「Optical microscope」を含む例文一覧(1392)
＜前へ 1 2 .... 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 次へ＞- A stereoscopic microscope having a plurality of eyepiece optical systems for observing an optical image is provided with at least one zoom optical system 5 and an optical element 8 which modulates the images of different parallaxes through an optical element 4 whose characteristic can be modulated with time, allows the plurality of modulated images pass through the system 5 and separates the images after passing through to images of different parallaxes inside a mirror 1.
光学像を観察する接眼光学系を複数有する実体顕微鏡において、鏡体１の内部に、少なくとも１つのズーム光学系５を備えており、且つ、視差の異なる像を時間的に特性を変調できる光学素子４を介して変調し、変調された複数の像を同一のズーム光学系５を通過させ、通過後の像を視差の異なる像に分離させる光学素子８を有している。 - 特許庁 - The probe microscope is miniaturized, by providing an observation illumination optical system 12 and a data detecting optical system 11 for fetching observation data out of the sample 10, with respect to a common object lens 14 and the improvement of the noise caused by the duplication of the wavelengths of the optical systems 11 and 12 is achieved by a wavelength-selecting element 13.
観察照明光学系１２と、試料１０から観察情報を取り出す情報検出光学系１１とが共通の対物レンズ１４に対して設けることによって小型化をはかり、波長選択素子１３によってこれら光学系１１および１２の波長の重複によるノイズの改善を図る。 - 特許庁 - To prevent vertical illuminating light from a vertical illumination optical system from being radiated to a solid light-emitting element when performing vertical illumination observation by using a microscope system having a transmitted illumination optical system and the vertical illumination optical system and using the solid light-emitting element to which phosphor is imparted as a light source of a transmitted illumination system.
本発明では、透過照明光学系と落射照明光学系とを有し、蛍光体が付与された固体発光素子を透過照明系の光源とする顕微鏡システムを用いて落射照明観察をする場合、落射照明光学系から落射光が固体発光素子にあたらないようにすることを目的とする。 - 特許庁 - This microscope device comprises an image formation optical system, a lighting system which illuminates an object surface of the image formation optical system, an imaging element arranged in the image formation region of the image formation optical system, and a detector which detects light quantity in the image formation region and in a predetermined region other than the imaging element.
顕微鏡装置は、結像光学系と、結像光学系の物体面を照明する照明装置と、結像光学系の結像領域内に配置される撮像素子と、結像領域内であって撮像素子以外の所定領域における光量を検出する検出装置とを備えている。 - 特許庁 - To provide an ocular optical system of a microscope which can increase the degree of freedom of the posture of an observer to an ocular part by preventing a visual field pupil from being vignetted by making the pupil of the ocular optical system follow up the line of sight of the observer.
本発明の目的とするところは、観察者の視線に接眼光学系の瞳を追従させて、視野瞳の蹴られを防止し、接眼部に対する観察者の姿勢の自由度を高めるようにした顕微鏡の接眼光学系を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an anti-reflection film for optical components of an optical glass system, permitting to improve an S/N ratio in observation treating very feeble light such as microscope observation, by preventing collapse of surface particles due to eradication of magnesium fluoride and suppressing micro-scattering.
光学ガラス系の光学部品の反射防止膜に使用されるフッ化マグネシウムの払拭による表面粒子の崩壊を阻止して微小散乱を抑えることにより、顕微鏡観察等、極微弱光を扱う観察においてＳ／Ｎ比の向上を図る - 特許庁 - To provide an optical system which can simultaneously obtain image and spectrum from object such as tissue specimen, industrial object such as computer chip, or other optional objects visible through optical systems such as microscope, endoscope, telescope or camera.
組織標本のような対象物、コンピュータチップのような産業上の対象物、又は顕微鏡、内視鏡、望遠鏡若しくはカメラのような光学システムで目視可能の他の任意の対象物から同時に画像及びスペクトルを提供する光学システムを提供すること。 - 特許庁 - A control section 60 includes a microscope control section 62 that detects a focusing state of the observing optical system on the specimen S; and an objective lens control section 64 that controls the holding mechanism 28 so as to keep the observing optical system focusing on the specimen S.
