「For testing」を含む例文一覧(6759)

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  • For realizing the running environment with a lot of dust not by a dust prevention performance test by actual test course running, road surface conditions and operation motion scattering of a driver is excluded and reproducibility of the running environment with a lot of dust is improved, and repetition of a plurality of testing which may occur in the dust prevention performance test by actual test course running, can be avoided.
    そして、テストコース実走行防塵性能試験によらずに多塵路走行環境を再現するので、路面コンディションやドライバ−の運転操作バラツキが排除され、多塵路走行環境の再現性が向上し、テストコース実走行防塵性能試験で起こり得る複数回にわたる試験の繰り返しを回避できる。 - 特許庁
  • To provide maintainability testing method and device/system implementing the method which can be applied to various porous materials including such filter devices as single layer thin film, double layer thin film, etc., providing non-correlated universal standards for characteristic evaluation of porous material.
    単層薄膜装置及び複層薄膜装置等のフィルター装置を含む多様な多孔性材料に対して適用することができ、多孔性材料の特性の評価に対して非相関的で普遍的な標準を与える保全性試験の方法及びその方法を実施する装置及びシステムを提供する。 - 特許庁
  • This electrode prober 19 is arranged between an tested IC package 4 having a plurality of electrodes 8 and an IC mounting face 3 in an IC test device testing an operation of the IC package for conduction between respective electrodes 2 on the IC mounting face in the IC test device with the respective electrodes 8 in the IC package 4.
    複数の電極８が形成された試験対象のＩＣパッケージ４と、このＩＣパッケージの動作試験を行うＩＣ試験装置のＩＣ取付面３との間に介挿され、ＩＣ試験装置のＩＣ取付面３の各電極２とＩＣパッケージ４の各電極８とを導通させる電極プローバー１９である。 - 特許庁
  • To provide a testing method for evaluating material separation resistance at the fresh time of high fluidity concrete capable of easily performing quantitative evaluation with only simple equipment and a device at both of a working site and a laboratory.
    簡単な器具ないし装置を用いるだけで、試験室及び工事現場のいずれにおいても容易に実施することができ、コンクリートの材料分離抵抗性に関する定量的な特性評価が可能な、高流動コンクリートのフレッシュ時における材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁
  • This method for testing short-circuiting in the battery consisting of a positive electrode, a negative electrode, a separator arranged so as to separate both the electrodes and electrolyte enables to determine short-circuiting by a resistance by making the electrolyte solid state and measuring alternating current impedance between the positive electrode and the negative electrode.
    本発明は、正極と負極とこの両者を隔離するように配したセパレータと電解液からなる電池の短絡の有無の検査方法であって、前記電解液を固体状態とし、前記正極と前記負極の間で交流インピーダンスを測定し、その抵抗値によって短絡の有無を判定することができる。 - 特許庁
  • To provide a test-facilitating design apparatus and its method for verifying and adjusting consistency between adjoining components when constructing a system including a plurality of components including hardware or software, and performing design to estimate appropriate test man-hours by suppressing an abrupt increase of the number of test cases in testing the system.
    ハードウエアまたはソフトウエアを含む複数の部品から成るシステムを構築する場合において、隣接する部品同士間の整合性を検証および調整し、システムのテストにおいてテストケースの数の爆発を抑制し適切なテスト工数を見込む設計を行うためのテスト容易化設計装置ならびにその方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for rapidly and simply carrying out quantitative measurements related to the proliferation and activities of various microorganisms without breaking the microorganisms, and to provide a susceptibility-testing method which employs the measurement method and can rapidly and simply evaluate the sterilizing powers of various antibacterial agents against various bacteria.
    多様な微生物の増殖や活性に関する定量的測定を微生物を破壊せずかつ迅速簡便に行える方法、及びこの測定方法を用いて、種々の細菌に対する各種抗菌剤の抗菌力を迅速簡便に評価することができる感受性試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.
    熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁
  • When the semiconductor testing apparatus 1 is powered on, the tester controller 10 directly transfers a compressed OS 12, i.e., a compressed OS for use at the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n, to the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n via a bus B.
    テスタコントローラ１０は、半導体試験装置１の電源投入時に、リダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎで用いられるＯＳを圧縮したＯＳである圧縮ＯＳ１２を、バスＢを介してリダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎに直接転送する。 - 特許庁
  • In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.
    この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁
  • To conduct various kinds of testing for characteristic of optical semiconductor in a state with the wavelength locked, in a wavelength locker module having a function to lock the wavelength and a wavelength variable laser module utilizing the wavelength locking function, by feedback of wavelength of an output light detected by a wavelength monitor and by conroling the temperature of the module.
    波長モニターにより検知した出力光の波長をフィードバックして温度制御をおこなうことにより波長をロックする機能を有する波長ロッカーモジュールや、この波長のロック機能を利用した波長可変レーザモジュールに対して、波長をロックした状態で光半導体としての各種特性の試験をおこなうこと。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.
    複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁
  • An electrode terminal 12 testing a semiconductor integrated circuit is disposed on a scribe lane 13 provided for dividing the semiconductor integrated circuit, and the electrode terminal 12 on this scribe lane 13 is connected to electrode terminals 11a, 11b of the opposing semiconductor integrated circuit by a front layer wiring 15a.
    半導体集積回路を分割するために設けられているスクライブレーン１３上に、半導体集積回路を検査するための電極端子１２を配置し、このスクライブレーン１３上の電極端子１２に、相対する半導体集積回路の電極端子１１ａ，１１ｂを表層配線１５ａにより接続する。 - 特許庁
  • To operationally verify whether or not a digital/analog converter built in a semiconductor integrated circuit can execute a normal digital/analog conversion action when using the digital/analog converter as a test signal generator for testing an analog/digital converter built in the semiconductor integrated circuit.
    半導体集積回路に内蔵されたアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト信号発生器として半導体集積回路に内蔵されたデジタル／アナログ変換器を使用する際に、デジタル／アナログ変換器が正常なデジタル／アナログ変換動作を実行可能であるか否か動作検証することを可能とすること。 - 特許庁
  • The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.
    リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁
  • To provide a testing device of cable runs in a distribution board which can accurately detect the existence of short-circuit in the cable runs at a low-voltage side, when starting the use of an apparatus, after the end of the construction and inspection thereof in the distribution board equipment (a low-voltage distribution board for feeding a low AC voltage), installed in a substation or a distributing substation.
    変電所や配電所に設置された配電盤設備（低圧の交流電圧を供給する低圧配電盤）において、工事や検査を終えて使用開始する際に、低圧側の電路における短絡の有無を精度よく検知することができる配電盤内電路試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a high-frequency low-power circuit technique which achieves with low consuming powers the necessary performances for respective circuit modules, and deals with the contractions of their design terms and testing times and the variations of their manufacturing processes, in an integrated circuit apparatus formed out of a plurality of CMOS circuit modules.
    複数のＣＭＯＳ回路モジュールで構成される半導体集積回路装置において、各回路モジュールが必要な性能を低消費電力で達成し、設計期間の短縮、テスト時間の短縮およびプロセス製造ばらつきへの対応を可能とする高性能低電力回路技術を提供する。 - 特許庁
  • In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.
    複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁
  • The communication testing means 18 tests whether it is possible to execute the communication function by utilizing the other pattern of the communication setting data stored in the storing means 14 while maintaining a state where it is possible for the communication means 16 to execute the communication function by utilizing the one pattern of the communication setting data.
