「Inspecting」を含む例文一覧(12219)

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  • According to the result of teaching operation for recognizing and inspecting an object component, the image processor 1 generates teaching data including data unique to the image processor on which teaching operation is done and electronically distributes the generated teaching data to other image processors 2 to other image processors 2 other than the image processor where the teaching operation is done, so that the teaching data can be used for image processing on other processors.
    画像処理装置１において対象部品を認識検査するための教示作業の結果に基き、教示作業を施た画像処理装置特有のデータが含まれている教示データを作成し、作成された教示データを、教示した画像処理装置１以外の他の画像処理装置２に電子的に配送して、教示データを他の画像処理装置での画像処理に使用可能とする。 - 特許庁
  • A method for nondestructively inspecting a setting level of a set matter of a setting adhesive composition comprises mixing a fluorescent component adapted to fluoresce when irradiated with exciting light into a setting adhesive composition, setting the setting adhesive composition including the fluorescent component, irradiating the obtained set matter with exciting light, and observing resultant fluorescence to inspect a setting level of the set matter.
    硬化性接着剤組成物の硬化物の硬化レベルを非破壊的に検査する方法は、硬化性接着剤組成物に、励起光の照射により蛍光を発する蛍光成分を含有させ、その蛍光成分を含有した硬化性接着剤組成物を硬化させ、得られた硬化物に励起光を照射し、生じた蛍光を観察することにより該硬化物の硬化レベルを検査するものである。 - 特許庁
  • The inspection method for a photomask group for forming a drawing pattern by use of a plurality of photomasks includes: a photomask image obtaining step of obtaining photomask images of a plurality of photomasks; an image superimposing step of superimposing the photomask images to obtain a superimposed image; and an inspection step of inspecting influences of the superimposed image on the drawing pattern.
    複数のフォトマスクを使って描画パターンを形成するためのフォトマスク群の検査方法であって、複数のフォトマスクについてフォトマスク画像を取得するフォトマスク画像取得工程と、フォトマスク画像を重ね合わせ、重ね合わせ画像を取得する画像重ね合わせ工程と、重ね合わせ画像から描画パターンへの影響を検査する検査工程と、を備えることを特徴とするフォトマスク群の検査方法。 - 特許庁
  • In this device for inspecting the electronic equipment, symptom specifying information for specifying the symptom as to each specified electronic equipment and cause information for specifying the cause making the symptom emerge are so stored that they are associated with each other, and when information showing the state of the electronic equipment is received, the symptom specifying information and the cause information corresponding thereto are specified and displayed.
    上記課題を解決すべく、本発明は、電子機器検査装置であって、特定の電子機器ごとに症状を特定する症状特定情報と、当該症状が発生する原因を特定する原因情報と、を対応付けて記憶し、電子機器の状態を示す情報を受け付けると、対応する症状特定情報と原因情報を特定し表示することを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a silicon release film for polarizing plate members, more specifically, a silicon release film which has such excellent time peeling stability as to eliminate the possibility of phenomena of tearing from an adhesive layer used in production of polarizing plates and such excellent appearance characteristics as to minimize occurrence of troubles including excessive detection and undetection of defects on inspecting polarizing plates for shipping.
    本発明は、偏光板部材用シリコン離型フィルムを提供し、さらに詳細には、優れた経時剥離安定性で偏光板の製造時に用いられる粘着剤層との引き裂き（ｔｅａｒｉｎｇ）現象がなく、同時に優れた外観特性で偏光板出荷検査時に欠点が過検出及び未検出される混乱の発生を最小化することのできる偏光板部材用シリコン離型フィルムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a solder deterioration inspection method and a device thereof capable of finely and easily inspecting deterioration state of solder paste relating to abnormalities of an activator and a storage state, which may be factors of solder paste deterioration, before using the solder paste, and achieving an improvement in product quality and effective use of the solder paste by sorting essentially usable solder paste with deteriorated solder paste eliminated.
    はんだペーストの使用前に、はんだペーストの劣化の要因となり得る活性剤の異常や保管状態の異常に関するはんだペーストの劣化状態を精緻かつ簡便に検査でき、劣化したはんだペーストを排除して本来的に使用できるはんだペーストを選別することで、製品品質の向上とはんだペーストの有効利用を実現できるはんだ劣化検査方法とその装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method of inspecting a lithium ion secondary battery with which a battery which is temporarily short-circuited by concurrently touching a manufacturing device or the like with a negative electrode external terminal and an exterior can in manufacturing the lithium ion secondary battery, danger of corrosion of the exterior can caused by a lithium metal deposited on an inner surface of the exterior can is suppressed, and a highly reliable lithium ion secondary battery can be selected.