制御部６０は、標本Ｓに対する観察光学系の合焦状態を検出する顕微鏡制御部６２と、標本Ｓに対して観察光学系を合焦状態に維持するように保持機構２８を制御する対物レンズ制御部６４とを有する。 - 特許庁 - The objective 1 for the microscope includes a lens system 11, an inner cylinder 12 supporting the lens system 11, an outer cylinder 15 encloses an outer circumference of the inner cylinder 12 to form an optical path L for lighting, and a shield mechanism M which shields the optical path L for lighting.
レンズ系１１と、レンズ系１１を支持する内筒１２と、内筒１２の外周を包囲して照明用光路Ｌを形成する外筒１５と、照明用光路Ｌを遮蔽可能な遮蔽機構Ｍと、を有することを特徴とする顕微鏡用対物レンズ１。 - 特許庁 - This microscope is provided with optical devices 13 and 14 bending luminous flux from an objective lens 6 and guiding it to an observation part 8, inside covers 16 and 17 attached to a microscope frame 1, supporting the devices 13 and 14 and shading the external light, and the light unshading outside covers 21 and 22 covering over the cover 16 and 17.
対物レンズ６からの光束を折り曲げて観察部８に導く光学素子１３、１４と、顕微鏡フレーム１に取り付けられ、前記光学素子１３、１４を支持し、外光を遮光する内カバー１６、１７と、前記内カバー１６、１７を覆う非遮光性の外カバー２１、２２とを有する。 - 特許庁 - The automatic focusing microscope is constituted of a positive first lens group G1 and a second lens group G2 in order from a sample side, the first lens group G1 is movably disposed along an optical axis direction and the focus position can be changed by moving the first lens group G1 and the microscope is distinguished by satisfying following conditional formulae (1), (2).
標本側から順に、正の第１レンズ群Ｇ１と、第２レンズ群Ｇ２とからなり、第１レンズ群Ｇ１が光軸方向に沿って移動可能に設けられていて、第１レンズ群Ｇ１の移動によって焦点位置を変化させることが可能であり、次の条件式(1)，(2)を満足することを特徴としている。 - 特許庁 - To provide ionic fine particles having characteristics of both of water-insoluble ionic particles and a water-soluble crosslinked polymer, invisible by an ordinary optical microscope and visible by a phase contrast microscope and having ionic character of cationic or amphoteric character, and to provide application of the same.
水不溶性のイオン性粒子と水溶性架橋ポリマーの双方の特徴を兼ね備え、通常の光学顕微鏡では確認できず位相差顕微鏡ではじめて確認できる粒子であって、カチオン性あるいは両性のイオン性を持つことを特徴とするイオン性微粒子とその用途を提供することである。 - 特許庁 - The surgical microscope system 1 comprises a surgical microscope 7 for providing the microscopic image of an operation site, a (cofocus) light scanning probe 2 for providing the cofocus optical image for a subject, an observation device 3 for processing an image, and a navigation device 5 for detecting the observation position of the light scanning probe 2.
手術用顕微鏡装置１は、手術部位の顕微鏡画像を得る手術用顕微鏡７と、被検体に対して共焦点光学像を得るための（共焦点）光走査プローブ２と、画像処理などを行う観測装置３と、前記光走査プローブ２の観察位置を検出するナビゲーション装置５とを有する。 - 特許庁 - Then, only when the recognized defect part which is determined that there are no defects therein by the electron microscope unit 2, is review carried out by an optical microscope unit 4, is the information based on the reviewed result as to whether defects exist in the recognized defect part, output to the defect information classifying section 6 by a second determining section 5.
続いて、電子顕微鏡ユニット２で欠陥が無いと判定された認定欠陥部位のみについて、光学顕微鏡ユニット４によりレビューし、その結果に基づき、第２の判定部５により認定欠陥部位における欠陥の有無の情報が欠陥情報分類部６に出力される。 - 特許庁 - To provide an autofocus microscope capable of visualizing a focusing position on the sample surface with a simple constitution without adding a new light source for illuminating a mark indicating the focusing position on the sample surface and without changing the conventional optical system disposed in the microscope in the least.
