「Inspecting」を含む例文一覧(12219)

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  • The filling and packaging machine is provided with a guiding auxiliary mechanism 10 for folding the central part of a continuously carrying packaging film and piling the end parts up, a misregistration detecting part 100 for inspecting a guiding auxiliary condition, and a packaging mechanism for filling a content while the length and the width of the packaging film auxiliarily guided are heat-sealed.
    本発明にかかる充填包装機は連続移送している包装フィルムの中央部を折り返して端部を重ね合わせる誘導補助機構１０と、誘導補助状態を調べる位置ずれ検出部１００と、誘導補助された包装フィルムの縦並びに横を熱シールしながら内容物を充填する包装機構とを備えた充填包装機である。 - 特許庁
  • A work assembly and quality inspecting device 60 is composed of a table part whereon a placing table T is placed, a movable carriage 10 having hydraulic cylinders to elevate and sink the table part and an elevation mechanism and fitted with a guided member 22, and a guiding member 58 which guides the member 22 and locates the movable carriage 10.
    ワーク組立および品質検査装置６０を、載置台Ｔを載置するテーブル部１２と該テーブル部１２を昇降せしめる油圧シリンダ１４ａ、１４ｂおよび昇降機構１６とを有しかつ被案内部材２２が取り付けられた移動台１０と、前記被案内部材２２を案内して移動台１０を位置決めする案内部材５８とを含むように構成する。 - 特許庁
  • In the game machine, a ROM identifying information collation means (sub control board 400b) in a performance managing unit receives the command with an identifying code of the game machine attached thereto from a main controller (main control board 400a) or an inspecting instrument 50 externally connected thereto to validate an inspection mode only when an identifying code matches the identifying code of the mounted ROM.
    演出管理装置中のＲＯＭ識別情報照合手段（サブ制御基板４００ｂ）が、主制御装置（主制御基板４００ａ）もしくは外部接続される検査装置５０から遊技機の識別コードが付与されたコマンドを受信し、当該識別コードが、実装されたＲＯＭの識別コードに一致したときにのみ検査モードを有効とする。 - 特許庁
  • A method for manufacturing a semiconductor device comprises the steps of forming an antireflection film made of a two-layer film of a lower layer as a reflection film and an upper layer as an interference film to an exposure light on the substrate, emitting a pattern inspecting light via the antireflection film in the case of exposing a desired pattern on a photosensitive thin film coating the antireflection film, thereby aligning a photomask with the substrate.
    露光光に対して下層は反射膜であり、上層は干渉膜である二層膜からなる反射防止膜を基板上に形成し、その反射防止膜上に塗布した感光性薄膜に所望のパターンを露光する際に、反射防止膜を介してパターン検出光を照射することにより、ホトマスクと基板とのアライメントを行う。 - 特許庁
  • Opening and closing of a plurality of valves 121 to 147 for directly flowing in a plurality of gases to a chamber 105 when operating the semiconductor manufacturing device are controlled, and the opening and closing of the plurality of valves 121 to 147 for flowing gas A to mass flow meters (MFM 1 to MFM 3) 151 to 153 when inspecting the mass flow controller (MFC 2') 102' are controlled.
    半導体製造装置の稼動時においては複数のガスがチャンバ１０５に直接流入されるように複数のバルブ１２１〜１４７の開閉が制御され、マスフローコントローラ（ＭＦＣ２’）１０２’の検査時においてはガスＡがマスフローメータ（ＭＦＭ１〜３）１５１〜１５３に流入されるように複数のバルブ１２１〜１４７の開閉が制御される。 - 特許庁
  • To provide a method for readily inspecting the kind of causative microbial strain in a milk cow suffering from mastitis by which the specification of the kind of the infected microbial strain can be simply, rapidly and accurately inspected by anyone at anywhere at anytime, to enable a proper antibiotic to be administered early, the sequelae caused by the mastitis to be reduced as possible, and the economic loss to be decreased.
