「For testing」を含む例文一覧(6759)

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  • Besides, this testing method performs steps of: mounting, on the shaft, a base material to which deposition substances are applied, immersing a film coated base material in a solution housed inside a container, utilizing the drive system for rotating the shaft and the film coated base material at a given rotating speed, and determining an amount of the deposition substances removed from the base material.
    この試験方法はさらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁
  • A changeover circuit 26 of a load control unit 1 detects open and close of a circuit breaker 7, gives a normal power to a multi-functional protection relay device 5 from a main circuit 3 in a closed-circuit state of the circuit breaker 7, and gives a power for testing to the multi-functional protection relay device 5 in an open-circuit state of the circuit breaker 7.
    負荷制御装置１の切換回路２６は、回路遮断器７の開閉を検出し、その回路遮断器７が閉路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に主回路３から常用電源を与え、回路遮断器７が開路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に試験用電源を与えるように切り換える。 - 特許庁
  • To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.
    高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁
  • Article 22 (1) The competent minister may, within the limits necessary to enforce the provisions of this Section, require a Registered Inspection Body to submit reports on its work for Testing of Organisms, or may authorize staff members to enter the office of a Registered Inspection Body, inspect the books, documents or other necessary properties of the Registered Inspection Body, or question relevant persons.
    第二十二条　主務大臣は、この節の規定の施行に必要な限度において、登録検査機関に対し、その生物検査の業務に関し報告を求め、又はその職員に、登録検査機関の事務所に立ち入り、登録検査機関の帳簿、書類その他必要な物件を検査させ、若しくは関係者に質問させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 29 (1) The State and prefectures shall set up the necessary facilities for inspections where inspections under Article 25, paragraph (1) or Article 26, paragraphs (1) to (3) (hereinafter referred to as "product inspections") and affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out.
    第二十九条　国及び都道府県は、第二十五条第一項又は第二十六条第一項から第三項までの検査（以下「製品検査」という。）及び前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The method for testing the secondary battery of this invention includes a step of discharging and charging that carries out discharging and charging in the secondary battery treated initial discharging and charging treatment under a discharging and charging current larger than that of the initial discharging and charging current of the initial discharging and charging treatment.
    本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.
    従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁
  • The apparatus for testing the optical head device 106 controls one or more functions out of focusing servo control, tracking servo control and spindle servo control, using control circuits (a PCB mounted thereon a controller, a servo circuit, a digital circuit, etc.), of the optical disk drive apparatus 100 into which the device 106 to be tested is to be incorporated.
    光学ヘッド装置１０６を検査するための検査装置において、検査装置のフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、スピンドルサーボのうちいずれか１つ以上の制御機能を、検査対象の光学ヘッド装置１０６が組み込まれる光ディスク駆動装置１００の制御回路（コントローラ、サーボ回路、デジタル回路などを実装したＰＣＢ）を使用して実現するように構成した。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.
    半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing apparatus constituted so as to perform operation processing of measurement data of a DUT by the DSP, a measuring file storage means for collecting and storing the measurement data of the DUT is provided in the DSP, and debugging of the DSP is carried out, based on the measurement data stored in the measuring file storage means.
    ＤＳＰでＤＵＴの測定データの演算処理を行うように構成された半導体試験装置において、前記ＤＳＰに前記ＤＵＴの測定データを収集格納する測定ファイル格納手段を設け、この測定ファイル格納手段に格納された測定データに基づき前記ＤＳＰのデバッグを行うことを特徴とするもの。 - 特許庁
  • The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.
    集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁
  • To provide a load cell correction jig capable of correcting bentness of a load cell so as to be not influenced by bentness of the load cell, without generation of noise due to reflection wave, when, for example, high-speed tension test is performed of low strength of resin and thereby to provide a high-speed tension testing machine capable of implementing easy and correct measurement.
    例えば樹脂などの低強度の高速引張り試験を行う際に、反射波によるノイズを発生させることなく、ロードセルの曲がりによる影響を受けないようにロードセルの曲がりを矯正することが可能なロードセル矯正治具およびこれを用いて、簡易に正確な測定が可能な高速引張り試験機等を提供する。 - 特許庁
  • Typical configuration of the method for manufacturing the vertical magnetic recording disk includes a writing process which applies an alternating current with a frequency less than a predetermined value or a direct current while rotating the magnetic disk, and a signal quality testing process after writing.