    リチウムイオン二次電池の製造時に、負極外部端子と外装缶とが同時に製造装置等に触れること等により一時的に短絡を起こした電池を簡単に検出でき、外装缶の内表面に析出したリチウム金属による外装缶の腐食の危険性が抑制された、信頼性の高いリチウムイオン二次電池を選別し得るリチウムイオン二次電池の検査方法を提供すること。 - 特許庁
  • The inspection device of the display device includes a pattern control part for controlling a pixel control part for controlling the state of a pixel disposed in the display device, and making the display device display an image pattern having a discrete point string, an imaging part for acquiring image information by imaging the image pattern, and an inspection part for inspecting a defect based on the image information.
    表示デバイスに設けられた画素の状態を制御する画素制御部を制御して前記表示デバイスに離散的な点列となるような画像パターンを表示させるパターン制御部と、前記画像パターンを撮像して画像情報を取得する撮像部と、前記画像情報に基づいて欠陥の検査を行う検査部と、を備えたことを特徴とする表示デバイスの検査装置が提供される。 - 特許庁
  • A device for inspecting whether or not there is a tumor in the biological tissue includes: a light source 20 for irradiating the biological tissue with light; a photodetector 12 for detecting light reflected from the biological tissue or light transmitted through the biological tissue of the light irradiated from the light source; and an image output part 16 for outputting the reflection image or transmission image of the biological tissue on the basis of the output of the photodetector.
    本願の生体組織に腫瘍が存在するか否かを検査する装置は、生体組織に光を照射する光源２０と、その光源から照射される光のうち生体組織から反射される光又は生体組織を透過する光を検出する光検出器１２と、その光検出器の出力に基づいて生体組織の反射像又は透過像を出力する画像出力部１６を備えている。 - 特許庁
  • The droplet discharge apparatus includes: a droplet discharge head for discharging a functional fluid as a droplet; an inspection part for inspecting a nozzle plate surface of the droplet discharge head; a maintenance part for maintaining the droplet discharge head; and a control part which makes the inspection part inspect the nozzle plate surface and selects maintenance conditions based on the inspection results of the nozzle plate surface and drives the maintenance part based on the selected maintenance conditions.
    機能液を液滴として吐出する液滴吐出ヘッドと、前記液滴吐出ヘッドのノズルプレート面を検査する検査部と、前記液滴吐出ヘッドをメンテナンスするメンテナンス部と、前記検査部に前記ノズルプレート面を検査させ、前記ノズルプレート面の検査結果に基づいて、メンテナンス条件を選択し、選択された前記メンテナンス条件に基づいて前記メンテナンス部を駆動させる制御部と、を備えた。 - 特許庁
  • The method of inspecting an austenite-based stainless steel welding section is characterized in that a probe where a permanent magnet is disposed inside an excitation/detection coil is used to perform eddy current flaw detection of austenite-based stainless steel and to inspect the presence of different kinds of metal materials mixed to the welding section and further in that a magnetic flux density of a magnetic field formed by the permanent magnet is approximately 0.3 to 1.5 tesla.
    本発明のオーステナイト系ステンレス鋼溶接部の検査方法は、励磁・検出コイルの内部に永久磁石を配置してなるプローブを用いて、オーステナイト系ステンレス鋼の溶接部を渦流探傷し、溶接部に混入した異種金属材料の有無を検査することを特徴とし、更に永久磁石によって形成される磁場の磁束密度が約０.３〜１．５テスラであることを特徴とする。 - 特許庁
  • The inspection device 100 for inspecting a photosensitive circuit (image pickup element) formed on a wafer W includes: a lighting part 11 including a light source 111 to irradiate the photosensitive circuit with light from the light source 111; a support 12 supporting the lighting part 11 so that the lighting part is movable relative to the photosensitive circuit; and a drive part 13 driving the support 12 to move the lighting part 11 to the photosensitive circuit.
    ウェハＷ上に形成された感光回路（撮像素子）を検査するための検査装置１００は、光源１１１を有し、感光回路に光源１１１からの光を照射する照明部１１と、この照明部１１を、感光回路に対して相対移動可能に支持する支持部１２と、この支持部１２を駆動させて、照明部１１を感光回路に対して移動させる駆動部１３と、を有して構成される。 - 特許庁
  • To provide a means for semipermanently and highly reliably monitoring or inspecting the operation states of respective apparatuses in a social infrastructure system installed in environments which can not be easily accessed by human beings or the situations of environments in which the apparatuses are installed without requiring a power supply using a battery in each apparatus while securing a distance to isolate people from undesirable influences of environments in which the apparatuses are installed.