    感染した細菌の菌種の特定を、誰でも、何処でも、何時でも、簡単に、迅速に、且つ正確に検査でき、適切な抗生物質を早期投与でき、乳房炎による後遺症を可能なかぎり低減でき、経済的損失を抑制できる乳房炎に罹患した乳牛に於ける原因菌種の簡易検査方法を提供する。 - 特許庁
  • The testing circuit 4 has an operation set means 5 for setting an operation of the counter 2 divided into a plurality of counter blocks 3 at each counter block, and an initial value set means 6 for setting a predetermined initial value to each counter block 3 at each operation set by the means 5, thereby inspecting based on the counter output after each operation.
    テスト回路４は、複数のカウンタブロック３に分割されたカウンタ２の動作を、各カウンタブロック毎に、設定する動作設定手段５と、この動作設定手段５により設定された各動作毎に、各カウンタブロック３に対し、所定の初期値を設定する初期値設定手段６と、を具備し、各動作後のカウンタ出力に基づいて検査を行う。 - 特許庁
  • The shutter speed inspection fixture comprises a rotary plate having a chart face drawing a prescribed chart for inspecting an electronic shutter speed; a rotation drive part for rotatably supporting the rotary plate; a fixing part for fixing an imaging device, in a state where it faces the chart face; and a display part for displaying images of the chart face imaged by the imaging device.
    電子シャッタスピードを検査するための所定のチャートが描かれたチャート面を有する回転板と、回転板を回転可能に支持した回転駆動部と、該撮像素子を該チャート面と正対した状態に固定する固定部と、該撮像素子で撮像された該チャート面の画像を表示する表示部とを備えたシャッタスピード検査治具を提供する。 - 特許庁
  • In this flaw inspecting illumination device used for an optical surface flaw inspection device for detecting a flaw part by illuminating the test object and processing an electric signal obtained by imaging the object by an electronic camera, a light scattering degree control board 13 capable of controlling a haze rate electrically is arranged between an illumination and the test object to control the haze rate.
    検査対象を照明し、電子カメラにて撮像して得られる電気信号を処理して、疵部分を検出する光学的表面疵検査装置に用いる疵検査用照明装置において、照明と検査対象の間に、電気的にヘイズ率を制御できる光散乱度制御板１３を配置し、ヘイズ率を制御できるようにした。 - 特許庁
  • The printing plate inspecting apparatus which inspects the relation between the printing plates divided in specified color components is equipped with: a acquiring means of acquiring image data of the respective printing plates; and a display control means of performing control for alternately displaying images regarding at least two pieces of image data among the obtained image data of the printing plates on the same display screen.
    所定の色成分毎に分版された刷版どうしの関係を検査する刷版検査装置であって、各前記刷版の画像データを取得する取得手段と、前記取得された刷版の画像データのうち、少なくとも２つの画像データに係る画像を同一の表示画面上に交互に表示する制御を行う表示制御手段と、を備える。 - 特許庁
  • This device manufactures absorbent articles by working semimanufactured products by working devices while conveying the plurality of semimanufactured products related to the absorbent articles aligned in the conveyance direction and by inspecting, using inspection devices, whether or not the actual working positions by the working devices are located within the allowable range of the working target position of the semimanufactured product.
    吸収性物品に係る複数の半製品が搬送方向に並んだ状態で搬送される間に、加工装置によって前記半製品を加工し、前記加工装置による実際の加工位置が前記半製品における加工目標位置の許容範囲に入っているか否かを、検査装置を用いて検査して吸収性物品を製造する装置である。 - 特許庁
  • In order to accomplish the above purpose, this application provides this functional element characterized by including a base material, the gas barrier layer formed on the base material and having a refractive index changing with change of a gas barrier property, and a marker part formed so as to contact the gas barrier layer for inspecting the refractive index of the gas barrier layer.
    上記目的を達成するために、本発明は、基材と、前記基材上に形成され、かつガスバリア性の変化に伴い屈折率が変化するガスバリア層と、前記ガスバリア層と接触するように形成された前記ガスバリア層の屈折率を検査するためのマーカー部とを有することを特徴とする機能性素子を提供する。 - 特許庁
  • The inspecting section 30A contains a combination circuit 32 having a plurality of logic circuits connected in series, a D flip-flop 31 for latching input inspection data Dtin with an inspection clock signal Ckt, and a D flip-flop 33 for latching an output signal 32a from the combination circuit 32 with the inspection clock signal Ckt to generate an output inspection data Dtout.