標本の表面上の合焦点位置を示す指標を照明するための新たな光源を追加することなく、また、顕微鏡が備える既存の光学系を何ら変更することなく、標本の表面上の合焦点位置を簡単な構成で視認することができる自動焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To reduce the measuring error of film thickness and to suppress width irregularity at every work, in setting a cross section by a frozen section method when the cross section of a sheet-like sample is observed or the thickness thereof is measured by an electron microscope or an optical microscope, by enhancing the workability at time of the vertical setting of the sample.
電子顕微鏡および光学顕微鏡でのシート状試料の断面観察や膜厚を測定する際の凍結切片法により断面出しを行う場合において、試料を垂直にセットする際の作業性を向上させることにより、膜厚測定の誤差を小さくすると共に、作業毎のバラツキ幅を抑えること。 - 特許庁 - To provide a microscopic image processing device capable of specifying an optical device such as a fluorescent cube set in a fluorescence microscope based on a result of detection of an imaging apparatus for imaging a sample observed by the fluorescence microscope, and a microscopic image processing program and a microscopic image processing method.
蛍光顕微鏡により観察される試料を撮像する撮像装置の検出結果に基づいて、蛍光顕微鏡にセットされる蛍光キューブなどの光学素子を特定することが可能な顕微鏡画像処理装置、顕微鏡画像処理プログラムおよび顕微鏡画像処理方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope capable of observing reactions of light stimulation and fluorescence discoloration in real time by adding a function for performing the light stimulation to a Nipkow disk system confocal microscope, and adjusting a focal position in the optical axis direction of the spot of the light beam for stimulation that is concentrated on a sample.
ニポウディスク方式の共焦点顕微鏡に光刺激を行なう機能を付加することにより、光刺激や蛍光褪色の反応をリアルタイムで観察可能とすると共に、試料上に集光させる刺激用光ビームのスポットの光軸方向焦点位置を調節することができる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - A PC 110 determines correction amount for the optical aberration caused by the thickness of the cover glass for protecting the sample 105 or the holding member for holding the sample and having transmittance based on a distance between the sample 105 arranged in the microscope 100 and the objective lens 104 of the microscope 100.
ＰＣ１１０は、顕微鏡１００に配置された試料１０５と顕微鏡１００の有する対物レンズ１０４との間の距離に基づいて、試料１０５を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚みに起因する光学的な収差に対する補正量を決定する。 - 特許庁 - The microscope apparatus is provided with the first scanning optical system A for obtaining the scanning image of a specimen and the second scanning optical system B for developing a specific phenomenon in the specific area of the specimen, means 30 for performing laser scanning independently with each of the first scanning optical system and the second scanning optical system and operation recording means 23 for recording the operation of the laser scanning.
標本の走査画像を得るための第１の走査光学系Ａと、標本の特定の部位に特異現象を発現させるための第２の走査光学系Ｂと、前記第１の走査光学系と前記第２の走査光学系のそれぞれについて、独立してレーザ走査を行う手段３０と、前記レーザ走査の動作を記録する動作記録手段２３と、を備えた。 - 特許庁 - To provide an electron scanning microscope equipped with a function for making an object point 33 at a prescribed position even in an electro-optical condition in which precise control of an object point position of an objective lens 11 becomes difficult.
対物レンズ１１の物点位置の正確な制御が難しくなるような電子光学条件においても、規定位置に物点３３を作るための機能を備えた走査電子顕微鏡の提供。 - 特許庁 - When each inspecting microscope unit 55 carries out an inspection using an incident light illumination, respective objective lenses are arranged such that their optical axes coincide with each other, thereby inspections of the front and the backside of the same portion can be carried out simultaneously.
各検査用顕微鏡ユニット５５が落射照明で検査をするときは、各々の対物レンズを光軸が一致するように配置すれば、同一箇所の表面と裏面の検査を同時に行える。 - 特許庁 - To provide a microscope for operation which enables an operator to carry out the operation while surely recognizing the perspective of an operating site in compliance with the control and operation appliances of a viewing optical system and the insertion of an endoscope.
観察光学系の操作や術具、内視鏡の挿入に合わせて、術者が術部の遠近感を確実に把握しながら手術が実施できる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus that is easily manufactured, has a simple configuration, and is easily operated, in order to observe images of a plurality of specimen cross-sections of different focusing positions in the direction of an optical axis, and to provide a microscope device.
