy is demanded on time.
入力されるクロックの周波数が変動してもジャンクション温度及びジッタが殆ど変動せず、時間的に高い精度が要求される半導体集積回路試験装置等の測定装置で用いて好適な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.
ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁 - A processing crack is intentionally applied onto the coat membrane of the spectacle lens by using at least one method among following methods (1) to (3), and the spectacle lens is inputted into an acceleration testing machine for weather resistance or the like as long as an optional period, and then the coat membrane adhesive performance of the spectacle lens is evaluated.
下記（１）から（３）の少なくとも一つの方法を用いて眼鏡レンズのコート膜上に意図的に加工クラックを施し、該眼鏡レンズを耐候性等の加速試験機へ任意の期間投入した後、該眼鏡レンズのコート膜密着性能を評価する。 - 特許庁 - Therefore, the “period during which the patented invention was unable to be worked” means either “the period of time spent conducting the testing necessary to obtain a disposition plus the period between the date on which the disposition was filed for and the date of the disposition”, or “the period between the date of patent registration and the date of the disposition”, whichever is shorter.
このため、処分を受けるのに必要な試験に要した期間と処分の申請から処分を受けるまでの期間を合わせた期間のうち、特許権の設定登録の日以降の期間が、｢特許発明の実施をすることができなかった期間｣となる。 - 特許庁 - In this heat degradation testing machine for performing a heat degradation test of a plurality of test pieces S, while circulating heated air in a test vessel 1, a plurality of cells 5 openable at the upper and lower ends and capable of storing the test pieces S respectively in the test vessel 1 are provided.
試験槽１内で加熱した空気を循環させながら複数の試験片Ｓの熱老化試験を行うようにした熱老化試験機において、試験槽１内に試験片Ｓをそれぞれ収容可能な、上下が開口する複数のセル５を設置する。 - 特許庁 - When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.
テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁 - Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.
被測定デバイス１２の検査中にＧＮＤセンスライン６で検知した１つのＧＮＤ端子における電位に基づいて、電位補正回路８が検査のために半導体テスタ１０から被測定デバイス１２に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁 - Then, an image quality degradation notification controlling section 107 orders the image forming section 102 to print out a record medium on which a pattern image for testing is formed when the comparison determination section 106 determines that the toner cartridge 40 is the one filled with non-genuine toner.
そして、画質劣化通知制御部１０７は、比較判定部１０６による判定結果が、非純正品トナーが充填されたトナーカートリッジ４０である場合に、テスト用のパターン画像が形成された記録媒体を、画像形成部１０２に印字出力させる。 - 特許庁 - To provide a link layer device with testing circuit for eliminating usual inconvenience by enabling to measure the AC timing by a link layer device single body and enabling to measure by changing measuring conditions such as temperature and source voltage by using a general purpose board.
リンク層デバイス単体でＡＣタイミング測定ができるようにし、これにより従来の不都合を解消でき、かつ、汎用ボードを使用して温度、電源電圧等の測定条件を変えてその測定できるようにしたテスト回路付きリンク層デバイスを提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for activating a gas diffusion electrode by which the initial performance is improved, the performance is improved with the operating time, and the service life is stably prolonged and to furnish a testing method by which the quality of the electrode is confirmed in a short time, and the service life is predicted.
初期性能が優れているとともに、運転時間と共に性能が良くなり、安定した長寿命のガス拡散電極の活性化方法を提供し、また短時間で電極の品質確認と寿命予測を行える試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a durability testing method of coating member and a test device therefor that enable the sufficient simulation of the test condition of a coating member against the working condition of an actual machine, the investigation for more detailed damage mechanism of the coating member, and more accurate life evaluation.
コーティング部材の試験条件を実機使用条件に十分に模擬することが可能であり、コーティング部材のより詳細な損傷メカニズムの解明と、より高精度な寿命評価とを可能にするコーティング部材の試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.
プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁 - To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.
試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁 - To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.
従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁 - As a result, the amount of testing gas used per sensor can be reduced, and a period for replacing the gas can be reduced thereby shortening the necessary working hours, and the amount of gas to be used can be reduced thereby reducing its cost and executing the sensor processes accurately.
この結果、センサ１個あたりの検査用ガスの使用量を減少できるため、ガス置換時間の短縮により作業所要時間を短縮でき、また、ガス使用量の現象によるコストの低減を図ることができ、さらに精度良くセンサ処理を実行できる。 - 特許庁 - This conveying carrier tool for the semiconductor device testing device includes at least one first linear support part extending along a first direction, and at least one second linear support part extending along a second direction orthogonal to the first direction.
