「Optical microscope」を含む例文一覧(1392)
＜前へ 1 2 .... 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 次へ＞- A deflection surface 25A of an optical deflecting element 25, on which a plurality of micromirrors are provided, of the confocal microscope 1 is disposed at a position conjugate to a prescribed observation surface of a sample S, and the optical deflecting element 25 controls the deflection directions of an observation light emitted from the sample S, focused with an objective lens 29 and made incident on the deflecting surface 25A by a micromirror.
コンフォーカル顕微鏡１の光偏向素子２５は、複数の微小ミラーが設けられている偏向面２５Ａが試料Ｓの所定の観察面と共役な位置に配置され、対物レンズ２９により集光されて偏向面２５Ａに入射する試料Ｓからの観察光の偏光方向を微小ミラー毎に制御する。 - 特許庁 - To provide an optical radiation pressure measuring device capable of easily and accurately measuring an optical radiation pressure, a resonance frequency regulating method capable of easily adjusting a resonance frequency of a resonance body, an aperture diameter inspection device evaluating a minute aperture of the resonance body, and a near field microscope provided with the aperture diameter inspection device.
本発明の目的は光放射圧を簡便かつ正確に測定可能な光放射圧測定装置、共振体の共振周波数を容易に調整可能な共振周波数調整方法、共振体の微小開口を評価する開口径検査装置及びそれを備えた近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a small-sized, lightweight scanning type optical microscope which can minimize the loss of fluorescent light from a sample, has flexible selectivity to various fluorescent spectra, and can guide the fluorescent light from the sample to respective detection optical paths with high spectral precision for a multiple dye sample and a sample having developed multiple fluorescent proteins.
標本からの蛍光の損失を最小限に押さえることのでき，さまざまな蛍光スペクトルに対して柔軟な選択性を有し、かつ多重染色標本や複数の蛍光蛋白を発現させた標本に対して、高い分光精度で各検出光路に標本からの蛍光を導くことのできる、小型軽量な走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To improve an observation tube for an optical instrument, especially, a microscope so that various functions can be realized time-continuously without unnecessarily attenuating light passing through the observation tube and without unnecessarily increasing structural height, thereby the reflection of the light to different units and (or) the reflection of the light into respective optical paths can be realized.
光学器械、特に顕微鏡の視検筒において、視検筒を通過する光が不必要に減衰することなく、また構造的な高さを不必要に増大させることなく、時間的に連続して種々の機能を実現でき、たとえば異なるユニットへの光の反射および（または）それぞれの光路内への光の反射を実現できるように改良する。 - 特許庁 - A slit plate which is mounted on an optical irradiation device of an optical microscope and is used for irradiation with reverse slit light is constituted of an outer peripheral section having an opened central part and a light shielding section which is fixed to or is suspended from the outer peripheral section through a center or a vicinity of an opened part located inside the outer peripheral section.
スリット板が、光学顕微鏡の光照射デバイス上に載置して逆スリット光を照射するためのスリット板であって、中央部が開口された外周縁部分と、該外周縁部分の内側にある開口部の中心またはその近傍を通って前記外周縁部分に固定または懸架された遮光部分とから構成されている。 - 特許庁 - In the discharge electron detection value estimation method, an electromagnetic field distribution EM of the electronic optical system 4 in an electron microscope body 1 is calculated, while detection values of first emitted electrons 50 from a sample 5 in the electromagnetic field distribution EM and second emitted electrons 52 emitted from the electronic optical system by collision with the first emitted electrons are calculated by a Monte Carlo method.
電子顕微鏡本体１内の電子光学系４の電磁場分布ＥＭを算出し、当該電磁場分布ＥＭにおける試料５からの第１放出電子５０及び第１放出電子の衝突によって電子光学系から放出される第２放出電子５２の検出値をモンテカルロ法によって算出する。 - 特許庁 - The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b.
試料を照射する１次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された２次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系２４とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系２４は、第１のズームレンズ６ａと第２のズームレンズ６ｂとを有するトランスファー・レンズ系２４ｂを備える。 - 特許庁 - A laser mark 2 to be the positioning mark for a second charged particle image in the charged particle beam apparatus is made at the periphery of a processing/observation object area 1 by moving the processing/observation object area 1 in the charged particle beam apparatus so as to come into the visual field while performing an observation with an infrared microscope and by using a laser optical system 7 arranged coaxially with an optical observation system.