    検査部３０Ａは、複数の論理回路を直列に接続した組み合わせ回路３２と、入力検査データＤtinを検査クロック信号ＣＫｔによってラッチするＤフリップフロップ３１と、組み合わせ回路３２の出力信号３２ａを検査クロック信号ＣＫｔでラッチして出力検査データＤtoutを生成するＤフリップフロップ３３とを備える。 - 特許庁
  • The coordinate value of a defective place which is detected by a wafer inspecting device 4 and wafer inspection information are transmitted to a coordinate transformation computer 6 by using an inspection data management computer 5, the coordinate value detected by the wafer inspection is transformed into the coordinate value on the photomask based on the wafer inspection information and photomask inspection information and the defective place of the photomask is analyzed.
    ウエハ検査装置４が検出した不具合箇所の座標値とウエハ検査情報を、検査データ管理コンピュータ５を用いて座標変換コンピュータ６へ送り、ウエハ検査情報とフォトマスク検査情報とに基づいてウエハ検査で検出した座標値をフォトマスク上の座標値へ変換し、フォトマスクの不具合箇所を解析する。 - 特許庁
  • A design data transmission system comprises a disclosure prohibition information table 16 storing types of confidential information prohibited from being disclosed to each destination, a transmission management server 10 for prompting a user to specify design data to be transmitted and a destination, and a parameter information inspection part 15 for inspecting the types of confidential information included in the design data.
    設計データ送付システムが、送付先毎に開示が禁止されている秘匿情報の種類を記憶している開示禁止情報テーブル１６と、送付対象とする設計データ及び送付先の指定をユーザに入力させる送付管理サーバ１０と、設計データに含まれている秘匿情報の種類を検査するパラメータ情報検査部１５と、を備える。 - 特許庁
  • A printer 10 includes: a detection part 290 for detecting a synthesized signal PW formed by synthesizing a plurality of electrical signals SW corresponding to residual vibration in each of two ejection parts 270; and an inspection part 102 for inspecting the two ejection parts 270 on the basis of the synthesized signal PW detected by the detection part 290.
    プリンター１０は、二つの吐出部２７０の各々における残留振動に応じた複数の電気信号ＳＷを合成した合成信号ＰＷを検出する検出部２９０と、検出部２９０によって検出された合成信号ＰＷに基づいて二つの吐出部２７０を検査する検査部１０２とを備える。 - 特許庁
  • To provide wiring for connecting a semiconductor integrated circuit and an external circuit through a socket, and to provide an inspection device of the semiconductor integrated circuit for inspecting the connected state between the external connection terminals of the semiconductor integrated circuit connected to the external circuit in the inspection device of the semiconductor integrated device for executing the testing of an entire system including the external circuit.
    外部回路を含めたシステム全体のテストを実施する半導体集積回路の検査装置であって、ソケットを通して半導体集積回路と外部回路とを接続する配線と外部回路に接続される半導体集積回路の外部接続端子間の接続状態を検査できる半導体集積回路の検査装置を提供する。 - 特許庁
  • In the method for inspecting failures of the wiring patterns by fetching image data of the wiring patterns of the film carrier tapes for mounting electronic parts, failures are inspected with the use of X-ray image data obtained by irradiating the film carrier tape T with X rays from an X-ray source 33 and receiving passing X rays by an X-ray camera 34.
    電子部品実装用フィルムキャリアテープの配線パターンの画像データを取り込んでその不良を検査する検査方法において、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープＴにＸ線源３３からＸ線を照射し、Ｘ線カメラ３４により透過Ｘ線を受像することにより得られるＸ線画像データを用いて検査する。 - 特許庁
  • The surface distortion of the tape MT can be inspected by inspecting the linearity of a fringe of an image in the picked-up image by a computer 15 functioning as an image inspection means and deciding presence/absence of a distortion and the magnitude of the distortion by the computer 15 functioning as a distortion decision means on the basis of the result of inspection.