光軸方向に合焦位置の異なる複数の標本断面の画像を観察するため、装置の製造や構成が簡単で操作の容易な結像装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an objective lens has the same outer diameter as an objective lens for bright-field observation, and enables dark-field observation by using an optical system for bright-field observation, and to provide a microscope that has the objective lens.
対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察が可能な対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - A microscope 1 includes an illumination unit 10 for illuminating a specimen 30, an imaging optical system 40 for forming the image of the specimen 30, an imaging unit 50 for imaging the image of the specimen 30.
顕微鏡１は、被検物３０を照明する照明ユニット１０と被検物３０の像を結像する結像光学系４０と被検物３０の像を撮像する撮像ユニット５０とを備える。 - 特許庁 - The manufacturing method for the extremely small optical waveguide is characterized by that the oxide film is formed by anodizing the surface of the metallic substrate by using a probe tip of an atomic force microscope, etc.
また、本発明の極微小光導波路の製造方法は、金属基板表面を原子間力顕微鏡等の探針先端を用いて陽極酸化して酸化膜を形成することを特徴とする。 - 特許庁 - To provide an objective lens for an optical microscope, with the objective lens, having a simple structure or a means for preventing axis displacement, after effective alignment adjustment and for reducing degradation in visibility, using a simple structure.
簡単な構造にて、有効に心出し調整後に於ける心ずれが防止され、見えの劣化が低減される機構又は手段を有する光学顕微鏡用の対物レンズを提供すること。 - 特許庁 - The light passed through the optical path inside the microscope 300 is condensed on an object to be processed 500 with an object lens 312 in a form based on a beam forming slit 306, thus a machining is processed.
顕微鏡３００内部の光路を通過した光は対物レンズ３１２により加工対象物５００上にビーム整形用スリット３０６に基づいた形状で集光され，加工が行われる。 - 特許庁 - Then, the alignment mark is measured again, and at that time, the alignment mark is measured in a manner that a position where it is deviated by -Δx and -Δy from the design position becomes the center of the visual field in the optical microscope.
その後、再びアライメントマークの測定行うが、その際には、設計位置から（−Δｘ，−Δｙ）だけずれた位置が光学顕微鏡の視野中心になるようにして測定を行う。 - 特許庁 - To provide a system for measuring a signal-light by a near-field optical microscope that allows a user to find dependency of signal light, emitted from a sample by near-field light, on the distance between a probe and the sample.
近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。 - 特許庁 - Near the observation surface of a liquid crystal substrate 5, there is installed, in a manner covering this substrate 5, a soundproof plate 23 having an observation opening part 24 on the optical axis of the objective lens 15 of the microscope 13.
液晶基板５の観察面に近接し、かつ顕微鏡１３の対物レンズ１５を通る光軸上に観察用の開口部２４を設けた防音板２３を液晶基板５を覆って設けた。 - 特許庁 - To provide a scanning type microscope which can acquire an image of a sample in a range where the sample exists in an optical axis direction even when a three-dimensional shape of the sample changes with the lapse of time.
試料の立体的な形状が時間的に変化する場合でも、光軸方向に試料が存在する範囲で試料の画像を取得することができる走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The measuring apparatus 100 includes the confocal optical microscope 110, an excitation light source 130 which emits excitation light for generating fluorescence from a fluorescent substance, and the light-receiving unit 140.
測定装置１００は、共焦点光学顕微鏡１１０と、蛍光物質から蛍光を発生させるための励起光を発する励起光源部１３０と、受光ユニット１４０とを有している。 - 特許庁 - To provide a machine tool with an observation-point specifying function, which can easily specify (determine) where is an observation point in an observation target even while using a microscope system having a telecentric optical system.
テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物のどこが観察点であるのかを容易に特定（判別）できるような観察点特定機能付きの工作機械を提供すること。 - 特許庁 - The metal microstructure exposed through an etching treatment using the etching solution is observed under an optical or laser microscope to determine a subgrain size, and the creep damage is derived from the subgrain size.
このエッチング液によりエッチング処理して現出した金属微細組織を光学顕微鏡またはレーザ顕微鏡により観察し、サブグレインサイズを求め、このサブグレインサイズからクリープ損傷率を求める。 - 特許庁 - To provide a microscope device capable of illuminating the entire field of view, using a comparatively simple structure, even if objective lens is moved so as to have a component in a direction orthogonal to an optical axis of the objective lens.