赤外顕微鏡による観察を行いながら荷電粒子ビーム装置における加工・観察対象箇所１が視野内にくるように移動し、加工・観察対象箇所１周辺に光学観察系と同軸に配置されたレーザー光学系７によって、荷電粒子ビーム装置における二次荷電粒子像の目印となるレーザーマーク２をつける。 - 特許庁 - An illumination device is equipped with: a light guide 40 having emission ends 42a-42d emitting illumination lights La-Ld to enter the sample 2 obliquely with respect to the optical axis AX of the objective lens of the microscope; and an emission end rotation part 50 for rotating each position of the emission ends 42a-42d by using the optical axis AX as a rotation axis.
照明装置は、顕微鏡の対物レンズの光軸ＡＸに対して斜めに試料２に入射するように照明光Ｌａ〜Ｌｄが出射する出射端４２ａ〜４２ｄを有する光ガイド４０と、光軸ＡＸを回転軸として出射端４２ａ〜４２ｄの位置を回転させる出射端回転部５０と、を備える。 - 特許庁 - For this microscope, fluorescent light is condensed from the upper and the lower parts of a stage on which a sample is placed, converted into an electric signal by two optical sensors (photomultiplier, etc.), 120 and 170 provided above and below, and the electric signals from the two above and below optical sensors are added by a device 180 for laser scanning control and image processing.
本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は、試料を乗せるステージの上下から蛍光を集光して、上下に設けた２つの光センサ（光電子倍増管等）１２０および１７０により電気信号に変換し、レーザ走査制御・画像処理装置１８０により上下２つの光センサからの電気信号を加算している。 - 特許庁 - To provide a high precision angle measuring device for planes of several tens of micrometer (corresponding to a domain of micro Vickers test) by measuring angles of minute plane of samples using optical system installing two beam splitters in the middle of an ocular lens and an objective lens of an optical microscope.
本発明は、試料の微小平面の角度を光学顕微鏡の接眼レンズ及び対物レンズの中間に２個のビームスプリッタを設置した光学系を用いて測定することにより、数十μm程度 (マイクロビッカース試験の領域に対応) の測定面に対し、高い精度で角度測定が行える装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - An electronic optical system provided to radiate charged particle beam on a testpiece, a deflecting system to scan the charged particle beam for image formation and a detecting system to detect secondary electrons produced in the testpiece when the charged particle is radiated on the testpiece from the electronic optical system are provided in a scanning electronic microscope main body 110.
走査電子顕微鏡本体１１０は、試料上に荷電粒子線を照射するために設けた電子光学系と、画像作成のために上記荷電粒子線を走査する偏向系と、上記電子光学系から上記試料に荷電粒子を照射した際に試料から発生する二次電子やその他の信号を検出する検出系とを備える。 - 特許庁 - The microscope is provided with the objective lens 8 for condensing a luminous flux of linearly polarized light from illuminating optical systems 1 to 6 and projecting the luminous flux to a sample, and also, transmitting the luminous flux reflected by the sample, and a compensation optical system 104 for compensating the rotation of the luminous flux of the linearly polarized light in the polarizing direction caused by the objective lens 8.
照明光学系１〜６からの直線偏光の光束を集光して標本に照射するとともに、標本により反射された光束を通過させる対物レンズ８と、対物レンズ８により光束に生じる直線偏光の偏光方向の回転を補償するための補償光学系１０４とを有する。 - 特許庁 - The surgical microscope system comprises a stand with at least a carrier arm, an optical unit having a microscope body, an objective, and at least one eyepiece tube, and at least one input unit having at least a display and at least a touch-based operating panel, the touch-based operating panel (7) being antimicrobial.
少なくとも１つの支持アームを有するスタンドと、対物レンズ及び少なくとも１つの接眼鏡筒を有する顕微鏡本体を有する光学ユニットと、少なくとも１つの表示装置及び少なくとも１つの接触操作領域を有する少なくとも１つの入力ユニットとを含んで構成される手術顕微鏡等の顕微鏡において、前記接触操作領域（７）は、抗菌性に構成されていることを特徴とする。 - 特許庁 - The optical microscope 19 observes a photodetector surface 22a (first object plane) by transmitted light from the partial reflection mirrors 2, 3 and observes the hologram surface 21a (second object plane) by transmitted light after reciprocating between the partial reflection mirror 2 and the partial reflection mirror 3.