半導体装置試験装置用搬送キャリア冶具は、第１の方向に沿って延在する少なくとも一つの第１の線状支持部と、第１の方向に直交する第２の方向に沿って延在する少なくとも一つの第２の線状支持部とを備える。 - 特許庁 - The metallic microsphere preferably shows a deformation resistance of ≤3,500 mN for a displacement magnitude of 10% when measured at room temperature using a micro compression testing machine comprising an upper trapezoid diamond indenter and a lower pressure plate made of an SKS plate.
また、本発明の金属微小球は上部台形型ダイアモンド圧子とＳＫＳ平板である下部加圧板とからなる微小圧縮試験器を用い、室温において測定した際の変位量１０％における変形抵抗が３５００ｍＮ以下であることが好ましい。 - 特許庁 - To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.
血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁 - In the semiconductor-testing device where a plurality of DUTs are connected to one pin, a comparison result register is provided for each DUT and fail information is selectively written to the comparison result register when the corresponding DUT is active.
１つのピンに複数のＤＵＴが接続される半導体試験装置において、 前記ＤＵＴ毎に比較結果レジスタが設けられ、これら比較結果レジスタには対応するＤＵＴがアクティブ状態のとき選択的にフェイル情報が書き込まれることを特徴とする。 - 特許庁 - 2) The institution must have researchers with the ability to perform sufficient clinical observation and testing and analysis and evaluation of the results of transplantation or administration of human stem cells, as well as the facilities and equipment necessary for such purposes.
② 十分な臨床的観察及び検査並びにその結果とヒト幹細胞等の移植又は投与を関連付けた分析及び評価を実施する能力を有する研究者を置き、かつ、これらの実施に必要な機能を有する施設を備えていること。 - 厚生労働省 - To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.
ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁 - This method for evaluating or screening the sensitizing substance in vitro comprises incubating a MIP (macrophage derived inflammation protein)-1-expressing cell together with a testing specimen estimated to contain the sensitizing substance and then detecting the MIP-1 released from the cell.
本発明は、MIP-1を発現する細胞と、感作性物質を含有すると予想される被験試料とをインキュベートし、該細胞から放出されたMIP-1分子を検出することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法またはスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an automobile testing apparatus capable of performing axial alignment for a short time in the step replacement of an FF vehicle and a FR vehicle being objects to be tested, easily enabling axial alignment, having no danger in handling and capable of also reducing labor cost.
ＦＦ車とＦＲ車の供試体段取替において短時間で軸心合わせが行え、かつ容易に軸心合わせが可能となり、また取り扱いに危険性がなく、更に人件費も軽減することが出来る自動車用試験装置を提供することにある。 - 特許庁 - A high-temperature nitrogen gas of a specific pressure is sprayed to silver being melted by a silver particle generator to allow a silver particle to fly, and the silver particle borne on a nitrogen gas flow is carried to a filter 81 for testing where a filter holder 6 is set and a rear-stage filter 82.
所定圧力の高温窒素ガスを銀粒子発生器５において溶融した銀に吹き付けて銀粒子を飛ばし、これにより窒素ガス流に乗った銀粒子をフィルタホルダ６にセットされている試験用フィルタ８１と後段フィルタ８２に輸送する。 - 特許庁 - To provide a screw characteristic testing device for deepening one's understanding, concerning a screw, by making it easy to use, and it compact and portable and simply confirming characteristics and logic of the screw anywhere in front of one's eyes, and to provide an experience learning method and a practical skill educational method that uses it.
使いやすく小型で持ち運び可能であり、どこでも簡単にねじの特性や理論を目の前で確認してねじに関する理解を深めるためのねじ特性試験装置と、その装置を用いた体験学習方法及び実技教育方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a weather-resistance testing device for a solar battery panel having a new structure which suppresses variation of luminous efficiency of each of multiple rare gas discharge lamps and in which the solar battery panel is kept in a prescribed temperature condition without generating temperature unevenness.
複数の希ガス放電ランプの各々の発光効率のバラツキが抑制されると共に太陽電池パネルが温度ムラを生ずることなく規定された温度条件に維持される、新規な構造の太陽電池パネル用耐候試験装置を提供すること。 - 特許庁 - In a test of the security circuit 7 by the test program, a security test signal ST becomes active, and when a predetermined address ADR is accessed in addition, a selector 12 is changed over to a register 11 side by an output signal of an AND 14 of a circuit 10 for testing.