    通信テスト手段１８は、上記の一方のパターンの通信設定データを利用して通信手段１６が通信機能を実行することができる状態を維持しながら、記憶手段１４に記憶されている他方のパターンの通信設定データを利用して通信機能を実行することができるのか否かをテストする。 - 特許庁
  • To provide a power generation testing device for a cell of a solid oxide fuel battery capable of surely sealing between an air chamber as well as a fuel chamber and the cell of the solid oxide fuel battery and repetitively using the air chamber and the fuel chamber.
    本発明の目的は、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーと固体酸化物形燃料電池用セルとの間のシールをより確実に行うと共に、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーの繰り返し使用を可能とする固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置を提供することにある。 - 特許庁
  • The ceramic substrate for semiconductor manufacturing/testing which has a conductive layer on its surface or inside is comprised of a nitride ceramic containing oxygen and its thickness is 50 mm or less.
    セラミック基板の内部または表面に導体層を有する半導体製造・検査用セラミック基板において、前記セラミック基板は、窒化物セラミックからなり、その窒化物セラミック中には、酸素が含有されているとともに、前記セラミック基板の厚さは、５０ｍｍ以下であることを特徴とする半導体製造・検査用セラミック基板。 - 特許庁
  • (vii) In addition to what is listed in the preceding item, equipment for the design, manufacture, measurement, test, or repair of goods (excluding optical fiber testing equipment and measuring equipment) that fall under any of item (i), item (ii), item (iv), item (v),or item (v)-2, or components or accessories thereof
    七　前号に掲げるもののほか、第一号、第二号、第四号、第五号若しくは第五号の二のいずれかに該当する貨物の設計用の装置、製造用の装置、測定装置、試験装置若しくは修理用の装置（光ファイバーの試験装置及び測定装置を除く。）又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • This testing method for ammonia leakage is carried out on a membrane tank 10 having a tank 2 isolated from a cold-insulation layer 3 by the membrane 4, and comprises the filling of the layer 3 with a pressurized gas, the measuring of displacement 25 of the membrane 4, and the controlling of the filling amount of gas based on the displacement 25.
    タンク２と保冷層３とがメンブレン４で隔離されているメンブレンタンク１０に実施されるアンモニアリーク試験方法であり、保冷層３にガスを加圧して充填すること、メンブレン４の変位２５を測定すること、変位２５に基づいてガスの充填する量を制御することとを具備している。 - 特許庁
  • To provide a compression test device for stably arranging a pedestal member used as the base of a test piece, obtaining a more reliable test result, easily and surely adjusting the position of the pedestal member in a preliminary test, and reducing the workload of a person in charge of testing.
    試験体の土台として使用される台座部材を下部ロッド上に安定配置し得、より信頼性の高い試験結果が得られると共に、予備試験における台座部材の位置調整を容易且つ確実に行うことができ、試験担当者の負担軽減を図り得る圧縮試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In a simulation testing apparatus 1 of train travel, a train generation function section 12-1 generates existing stations, train names, and existing locations when a train generation command is inputted from a console 2, and reads the prescribed value of each track circuit between stations from a track circuit file 101 for initially setting to a train traveling tracking file 102.
    列車走行の模擬試験装置１は、操作卓２から列車生成指令が入力されると、列車生成機能部１２−１が在線駅、列車名、在線箇所を生成し、軌道回路ファイル１０１から駅間の各軌道回路の規定値を取り込み、列車走行トラッキングファイル１０２に初期設定する。 - 特許庁
  • In a testing using this method and apparatus for evaluating the strength of a wedge junction, a tensile load is applied to the wedge junction of a semiconductor bonding wire, the bonding wire is pulled, while keeping constant the angle between a tensile direction and a junction sample surface to measure the characteristics of the changes in the wire.
    半導体用ボンディングワイヤのウェッジ接合部に引張荷重を加える試験において、引張り方向と接合試料面との角度を一定に維持しながら、ボンディングワイヤを引張ることにより、ボンディングワイヤの変化特性を測定することを特徴とするウェッジ接合部の強度評価法および評価装置。 - 特許庁
  • This method for testing the cytotoxicity comprises evaluating toxicity of a test object based on the toxicity to an established cell line derived from a sturgeon, wherein a STIP-1 cell line (FERM P-18909) or a STIP-3 cell line (FERM P-18910) is exemplified as the suitable established cell line derived from the sturgeon.