    上記課題を解決するために、本発明に係る垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、磁気ディスクを回転させつつ、所定の周波数以下の交流信号または直流信号を印加して書き込みを行う工程と、書き込みを行った後に信号品質テストを行う工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a premixed gas supply testing device capable of reducing waiting time and improving test efficiency by reducing abrupt expansion of volume of premixed gas in a combustion vessel when supplying gas for stabilizing temperature and pressure of the premixed gas, and capable of stabilizing fuel concentration in the premixed gas immediately after starting to supply gas and temperature of the premixed gas.
    給気時における燃焼容器内での予混合気の急激な体積膨張を軽減して、該予混合気の温度と圧力を安定化し得、又、給気開始直後の予混合気中の燃料濃度並びに予混合気の温度を安定化し得、待ち時間の短縮と試験効率向上を図り得る予混合気供給試験装置を提供する。 - 特許庁
  • (2) If the applicant has claimed protection for more than one plant variety in one application, he may divide the application, retaining the date of filing and any earlier priority, if any, until such time as the experimental testing has begun. In any other matters pertaining to division, the provisions of Article 73(2) and (3) shall apply.
    (2) 出願人は，1の出願において1を超える植物品種に関する保護を請求した場合は，実験的試験が開始される時までに，出願日及び(ある場合は)先の優先権を維持したままで，当該出願を分割することができる。分割に関連する他の事項に関しては，第73条(2)及び(3)の規定を適用する。 - 特許庁
  • In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.
    複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁
  • To provide a testing device for determination of a display defect including display irregularity and the like to be appeared on a display surface of a plane display device and a manufacturing method of the plane display device using this which are capable of making determination of display irregularity and the like precisely and reliably without being affected by skill level and some difference of operation conditions.
    平面表示装置の表示面に表れる表示ムラその他の表示欠陥を判定するのに用いる検査具、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、表示ムラ等の判定を、熟練度や多少の作業条件の違いに左右されることなく、高い精度及び信頼度にて行うことができるものを提供する。 - 特許庁
  • To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.
    気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A method and system for testing sugar contents irradiates the measured object with a generated electromagnetic wave to obtain a transmission or reflection intensity thereof, using an electromagnetic wave generation source having 10GHz-10THz of oscillation frequency constituted of a terahertz generator, and using a suitable frequency of oscillation element, and obtains thereby the sugar content in the measured object and a distribution situation thereof.
    テラヘルツ発生装置によって構成される１０ＧＨｚから１０ＴＨｚの発振周波数を持つ電磁波発生源を用い、適した周波数の発振素子を用い、被測定物に前記発生電磁波を照射しその透過あるいは反射強度を得ることによって、被測定物中の糖度およびその分布状況を得ることを可能にした。 - 特許庁
  • In a game machine, the winning probability of a variable display device for normal patterns is heightened associated with the variable probability state while the opening time of a normal role device is extended with the shortening of the variation time along with an increase in the frequency of opening and a testing connector which allows the outputting of signals outside the game machine is mounted on a game control board.
    確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.
    シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a superconducting electromagnet cooling device capable of controlling the circulation flow rate of a supercritical pressure helium (SHe) supplied to a superconducting electromagnet in a wide range in the same facility, capable of testing the circulation flow rate of an exhaust gas compressor in a wide range even when the exhaust gas compressor for the refrigerator is tested, and enabling the availability of data containing operating points.
    同一設備で超電導電磁石に供給する超臨界圧ヘリウム（ＳＨｅ）の循環流量を広範囲に調整でき、かつ、逆に冷凍機の排気圧縮機を試験する場合にも、排気圧縮機の循環流量を広範囲に試験でき、動作点を振ったデータを入手することができる超電導電磁石冷却装置を提供する。 - 特許庁
  • A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.
    ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁
  • To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.
    半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
  • In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.
    所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁
  • To provide manufacturing equipment for a semiconductor device which causes no damages on the semiconductor device during the characteristics testing of the device or the subsequent conveyance thereof even when the device has a reduced size such as a milli-size leadless semiconductor element, and which facilitates reversion of the entire semiconductor device when tape packaging.
    ミリサイズのリードレス半導体素子のような小型化された半導体装置を対象とする場合であっても、その特性テスト時にやその後の搬送時において半導体装置を損傷することがなく、しかも、テープ梱包時において半導体装置全体を容易に反転させることのできる半導体装置の製造装置を提供する。 - 特許庁
  • The method, system, and computer program product pertain directly to the enhancement of existing home blood glucose monitoring devices, by introducing an intellectual data interpretation component predicting and alerting the user to periods of increased risk for hyperglycemia, hypoglycemia, increased glucose variability, and ineffective testing, and to the enhancement of emerging self-monitoring blood glucose devices by the same features.