試験プログラムでセキュリティ回路７の試験になると、セキュリティ試験信号ＳＴがアクティブとなり、更に所定のアドレスＡＤＲがアクセスされると、試験用回路１０のＡＮＤ１４の出力信号によってセレクタ１２がレジスタ１１側に切り替えられる。 - 特許庁 - From the viewpoint of creating the cluster "core" and enhancing centripetal force, Chubu Bureau of Economy, Trade and Industry should push ahead with creating further advanced clusters by enhancing state-of-the-art hardware that plays important roles in the creation of clusters, such as (1) testing equipment necessary for form certification of large wind tunnels and large joint testing machines because Japanese manufacturers are currently using overseas facilities and (2) an R&D base (National Composite Center) capable of comprehensively providing design technologies, processing technologies and repair services on CFRP (composite materials) usable for automobiles and aircraft.
中部経済産業局においては、クラスターの「核」を創出し求心力を高める観点からも、①現在、海外の設備を利用している、大型風洞、大型共同試験機等の型式証明取得に必要な試験設備、②自動車や航空機等に波及するCFRP（複合材）について、設計技術・加工技術・補修サービスまでをパッケージ化した研究開発拠点（ナショナルコンポジットセンター）、といったハード面において、集積の中核となる最新鋭の設備整備を進め、更なる高度な集積を推進することが望まれる。 - 経済産業省 - When testing dried mushrooms, dried vegetables, dried seaweeds, and dried fish and shellfish specified in the Notification, from the standpoint of reflecting the actually consumed state of food in the testing, in principle, the samples are ground, and water is added in an amount required for rehydrating the relevant dried food. The amount of water required for the rehydration is determined on the basis of the moisture content data (weight-change rate) of such food after rehydration, which are provided in the Standard Tables of Food Composition in Japan. Otherwise, data obtained from measurements using dry samples may be converted into rehydrated data according to the calculation provided in 2.3.
なお、告示で示された、乾燥きのこ類及び乾燥野菜並びに乾燥させた海藻類及び乾燥させた魚介類等を測定する際には、できるだけ飲食に供される状態と同様の状態で行う観点から、粉砕後のサンプルに、日本食品標準成分表等の水戻しによる水分含量の公表データ（重量変化率）を参考として、必要な水分をあらかじめ添加し行うことを原則とするが、乾燥状態で検査を行い、２．３の取扱いに従って換算を行っても差し支えない。 - 厚生労働省 - From the viewpoint of creating the cluster “core” and enhancing centripetal force, Chubu Bureau of Economy, Trade and Industry should push ahead with creating further advanced clusters by enhancing state-of-the-art hardware that plays important roles in the creation of clusters, such as (1) testing equipment necessary for form certification of large wind tunnels and large joint testing machines because Japanese manufacturers are currently using overseas facilities and (2) an R&D base (National Composite Center) capable of comprehensively providing design technologies, processing technologies and repair services on CFRP (composite Source: METI data (January 2011) materials) usable for automobiles and aircraft.
中部経済産業局においては、クラスターの「核」を創出し求心力を高める観点からも、①現在、海外の設備を利用している、大型風洞、大型共同試験機等の型式証明取得に必要な試験設備、②自動車や航空機等に波及するCFRP＇複合材（について、設計技術・加工技術・補修サービスまでをパッケージ化した研究開発拠点＇ナショナルコンポジットセンター（、といったハード面において、集積の中核となる最新鋭の設備整備を進め、更なる高度な集積を推進することが望まれる。 - 経済産業省 - The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.
試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁 - A method for producing a probe test head for testing a semiconductor integrated circuit includes a step in which a plurality of probes 81 are defined for one or a plurality of masks, a step in which a plurality of probes are produced by using the masks, and a step in which a plurality of probes 81 are arranged by inserting them into the corresponding holes of a first die 42 and a second die 44.
半導体集積回路をテストするためのプローブ・テスト・ヘッドを製造する方法は、１つ又は複数のマスクとして、複数のプローブ８１の形状を画成するステップと、該マスクを使用して、複数のプローブを製造するためのステップと、第１のダイ４２と第２のダイ４４内の対応するホールを通して複数のプローブ８１を配置するステップとを含んでいる。 - 特許庁 - This deterioration testing device is equipped with a laser light output part 11 for outputting laser light, a specimen support part 19 for supporting a liquid crystal panel (specimen) 15 irradiated with the laser light, and a temperature control means 16 for adjusting the temperature of the liquid crystal panel 15 in the abutting state on the liquid crystal panel 15 supported by the specimen support part 19.