    本発明は、チョウザメ由来の株化細胞に対する毒性に基づいて被検物質の毒性評価を行う細胞毒性試験方法であり、好適なチョウザメ由来の株化細胞としては、ＳＴＩＰ−１細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９０９）とＳＴＩＰ−３細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９１０）が挙げられる。 - 特許庁
  • To provide a nuclear instrumentation design aiding system capable of automatic design of component such as specification determination and automatic formation of testing specification by using CAD(computer aided design) and analyzing tools on the basis of upstream system design specification and improving design efficiency and design quality in process instrumentation design for a reactor power station.
    原子力発電所プロセス計装設計において、上流の系統設計仕様を元に、ＣＡＤ、解析ツールを使用し、仕様決定等の機器の自動設計、試験仕様の自動作成が可能で、設計効率及び設計品質の向上を図ることができる原子力計装設計支援システムを提供する。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device 1 having a pattern memory circuit 12 used for performing functional tests on semiconductor integrated circuits is provided with a backup power source 14 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 when the power supply from a power supply unit 11 which supplies electric power to the pattern memory circuit 12 at normal time is shut off.
    半導体集積回路の機能試験をするためのパターンメモリ回路１２を有する半導体試験装置１において、通常時にパターンメモリ回路１２に電源を供給する電源ユニット１１からの電源の供給が遮断されたとき、パターンメモリ回路１２に電源を供給するバックアップ電源１４を備えた。 - 特許庁
  • A control means for the FC evaluation testing apparatus confirms if an overload rating exceeds a predetermined threshold value, where the overload rating is introduced on the basis of a theoretical output which a water temperature detection sensor 42 and a vapor temperature detection sensor 44 determine uniquely, and a real output which is necessary to humidify the gas to a predetermined dew temperature with the humidifier 23.
    ＦＣ評価試験装置の制御手段は、水温検知センサ４２、蒸気温検知センサ４４により一意的に定まる理論出力と、ガスを加湿装置２３によって所望の露点温度まで加湿するのに要する実出力とに基づいて導出される過負荷度が所定の閾値を超えるか否かを確認する。 - 特許庁
  • To provide a suitability testing apparatus of a tire slip preventing apparatus for simplifying a work process, reducing a workload of a worker, ensuring safety when the worker works, reducing a noise due to work, and precisely inspecting the suitability between a tire slip preventing member and a tire.
    作業工程を簡易にして、作業者の作業労力を軽減し、作業者の作業時における安全性を確保するとともに、作業に伴う騒音を低減し、高い精度をもって、タイヤ滑り止め部材とタイヤとの適合性を検査することができるタイヤ滑り止め装置の適合性試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To solve such problems that accumulation and development of knowledge and techniques useful for ameliorating diseases considered to be caused by a signal transduction abnormality through a CRMP2 protein, e.g. disease symptoms such as Alzheimer's disease, schizophrenia and axonal injury are pressing need; and the development of testing tools etc., in relation thereto is expected.
    CRMP2タンパク質を介したシグナル伝達異常に起因すると思われる疾患、例えば、アルツハイマー病、統合失調症及び軸策損傷等のような疾患症状を改善させるために有用な知識・技術の蓄積・開発が急務であり、これに関連する試験ツール等の開発が期待されている。 - 特許庁
  • The customs or other competent authorities may allow the right holder, importer or exporter to examine the goods, the clearance of which has been suspended in accordance with Article 39, and to remove samples for examination, testing and analysis, to determine whether the goods are counterfeit.
