「For testing」を含む例文一覧(6759)
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冷却コイルの霜取りを短時間で効率よく行うとともに霜取り時における試験室内温度の上昇を最小限に抑え、さらには設備コストの低減及び省エネを図ることができる大型低温風洞空気冷却器のデフロスト方式を提供することを目的とする。 - 特許庁 - This puncture testing device is composed of a sample piece holding means 1 which can hold the sample tire piece S whose one side S1 is in a gaseous pressure applied state, and a puncture factor member driving means 3 for driving a puncture factor member 31 into the sample piece S held by the holding means 1.
タイヤのサンプル片Ｓの一方の面Ｓ１に気体による圧力を付与した状態でサンプル片Ｓを保持可能なサンプル片保持手段１と、サンプル片保持手段１に保持されたサンプル片Ｓにパンク要因部材３１を打ち込むパンク要因部材打ち込み手段３から構成されている。 - 特許庁 - The reproduction object testing device 10 includes a measured motor 15 which is the motor corresponding to a motor 4 of the electric vehicle to be tested, and a synchronization control unit for controlling a rotation of the measured motor 15 according to rotational position information from a reference position of the motor 4.
再現対象試験装置１０は試験対象電動車両のモータ４に対応するモータを被測定モータ１５とし、モータ４の基準位置からの回転位置情報に応じて被測定モータ１５を回転制御する同期制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁 - A rate signal is outputted based on a cycle information stored in a rate memory, the rate signal is delayed to output edges based on timing information of an edge memory, and the IC tester for testing a device under test is improved, using the edges.
本発明は、レートメモリに格納された周期情報に基づいて、レート信号を出力し、このレート信号を、エッジメモリのタイミング情報に基づいて、遅延し、エッジを出力させ、このエッジを用いて、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁 - This sequence monitor for semiconductor testing device indicates on a screen a pin group of a plurality of pins as one sequence waveform, as well as variation in each transition position of the pin group obtained through simulation in the same sequence condition, on the screen so that the transition deviation of the pin group is indicated clearly.
複数ピンのピングループを１つのシーケンス波形として画面上に表示し、且つシミュレーションで得られたピングループの同一シーケンス条件における各遷移位置のばらつきに対して、ピングループの遷移偏差が明示可能に画面表示する、半導体試験装置のシーケンスモニタ。 - 特許庁 - A base station test apparatus 3 receives the voice signal for testing the downlink voice channel arrived via a telephone switch network 1 and a radio base station 4, converts the voice signal into PCM data, and transmits the PCM data to a maintenance console apparatus 5 via a PCM communication channel 6.
基地局試験装置３は電話交換網１と無線基地局４とを経由して到来する下り音声回線試験用の音声信号を受信し、この音声信号をＰＣＭデータに変換し、このＰＣＭデータをＰＣＭ通信回線６経由で、保守卓装置５に送信する。 - 特許庁 - A non-volatile memory 10 is constituted of plural flip-flop connected to each other end of each bit line other than a first register 11 consisting of plural flip-flop connected to each one end of each bit line 2 of a memory cell array 1, and is provided with a second register 12 for testing the discontinuity of each bit line 2.
不揮発性メモリ１０は、メモリセル・アレイ１の各ビット線２の各一端と接続される複数のフリップ・フロップからなる第１レジスタ１１の他に、各ビット線２の各他端と接続される複数のフリップ・フロップからなり、各ビット線２の断線検査用の第２レジスタ１２を備えている。 - 特許庁 - In the case that the specified information is of an output processing mode for testing, a service man executes trial use in the normal use mode at the maintenance time by using the image information to which the specified information is added without being managed by the managing device such as the copy vender and the key counter.
特定情報がテスト用出力処理モードの情報である場合は、メンテナンス時にサービスマンは、特定情報の付加された画像情報の使用により、コピーベンダーやキーカウンタ等の管理装置で管理されることなく、通常使用モードでテスト使用を行うことができる。 - 特許庁 - To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.
複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁 - The testing carrier 10A comprises: a base board 21A for supporting a die 90; a cover board 31A stacked on the base board 21A so as to cover the die 90; and a sealing member 24 which is interposed between the base board 21A and the cover board 31A and surrounds the die 90.
