「Measuring microscope」を含む例文一覧(544)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 次へ＞- DISTANCE MEASURING DEVICE, AND OPTICAL INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS
距離測定装置およびこれを備えた光学干渉計、光学顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)
走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁 - To provide a measuring microscope and an eyepiece of a measuring microscope which can change the position of a pattern without rotating an indicating member.
本発明は、測定顕微鏡および測定顕微鏡の接眼レンズ部に関し、表示部材を回転することなくパターンの位置を変更することを目的とする。 - 特許庁 - SONIC SPEED MEASURING METHOD USING ULTRASONIC MICROSCOPE, ITS SONIC SPEED MEASURING DEVICE, AND IMAGE DIAGNOSING METHOD AND DEVICE USING ULTRASONIC MICROSCOPE
超音波顕微鏡を使用した音速測定方法、その音速測定装置、超音波顕微鏡を使用した画像診断方法およびその画像診断装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND LOCAL ELECTRIC CHARACTERISTIC MEASURING METHOD USING IT
走査プローブ顕微鏡及びこれを用いた局所的電気特性測定方法 - 特許庁 - MICROSCOPE DEVICE AND METHOD FOR MEASURING DRUG EFFECT USING THE SAME
顕微鏡装置及びこの顕微鏡装置を用いた薬物効果測定方法 - 特許庁 - SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD
走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁 - This measuring instrument includes a microscope 1, a controller 2, and a terminal equipment 3.
測定装置は、顕微鏡１と、制御装置２と、端末装置３とを含む。 - 特許庁 - MEASURING METHOD BY SCANNING TYPE CONFOCAL LASER MICROSCOPE AND ITS CONTROL SYSTEM
走査型共焦点レーザ顕微鏡による計測方法及びその制御システム - 特許庁 - METHODS OF MEASURING PROBE SHAPE AND SAMPLE SHAPE, AND PROBE MICROSCOPE
探針の形状計測方法、試料の形状計測方法、及びプローブ顕微鏡 - 特許庁 - SURFACE STATE MEASURING METHOD AND DEVICE, MICROSCOPE, AND INFORMATION PROCESSOR
表面状態計測方法、表面状態計測装置、顕微鏡、情報処理装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE
走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁 - MEASURING METHOD BY TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE-ENERGY DISPERSION TYPE X-RAY SPECTROGRAPH
透過型電子顕微鏡−エネルギー分散型Ｘ線分光装置の測定方法 - 特許庁 - MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査プローブ顕微鏡を用いた試料測定における測定条件設定方法 - 特許庁 - CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - ULTRA-HIGH SENSITIVITY DISPLACEMENT MEASURING SYSTEM APPLIED BY SCANNING NONLINEAR PERMITTIVITY MICROSCOPE
走査型非線形誘電率顕微鏡を応用した超高感度変位計測方式 - 特許庁 - ABERRATION MEASURING METHOD USING RONCHIGRAM AND ABERRATION CORRECTION METHOD, AND ELECTRON MICROSCOPE
ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 - 特許庁 - FOCUSING DEVICE, FOCUSING METHOD, OPTICAL CONSTANT MEASURING INSTRUMENT AND MICROSCOPE
焦点合わせ装置および方法並びに光学定数測定装置および顕微鏡 - 特許庁 - The microscope measuring apparatus carries out a spectroscopic measuring of reflected light from a minute spot imaged on the test object B.
被検体Ｂ上に結像した微小スポットからの反射光の分光測定を行う顕微鏡測定装置である。 - 特許庁 - To provide a device for measuring microscope field light quantity distribution capable of measuring a focus deviation due to shading and color aberration.
シェーディングと色収差による焦点ズレを測定できる顕微鏡視野光量分布測定装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a low-cost microscope instrument capable of readily performing a measuring point alignment operation.
測定点のアライメント作業を容易に行える安価な顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING SAMPLE BY SELF-DETECTION-TYPE CANTILEVER AND SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE DEVICE
自己検知型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡装置による試料測定方法 - 特許庁 - COMBTOOTH-SHAPED PROBE, ATOMIC FORCE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT, AND DISPLACEMENT MEASURING METHOD
櫛歯型プローブ、これを備える原子間力顕微鏡装置および変位測定方法 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of measuring lengths and inspecting defects with one unit.
一台で、測長と欠陥検査が可能な走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - INTERFEROMETER, MICROSCOPE FOR SURGICAL OPERATION, AND INTERFEROMETRIC MEASURING METHOD FOR MOVING SPEED OF OBJECT
干渉計、手術用顕微鏡、および対象物の運動速度の干渉測定法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DIMENSION OF CIRCUIT PATTERN BY USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法 - 特許庁 - MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD, MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE, AND MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE SYSTEM
磁気円二色性測定方法、磁気円二色性光電子放出顕微鏡、及び磁気円二色性光電子放出顕微鏡システム - 特許庁 - SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD
走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of highly accurately measuring by selecting the optimum measuring environment according to a measuring condition.