    そして、撮像された画像に写っている像の縁の直線性を像検査手段である計算機１５によって調べ、その検査結果に基づいて歪み判定手段である計算機１５によって歪みの有無及び歪みの大きさを判定することによって、磁気テープＭＴの表面の歪みを検査することができる。 - 特許庁
  • In overlay marks 100a, 100b, 100c and 100d which are formed on a substrate using an electron beam for inspecting an overlay, the marks on a resist lower layer and the marks on a resist are constituted of aggregates of patterns 102a, 102b, 102c and 102d of different shapes or the same shapes.
    電子線を用いて基板上に形成されたマークでオーバーレイを検査するためのオーバーレイマーク１００ａ、１００ｂ、１００ｃ、１００ｄあって、レジスト下層のマークと、レジストのマークとが、異なる形状又は同一形状のパターン１０２ａ、１０２ｂ、１０２ｃ、１０２ｄの集合体によって構成されることを特徴とするオーバーレイ検査用オーバーレイマーク - 特許庁
  • The inspection control device 10 is equipped with a panel alignment means for performing alignment between the inspection panel 2 and the reference panel 5 by moving the table 3, and a defect inspection means for imaging the inspection panel 2 by the CCD camera 6 by lighting the inspection panel 2 and the reference panel 5 and inspecting a displayed defect of the inspection panel 2 based on the imaged image.
    検査制御装置１０は、テーブル３を移動させて検査パネル２および基準パネル５の位置合わせを行うパネル位置合わせ手段と、検査パネル２および基準パネル５を点灯させてＣＣＤカメラ６で検査パネル２を撮像し、その撮像画像に基づいて検査パネル２の表示欠陥を検査する欠陥検査手段とを備える。 - 特許庁
  • To eliminate the need for the positioning of an object to be inspected and a chart for inspection for every inspection in the case of inspecting the object on the basis of irradiation light by the chart for inspection in an optical path, to reduce the number of man-hours, and to prevent the occurrence of human errors and personal errors.
    光路上の検査用チャートによる照射光に基づいて被検査対象を検査する場合に、検査毎に被検査対象と検査用チャートとの位置合わせを行う必要がなく、工数が削減され、人為的な誤りや個人差による問題点をも解決できる光学検査方法及び光学検査装置を提供する。 - 特許庁
  • In this way, in the condition that the lower stage parking pallet 5 and an upper stage parking pallet is stopped at a move-down and stop position, a separation cover provided at the side of the upper stage parking pallet is removed to open an inspection port and then work for adjusting and inspecting the cam 11 and the switch 12 is done from a ground via the inspection port.
    これにより、下段駐車パレット５および上段駐車パレットが下降停止位置に停止した状態で、前記の上段駐車パレットの側方に設けられる分割カバーを取外すことにより点検口を開いた後、この点検口を介して地上から前記のカム１１およびスイッチ１２の調整、点検作業を行なうようにした。 - 特許庁
  • To provide a vehicle communication control device for allowing efficient work for inspecting or repairing a vehicle in a dealer by clearing the same failure information stored in a plurality of electronic control devices at the same time and initializing it.
    車両用通信制御装置において、同じ故障情報が複数の電子制御装置内に保存されている場合に、この故障情報を保存されている複数の電子制御装置において、同時に消去し、初期化することを可能とし、ディーラ等における車両の点検、修理時において、無駄のない作業を実施することを可能とする。 - 特許庁
  • To observe, at high resolution and stability, the image of a contact hole from a lower-layer current image which can not be observed using a secondary electron image of high aspect ratio and small diameter, related to an inspecting device which displays the inside of an opening reaching to a lower layer from an upper layer on an inspection substrate.