    本方法、システム、コンピュータプログラム製品は直接的には、使用者に、高血糖、低血糖、グルコース変動の増大、無効な検査の期間を予測して警告することができるデータ知的解釈部を導入することによる既存の家庭用血中グルコース監視装置を改善、及び同機能を導入することによる血中グルコース自己監視装置の改善に関する。 - 特許庁
  • In the device, an image processing circuit 4 performs image processing for the detection of certain testing items other than display unevenness based on image data, a judgment circuit 5 determines defects from processing result of the image processing circuit 4, and an image processing circuit 6 performs image processing based on the image data so that display unevenness may become marked to be output to a display unit 6a.
    画像処理回路４は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路５は画像処理回路４の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路６は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置６ａに出力する。 - 特許庁
  • In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.
    不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁
  • The device 10 contains a plurality of load generation mechanisms for testing the strength of a material under pressure, in which each mechanism simultaneously operates independently of other mechanisms and each load mechanism applies a load to simulate a pressure condition with at least one method from among deformation, in-plane shear, a cyclic load, gas permeability, layer or film delamination.
    複数の負荷発生機構を含み圧力下での材料の強度をテストする装置１０であって、機構のそれぞれは互いに他の機構から独立して同時に動作し、各負荷発生機構は、変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で、圧力状態をシミュレートする負荷を加える装置１０。 - 特許庁
  • The apparatus for testing a liquid crystal panel includes: a test board to transmit light to a liquid crystal panel which is placed thereon; a polarizer plate fixing unit rotatably formed on the test board and having a groove where a polarizer is inserted; and a stopper formed at the test board to fix the polarizer fixing unit at a desired position.
    本発明に係る液晶パネル検査装置は、液晶パネルが置かれて前記液晶パネルに光を出力する検査台と、該検査台に回転可能に形成されて偏光板が挿入される溝を有する偏光板固定部と、前記検査台に形成されて前記偏光板固定部を所望の位置に位置させるストッパーとで構成される。 - 特許庁
  • A detachable test fixture 11 formed with a groove in the peripheral surface thereof is provided to be interposed between a sheave 1 and a rope 8 when testing an emergency stop means 3 of an elevator for holding a guide rail in emergency to hinder elevation of an elevator car 2 to reduce traction ability of the sheave 1 in relation to the rope 8 in comparison with that of the normal operation.
    非常時にガイドレールを把持して乗かご２の昇降を阻止するエレベータの非常止め手段３の試験時に、綱車１とロープ８との間に介在され、その外周面に溝が形成される着脱可能な試験用治具１１を備え、綱車１のロープ８に対するトラクション能力をエレベータ通常運転時よりも小さくする。 - 特許庁
  • In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).
    試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁
  • a) All individuals must first understand that it is possible for hepatitis to progress to serious diseases such as cirrhosis and liver cancer, which severely affects their health keeping, if left untreated, and must understand the importance of undergoing hepatitis testing at least once and to be informed regarding their own hepatitis infection status, given the importance of treatment of the disease in the early stages.
    ア 国民一人一人が、肝炎は放置すると肝硬変や肝がんという重篤な病態へと進展する可能性があり、各人の健康保持に重大な影響をもたらし得る疾病であることを理解した上で、少なくとも一回は肝炎ウイルス検査を受検し、自身の肝炎ウイルス感染の有無について、早期に認識を持つよう努めること。 - 厚生労働省
  • This IC tester for testing a test IC has a high-resolution digitizer digitizing and fetching a settling signal outputted from the test IC; and a digital signal processor adding the data fetched sequentially from the high-resolution digitizer to the preceding data, and scaling the added data by the number of additions to execute the averaging process of the taken-in data.
    被試験ＩＣの試験を行なうＩＣテスタにおいて、被試験ＩＣが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。 - 特許庁
  • Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.
    さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁
  • At least either sidewall of a tire manufactured in the mold 2 has a surface having a surface glossiness of more than 10 as measured under a 60° gloss reading per the specular gloss designation D523-89 of American Society for Testing and Materials.
    この金型２を用いて製造されたタイヤの少なくとも１つのサイドウォールは、米国材料試験協会（Ａｍｅｒｉｃａｎ Ｓｏｃｉｅｔｙ ｆｏｒ Ｔｅｓｔｉｎｇ ａｎｄ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ）の鏡面光沢度規定Ｄ５２３−８９による６０°光沢度を使用して計測したときの表面光沢度が１０よりも大きい表面を備えている。 - 特許庁
  • In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.