    人間のアクセスが困難な環境に設置されている、社会インフラシステム内の各装置の稼動状況又は装置の置かれている環境の状況を、当該装置内に電池による電源を持つことなく半永久的に、且つ装置が設置された環境の好ましからぬ影響から人間を隔離しうる距離に確保しつつ、高い信頼性をもって監視又は調査する手段を提供する。 - 特許庁
  • This spike reduction circuit for inspecting the organic EL panel inputs a signal from the each pixel of the organic EL panel driven by an inspection driving pattern, limits an upper limit value and/or a lower limit value of the signal to reduce a spike portion included in the signal, and restrains only the spike component without affecting the signal component of the measuring object, by outputting the signal component as it is.
    有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路は、検査用駆動パターンによって駆動される有機ＥＬパネルの各ピクセルからの信号を入力し、当該信号の上限値及び／又は下限値を制限して信号に含まれるスパイク分を低減し、信号成分はそのまま出力することで、測定対象である信号成分に影響を与えることなくスパイク成分のみを抑制する。 - 特許庁
  • To provide a method of inspecting a solar cell module, which can inspect the reverse characteristics out of the I-V characteristics of a solar cell sealed in the solar cell module nondestructively, comparatively easily and quantitatively for each unit cell (provided that when the solar cell module has a structure of series parallel connection of solar cells, a plurality of solar cells connected in parallel is considers as one cell).
    非破壊で比較的容易に、太陽電池モジュール内に封止された太陽電池セルのＩ−Ｖ特性のうちの逆方向特性を、１セル（但し、太陽電池モジュールが太陽電池セルを直並列している構造の場合は、並列接続されている複数の太陽電池セルを１セルとみなす）単位で定量的に検査することができる太陽電池モジュールの検査方法の概念を提供する。 - 特許庁
  • This inspecting device is provided with an inspection measuring means measuring the scattering parameters in noncontact for individual inlets and an inspection determining processing means making measurement via the measuring means to determine whether the inlets are normal or defective on the card base sheet on which a plurality of noncontact IC card inlets each integrated with an IC chip and an antenna are aligned and arranged.
    ＩＣチップとアンテナとが一体化されてなる非接触ＩＣカード用インレットが基材シート上に複数個整列配置されたカード基材シートに、インレット毎に非接触で散乱パラメータを測定する検査用測定手段と、該測定手段を介して測定を行い、その結果から該インレットが正常品であるか不良品であるかを判定する検査用判定処理手段と、を具備した検査装置である。 - 特許庁
  • To reduce labor and time spent by a maintenance person when the maintenance person is inspecting an elevator by omitting work for placing signs or the like in elevator landings on each floor informing that the elevator is under inspection work, and to make elevator users easily recognize information that inspection work of the elevator is started and that the elevator is under inspection work.
    保守員がエレベータ点検作業を行なう際に点検作業中であることを知らせるための立て札等を各階床の乗り場に配置する作業が省略できて保守員が費やす労力および時間を低減することができるとともに、エレベータ利用者に対してそのエレベータが点検作業を開始する情報および点検作業中である情報を容易に認識させることのできるようにすること。 - 特許庁
  • In the electrophoretic front plate inspection device, an imaging means applies pulse with its pulse width which is sufficiently shorter than a pulse width saturated with movement of displayed material twice or more in an electrical signal output means for imaging the state of displaying/keeping a transition state from white display to black display, which characterizes the electrophoretic front plate inspecting device.
    電気泳動型前面板検査装置において、前記撮像手段が、前記電気信号出力手段において、印加するパルス幅が表示材料の移動が飽和するパルス幅より十分に短いパルスを２回以上印加し、白表示から黒表示途中の遷移状態を表示保持した状態を撮像するものであることを特徴とする電気泳動型前面板検査装置を提供する。 - 特許庁
  • Also, because the Edo bakufu's policy for controling the Imperial Court excluded families below the rank of Seigake from the highest political decision-making process, Kaneyoshi and his heir, Michika, as Ministers of the Left and Right, were left in control of, but unable to make progress in, government affairs (in addition, Michika was appointed Nairan (in charge of inspecting documents submitted to the Emperor) when Kaneyoshi was temporarily forced to rest due to paralysis in 1739).