ダイ９０を保持するベース基板２１Ａと、ダイ９０を覆うように、ベース基板２１Ａに重ねられたカバー基板３１Ａと、を備えた試験用キャリア１０Ａは、ベース基板２１Ａとカバー基板３１Ａとの間に介在すると共にダイ９０を取り囲むシール部材２４を備えている。 - 特許庁 - To execute operation of machining and testing of an inner surface of joint end parts which are mutually welded by a remote controlling program from inside of the pipe 8, positioning is performed by introducing a means for operation from the components 3, 4 of the primary circulation system 2 to inside the pipe 8.
配管（８）の内部から、互いに溶接された結合端部の内面の機械加工と検査との作業を遠隔制御のプログラムによって実行するために、一次循環系（２）の構成要素（３，４）から配管（８）の内部へ作業のための手段を導入して位置決めする。 - 特許庁 - To provide an artificial flame testing apparatus for a polymer insulator preventing a great loss of resources, protecting lives of human bodies and preventing damage to assets beforehand by preventing an accident by predicting the performance and load of the polymer insulator which can be generated in a forest fire and appropriately exchanging or maintaining the polymer insulator.
山火事時に発生しうるポリマー碍子の性能及び負荷を予測し、ポリマー碍子を適宜取替えまたは保守することによって、事故を未然に防止し、莫大な資源損失と人名及び財産被害を事前に防止することができるポリマー碍子の人工火炎試験装置を提供すること。 - 特許庁 - A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.
主コイル１１の性能を試験するための試験用コイル１２を主コイル１１の近傍に予め配置し、試験用コイル１２に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部３３Ａが良否判定を行う。 - 特許庁 - To prevent damage to semiconductor elements and socket, by pressing leads and balls of the semiconductor elements to the connecting pins of the socket at a fixed depth, without changing carriers, even if the thickness of the semiconductor element is varied, and to provide a socket assembly for a semiconductor element test capable of improving the testing reliability.
半導体素子の厚さが変わってもキャリア等を交替せず、半導体素子のリード又はボールをソケットの接続ピンに一定の深さで押圧して、半導体素子及びソケットの損傷を防止し、テスト信頼性を向上させる半導体素子テスト用のソケットアセンブリを提供する。 - 特許庁 - To provide a durability testing apparatus for a vehicle seat and a seat attachment, which can attain automatic durability test of a movable part of the vehicle seat without depending on manual operation of an operator, save energy, shorten test time and obtain appropriate test results.
車両用のシートにおける可動部の耐久試験を、作業者の手作業によることなく自動的に行うことができて、省力化、試験時間の短縮及び試験結果の適正化を図ることができる車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置を提供する。 - 特許庁 - The ink-jet recording method includes the image recording process for recording an image by giving a pigment-containing ink to a recording medium and the fixing process in which a pressure-sticking giving means is pressure-contacted with the image part to fix the image part when the tackiness of the image part by a ball tack testing method is at least 20 mm.
記録媒体に顔料を含むインクを付与して画像を記録する画像記録工程と、画像部のタック性がボールタック試験法にて２０ｍｍ以上となったときに、圧着付与手段を前記画像部に圧接して画像部を固定化する固定化工程と、を有している。 - 特許庁 - To provide an apparatus for determining an optimal operating condition in order that focused operation related values can satisfy predetermined conditions while focusing on the operation related values such as Power saving and Low noise in an electro-dynamic vibration testing apparatus, and considering the operation limit of a vibration generator.
動電式振動試験装置における省電力、静音などの運転関連値に注目し、振動発生機の動作限界を考慮しつつ、注目した運転関連値が所定の条件を満足するために最適な運転条件を決定する装置を提供する。 - 特許庁 - This device surely can perform endurance testing for any crack initiation on face material or inner filler of a side section 3 even if an occupant forcedly gets into a car from a door opening only a little to take a seat, because a loader 11 shifts lengthwise while pressing the top of the side section 3.
負荷子１１がサイド部３の頂部を押しながら長手方向に移動するため、乗員が少ししか開かないドアから無理に乗り込んでシートに腰を下ろす場合においても、サイド部３の表皮材や内部充填材の亀裂発生に関する耐久試験を確実に行うことができる。 - 特許庁 - To provide a means by which wiring channel regions relating to signal distribution, quantity of buffers, FF, or the like, and the number of LSI pins can be reduced, and mounting to a chip can be facilitated, in a built-in type self test circuit (BIST) for testing a CAM-macro.