    本発明は、検査基板上の上層から下層に達する開口の内部を表示する検査装置に関し、試料にバイアス電圧をかけることによりアスペクト比が高く、直径の小さい２次電子像では観察不可能なコンタクトホールの像を下層電流像から高分解能、かつ安定に観察することを目的としている。 - 特許庁
  • When a BIT156 is received, a currently effective carrier list 158 showing carriers which can receive it in the area is generated, and the currently effective carrier list 158 and the carrier table 155 are compared, thus inspecting whether or not the carrier-related information in the broadcast content 152 is effective, and the result is notified to a user.
    さらに、ＢＩＴ１５６を受信した際に、その地域で受信可能な事業者を示す現在有効事業者リスト１５８を生成し、現在有効事業者リスト１５８と事業者テーブル１５５とを比較することにより、放送コンテンツ１５２の中の事業者関連情報が有効か無効かを検査し、その結果をユーザに通知する。 - 特許庁
  • An appearance inspection system for obtaining an image of an inspection object and inspecting an appearance is provided with an image detector 100 for detecting the image of the inspection object and an information processor 200 for processing the image detected by the image detector 100 and determining the existence of abnormality emerging in the image of the inspection object.
    検査対象の画像を取得して外観検査を行う概観検査システムであって、検査対象の画像を検出する画像検出装置１００と、画像検出装置１００により検出された画像を処理して、当該検査対象の画像に現れる異常の有無を判定する情報処理装置２００と、を備える。 - 特許庁
  • The heating inspection apparatus 101 for the panel includes: an object holding section 13 for installing the panel 1 as a to-be-inspected object; a backlight apparatus 2 as a light source for supplying a light for inspecting the panel 1 installed in the object holding section 13; and a thermal conduction section for guiding heat generated from the light source to a region contacting the panel.
    パネル用加熱検査装置１０１は、検査対象物としてのパネル１を設置するための対象物保持部１３と、この対象物保持部１３に設置されたパネル１に検査のための光を供給するための光源としてのバックライト装置２と、上記光源から発せられる熱を上記パネルに接する領域にまで導く熱伝達部とを備える。 - 特許庁
  • The first inspecting means has a dummy load 10 forming a discharge passage to discharge the secondary battery 3 without lighting a lamp 5, discharges the secondary battery 3 through the dummy load 10, detects the voltage of the secondary battery 3 after a prescribed inspection time has elapsed from the start of discharge, thereby determine if the secondary battery 3 is normal or abnormal.
    第１の点検手段は、ランプ５を点灯させずに２次電池３を放電させる放電経路を形成する擬似負荷１０を有し、擬似負荷１０を通して２次電池３を放電させて、放電開始から所定の点検時間経過後の２次電池３の電圧を検出することにより２次電池３が正常か異常かを判断する。 - 特許庁
  • According to the method for inspecting printing heads, only a heating unit 40 in a printing range is checked in the printing head 32 which prints desired information by individually driving many heating units 40 arranged in a line at the printing head 32 thereby printing dots on a paper 38 opposite to the driven heating units 40.
    印字ヘッド３２にライン状に配置された多数の発熱体４０を個別に駆動することにより、駆動した発熱体４０に対峙する用紙３８にドットを印字して所望の情報を印字する印字ヘッドにおいて、前記情報を印字する印字ヘッド３２における印字範囲の発熱体４０のみをチェックすることを特徴とする印字ヘッドの検査方法。 - 特許庁
  • According to "Tokugawa jikki" (The True Tokugawa Records), it was specified that 2000 hyo (bale [a traditional unit for rice of 60 kilograms]) be given to Oban gashira (captains of the great guards), 1000 hyo to shoinban gashira (chief of military patrol) and koshogumiban gashira (chief of the bodyguard of the Shogun), 700 hyo to shinban gashira (person in charge of guarding the shogun and inspecting arms) and hyakuninkumiban gashira (chief of a special firearm troop with 100 members), and 500 hyo to mochiyumitsutsu gashira (chief of archery troop and firearm troop), sakite gashira (chief of a troop for maintaining security), hoko gashira (chief of guards), shoinban kumigashira (leader of the shogun's bodyguards), koshogumi kumigashira (leader of page corps), kojunin gashira (leader of escort guard), metsuke (inspector of foot soldiers), and tsukaiban (a person responsible for order and patrol in the battlefield).