    また、江戸幕府の朝廷統制政策により清華家以下の諸家は政治の最高意思決定の場から実質排除されていたため、兼香と嫡男・道香が左右大臣として政務を取り仕切らなければ、政務が進まないという事態に陥ったのである（なお、道香は元文4年（1739年）に兼香が一時中風によって静養を余儀なくされた際に内覧に任じられている）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • The method of inspecting the phase shift mask comprises using the light of the wavelength different from the wavelength used in performing exposure with the mask as the wavelength of the measuring light in measurement of the phase difference in the phase shifter section or translucent phase shifter section of the phase shift mask having at least the phase shifter section or translucent phase shifter section on a transparent substrate or the transmittance of the translucent phase shifter section.
    透明基板上に、少なくとも、位相シフター部又は半透光性位相シフター部を有する位相シフトマスクにおいて、前記位相シフター部又は半透光性位相シフター部の位相差及び前記半透光性位相シフター部の透過率の測定における測定光波長として、マスクで露光する際に用いる波長とは異なる波長の光を用いることを特徴とする位相シフトマスクの検査方法。 - 特許庁
  • The manufacturing method of the electric double-layer capacitor comprises processes of: laminating first and second electrodes having a terminal section and a body section so that respective terminal sections do not overlap each other via a separator for obtaining a laminate; and inspecting the short-circuiting between the first and second electrodes while pressurizing the laminate made of the first electrode, the separator, and the second electrode.
    本発明の電気二重層キャパシタの製造方法は、端子部及び本体部を備える第１の電極及び第２の電極を、セパレータを介してそれぞれの端子部が互いに重なりあわないように積層して、積層体を得る工程と、第１の電極、セパレータ及び第２の電極からなる積層体を加圧しながら、第１の電極と第２の電極との短絡を検査する工程とを含む。 - 特許庁
  • This method comprises a process for inspecting airtightness of a bulb 101, a process for selecting only the airtight bulbs 101 having passed it, a process for enclosing a rare gas tentatively stored in a gas storage container 30 in the bulbs 101 with a prescribed gas pressure, and a process for recovering the rare gas remaining in an exhaust pipe 103 after a completed incandescent lamp 100 is extracted.
    本発明による白熱電球の製造方法は、バルブ１０１の気密性を検査する工程と、これに合格した気密性のバルブ１０１のみ選別する工程と、蓄ガス容器３０に所定のガス圧で一旦貯留した希ガスをバルブ１０１に封入する工程と、完成した白熱電球１００が取り出された後に残る排気管１０３内に残留する希ガスを回収する工程とを含む。 - 特許庁
  • The track inspecting apparatus of the straddling type monorail is capable of photographing the undersurface of the track beam, wherein reflective mirrors 34a, 34b are provided under the track beam C and photographing devices 14a, 14b are provided at both sides of the track beam to photograph reflected images of the track beam undersurface appearing on the reflective mirrors 34a, 34b by the photographing devices 14a, 14b.
    本発明に係る跨座式モノレールの軌道点検装置は、軌道桁下面を撮影可能としたものであって、軌道桁Ｃの下方に反射鏡３４ａ，３４ｂを設置し、軌道桁の側方に撮影装置１４ａ，１４ｂを設け、前記反射鏡３４ａ，３４ｂに映った軌道桁下面の反射像を前記撮影装置１４ａ，１４ｂにより撮影できるようにしたことを特徴とするものである。 - 特許庁
  • A flap spacing deciding means 51 retrieves the binary image data 40 for a straight line, composed of black points successively changing on the coordinate x but constant on the coordinate y within a flap determined spacing inspection range based on the first and second horizontal reference coordinates, and decides whether the straight line length is within the prescribed normal range, thereby inspecting the flap spacing of the corrugated cardboard box 1.
    フラップ間隔判定手段５１は、前記第１水平基準座標と前記第２水平基準座標に基づいて決定したフラップ間隔検査範囲内で、２値画像データ４０に対して、ｙ座標が同一でｘ座標が連続して黒点により構成される直線を検索し、該直線の長さが所定の正常範囲内にあるか否かを判別して段ボール箱１のフラップ間隔の検査を行なう。 - 特許庁
  • To provide a method for inspecting mechanical stability of stabilizing elements so that the stabilizing elements mutually and mechanically connect blades of buckets of a turbine, especially a steam turbine, in a peripheral direction in an assembled state, and adjacent stabilizing elements intruded and engaged with each other in an engagement area are improved to solve known defects and reproducible and sure results are quickly obtained.