ＣＡＭマクロをテストするための組み込み型自己テスト回路（ＢＩＳＴ）回路において、信号分配にかかわる配線チャネル領域、バッファ、ＦＦなどの物量およびＬＳＩピン数の削減を可能とし、チップへの実装を容易化する手段を提供するものである。 - 特許庁 - The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).
本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁 - To provide a surge current discharge method, a discharge testing device, and a discharge monitoring method for inspecting defect in which reinforcement embedded in a foundation part of a building or concrete of each floor is broken and dissolved due to lightning before ready-mixed concrete placing.
建物の基礎部分や各フロアのコンクリート内に埋設されている鉄筋が落雷により破壊あるいは溶解してしまうような瑕疵を生コンクリート打設前に検査することができるサージ電流放電工法及び放電試験器並びに放電監視方法を提供する。 - 特許庁 - The buildup agent for the model material is composed of a polyol (A), an organic polyisocyanate (B), hollow fine spheres (C) and a dehydrating agent (D) and contains an organic lubricant (W) with a melting point (JIS K0064-1992, 3.2 melting point testing method) of 50-90°C.
ポリオール（Ａ）、有機ポリイソシアネート（Ｂ）、中空微小球（Ｃ）及び脱水剤（Ｄ）からなる模型素材用盛り付け剤において、融点（ＪＩＳ Ｋ００６４−１９９２，３．２融点試験方法）が５０〜９０℃の有機滑剤（Ｗ）を含有することを特徴とする模型素材用盛り付け剤を用いる。 - 特許庁 - The testing machine comprises a support section 1 for fixing and supporting at least one end of a specimen, and a vibration generator 5 that is fixed only to the specimen 2 and vibrates the specimen 2 in the direction orthogonal to a predetermined axis based on inertia force generated by rotation about the predetermined axis.
試験体の少なくとも一端を固定支持する支持部１と、試験体２のみに固定され、所定軸回りに回転することにより発生する慣性力に基づき試験体２を所定軸に直交する方向に振動させる振動発生器５とを備える。 - 特許庁 - To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.
不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁 - A heat generation speed by internal short-circuiting and/or thermal decomposition is converted into a function, based on a test result using a device for testing, a coefficient value contributing to a heat transfer speed is specified, and a heat balance expression is solved by using the heat generation speed converted into a function and the coefficient value, thus obtaining the temperature distribution.
内部短絡及び／又は熱分解による発熱速度を試験用デバイスを用いた試験結果に基づいて関数化し、熱移動速度に寄与する係数値を特定し、関数化した発熱速度及び係数値を用いて熱収支式を解いて温度分布を求める。 - 特許庁 - The functions or characteristics of the claimed inventions are found to be convertible to other functions or characteristics specified by other definitions or processes for testing or measuring, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be grounds to deny the inventive step of the claimed inventions from the results of the conversion.
請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて請求項に係る発明の進歩性否定の根拠になると認められる引用発明の物が発見された場合 - 特許庁 - A third party who privately or in an academic environment and without gainful intent, conducts scientific or technological research activities for purely experimental, testing or teaching purposes, and to that end manufactures or uses a product or applies a process identical to the one patented.
第三者であって，私的又は学術的環境において営利を目的とせず，純粋に実験的，試験的又は教育目的で，科学技術研究活動を行い，その目的のために，特許を受けたものと同一の製品を製造し，使用し，又は同一の方法を利用する者。 - 特許庁 - To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.
半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁 - When testing a memory 200 embedded in an information processing system 1, a memory control device 100 sets a second operation condition stricter than a first operation condition for an operating operation, and tests the memory on the second operation condition.
メモリ制御装置１００は、情報処理システム１に組み込まれたメモリ２００の試験を行う場合に、運用動作時の動作条件である第一動作条件よりも厳しい動作条件である第二動作条件に設定を切り替え、切り替えられた第二動作条件でメモリを試験する。 - 特許庁 - To enable a required material testing to be carried out even by a person other than an expert engineer, without the need for understanding the standards, and to reduce the possibility of incorrect execution in the test as reduced as possible, when the material testings are carried out pursunat to various standards.