    『徳川実紀』によれば、大番頭2000俵、書院番頭・小姓組番頭1000俵、新番頭・百人組番頭700俵、持弓筒頭・先手頭・歩行頭・書院番組頭・小姓組組頭・小十人頭・目付・使番500俵と定められた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • Kobe Incident was an incident that occurred on February 4, 1868, in which in front of Sannomiya-jinja Shrine of Kobe (present-day Kobe City), a troop of the domain of Bizen (present-day Okayama Prefecture) injured French sailors who had crossed the array of the troop, and shot horizontally to the Minister-Counselors from Western countries who were inspecting the place which was supposed to be the settlement site (present-day Former Foreign Settlement).
    神戸事件（こうべじけん）とは慶応4年1月11日(旧暦)（1868年2月4日）、神戸（現・神戸市）三宮神社前において備前藩（現・岡山県）兵が隊列を横切ったフランス人水兵らを負傷させたうえ、居留地（現・旧居留地）予定地を検分中の欧米諸国公使らに水平射撃を加えた事件である。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • The laser cut apparatus for forming the laser cut line by partially cutting a sheet-like lid member adhered so as to cover an opening part of a container by the laser scanning in its thickness direction, has a laser scanning section, an application time measuring section, a shape inspecting section, a laser cut line discriminating section, and a defective product eliminating section.
    容器の開口部を覆うように接着されたシート状蓋部材をレーザー走査によってその厚み方向に部分的にカットして、レーザーカット線を形成するためのレーザーカット装置において、レーザー走査セクションと、照射時間測定セクションと、形状検査セクションと、レーザーカット線判別セクションと、不良品排除セクションとを有するレーザーカット装置。 - 特許庁
  • A repeating server which is used at the time of performing the transferring of electronic data via a communication line is provided with an inspecting means which obtains certificate data by reading in certificate information file preserved by received electronic data and then compares the certificate data with contents of the CRL which is issued by an electronic certificate authentication department.
    通信回線を介して電子データのやり取りを行う際に用いられる中継サーバが、受信した電子データの保有する証明書情報ファイルを読み込んで証明書データを取得した後、該証明書データを電子証明書認証局の発行する証明書廃棄リストの内容と比較する検証手段を具備している。 - 特許庁
  • In the inspection method for a hologram color filter 1 comprising an array of condensing hologram for separating color of white light through diffraction, white light 10 impinging at a specified incident angle θ is diffracted and the wavelength distribution is determined for outgoing primary light 11R, 11G, 11B thus inspecting the hologram color filter for possession of specified optical characteristics.
    白色光を回折によって色分解する集光性ホログラムのアレーからなるホログラムカラーフィルター１の検査方法において、白色光１０を所定角度θで入射させ、回折して出射する１次光１１_R ，１１_G ，１１_B の波長分布を求めることにより、ホログラムカラーフィルターが所定の光学特性を有するか否かを検査する。 - 特許庁
  • The inspection method of lens characteristics includes a process impinging at least two beams of light propagating in different directions into the aforementioned lens, a process acquiring images of interference fringe formed from at least two beams of light outgoing from the aforementioned lens, and a process inspecting lens characteristics from the acquired images of interference fringe.
    本発明のレンズ特性検査方法は、異なる方向に進行する少なくとも２つの光を上記レンズに入射させる工程と、上記レンズを出射した少なくとも２つの光が形成する干渉縞像を捕捉する工程と、捕捉された干渉縞像からレンズの特性を検査する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁
  • One embodiment of the spike reduction circuit for inspecting the organic EL panel is provided with an operation amplifier constituting a noninversion amplifier, and one diode connected in parallel to a feedback resistance connected to an input end in one side of the operation amplifier and an output end thereof, or a plurality of diodes connected in series to conform normal directions.