    安定化要素の機械的な安定性を検査する方法であって、安定化要素は、組付状態で、タービン、特に蒸気タービンの動翼のブレードを周方向に相互に機械式に連結し、隣接する安定化要素は、それぞれ係合域で、相互に入り込んで係合しているものを改良して、公知の欠点を解消し、迅速に行い、再現可能で確実な結果が得られるものを提供する。 - 特許庁
  • In the contact probe sheet 10 for inspecting display panels used for performing prescribed tests by energizing each electrode of the display panel, a plurality of lead patterns 2 extended from one end side to the other end side of a flexible substrate 1 are formed on the flexible substrate 1, and a dummy pattern 5 for suppressing the position deviation of the lead pattern 2 is formed.
    表示パネルの各電極に通電させて、所定の試験を行うために使用する表示パネル検査用コンタクトプローブシート１０であって、 前記コンタクトプローブシート１０は、可撓性基板１上に該可撓性基板１の一端側から他端側に向かって延びた複数のリードパターン２が形成され、前記リードパターン２のパターン付置ずれを抑制するダミーパターン５が形成されていることを特徴とする表示パネル検査用コンタクトプローブシート。 - 特許庁
  • An email inspection device receives designation of emails to be inspected among emails in a transmission pending state from a user, displays an inspection screen for inspecting the designated emails, and when receiving confirmation of an item causing the emails, which are designated to be inspected, to be in the transmission pending state from the user on the inspection screen, then receives an inspection result for the emails.
    送信が保留された電子メールのうち監査対象とする電子メールの指定をユーザから受け付け、指定された電子メールを監査するための監査画面を表示し、監査画面において当該監査対象として指定された電子メールの送信が保留された原因となる項目の確認をユーザから受け付けた場合に、当該電子メールに対する監査結果を受け付ける電子メール監査装置。 - 特許庁
  • The method of inspecting the spray condition of the adhesive G sprayed from the nozzle 12 includes: irradiating droplets of adhesive intermittently spraying from the nozzle with a laser light Lr to detect a laser light Rl reflected by the droplets, counting the repeat number N of increase and decrease of the laser light detected within a predetermined time period, and comparing the counted repeat number with a preset judgement number Nu for inspection.
    ノズル１２から噴射された接着剤Ｇの噴射状態検査方法において、ノズルから間欠的に噴射された接着剤の液滴にレーザ光Ｌｒを照射して液滴に反射されたレーザ光Ｒｌを検知し、所定時間内に検知したレーザ光の増減の繰り返し回数Ｎをカウントし、カウントした繰り返し回数と予め設定した判定数Ｎｕとを比較して検査する。 - 特許庁
  • (3) Among graduates of an engineering course of a high school or secondary school accredited under the School Education Act (hereinafter referred to as a "graduate from an engineering-related high school, etc."), a person must have ten years or more of experience in designing, manufacturing or installing machines, etc. for which a performance inspection is to be conducted or five years or more of experience in inspecting the relevant machines, etc. (hereinafter referred to as a "person with long-term experience" in this table); and must have completed a training course specified in Item 1.
    三　工学関係高等学校等卒業者のうち、十年以上性能検査を行おうとする機械等の設計、製作若しくは据付けの業務に従事した経験又は五年以上当該機械等の検査の業務に従事した経験を有する者（以下この表において「長期経験者」という。）で、第一号に規定する研修を修了したものであること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • A method of inspecting the defect of a filter includes the steps of : generating a gas flow containing a liquid particle group; eliminating the particles relatively large in diameter among the liquid particle group; supplying the gas flow containing the liquid particle group whose large particles are eliminated to one end surface of the filter; and detecting a concentration distribution of the liquid particles in the gas discharged from the other end surface of the filter.
    フィルタの欠陥の検査方法は、液体粒子群を含むガス流を発生させる工程と、液体粒子群中の相対的に粒径が大きな粒子を除去する工程と、大きな粒子が除去された液体粒子群を含むガス流をフィルタの一端面に供給する工程と、フィルタの他端面から排出されるガス中の液体粒子の濃度分布を検出する工程と、を備える。 - 特許庁
  • The filling machine for a paper container has a carry means for carrying a subject, and an analysis processing means comprising a first electrode placed oppositely to a predetermined region of the subject at a predetermined distance from the subject for applying an inspection voltage to the subject, and a second electrode placed in contact with the subject for inspecting whether the subject is damaged based on a feedback current flowing in the second electrode.
    被検体を搬送する搬送手段と、前記被検体の所定の部分と対向させて、かつ、被検体と所定の距離を置いて配設され、被検体に検査電圧を印加する第１の電極と、前記被検体に接触するように配設された第２の電極と、からなり、第２の電極に流れるフィードバック電流に基づいて、被検体に損傷が発生したかどうかを検査する分析処理手段とを有する。 - 特許庁
  • The equipment for inspecting an architectural structure comprises a shaking contactor 5 for converting an electric signal into a mechanical vibration being imparted to the architectural structure and a receiving contactor 6 for converting a mechanical vibration generated from the architectural structure into an electric signal, disposed in a detector body 10 incorporating a signal processing circuit, wherein the detector body 10 is fixed removably to the inspection hammer 12.