各種規格に則った材料試験を行うに当たり、その規格を理解することなく、専門技術者でなくとも所要の試験を行うことができ、また、間違った試験を行う可能性を可及的に少なくすることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁 - The obtained fiber fabric has ≥2.2 bacteriostatic activity value measured by a method for evaluating and testing antibacterial properties regulated by JIS L1092, and ≤1.5% shrinkage at home laundry regulated by JIS L0217.
及び得られた繊維布帛のＪＩＳ Ｌ１０９２に規定する抗菌性評価試験方法による静菌活性値が２．２以上であり、かつＪＩＳ Ｌ０２１７に規定する家庭洗濯における収縮率が１．５％以下である上記の獣毛蛋白質系繊維の防縮抗菌防臭加工方法。 - 特許庁 - To provide a floor sound insulating performance testing device capable of accurately predicting the floor impulsive sound insulating performance of a dry double floor in a short time using a floor board and a support leg used for the dry double floor without actually constructing the dry double floor.
乾式二重床に使される床板や支持脚を用い、実際に乾式二重床を施工することなく、乾式二重床の床衝撃音遮音性能を短時間でかつ正確に予測することのできる床遮音性能の試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.
その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁 - This testing method is carried out for a membrane tank 1, having a tank 3 and a cold-insulation layer 4 isolated from each other by a membrane 5, and comprises the filling of the tank 4 with a pressurized tracer gas, the sampling of a gas filling the layer 4, and the measurement of the concentration of the tracer gas in this gas.
タンク３と保冷層４とがメンブレン５で隔離されているメンブレンタンク１で実施され、タンク４にトレーサーガスを加圧して充填すること、保冷層４に充填されている気体をサンプリングすること、気体のトレーサーガスの濃度を測定することとを具備する。 - 特許庁 - To provide a method capable of quantitatively measuring concentration of an object to be analyzed in a sample which is difficult to be quantified by using conventional methods, and a kit and a device capable of being used for the method, and to provide a method which controls quality by testing the performances of the kit and the device.
従来定量化が困難であった試料中の被分析物濃度を定量的に測定する方法及び前記方法に使用し得るキット及び装置を提供し、また、前記キット及び装置の性能を検査することにより品質を管理する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - That is, the collision testing device 1 enables the vehicle structural members to collide against the dummy DM not only by simply moving the vehicle structural members (for example as shown in Figure 10) but also by moving the vehicle structural members in a state that the vehicle structural member at different position has the different driving speed.
すなわち、衝突試験装置１は、単に車両構造部材を移動させてダミーに衝突させる（例えば、図１０参照）のみならず、位置によって異なる速度で移動させた状態にて車両構造部材をダミーＤＭに衝突させることが可能となる。 - 特許庁 - To provide a running testing apparatus for a vehicle to continuously perform running test with fixed accuracy, by surely holding the tester at a lever part of a shape having a curved surface, a spherical surface, etc., while preventing an operating means from loosening with time, being displaced, being disconnected, etc.
曲面や球面等を有する形状のレバー部に対して、操作手段の経時的な緩み、位置ずれ及び連結のはずれ等を防止して確実に保持し、一定精度で継続して走行試験を行うことができる車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁 - In a method for dividing the semiconductor integrated circuit device (corresponding to S1 and S2) into a plurality of groups and testing them simultaneously, in at least one group, the semiconductor integrated circuit device is made to operate by a clock signal (corresponding to CLK1 and CLK2) of a frequency that differs from those of the other groups.
半導体集積回路装置（Ｓ１とＳ２に対応）を複数のグループに分けて同時に試験する方法であって、少なくとも１つのグループにおいて、他のグループとは異なる周波数のクロック信号（ＣＬＫ１とＣＬＫ２に対応）で半導体集積回路装置を動作させる。 - 特許庁 - An apparatus 100 for testing the semiconductor makes blank test signals transmit mutually through transmission path T1 to be output simultaneously from drivers DR1, DR2, and measures output timings t1, t2 when the signals are output from the drivers DR1, DR2, and attainment timings t4, t3 when the signals reach the drivers DR1, DR2.