本発明に係る劣化試験装置は、レーザ光を出力するレーザ光出力部１１と、前記レーザ光を照射される液晶パネル（被検物）１５を支持する被検物支持部１９と、前記被検物支持部１９に支持された前記液晶パネル１５と当接して当該液晶パネル１５の温度を調整する温度制御手段１６とを備えている。 - 特許庁 - The semiconductor device comprises a reset terminal inputting a reset control signal for resetting an internal circuit; a reset detection part generating, according to the input reset control signal, a reset release signal for releasing reset of the internal circuit; and a mode capture part retaining, based on the signal input to the reset terminal, a test mode for testing operations of the internal circuit.
半導体装置は、内部回路をリセットするためのリセット制御信号を入力するリセット端子と、前記入力されたリセット制御信号に応じて、前記内部回路のリセットを解除するリセット解除信号を生成するリセット検出部と、前記リセット端子に入力される信号に基づいて、前記内部回路の動作をテストするテストモードを保持するモードキャプチャ部とを備える。 - 特許庁 - The IC tester for inspecting the output resistance value of each output pin of the under testing device equipped with a plurality of output pins is provided with reference resistors, connected to each output pin, a reference voltage impressing means for impressing the prescribed reference voltage via these reference resistors, and a voltage measurement means for measuring the voltage generated at each output pin.
複数の出力ピンを有する被試験デバイスの前記各出力ピンの出力抵抗値を検査するＩＣテスタにおいて、 前記各出力ピンに接続された基準抵抗と、 これらの基準抵抗を介して前記各出力ピンに所定の基準電圧を印加する基準電圧印加手段と、 前記各出力ピンに発生する電圧を測定する電圧測定手段と、を備える。 - 特許庁 - In this deterioration testing device 100, which is a device for performing the deterioration test of a specimen by generating deterioration by irradiating a liquid crystal panel (specimen) 15 with laser light outputted from a laser device 10, an optical correction element 26 for uniformizing illuminance of the laser light is provided between the laser device 10 for outputting the laser light and the liquid crystal panel 15.
本発明に係る劣化試験装置１００は、レーザ装置１０から出力されたレーザ光を液晶パネル（被検物）１５に照射して劣化を生じさせ、当該被検物の劣化試験を行う装置であり、レーザ光を出力するレーザ装置１０と前記液晶パネル１５との間に、前記レーザ光の照度を均一化する光学補正素子２６が設けられている。 - 特許庁 - The method for testing a semiconductor integrated circuit having a novolatile memory element and a peripheral circuit part other than the novolatile memory element comprises a first step for applying a high voltage to all memory cells in the novolatile memory element and a second step for imparting a test pattern to the peripheral circuit part other than the novolatile memory element while applying a high voltage wherein both steps are performed simultaneously.
不揮発性記憶素子と不揮発性記憶素子以外の周辺回路部を備えた半導体集積回路の試験方法において、不揮発性記憶素子の全メモリセルに高々電圧を印加する第１のステップと、不揮発性記憶素子以外の周辺回路部に高電圧を印加しながら試験パターンを付与する第２のステップとを有し、上記両ステップを同時に実施する。 - 特許庁 - This testing method comprises a step to irradiate light on surface of the display panel and photograph the above display panel for obtaining the first image, a step to irradiate light on surface of the above display panel with pattern impressed on the display panel for obtaining the second image, and a step to compare the first image with the second image for determining whether the display panel is defective.
ディスプレーパネルの表面に光を照射し、前記ディスプレーパネルを撮影して第１画像を得る段階と；前記ディスプレーパネルにパターンを印加した状態で前記ディスプレーパネルに光を照射し、前記ディスプレーパネルを撮影して第２画像を得る段階と；前記第１画像と前記第２画像を比較し、前記ディスプレーパネルが不良であるか否かを判断する段階とを含む。 - 特許庁 - To provide a rubber-metal laminated raw material, having excellent LLC resistance and heat resistance without conducting harmful coating type chromate filming to metal in forming the rubber-metal laminated gasket raw material made of a complex of stainless steel plate and rubber, and not causing separation of adhesion, for example, in a LLC resistance testing method taking into consideration the environment for actually using a metal gasket for an engine.
ステンレス鋼板とゴムとの複合体よりなるゴム-金属積層ガスケット素材を形成するに際し、有害な塗布型クロメート処理などを金属に施さなくとも耐LLC性および耐熱性に優れ、例えばエンジン用メタルガスケットの実使用環境下を考慮した耐LLC試験方法においても、接着剥がれの生じないゴム-金属積層ガスケット素材を提供する。 - 特許庁 - The method for testing the function of suppressing increase in quantity of fat comprises (1) a first process of testing activity of a monoacylglycerol acyltransferase in a contact system of the monoacylglycerol acyltransferase with a material to be tested and (2) a process of evaluating the function of suppressing increase in quantity of the fat depending on difference obtained by comparing the activity tested by the first process with the activity in a control.