    信号処理回路を組み込んだ検知器本体１０に、電気信号を機械的振動に変換して建築構造物に与えるための加振用接触子５と、該建築構造物で発生する機械的振動を電気信号に変換するための受信用接触子６とが設けられた建築構造物検査装置において、前記検知器本体１０を検査ハンマ１２に着脱自在に取付けた構成である。 - 特許庁
  • To divert or recycle a scanning imaging lens for different kinds of devices by enabling the scanning imaging lens to be used in common to different kinds of devices having different light source wavelengths, to use an inspecting device, a measuring instrument, and a metal mold in common for different kinds of scanning imaging lenses having different light source wavelengths, and to reduce the component cost and the facility investment cost by shortening the designing period and development period.
    光源波長が異なる複数の機種に対して、走査結像レンズを共通に用いることを可能として、走査結像レンズの他機種への流用およびリサイクル、光源波長が異なる複数の機種の走査結像レンズに共通の検査装置／測定装置／金型の使用、並びに設計期間および開発期間の短縮による部品コストの低減および設備投資額の低減を実現する。 - 特許庁
  • To provide a system greatly influencing future earthquake countermeasures of earthquake-frequented Japan, capable of preventing a secondary fire from an underground buried pipe even when the buried pipe is fractured during a large earthquake disaster and having gas usable just by inspecting piping in a building by installing a gas storage tank in a building foundation, and enabling females and older people to easily perform gas filling for an oncoming aging society by simplifying filling work.
    ガス貯蔵用タンクを建物基礎に設置することにより、大震災時に地下埋設管が破損しても埋設管からの二次火災を予防でき建物の配管を点検するだけでガスを使用でき、地震国日本の今後の震災対策に多大な影響を与える発明であり、又高齢化社会に向け充填作業の簡素化で高齢者、女性にもガス充填が安易にできる。 - 特許庁
  • The method of manufacturing a semiconductor device includes: a process of preparing a semiconductor chip 10; a process of mounting the semiconductor chip 10 on a flexible package substrate 20; and a process of inspecting the performance of the semiconductor chip 10 mounted on the package substrate 20, and of bending the semiconductor chip 10 while bending the package substrate 20 in a direction in which the performance of the semiconductor chip 10 is enhanced.
    半導体チップ１０を準備する工程と、半導体チップ１０を湾曲可能なパッケージ基板２０に実装する工程と、パッケージ基板２０に実装された半導体チップ１０の性能の検査を行い、半導体チップ１０の性能が向上する方向にパッケージ基板２０を湾曲させるとともに、半導体チップ１０を湾曲させる工程を備えることを特徴としている。 - 特許庁
  • To provide a wiring board capable of preventing the damage of a connecting terminal with an external circuit in a conductor when a conduction to a driving device is inspected, and capable of inspecting the conduction to the driving device even when the connecting terminal is cut, in the wiring board electrically connecting the external circuit such as a circuit board and the driving device such as a liquid-crystal display panel.
    回路基板等の外部回路と例えば液晶表示パネル等の駆動装置とを電気的に接続する配線基板であって、駆動装置に対する通電検査の際に、導体における外部回路との接続端子が傷ついてしまうのを防止し、かつ前記接続端子が切断してしまった場合でも、駆動装置に対する通電検査を行うことが可能な配線基板を提供する。 - 特許庁
  • Because the values of A and B in a multiplexer 13 are in a reversal state, a fault is detect by a special test bench by outputting whether the value is from a clocked buffer of the multiplexer 13 or a clocked buffer to an arbitrary terminal of a LSI chip, therefore a fault of the clocked buffer set in the multiplexer 13 can be detected at the time of inspecting before the shipment.
    マルチプレクサ１３のＡおよびＢの値が反転状態であることから、マルチプレクサ１３のクロックドバッファ１３ａを介した値なのか、あるいは、クロックドバッファ１３ｂを介した値なのかをＬＳＩチップの任意の端子に出力することにより、専用のテストベンチにて故障を発見するため、マルチプレクサ１３に配置されたクロックドバッファ１３ａの故障を出荷検査時に発見することが可能となる。 - 特許庁
  • The display apparatus includes an effective display unit comprising a plurality of display pixels, and further includes an inspection wiring 80 where an inspection signal is supplied on inspecting the effective display unit and with a conductive layer 90 in a different layer separated by an insulating layer 100 from the inspection wiring 80 and disposed opposing through a predetermined gap G to the inspection wiring 80.