対物レンズをこの対物レンズの光軸と直交方向の成分を持つように移動させても、比較的簡易な構成で、視野全体を照明することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic focusing microscope capable of detecting a focus at the time of differential interference observation and realizing accurate detection by eliminating influence by the reflection of an internal optical system to the utmost.
微分干渉観察時に焦点検出が可能であり、かつ内部光学系の反射による影響を極力無くし、高精度な検出が可能な自動焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.
上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁 - To solve the problem that it is difficult to show the analyzing position of a photoelectron analyzer on the image obtained by an optical microscope with a position reading function.
本発明が解決しようとする問題点は、光電子分析装置で分析した位置が、位置読み取り機能付き光学顕微鏡で得た像のどこに位置するかを示すことが困難であったという点である。 - 特許庁 - Light emitted by the optical transducer 8 into a microscope 16 is thus concentric light with the red light in the center, the green light on the periphery and the blue light further on the periphery.
したがって、光変換器８から顕微鏡１６の内部に出射される光は、中心部が赤色光、その外周部が緑色光、さらにその外周部が青色光の同心円状の光になる。 - 特許庁 - To provide a machine tool with an observation point focusing support function which is able to easily focus on an object to be observed, despite of the use of a telecentric optical system microscope system.
テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物に対する焦点合わせを容易に実施できるような観察点焦点合わせ支援機能付きの工作機械を提供すること。 - 特許庁 - To provide an illumination optical system for microscope which allows the state of illumination to continuously change between Koehler illumination and critical illumination, and can always obtain illumination and brightness suitable for observation.
照明状態をケーラ照明とクリティカル照明の間で連続的に変化させることができ、常に観察に適した照野と明るさを得ることの出来る顕微鏡用照明光学系を提供すること。 - 特許庁 - To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.
投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - A microscope control section 11 changes the distance of the thin film from the objective lens 2 in the direction of the optical axis, and obtains measurement data indicating the relationship between the distance and the intensity detected by the photodetector 7.
顕微鏡制御部１１は、該薄膜の対物レンズ２からの距離を光軸方向に変化させて、該距離と光検出器７で検出される輝度との関係を示す測定データを取得する。 - 特許庁 - To make it possible to perform changeover of scanning optical microscope observation and regular transmission illumination observation at a high speed and to perform compact and low-cost transmission detection and changeover of transmission illumination lamps.
走査型光学顕微鏡観察と通常の透過照明観察の切換を高速に行うことが可能であり、かつコンパクトでコストも安い透過検出と透過照明ランプの切換を行うこと。 - 特許庁 - An optical microscope image of a two-dimensional measurement object region on a sample is displayed, and an analyst visually determines a difference or the like of tissues and designates a plurality of small regions (A, B, and C) regarded as the same tissue.
試料上の２次元測定対象領域の光学顕微画像を表示し、分析者は目視で組織の相違等を判断し、同一組織とみなせる小領域を複数（Ａ、Ｂ、Ｃ）指定する。 - 特許庁 - A laser emitting image including at least linear optical image is obtained by the light L1 passing though a hologram element 9, a collimator lens 4, a condenser 5, a half mirror 6 and a microscope lens 7 one after another.
ホログラム素子９、コリメートレンズ４、集光レンズ５、ハーフミラー６および顕微鏡レンズ７を順次経由した光Ｌ１によって、少なくとも線状光像を含むレーザ発光画像を取得する。 - 特許庁 - This illumination optical system for microscope is provided with a light source 1, an illumination lens group which guides light from the light source 1 to an objective lens and an objective lens system which condenses the light from the illumination lens group and illuminates a sample.
光源１と、該光源１からの光を対物レンズに導く照明レンズ群と、該照明レンズ群からの光を集光して標本を照明する対物レンズ系とを備えている。 - 特許庁 - A scanning type microscope comprises a light source unit 120, an objective lens 115, a scanner unit 114, a pin hole array 113, an optical separator 112, a light quantity detector 116 and a position detecting system 117.
走査型顕微鏡は、光源ユニット１２０、対物レンズ１１５、スキャナユニット１１４、ピンホールアレイ１１３、光学的分離器１１２、光量検出器１１６、および位置検出システム１１７を有する。 - 特許庁
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