光学顕微鏡１９は、光検出器面２２ａ（第一物面）については部分反射ミラー２，３の透過光により観察し、ホログラム面２１ａ（第二物面）については部分反射ミラー２と部分反射ミラー３との間を往復後の透過光により観察する。 - 特許庁 - The overlapping state of these structures 23a-23d or the interval between the specific parts of the respective structure members is investigated by a microscopic image, and the sample holder of the microscope is controlled, on the basis of the investigated result to make the observation surface of the sample 22 vertical to an optical axis.
顕微鏡像でこれらの構造体２３ａ〜２３ｄの重なり状態や各構造体の特定部分の間隔等を調べ、その結果に基づいて顕微鏡の試料ホルダーを制御して、試料２２の観察面が光軸に対し垂直となるようにする。 - 特許庁 - Thus, the constitution of slide movement which hardly causes an error resulting from switching the objective lens 500 to form the image singly and which is simple is used, and then accurate observation is achieved while switching magnification according to the state of a subject to be observed by the microscope of the finite correction optical system.
単独で結像させる対物レンズ５００の切替による誤差が生じにくく簡単な構成のスライド移動の構成を利用でき、有限補正光学系の顕微鏡で被観察物の状態に応じて倍率を切り替えつつ高精度な観察ができる。 - 特許庁 - This method is constituted so as to laminate the observation sample 4 by using an existing FIB (focused ion beam) device, and to perform an extracting and sticking work of the laminated sample 4 by using an optical microscope having an existing micromanipulator equipped with an electrostatic pincette 10.
この発明は、既存のＦＩＢ装置を用いて観察用試料４の薄片化加工を行い、静電ピンセット１０を装備した既存のマイクロマニピュレータ付きの光学顕微鏡を用いて、薄片化試料４の摘出と貼り付け作業を行うように構成される。 - 特許庁 - A microscope for magnifying a sample image by an optical system provided in a body 2 is provided on the back-face when a surface opposed to an observer faces forward during use, and is equipped with a grip 3 located above a center of gravity of the body.
本体２に設けた光学系によって標本の像を拡大して観察する顕微鏡は、使用の際に観察者と対向する面を正面とするときの背面側に設けられ、本体の重心よりも上方に位置する取っ手３を備えている。 - 特許庁 - A crease is generated on the metal layer by applying a tensile stress or a bending stress to the metal layer, and a period of the crease generated at that time is measured directly on the field by an optical microscope or the like, to thereby easily measure the thickness of the thin metal layer.
金属層に引張応力又は曲げ応力を加えることにより金属層にシワを生成し、このときに発生したシワの周期を光学顕微鏡などで現場で直接測定することにより薄い金属層の厚さを容易に測定することができる。 - 特許庁 - To provide a cross section preparation method and a preparation system capable of acquiring accurately a desired cross section in sample internal structure unobservable by an optical microscope in order to prepare a cross-sectional sample of a SiP type semiconductor package by an ion milling method.
イオンミリング法によるＳｉＰ型半導体パッケージでの断面試料を作成するために光学顕微鏡では観察できない試料内部構造中の所望の断面を正確に得ることができる断面作成方法及び作成システムを提供する。 - 特許庁 - This system is equipped with a light source which has two UV narrow bands of 360 to 370 nm and 398 to 407 nm and a single visual narrow band of 427 to 434 through broadband and individualband filtering, an optical microscope characterized by a broadband objective system, a lighting path, and a tube lens, a camera, and a data processor.
ブロードバンドと個別バンドフィルタリングにより、360-370nmと398-407nm の２つのUVナロウバンドと427-434nm の単一の可視ナロウバンドを有する光源と、ブロードバンド対物システムと照明経路とチューブレンズを特徴とする光学顕微鏡と、カメラと、データ処理装置とを備える。 - 特許庁 - When the alignment mark of a mask M is detected, a work stage 3 moves to the right side of the drawing, a parallel plate 5 attached to the side face of the work stage 3 is inserted into the optical path of an alignment microscope 4 and the location of the alignment mark of the mask M is detected and memorized.