    複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線８０と、検査用配線８０とは絶縁層１００を介して異なる層において検査用配線８０と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置された導電層９０と、を備えたことを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide manufacturing technology of a semiconductor device, which can extract a representative defect that reflects an occurrence situation of a detected defect in a process for detecting a plurality of the defects existing in a pattern formed in a semiconductor substrate, extracting the prescribed number of the defects from a plurality of the detected defects and inspecting an appearance on the prescribed number of the extracted defects.
    半導体基板に形成されたパターンに存在する複数の欠陥を検出し、検出した複数の欠陥の中から所定数の欠陥を抽出した後、抽出した所定数の欠陥について外観検査を実施する工程において、検出した欠陥の発生状況を反映した代表的な欠陥を抽出することができる半導体装置の製造技術を提供する。 - 特許庁
  • In the method of inspecting a mounted piece having an electroconductive particles-containing anisotropic electroconductive film mounted therein to check the existing positions of the electroconductive particles, the electroconductive particles have fluorescent substances bonded to the surfaces thereof directly or via an organic compound, and the surface of the mounted piece is irradiated with excitation light to detect fluorescent light emitted from the fluorescent substance.
    導電性粒子を含む異方導電膜を実装した実装品の、導電性粒子の存在位置を検査する実装品の検査方法であって、該導電性粒子は表面に蛍光物質が直接または有機化合物を介して結合したものであり、前記実装品の表面に励起光を照射し、前記蛍光物質から発する蛍光を検出することを特徴とする実装品の検査方法。 - 特許庁
  • The communication device is equipped with a map information storage means of storing map information, a position information acquiring means of acquiring position information, a map information inspecting means of judging whether map information corresponding to the position information is included in the map information, and a map information acquiring means of acquiring the map information corresponding to the acquired position information.
    通信装置に、地図情報を記憶する地図情報記憶手段と、位置情報を取得する位置情報取得手段と、取得した位置情報に対応する地図情報が、前記地図情報に含まれるか否かを判断する地図情報検査手段と、前記判断に基づいて、前記取得した位置情報に対応する地図情報を取得する地図情報取得手段とを備えることにより上記課題を解決する。 - 特許庁
  • To provide a fluid bearing device capable of easily confirming that a working fluid 20 is well filled between a cover 5 and a sleeve 2 and an adhesive agent 21 to adhere the cover 5 to the sleeve 2 is well filled therebetween in the fluid bearing device in which the sleeve 2 is covered by the cover 5, and a method of inspecting the amount of the working fluid 20.
    カバー５でスリーブ２が覆われている流体軸受装置において、カバー５とスリーブ２との間に作動流体２０が良好に充填されていることを容易に確認したり、カバー５とスリーブ２とを接着する接着剤２１が良好に充填されていることを容易に確認したりすることができる流体軸受装置ならびにその作動流体２０の量の検査方法を提供する。 - 特許庁
  • The apparatus for inspecting the optical display units includes: a transfer device R capable of horizontally supporting an optical display unit W; a liquid feed device D11 which feeds a wettable liquid to a surface of the optical display unit W so as to come into contact therewith and maintains the liquid on the surface; and an observation area D12 allowing observation of a part which repels the liquid.
    光学表示ユニットＷを水平な状態で支持可能な搬送装置Ｒと、その光学表示ユニットＷの表面に接触するようにその表面に対し濡れ性を有する液体を供給して前記液体を表面に保持させる液体供給装置Ｄ１１と、前記液体のハジキが生じる部分を観察可能な観察エリアＤ１２とを含む光学表示ユニットの検査装置。 - 特許庁
  • According to "Hone ha kataru: Tokugawa Shogun Daimyoke no hitobito" (Bones talk: the people of Tokugawa shogun and daimyo families) by Hisashi SUZUKI, who observed the refurbishment of the Tokugawa shogun family's grave site at Zojo-ji Temple where Ienobu was also buried and who was also in charge of inspecting the remains, Ienobu was apparently a soft-looking, lean-faced handsome man with a shapely nose and he shared very little resemblance with his father Tsunashige except for the fact that he was round-shouldered.