    税関又は他の管轄当局は，権利所有者，輸入業者又は輸出業者に対して，第39条に従い通関が差し止められた商品を検査することを許可すること，及び商品が偽造であるか否か決定するために検査，試験，分析用の見本を採取することを許可することができる。 - 特許庁
  • This semiconductor device and its testing method are equipped with an N-channel type MOSFET 11 and its protection diode 12, and have a switching circuit SW-1 for validating the protection diode 12 by being switched on by fusing of a fuse 2 between the N-channel type MOSFET 11 and the protection diode 12.
    本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１とその保護ダイオード１２とを備え、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１と保護ダイオード１２との間に、ヒューズ２の溶断によってスイッチをオンさせて保護ダイオード１２を有効にするスイッチ回路ＳＷ−１を有する。 - 特許庁
  • For a semiconductor device having a plurality of analog input terminals AIN0 and AIN1, which have internal analog switches 11 and 12, characteristic testing of each analog input terminal switched by the analog switches 11 and 12 is conducted by simultaneously switching on the analog switches 11 and 12.
    複数のアナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１を持つ半導体装置において、アナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１は内部アナログスイッチ１１，１２を有し、前記アナログスイッチ１１，１２により切り替えられている各アナログ入力端子の特性テストを、そのアナログスイッチ１１，１２を２個同時にオンさせて行う。 - 特許庁
  • To provide an indoor-outdoor dual purpose load moving testing device capable of being conveyed to a measurement field by being equipped with only a necessary minimum mechanism and being miniaturized, and executing also an outdoor test by being equipped with a temperature providing means for setting and keeping a sample piece part at a desired temperature.
    必要最低限の機構のみを備え、装置を小型化することにより測定現場への搬送を可能にし、且つ、供試体部分を所望の温度に設定、保持するための温度供給手段を備えることにより屋外での試験も実行可能な、屋内外兼用の荷重移動試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The total intelligent test procedure management system is provided with a document management database 2 having an electronic manual 71 showing a procedure for testing a test target, and a terminal machine 15 reading the electronic manual 71 inside the document management database 2 to display it and allowing input of the test result on the test target.
    本発明の総合インテリジェント試験進行管理システムは、試験対象を試験する手順を示した電子要領書７１を有するドキュメント管理データベース２と、ドキュメント管理データベース２内の電子要領書７１を読み出して表示するとともに、試験対象の試験結果を入力できる端末機１５とを備えている。 - 特許庁
  • Between a buried core 11 and a custom logic section 12, a test shift register 13 constituting a scan path circuit for testing the buried core 11 of an input register and an output register is provided, and the first stage flip-flop of a scan path circuit 122 in the custom logic section 12 is connected with the last stage flip-flop of the test shift register 13.
    埋め込みコア１１とカスタムロジック部１２との間に、入力用レジスタおよび出力用レジスタで埋め込みコア１１テスト用のスキャンパス回路を構成するテスト用シフトレジスタ１３を備え、カスタムロジック部１２内のスキャンパス回路１２２の初段のフリップフロップとテスト用シフトレジスタ１３の最終段のフリップフロップとを接続する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit device in which the cost of a test can be reduced due to the cost reduction of a tester by reducing a capacity of an expected value memory in the tester, in the semiconductor integrated circuit device frovided with the memory with multiple bits of word lengths and a BIST (Build In Self Test) circuit for testing the memory.
    語長を複数ビットとするメモリと、該メモリのテストを行うためのＢＩＳＴ回路を備える半導体集積回路装置であって、テスタ内の期待値メモリの容量を削減し、テスタのコスト削減によるテストのコスト削減を図ることができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁
  • To realize a testing device for a network service system that prevents simulating tools from being asynchronous not to hold results of business transactions in logs etc., separately by kinds of the simulating tools, but to systematically rearrange a time base and business multiplicity by processing response results together.