マスクＭのアライメントマークを検出する際、ワークステージ３が図面右方向に動き、ワークステージ３の側面に取り付けられた平行平板５が、アライメント顕微鏡４の光路内に挿入され、マスクＭのアライメントマークの位置が検出され記憶される。 - 特許庁 - A control section 60 includes: a view field position adjusting section 62 that adjusts the view field position of the optical microscope 10 in order to perform the visual serveo; and an excluding drive control section 64 that exclusively controls the drive of the specimen stage 12 and the drive of the objective stage 16.
制御部６０は、ビジュアルサーボのために光学顕微鏡１０の視野位置を調整するための視野位置調整部６２と、標本ステージ１２の駆動と対物ステージ１６の駆動とを排他的に制御するための排他駆動制御部６４とを有している。 - 特許庁 - In the the above optical microscope 3, since the probe light 9 is deflected by density gradation near the cell membrane of living cells, viability of cells and cell activity can rapidly and easily be judged and measured by measuring the deflection.
上記の光学顕微鏡３によれば、プローブ光９が生きている細胞の細胞膜近傍での濃度勾配により偏向することから、該偏向を測定することで細胞の生死判別及び細胞活動を迅速にかつ簡易に判別・測定することができる。 - 特許庁 - When aligning the crystal direction of the sample to an optical axis of a scanning transmission electron microscope, accurate and quick crystal direction alignment can be performed since a direction for inclining the sample can be directly determined from the shape of the electron beam diffraction image.
本発明によれば、ＳＴＥＭの光軸に対して試料の結晶方位を合わせる際、試料を傾斜させるべき方向を電子線回折像の形状から直接判断することができるため、正確かつ迅速な結晶方位合せが可能となる。 - 特許庁 - The aqueous solution is dropped onto an observation plate, followed by drying; the drying is stopped, when moisture is not observed visually by naked eyes; and the coupling condition and the aggregation condition of the suspended matter deposited and actualized on the observation plate are observed by an optical microscope.
観測用プレートに水溶液を滴下させ、それを乾燥させて肉眼で水分が視認できなくなったら乾燥を止め、観測用プレート上に析出顕在化した懸濁物質の結合状態、集合状態を光学顕微鏡により観察するようにした。 - 特許庁 - To provide a fluorescence microscope provided with an excitation light irradiating optical system and a fluorescence correlated spectroscopic analyzer used favorably for measuring respectively a plurality of excitation light irradiating areas concurrently or sequentially by fluorescence correlated spectrometry.
複数の励起光照射領域それぞれについて同時に又は順次に蛍光相関分光法により測定するのに好適に用いられ得る励起光照射光学系を備える蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置を提供する。 - 特許庁 - By overlapping an image A of an optical microscope 2 for observing the package 1 and that B of an X-ray fluoroscope 3 for observing the package 1 through using an image processor 4 to display their images on a monitor system 5, a region required for seal breaking can be determined.
パッケージ１を観察する光学顕微鏡２の画像Ａと、パッケージ１を観察するＸ線透過装置３の画像Ｂとを、画像処理装置４によって重ね合わせしてモニター装置５に表示し、開封処理に要求される領域を確認できる。 - 特許庁 - Further, the cross section of the monofilament can be distinguished between two layers of a sheath layer and core layer on being observed by an optical microscope, and the ratio R (%) of the mean diameter r_2 of the core layer to the fiber cross sectional diameter r_1 is ≤90%.
さらに、前記モノフィラメント繊維の断面が、光学顕微鏡によって観察した際に、シース層とコア層の二層に識別可能であり、コア層の平均直径ｒ_２の繊維断面直径ｒ_１に対する比率Ｒ（％）が９０％以下であるポリベンザゾール繊維ロープ。 - 特許庁 - This transmission electron microscope allows a sample stage holding a sample to be adjusted to be movable by a nano-drive mechanism in the Z-axis direction being an optical axis direction of an electron beam and X-axis and Y-axis directions (the X-axis and the Y-axis are orthogonal to each other) orthogonal thereto.
透過型電子顕微鏡は、試料を保持する試料ステージを、ナノ駆動構造により電子ビームの光軸方向であるＺ軸方向とそれに直交するＸ軸とＹ軸方向（Ｘ軸とＹ軸は互いに直交する）とに移動調整可能とする。 - 特許庁 - A laser oscillating means 2 radiates a laser beam in the optical axis direction of a tested lens 1 to the tested lens 1, and an image of the laser beam transmitted through the tested lens 1 and focused on a cover glass 5 is expanded by means of a microscope 6 so as to be converted into an image signal by means of a camera 7.