測定条件によって最適な測定環境を選択することで、より精度の高い測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - This device is provided with an optical microscope aligning mark 76, that is a guiding mark for controlling a position of a measuring cantilever C2 with respect to a specimen measuring terminal face using the optical microscope, on a back face of a measuring cantilever C2.
計測用カンチレバー［Ｃ２］の背面に、光学顕微鏡を用いて被検体測定端子面に対するカンチレバーの位置を制御するためのガイド用のマークである光学顕微鏡位置合せマーク［７６］を設けた。 - 特許庁 - To enhance the measuring precision of an atomic force microscope by destaticizing a sample efficiently without applying load to a sample measuring system when the sample is measured using the atomic force microscope.
原子間力顕微鏡を用いて試料を測定する際に、装置に負担をかけることなく効率よく試料を除電して、原子間力顕微鏡による測定の精度を高める。 - 特許庁 - To provide a surface shape measuring device capable of performing proper measurement to a measuring object having a large aspect ratio (height/width or height), especially a probe microscope such as an atomic force microscope or a magnetic force microscope which is a high-resolution surface shape measuring device.
アスペクト比（高さ／幅又は高さ）が大きい測定対象に対し、適切な測定ができる表面形状測定装置を提供するもので、特に、高分解能な表面形状測定装置である原子間力顕微鏡や磁気力顕微鏡などのプローブ顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁 - METHOD FOR DECIDING MEASURING PARAMETER FOR SCANNING MICROSCOPE AND COMPUTER-READABLE STORING MEDIUM
走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法及びコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁 - To provide a pump probe measuring instrument, and a scanning probe microscope using it.
ポンププローブ測定装置とこの測定装置を利用した走査プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - SURFACE PLASMON FLUORESCENCE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING FLUORESCENCE EXCITED BY SURFACE PLASMON
表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法 - 特許庁 - An auto-focus device or a reticle microscope is used as the position measuring means.
また、前記位置測定手段は、オートフォーカス装置またはレチクル顕微鏡であることを特徴とする。 - 特許庁 - The infrared microscope 10 implements the mapping measurement based on the focusing distances at the respective measuring points.
そして、赤外顕微鏡１０は各測定点の合焦距離に基いてマッピング測定を行う。 - 特許庁 - SCANNING TUNNEL MICROSCOPE CAPABLE OF MEASURING SURFACE OF ELECTRICALLY NONCONDUCTIVE MATTER BY TWO PROBES
２本の探針で非電導性物質表面の測定ができるようにした走査型トンネル顕微鏡 - 特許庁 - To provide a surface-measuring instrument integrated scanning probe microscope which is hardly effected adversely from vibrations caused by the surface-measuring instrument.
表面測定器に起因する振動の悪影響を受け難い表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - ENERGY SPECTRUM MEASURING DEVICE, ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE HAVING THIS DEVICE AND ELECTRONIC ENERGY LOSS SPECTRUM MEASURING METHOD
エネルギースペクトル測定装置，電子エネルギー損失分光装置、及びそれを備えた電子顕微鏡、及び電子エネルギー損失スペクトル測定方法 - 特許庁 - To provide a digital protractor to be built in a measuring microscope that can take measures for reducing power consumption and enhance the degree of freedom in design of the measuring microscope.
測定顕微鏡に組み込まれるデジタルプロトラクターにおいて、消費電力低減対策をとることができ、測定顕微鏡の設計の自由度を上げることができるデジタルプロトラクターを提供すること。 - 特許庁 - To provide an optical device for a microscope, a measuring microscope and an image measuring machine, capable of observing easily an inner wall of a cylindrical member, without requiring a special lighting system.
特別な照明装置を必要とすることなく、筒状部材の内壁の観察を簡易に行うことができる顕微鏡の光学装置、測定顕微鏡、および画像測定機を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning AC hole microscope and a usage for measuring a region pattern of magnetic material.
走査型ＡＣホール顕微鏡と磁性材料の領域パターンの測定する用法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a microscope system for measuring a three-dimensional position of a sample and a fluorescence spectrum of the sample.
試料の三次元位置と該試料の蛍光スペクトルとの計測を行うための顕微鏡システムの提供。 - 特許庁 - FINE STRUCTURAL BODY, CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MEASURING AMOUNT OF DEFORMATION OF THE FINE STRUCTURAL BODY
微細構造体、カンチレバー、走査型プローブ顕微鏡及び微細構造体の変形量測定方法 - 特許庁 - To provide a scanning tunneling microscope capable of measuring the surface of electrically nonconductive matter which does not conduct electricity.
電気を通さない非電導性物質表面の測定ができる走査型トンネル顕微鏡の提供。 - 特許庁 - To provide an atomic force microscope which can measure a shape of a measuring object having no rigidity, with high accuracy.
剛性のない被測定物の形状を高精度に測定できる原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁 - To provide an optical microscope capable of shortening a measurement time, and to provide a spectrum measuring method.
測定時間を短縮することができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING SURFACE CROSS-SECTIONAL SHAPE OR THREE-DIMENSIONAL SURFACE SHAPE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
表面の断面形状若しくは三次元表面形状測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁
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