    擬似ツール間の同期のズレを防止し、擬似ツールで投入した業務トランザクションの結果についても擬似ツールの種類ごとにバラバラにログ等で保持するのではなく、一括した応答結果の処理により時間軸、業務多重度を系統的に整理することを可能とするネットワークサービスシステムの試験装置を実現する。 - 特許庁
  • The method for cleaning the aligner which is brought into contact with the reticle comprises the steps of providing a material, having a cleaning layer which has a tensile elastic modulus (in compliance with the testing method of JIS K7127) of 0.98 to 4,900 MPa, and conveying the material in the aligner to be cleaned.
    レチクルまたはレチクル状物のこれらが被洗浄装置と接する部位に、引張弾性率（試験法ＪＩＳ Ｋ７１２７に準ずる）が０．９８〜４９００ＭＰａであるクリーニング層が設けられた材料を設け、被洗浄装置内を搬送することを特徴とするレチクルが接する装置のクリーニング方法である。 - 特許庁
  • To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.
    テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁
  • In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.
    ＡＳＩＣ１００およびＳＤＲＡＭ１０１など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたＳＩＰ１０２において、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路（ＳＤＲＡＭＢＩＳＴ１０９）をＡＳＩＣ１００内に設けて、ＳＤＲＡＭ１０１の外部から、すなわちＡＳＩＣ１００からＳＤＲＡＭ１０１のテストを行うようにする。 - 特許庁
  • A fluidity testing device 1 comprises a molten metal port 11 through which a molten metal is injected, a flowing pathway 12 through which the injected molten metal flows, a standard pressure port 13 provided in the flowing pathway 12, and at least one pressure port for measurement 14 provided in the flowing pathway 12 downstream from the standard pressure port 13.
    流動性試験器１は、溶融金属を注入するための湯口１１と、注入された溶融金属が流れる流路１２と、流路１２に設けられた基準圧力ポート１３と、流路１２の基準圧力ポート１３よりも下流側に少なくとも一つ設けられた測定用圧力ポート１４とを有する。 - 特許庁
  • To provide a chuck mechanism of a discharge and charge testing device for a thin type secondary cell that reduces conventional troublesome operation, namely, operation to store and fix many thin type secondary cells in a storage container etc., and also securely chuck the thin type secondary cells (electrodes).
    本発明は薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構に係り、従来の煩わしい作業、即ち、例えば多数の薄型二次電池を収納容器等に収納、固定するといった作業を軽減し、併せて薄型二次電池（電極）に対する確実なチャックを可能としたチャック機構を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display device for testing wiring defects in a panel, capable of detecting a disconnection and a short circuit of wiring when applying a signal, by connecting data lines or gate lines or a common line in the panel with each pad through wiring of a zigzag form arranged outside of the panel.
    パネル内のデータラインまたはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結することによって、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
  • The testing device include: input terminals CN1-CN12 which enable the input of one or more types of test data obtained as a result of a test covering a game machine; and a memory 321 on which inputtable data are stored which represents the types of the test data to be outputted from the game machine involved corresponding to machine type data for identifying the game machine.
    遊技機による試験の結果であり１以上の種類がある試験データを入力可能な入力端子ＣＮ１〜ＣＮ１２を有するとともに、遊技機を識別するための機種データに対応して、当該遊技機から出力される試験データの種類を表す入力可能データが記録されたメモリ３２１を備える。 - 特許庁
  • CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF
    冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁
  • The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.
    本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化、残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省
  • The MHLW and quarantine stations shall provide technical support to exporting countries as necessary so as to contribute to the strengthening of monitoring systems and the improvement of testing techniques for residual agricultural chemicals, etc. by dispatching experts and accepting trainees through JICA Technical Cooperation Projects.
    本省及び検疫所は、輸出国における監視体制の強化及び残留農薬等の試験検査技術の向上に資するよう、独立行政法人国際協力機構の技術協力プロジェクトを通じた専門家の派遣や研修員の受入れ等により、必要に応じた輸出国への技術協力等を行う。 - 厚生労働省
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