    家宣の埋葬された増上寺で徳川将軍家の墓地が改葬された際に、これに立ち会い被葬者の遺骨の調査を担当した鈴木尚の著書『骨は語る徳川将軍・大名家の人びと』によると、家宣は細面で鼻筋が通っていて穏やかな顔立ちをした美男であったといい、父・綱重とは猫背であったこと以外に似ている部分は非常に少なかったという。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • To provide an inspecting device and a manufacturing method for a plasma display panel rear plate which can perform image processing by selecting and switching some of plural video signals, reduce the number of expensive image processors and the memory capacity in the image processors, lower the device cost, facilitate replacing operation in maintenance by decreasing the wiring quantity of a movable part, and perform inspection with high precision.
    複数の映像信号から一部を選択して切り換えて画像処理することが可能で、高価な画像処理装置の数を低減したり、画像処理装置内のメモリー容量を低減することができ、装置コストを抑えることが可能な、かつ、可動部の配線量を減らしメンテナンス時の交換作業を容易化可能な、しかも、高精度な検査が可能なプラズマディスプレイパネル背面板の検査装置と製造方法を提供する。 - 特許庁
  • The manufacturing method of a semiconductor device comprises a first step for packaging semiconductor elements on a first substrate; a second step for inspecting the semiconductor elements packaged on the first substrate; a third step for dicing the first substrate into pieces; and a fourth step for packaging the first substrate diced into pieces while the semiconductor elements are packaged on a second substrate.
    半導体素子を第１の基板に実装する第１の工程と、前記第１の基板に実装された前記半導体素子の検査を行う第２の工程と、前記第１の基板をダイシングにより個片化する第３の工程と、個片化された、前記半導体素子が実装された前記第１の基板を、第２の基板に実装する第４の工程と、を有することを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 特許庁
  • To provide a vessel for inspecting blood that can fully exhibit an expected medicine performance without decreasing the performance of a medicine by preventing the contact between a medicine such as a blood coagulation accelerator and a blood anticoagulant, and serum or a plasma separating medium, and at the same time, preventing the medicine such as the blood coagulation accelerator and blood anticoagulant from being mixed into the separating medium.
    血液凝固促進剤や血液抗凝固剤などの薬剤と、血清または血漿分離剤との接触を防止すると共に、血液凝固促進剤や血液抗凝固剤などの薬剤が分離剤中へ混入するのを防止することにより、かかる薬剤の性能を低下させることなく、所期の薬剤性能を十分に発揮することができる血液検査用容器を提供する。 - 特許庁
  • A moving object detecting module detects the object from motion image information transmitted from a sensor camera 10, the object over frames is fixed by inspecting the identity of the object detected in each frame, and each object appearing in a predetermined period is displayed with thumbnails extracted in a representative frame by a thumbnail display unit on the basis of object information detected by the motion object detecting module.
    センサーカメラ１０から送られてくる動画情報から動体検知モジュールによりオブジェクトを検出し、各フレームで検出したオブジェクトの同一性を検査することによりフレームをまたぐオブジェクトの同定し、上記動体検知モジュールにより検出されたオブジェクト情報に基づいて一定期間内に出現した各オブジェクトをサムネイル表示部により代表フレームで抽出したサムネイルで表示する。 - 特許庁
  • To provide an immunological measuring kit of asialo GM1 and an immunological measuring kit of an antiasialo GM1 antibody capable of measuring the asialo GM1 or the antiasialo GM1 antibody in a sample in a short time with high sensitivity and high accuracy, and unifying a diagnosis standard by reducing difference of each inspection result by inspection execution institutions for inspecting the asialo GM1 or the antiasialo GM1 antibody.
    試料中のアシアロＧＭ１や抗アシアロＧＭ１抗体を高感度、高精度かつ短時間で測定することができ、しかも、アシアロＧＭ１や抗アシアロＧＭ１抗体を検査する検査実施機関によって検査結果が異なることを減少させ、診断基準を統一することができる、アシアロＧＭ１の免疫学的測定キット並びに抗アシアロＧＭ１抗体の免疫学的測定キットを提供する。 - 特許庁
  • The method for inspecting a photomask for a semiconductor integrated circuit formed based on the data for drawing patterns includes: a process of classifying the drawing patterns of the semiconductor integrated circuit into a plurality of ranks according to prescribed references of features and extracting; and a process of determining the inspection accuracy for each rank and judging the quality of the photomask depending on whether the extracted pattern satisfies the determined inspection accuracy or not.
    描画パターンデータに基づいて形成された半導体集積回路用のフォトマスクを検査する方法において、前記半導体集積回路の描画パターンを、所定の特徴基準に従って、複数のランクに分類して抽出する工程と、当該ランク毎に検査精度を決定し、この決定された検査精度を満たしているか否かによってフォトマスクの良否を判定する工程とを具備している。 - 特許庁
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