    切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁
  • The semiconductor device includes two or more bonding pads 11, made up of a bonding unit 11a formed on a semiconductor chip and each as an electrode for bonding of an external connection wire or a bump, and a projection unit 11b formed in a projected state from the bonding unit 11a to the inner part of the face and having a probe contact unit, to which a testing probe is made to contact.
    半導体装置は、半導体チップ１０の上に形成され、それぞれが外部接続用のワイヤ又はバンプをボンディングする電極であるボンディング部１１ａと、該ボンディング部１１ａから面内に突き出して形成され、検査用プローブが接触されるプローブ接触部を含む突き出し部１１ｂとを有する複数のボンディング用パッド１１を備えている。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor inspecting device and a semiconductor inspecting method capable of shortening testing time whereby suppressing an increase in inspection cost while preventing destruction of a semiconductor device by preventing spikes from being generated when power supply voltage is changed, even if the semiconductor device to be inspected is a semiconductor device for IEEE 1394.
    もし、被検査用半導体装置がＩＥＥＥ１３９４用半導体装置の場合であっても、テスト時間を短縮し、検査コストの増加を抑えることができるとともに、電源電圧切り替え時のスパイクの発生を抑え、半導体装置の破壊を防止することができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁
  • Since the Asia Common Skill Standard Initiative for IT technicians proposed by Mr.Takeo Hiranuma, Minister of Economy, Trade and Industry, was adopted at the October 2000 ASEAN Meeting of Economic Ministers and the Ministers of People’s Republic of China, Japan and Republic of Korea, Japan has been practicing mutual accreditation with testing agencies in Asian countries based on standardization of skills tested(Fig.3.2.28).Further expansion of member countries is expected in the future.
    2000年10月のASEAN+日中韓経済閣僚会議で、平沼経済産業大臣が提案を行ったアジアITスキル標準化イニシアティブが採択されたことを受け、これまでアジア各国の試験実施機関と試験のスキル標準ベースでの相互認証を行ってきており（第3-2-28表）、今後も締結国の更なる拡大が期待されるところである。 - 経済産業省
  • Thus the following measures are being implemented: (1) Create skill standards which clarify the skills and know-how appropriate for the special qualities of services provided, through efforts of organizations such as the Service Productivity & Innovation for Growth conference, (2) Support establishment of a skills evaluation system (testing and certification) as a common platform for human resource development, (3) Promote utilization of Job Cards,34 which are also incorporated into a “Bottom-up Growth Strategy”, (4) Provide support to develop a common education program and education materials for each industry and job type, etc.
    そのため、提供されるサービスの特質に応じたスキルやノウハウを明確化したスキル標準を、サービス産業生産性協議会などの取組を通じて作成すること、人材育成のための共通プラットフォームとしての能力評価制度（試験・検定）の構築を支援すること、「成長力底上げ戦略」にも盛り込まれているジョブ・カード22の活用促進を図ること、さらに、業界や職種ごとの共通教育プログラムや教材の充実を図る支援を行うことなどの施策を実施することとしている。 - 経済産業省
  • Article 28 (1) The Minister of Health, Labour and Welfare or a prefectural governor, etc. may, when it is found to be necessary, request a business person or other relevant persons to submit the necessary report, or have their officials visit places for business, offices, warehouses, and other places, inspect food, additives, apparatus or containers and packaging to serve for the purpose of marketing or to use in business, business facilities, books and documents, and other articles, and remove food, additives, apparatus or containers and packaging to serve for the purpose of marketing or to use in business, without charge, within the limit necessary for using them for the purpose of testing.
    第二十八条　厚生労働大臣又は都道府県知事等は、必要があると認めるときは、営業者その他の関係者から必要な報告を求め、当該職員に営業の場所、事務所、倉庫その他の場所に臨検し、販売の用に供し、若しくは営業上使用する食品、添加物、器具若しくは容器包装、営業の施設、帳簿書類その他の物件を検査させ、又は試験の用に供するのに必要な限度において、販売の用に供し、若しくは営業上使用する食品、添加物、器具若しくは容器包装を無償で収去させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Now, the main reason behind the scheduling of such a tight agenda for the authenticity testing was that, while the exchange of equivalent amounts of counterfeit for specie was accepted as unavoidable given the government's relationship with foreign countries, it was clear that if all the counterfeit money was exchanged for specie of an equivalent price, the Meiji Government would face financial ruin, so the Meiji Government wanted to keep this amount to a minimum; at the same time, the foreign ministers of Japan's trading partners wanted to avoid a situation in which the government might collapse so as to ensure that they could maintain their trade relationships with the Meiji Government, so the motives of both sides coincided.