    有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路の一態様は、非反転増幅器を構成するオペレーションアンプと、オペレーションアンプの一方の入力端と出力端とを接続する帰還抵抗に対して並列接続する１つのダイオード又は順方向を一致させて直列接続した複数のダイオードとを備えた構成とする。 - 特許庁
  • To provide a punching die equipped with punching edges for depth confirmation enabling even an unskilled worker to easily and rapidly make a punched groove depth adjustment in punching, and also to provide a method for inspecting separation quality without making a breakage inspection on a product by using the punched groove formed by the punching die.
    抜き加工における抜き溝深度調整を非熟練者であっても、簡便、かつ迅速に行うことができる深度確認用の型抜き刃を備えた抜き型を提供するとともに、その抜き型により施した抜き溝を用いることにより、製品に対して破壊検査をすることなく、剥離品質を検査する方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device and a method of inspecting a failure of the charged particle beam capable of performing the focused clear observation and the accurate failure inspection even in the case of using a charged up sample by automatically correcting a displacement of the focal point position due to the charge up generated in the sample as an object of observation.
    観察対象の試料に生ずるチャージアップに起因する焦点位置のずれを操作者の手を煩わすことなく補正することができ、その結果として試料がチャージアップしている場合であっても焦点のあった鮮明な観察及び高精度の欠陥検査を行うことができる荷電粒子ビーム欠陥検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method of inspecting an engine assembly failure capable of preventing decline of inspection force by removing an error or dispersion of a sensor output caused by rotation fluctuation generated in an engine, and improving inspection accuracy by removing an influence of the rotation fluctuation of the engine, when performing an engine assembly failure inspection in the state where the engine is rotated.
    エンジンを回転させた状態で行うエンジン組立不良検査に際し、エンジンで発生する回転変動によるセンサ出力の誤差やバラツキをなくして検出力の低下を防止することができ、エンジンの回転変動の影響を排除して検査精度の向上を図ることができるエンジン組立不良検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a plasma display panel, capable of easily and quickly inspecting a calcination state of a partition in a formation process for a partition of the plasma display panel and attaining calcination of the partition at the optimum calcination temperature by applying feedback to the calcination temperature on the basis of determination information obtained by this inspection.
    プラズマディスプレイパネルの隔壁の形成工程において、その焼成状態を簡易かつ迅速に検査し、この検査で得られた判定情報に基づき、焼成温度にフィードバックをかけることで、最適な焼成温度での隔壁の焼成を実現することが可能なプラズマディスプレイパネルの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The method for selecting and inspecting the anticancer agent comprises making each one or more samples of the cancer tissue (cell) and the normal tissue (cell) from cells extracted by surgical operation, administering one or more anticancer agents to each thereof, and selecting the anticancer agent damaging the cancer tissue but hardly damaging the normal tissue from the results of each anticancer agent sensitivity test.
    手術で摘出された細胞から癌組織（細胞）と正常組織（細胞）の標本をそれぞれ一以上作製し、それぞれに一以上の抗癌剤をそれぞれ投与し、それぞれの抗癌剤感受性試験の結果から、癌組織にはダメージを与え、正常組織にはダメージの少ない抗癌剤を選択可能としてなるものである。 - 特許庁
  • The preparation holding hand 5 can be moved and positioned by three driving sources which are independent in forward and backward, horizontal and vertical directions of a substrate 3, and many preparations stored in the prepared slide storage magazine 4 are successively supplied to the microscope and exchanged for another, then, the operation of inspecting/imaging the sample can be continuously and efficiently performed.
    プレパラート保持ハンド５は、基台３の前後方向、左右方向、及び、上下方向に独立した３つの駆動源で移動位置決め可能になっていて、プレパラート収納マガジン４内に収納された多数のプレパラートを順次顕微鏡に供給・交換して、試料の検査・撮像作業を連続して効率良く行うことができる。 - 特許庁
  • The program for inspecting a network device is prepared as a program that can perform retransmission processing of various packets on the basis of a captured result file of the various packets transmitted on a network during the occurrence of the abnormal phenomenon and a program that can adjust transmitting timing of each packet by changing values to be set in items 58a and 58b.
