「Measuring microscope」を含む例文一覧(544)
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測定顕微鏡装置 - 特許庁 - MICROSCOPE MEASURING APPARATUS
顕微鏡測定装置 - 特許庁 - MEASURING MICROSCOPE APPARATUS
測定顕微鏡装置 - 特許庁 - MEASURING MICROSCOPE SYSTEM
測定顕微鏡装置 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE MEASURING DEVICE
光学顕微鏡測定装置 - 特許庁 - OPTICAL DEVICE FOR MICROSCOPE, MEASURING MICROSCOPE, AND IMAGE MEASURING MACHINE
顕微鏡の光学装置、測定顕微鏡、および画像測定機 - 特許庁 - FOCUSING DEVICE FOR MEASURING MICROSCOPE
測定顕微鏡の焦準装置 - 特許庁 - COMPOUND MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF COMPOUND MICROSCOPE
複合顕微鏡及び複合顕微鏡の測定方法 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF PROBE MICROSCOPE
プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁 - MEASURING DEVICE AND CONFOCAL MICROSCOPE
測定器および共焦点顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE ILLUMINATION INTENSITY MEASURING APPARATUS
顕微鏡照明強度測定装置 - 特許庁 - MEASURING MICROSCOPE HAVING FOCUSING DEVICE
焦準装置を有する測定顕微鏡 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁 - DEFOCUSING AMOUNT MEASURING METHOD OF TEM (TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)
ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁 - PROBE MICROSCOPE AND PHYSICAL PROPERTY MEASURING METHOD
プローブ顕微鏡及び物性測定方法 - 特許庁 - OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SPECTRUM
光学顕微鏡及びスペクトル測定方法 - 特許庁 - DEVICE FOR MEASURING MICROSCOPE FIELD LIGHT QUANTITY DISTRIBUTION
顕微鏡視野光量分布測定装置 - 特許庁 - AUTOMATIC DISTORTION-MEASURING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の自動歪み測定方法 - 特許庁 - FLUORESCENCE MEASURING METHOD AND FLUORESCENCE MICROSCOPE
蛍光測定方法及び蛍光顕微鏡 - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL MICROSCOPE, AND OBSERVATION AND MEASURING METHOD USING THREE DIMENSIONAL MICROSCOPE
三次元顕微鏡装置及び同装置を用いた観察・測定法 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE AND FILM THICKNESS MEASURING INSTRUMENT
コンフォーカル顕微鏡及び膜厚測定装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁 - CONFOCAL MICROSCOPE AND HEIGHT MEASURING INSTRUMENT
共焦点顕微鏡及び高さ測定装置 - 特許庁 - MICROSCOPE IMAGING DEVICE AND DIMENSION MEASURING INSTRUMENT
顕微鏡撮像装置及び寸法測定装置 - 特許庁 - FORCE MEASURING METHOD AND SCANNING FORCE MICROSCOPE
力計測方法及び走査型力顕微鏡 - 特許庁 - SHAPE MEASURING APPARATUS AND CONFOCAL MICROSCOPE
形状測定装置及び共焦点顕微鏡 - 特許庁 - LENGTH MEASURING METHOD FOR SAMPLE AND SACCNING MICROSCOPE
試料の測長方法、及び走査顕微鏡 - 特許庁 - STAGE POSITION MEASURING DEVICE FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE
走査電子顕微鏡のステージ位置測定装置 - 特許庁 - CATHODE LUMINESCENCE MEASURING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
カソードルミネッセンス測定装置及び電子顕微鏡 - 特許庁 - LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査形電子顕微鏡による測長方法 - 特許庁 - SAMPLE MEASURING METHOD USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASURING SYSTEM THEREFOR
原子間力顕微鏡を用いた試料測定方法およびシステム - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD
走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN MEASURING METHOD
走査型電子顕微鏡及びパターン測定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD
走査型電子顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁 - PHASE CONTRAST MICROSCOPE AND SUPERPOSITION MEASURING DEVICE
位相差顕微鏡及び重ね合わせ測定装置 - 特許庁 - LENGTH MEASURING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡を用いた測長方法 - 特許庁 - SURFACE-MEASURING INSTRUMENT INTEGRATED SCANNING PROBE MICROSCOPE
表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING MEASURING CONDITION BY ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡による測定条件決定方法 - 特許庁 - ELECTRIC PROPERTY MEASURING METHOD AND MICROSCOPE DEVICE
電気物性の測定方法および顕微鏡装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME
走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁 - SCANNING AC HOLE MICROSCOPE AND ITS MEASURING METHOD
走査型ＡＣホール顕微鏡とその測定方法 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING SURFACE SHAPE OF SOFT MATERIAL BY PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MICROSCOPE USED FOR MEASURING METHOD
プローブ顕微鏡による軟質物の表面形状測定方法、該測定方法に用いるプローブ顕微鏡 - 特許庁 - MICROSCOPE STAGE, AND FOCAL POSITION MEASURING INSTRUMENT AND CONFOCAL MICROSCOPE SYSTEM
顕微鏡ステージ、および、焦点位置計測装置と共焦点顕微鏡システム - 特許庁 - METHOD OF MEASURING VIBRATION, AND ULTRASONIC MICROSCOPE SYSTEM
振動計測方法及び超音波顕微鏡システム - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE
走査型プローブ顕微鏡の測定方法および装置 - 特許庁 - PATTERN SIZE MEASURING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
パターン寸法計測方法及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD
走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁 - INFRARED MICROSCOPE AND ITS MEASURING POSITION DECISION METHOD
赤外顕微鏡及びその測定位置確定方法 - 特許庁 - KERR EFFECT MICROSCOPE, MAGNETIZATION DIRECTION MEASURING METHOD, AND KERR EFFECT MICROSCOPE CALIBRATION METHOD
カー効果顕微鏡、磁化方向測定方法、及びカー効果顕微鏡校正方法 - 特許庁
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