脂肪量増加抑制能力の検定方法であって、（１）モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼと被験物質との接触系内における前記モノアシルグリセロールアシルトランスフェラーゼの活性を測定する第一工程、及び（２）第一工程により測定された活性と対照における活性とを比較することにより得られる差異に基づき前記物質の脂肪量増加抑制能力を評価する第二工程、を有することを特徴とする脂肪量増加抑制能力の検定方法。 - 特許庁 - An information processing apparatus of a trustee of the vehicle test and an information terminal of the truster is made connectable with a network, and a schedule table and a capability map concerning each test route, each test vehicle, and each testing stuff for performing the vehicle test are registered in the information processing apparatus.
車両試験受託者の情報処理装置と、委託者の情報端末装置とをネットワークにより接続可能とし、車両試験を行うための各試験路、各試験車両および各試験員に関する能力マップ及びスケジュール表を情報処理装置に登録する。 - 特許庁 - When a prescribed gain is detected, the gain detection circuit delivers an electric signal to a servo motor which operates a direction steering wing and an ascend/descend steering wing and varies the flying direction of the target for testing projectile to escape a launched projectile.
利得検知回路は所定の利得が検知された場合、サーボモータに電気信号を出力し、サーボモータにより方向操舵翼及び昇降操舵翼を動作させ、発射された飛しょう体を回避するように飛しょう体試験用目標の飛しょう方向を変化させる。 - 特許庁 - A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.
制御回路３９１は、Ｌレベルのテストモード信号ＴＭおよびＨレベルのテストモード信号ＴＭを受けると、メモリセルアレイ３２０に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ２９０等の周辺回路を制御する。 - 特許庁 - In order to simplify the testing apparatus and to reduce its design costs, the fixation part 16 of a linear motor 12 is arranged on the base, its moving part 17 is arranged on the reciprocating slider, and the linear motor can be used for a related separate CNC control operation with reference to all the three methods.
そのような試験装置の単純化及び設計費の軽減のために、リニアモーター１２の固定部分１６は土台の上に配置され、可動部分１７は往復スライダに配置され、関連した別個のCNC制御は３つ全ての方法に対してリニアモーターが使用可能となるようにする。 - 特許庁 - The method of testing for the presence of microorganisms includes (i) a step of bringing the hydrogen peroxide-containing gaseous environment into contact with an agar growth medium, (ii) a step of placing the growth medium in an environment favoring the development of colonies of microorganisms, (iii) a step of determining the presence of colonies of microorganisms which have developed during the step (ii).
工程：（ｉ）ピルビン酸の塩を含有する寒天生育培地に過酸化水素を含有する気体環境を接触させる（ｉｉ）微生物のコロニーの生育に好都合な環境に生育培地を置くこと（ｉｉｉ）工程（ｉｉ）の間に生育した微生物のコロニーの存在を測定する。 - 特許庁 - The testing machine with the pressure-resistant chamber is constituted so that a flexible partition wall for isolating the space around a test piece and the space in another pressure-resistant chamber under a hermetic closure is provided and the fluid, which constitutes the special environment, is injected in the space around the test piece within the partition wall.
耐圧室付き試験機は、試験片周囲の空間と他の耐圧室内の空間とを密封状態で隔絶する可撓性隔壁を設け、当該隔壁内の試験片周囲の空間に特殊環境を構成する流体を注入してあることを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁 - This method for evaluating or screening the sensitizing substance in vitro is characterized by incubating a cell expressing CCR7, IL-23 and/or ATF-3 and a testing sample predicted to contain the sensitizing substance and detecting the expression of the CCR7, IL-23 and/or ATF-3 due to the cell.
本発明は、CCR7、IL-23及び／又はATF-3を発現する細胞と、感作性物質を含有すると予想される被験試料とをインキュベートし、該細胞によるCCR7、IL-23及び／又はATF-3の発現を検出することを特徴とする感作性物質のインビトロ評価方法またはスクリーニング方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a timer or the like for taking examination, capable of performing reexamination or correction of answers in a stage of the latter half of test time, while paying attention to the remaining time of a second unit by preparing the answers, while intuitively grasping a rough situation of progress, at the intermediate stage of the testing period.
試験時間中盤の段階では大まかな進捗状況を直感的に把握しながら答案を作成でき、試験時間後半の段階では答案の見直しや修正を秒単位の残時間に気を配りながら行うこともできる受験用タイマー等を提供する。 - 特許庁