    さて、先の検勘の際に強引な日程を組んだ背景には、外国との関係の都合上贋貨と正貨の等価交換をやむなく認めたものの、実際に全ての贋貨を同じように正貨と等価で引き換えた場合には明治政府の財政が破綻するのは目に見えていたからであり、その額をなるべく抑制したいという明治政府と貿易関係の維持のために政府の崩壊に至る事態は避けたいと考える外国公使との思惑の一致があったからである。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • The soil pollutant elution testing method measures the quantity of a soil pollutant elution from a solid sample by implementing an elution test for eluting a soil pollutant from the solid sample containing the soil pollutant into water, and implements a cycle test includes at least one drying process for drying the solid sample and one moistening process for moistening the solid sample before the elution test.
    土壌汚染物質が含有されている固体試料から前記土壌汚染物質を水中に溶出させる溶出試験を実施することにより前記固体試料からの土壌汚染物質溶出量を測定する土壌汚染物質溶出試験方法であって、前記固体試料を乾燥させる乾燥過程と、前記固体試料を加湿する湿潤過程とが少なくとも１回ずつ実施されるサイクル試験を前記溶出試験前に実施することを特徴とする土壌汚染物質溶出試験方法による。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for optically testing weatherability which relate to the method and the apparatus employing liquid hydrogen peroxide, make the work simple and easy by carrying out all test steps without taking out a sample therefrom, make drained water harmless, generate oxygen by catalyzing the liquid hydrogen peroxide, eliminate the need for a unit such as an oxygen gas cylinder and its cost by utilizing the oxygen and can carry out recycling resource.
    過酸化水素水を用いる耐候光試験装置及び方法に関するものであって、（イ）試料を取り出さずに全工程の試験ができて作業が簡便で、（ロ）排水を無害な水にすること、及び（ハ）過酸化水素水に触媒を作用させることにより酸素を発生させ、その酸素を利用することで酸素ボンベ等の装置やコストを不要とし、資源の再利用ができる耐候光試験装置及び方法を提供すること。 - 特許庁
  • A heated platen assembly for use in a biological testing device is disclosed, having a heated platen defining a plurality of optical openings configured to permit radiation to pass through the heated platen, a light-transmissive slip cover configured to cover at least one of the plurality of optical openings, and a means for retaining the slip cover over the at least one of the plurality of optical openings.
    放射線が、加熱プラテンを通過すことを可能にするように構成される複数の光学的開口部を規定する加熱プラテンと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆うように構成される光透過型スリップカバーと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆ってスリップカバーを保持するための手段とを有する、生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリが開示される。 - 特許庁
  • This method for testing an agent for its potential to inhibit heparanase catalytic activity comprises interacting immobilized heparanase substrate binding protein on a solid support with labeled heparanase substrate to provide immobilized labeled substrate, interacting a heparanase enzyme solution with the substrate in the presence of the agent, and detecting the presence or absence of label in the solution remote from the solid support.
    へパラナーゼ触媒活性を阻害する能力に関する物質を試験する方法であって、固定化した標識ヘパラナーゼ基質（標識基質と略す）を得るために、固体支持体上に固定化した基質結合蛋白質を標識基質と相互作用させる段階、試験物質と、へパラナーゼ酵素溶液を、固定化した標識基質と相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む。 - 特許庁
  • The heated platen assembly for use in a biological testing device is disclosed having a heated platen defining a plurality of optical openings configured to permit radiation to pass through the heated platen, a light transmissive slip configured to cover at least one of the plurality of the optical openings, and a means for retaining the slip cover over at least one of the plurality of the optical openings.
    放射線が、加熱プラテンを通過すことを可能にするように構成される複数の光学的開口部を規定する加熱プラテンと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆うように構成される光透過型スリップカバーと、この複数の光学的開口部のうち少なくとも１つを覆ってスリップカバーを保持するための手段とを有する、生物学的試験デバイスにおいて使用するための加熱プラテンアセンブリが開示される。 - 特許庁
  • The method for testing an electronic circuit 16 comprises selection of an input signal using a first multiplexer 208, selection of an signal to be input to the first multiplexer 208 using at least one of other multiplexers 202, 204, 206, and control of at least one of other multiplexers 202, 204, 206, using a selection signal output from a control circuit 222.
    電子回路１６をテストするための方法は、第１のマルチプレクサ２０８を用いる入力信号の選択、少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６を用いる第１のマルチプレクサ２０８に入力されるべき信号の選択、および制御回路２２２から出力される選択信号を用いる少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６の制御を含む。 - 特許庁
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