半導体試験装置１００は、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から試験信号を互いに伝送経路Ｔ１を伝送させて同時に出力させ、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から出力した出力タイミングｔ１，ｔ２と、ドライバＤＲ１，ＤＲ２に到達した到達タイミングｔ４，ｔ３を測定する。 - 特許庁 - In the method for testing the surface state of the measuring object, a nib-shaped chip 11 formed of a circular cone or pyramid disposed at the tip of a hammer 12 is collided with the measuring object 16, and the surface state of the measuring object 16 is evaluated based on the repulsion constant of the hammer 12 after the collision.
測定物の表面状態試験方法は、ハンマ１２の先端部に設けられた円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップ１１を、測定物１６に衝突させ、衝突後のハンマ１２の反発定数によって、測定物１６の表面状況を評価する。 - 特許庁 - In a drive circuit IC3 of an FET3 which becomes an output switch for testing, a voltage is detected by means of a Zener diode ZD and a resistor R1, and when insufficient voltage is detected from the voltage detection by means of a comparison circuit COM, the FET3 is forcibly turned off by dropping the voltage across the gate and source of the FET3 to zero volt.
試験用出力スイッチとなるＦＥＴ３のドライブ回路ＩＣ３において、ツェナーダイオードＺＤと抵抗Ｒ_1で電圧を検出し、この電圧検出で比較回路ＣＯＭで電圧不足を検出したときにＦＥＴ３のゲートソース間を０ボルトにしてその強制オフを行う。 - 特許庁 - To provide a method for testing the durability of concrete capable of accurately grasping the durability of the concrete by determining the relation of strength between an unaltered section and an altered section in concrete specimens, the size of the altered section, and the degree of its alteration.
コンクリート供試体における非変質部位と変質部位の強度の関係及び変質部位の大きさとその変質程度を求めることで、コンクリートの耐久性を正確に把握することができるコンクリートの耐久性試験方法を提供することを課題としている。 - 特許庁 - To provide a non-adhesive bond type package adapter, capable of interrupting air infiltration from a join part by adhesive bond between a test vessel orifice and a package adapter, without the use of adhesive bond, and making possible testing, in gas barrier tests for PET bottles and pouches with stopper (pouched container).
ペットボトルや口栓付きパウチ（袋状容器）に対するガスバリア性試験において、試験容器口とパッケージアダプター間の接着剤による接合箇所からの大気侵入を、接着剤を使用することなく遮断させ、試験できるようにするため、無接着剤式のパッケージアダプターを提供する。 - 特許庁 - The electric double-layer capacitor polarized electrode is manufactured by using a carbonaceous material in which a raw material is for example activated with non-baked coke originating from coal or oil, in which the thermal coefficient of expansion measured by an artificial graphite electrode testing method is adjusted within 0.8-2 as the raw material.
人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数を０．８〜２の範囲内に調整した石炭または石油由来の未か焼コークスを原料として、この原料を例えば賦活処理した炭素材を用いて電気二重層キャパシタ分極性電極を製造する。 - 特許庁 - The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.
テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第１の端部を有し、試験される装置の少なくとも１つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁 - To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.
接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁 - To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.
無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁 - Then each component that is taken out of the tray Tr is subjected to image recognition based on the imaging of the component, recognition camera 34, and the control means of a component-testing apparatus 1 is composed so that the operation of a head 23 and the like are controlled for transferring the component to a fixed position of the table 32 based on the recognition result.
そして、トレイＴｒから取出した各部品を部品認識カメラ３４の撮像に基づき画像認識し、この認識結果に基づいてテーブル３２の定められた位置に部品を移載すべくヘッド２３等の動作を制御するように部品試験装置１の制御手段を構成した。 - 特許庁 - Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.
次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置２０から読み出したテスト項目情報に含まれる機能ＩＤが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁 - Therefore, to be able to recommend hepatitis testing and prevent new infections, it is necessary to disseminate information to educate the population regarding promote enlightenment and dissemination and information provision for all citizens to accurately understand hepatitis prevention, disease and treatment.
こうした中において、肝炎ウイルス検査の受検を勧奨し、また、肝炎ウイルスの新たな感染を予防するためには、全ての国民に対して、肝炎の予防、病態及び治療に係る正しい理解が進むよう普及啓発及び情報提供を推進する必要がある。 - 厚生労働省