    ネットワーク機器検査用プログラムを、異常現象発生時にネットワーク上を伝送された各種パケットのキャプチャ結果ファイルに基づき、各種パケットの再送処理を行えるプログラムであると共に、アイテム５８ａ，５８ｂに設定する値を変化さえることにより、各パケットの送信タイミングを調整できるプログラムとして作成しておく。 - 特許庁
  • To provide a surface inspection device of a steel sheet of low equipment cost capable of properly inspecting the surface of the steel sheet by irradiating the surface of the steel sheet with light to arithmetically processing the detection signal of the reflected light from the surface of the steel sheet even when the steel sheet or the surface inspection device itself is vibrated.
    鋼板の表面に光を照射して、その反射光の受光信号を演算処理することによって、鋼板の表面を検査する表面検査装置において、鋼板や表面検査装置自体が振動した場合にでも適切に鋼板の表面を検査することができる上に、設備費用も安価である鋼板の表面検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To improve maintenance performance of a rice washing and cooking device by enabling inspection work to be conducted from the side through a horizontal U-shaped space part composed of a rice storage, supports, and legs in inspecting the rice washing and cooking device.
    貯米部と洗米部と炊飯部とを縦方向に配置して横側部を側板で覆った炊飯装置や炊飯装置の横側部に対向する脚の上部全体に上側に向けて突出するフレ−ムを設けた構成のものがあるが、前記手段では機体の左右両側部が側板で覆われているので、作業者による炊飯釜等の点検作業性が悪い。 - 特許庁
  • In the substrate inspecting apparatus for providing a stage pin for supporting the light-transmissive substrate on a stage, and detecting defects on the substrate by detecting the reflection light of laser beams applied to the substrate placed on the stage pin by a detector, a reflection preventing means for preventing the reflection of laser beams from the stage pin to the detector is provided.
    ステージ上に光の透過性を有する基板を支持するステージピンを設け、このステージピン上に載置した基板に照射したレーザー光の反射光をディテクタで検出することによって基板の欠陥を検出する基板検査装置において、ステージピンからディテクタへのレーザー光の反射を防止するための反射防止手段を有することとした。 - 特許庁
  • The inspecting device 70 photographs the plane image of the trays using a CCD camera 72 and detects any poor workmanship of stacking by computing the area of a paper part 82A ranging out of the edge line when the poor workmanship is generated in the judging region 82 including outside the edge line of the paper through the digitalizing process.
    検査装置７０は、ＣＣＤカメラ７２によって複数のトレイ部の平面画像を撮影し、二値化処理することによりペーパーのエッジラインの外方を含む判定領域８２内で、集積不良が生じたときにこのエッジラインから食み出すペーパー部８２Ａの面積を演算することにより、集積不良の発生を検出する。 - 特許庁
  • To enable probe terminals to break the surface oxide film of an external electrode securely even if the number of the probe terminals increases when inspecting the electrical characteristics of a semiconductor integrated circuit element collectively at a wafer level, by connecting the probe terminals of an inspection substrate to the external electrode of a plurality of semiconductor integrated circuit elements that are formed on a semiconductor wafer.
    半導体ウエハ上に形成されている複数の半導体集積回路素子の外部電極に検査用基板のプローブ端子を接続して、半導体集積回路素子の電気的特性をウエハレベルで一括して検査する際に、プローブ端子の数が増加しても、プローブ端子が外部電極の表面酸化膜を確実に破ることができるようにする。 - 特許庁
  • The first invention has a step for recognizing a discrimination mark disposed corresponding to the semiconductor device, a step for determining a test program necessary for inspection of the semiconductor device following correspondence relation set beforehand based on the recognized discrimination mark, and a step for inspecting the semiconductor device based on the determined test program.
    第一の発明では、半導体デバイスに対応して配設されている識別マークを、認識するステップと、当該認識した識別マークに基づいて、予め設定された対応関係に従って、半導体デバイスの検査に必要なテストプログラムを、決定するステップと、当該決定したテストプログラムに基づいて、半導体デバイスを検査するステップとを、備えている。 - 特許庁
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