レーザー発振手段２は被検レンズ１の光軸方向から被検レンズ１にレーザー光を照射し、被検レンズ１を透過したレーザー光がカバーガラス５にて集光した像を顕微鏡６で拡大しカメラ７にて映像信号に変換する。 - 特許庁 - To provide a zoom microscope with high expandability which can be used for contrast observation (e.g., differential interference observation, etc.) of a sample and in which other optical systems (e.g., a fluorescent incident light illumination system, etc.) can be arranged between an objective lens part and a zoom part if necessary.
標本のコントラスト観察（例えば微分干渉観察など）に用いることができ、必要に応じて対物レンズ部とズーム部との間に他の光学系（例えば蛍光落射照明系など）を配置することもできる拡張性の高いズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The microscope device further comprises two wedge prisms 51a and 51b disposed on an optical path between the detection system 30 and the half mirror 17, and rotary mechanisms 52a and 52b holding the wedge prisms 51a and 51b so as to allow them to rotate severally.
さらに測定顕微鏡装置は、焦点検出系３０とハーフミラー１７の間の光路上に配置された２つのウェッジプリズム５１ａと５１ｂと、ウェッジプリズム５１ａと５１ｂをそれぞれ回転可能に保持している回転機構５２ａと５２ｂとを有している。 - 特許庁 - To provide an illumination optical system and a microscope provided with the system capable of easily switching evanescent illumination and ordinary vertical illumination while using a laser beam having intensity high enough to excite fluorescence dye though an entire device is compact.
蛍光色素を励起するのに十分な強度を有するレーザー光を用いつつ、装置全体もコンパクトでありながら、容易にエヴァネッセント照明と通常の落射照明が切り替え可能な照明光学系及びこの照明光学系を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Since the detecting unit 26 separated from a microscope body 10 is attachably and detachably connected to the scanning unit 12 through the multimode optical fiber 29, the detecting unit 26 is easily exchangeable with another detecting unit different in the number of detecting channels.
顕微鏡本体１０から分離されている検出ユニット２６は、マルチモード光ファイバ２９を介して走査ユニット１２に着脱可能に接続されているので、検出ユニット２６を検出チャネル数の異なる他の検出ユニットと容易に交換することができる。 - 特許庁 - This invention relates to the device for optically coupling the light (1) of at least one wavelength of the laser beam source (2) to the optical assembly (3), more specifically the confocal scanning microscope, having an optically active element (4) acting to select the wavelength and to set the power of the coupling light (5).
本発明は、レーザ光源（２）の少なくとも１つの波長の光（１）を、具体的には波長を選択し、結合光（５）のパワーを設定するために作用する光学活性素子（４）を有する光学組立物（３）、好ましくは共焦点走査型顕微鏡に結合するための装置に関する。 - 特許庁 - By adjusting the image of the face 22 so as not to produce the fringe, the face 22 becomes precisely vertical with respect to a light axis 15 of the microscope 40, and an axis of the coated fiber 10 have been adjusted precisely in parallel with the optical axis 45.
光反射面２２の画像において干渉縞が生じないように調整できれば、光反射面２２が干渉顕微鏡４０の光軸４５に対して精密に直角になり、光ファイバ心線１０の軸が光軸４５に精密に平行になるよう調整できたことになる。 - 特許庁 - To provide a vertical illumination optical system for a microscope having an adjusting function to adjust the image position of a light source to the rear focal position of each microscopic objective lens in response to replacement of the microscopic objective lens with a simple constitution, in a Koehler illumination system using a condenser lens array.
集光レンズアレイを用いたケーラー照明系において簡単な構成で顕微鏡対物レンズの交換等に対応して光源の像位置を各顕微鏡対物レンズの後側焦点位置に調整する調整機能を有する顕微鏡用落射照明光学系。 - 特許庁 - To provide a probe capable of accommodating for various kinds of measurement when being used in a microscope and applying to a recorder, and provide an optical head using the probe, and inexpensive, simple manufacturing method of the probe.
本発明の目的は、顕微鏡などに用いられた場合に様々な測定に対応することができ、記録装置にも応用することができるプローブ及びそれを用いた光ヘッドを提供すること、及びこのようなプローブの安価で簡単な製造方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide: an objective lens switching device capable of easily switching an objective lens, decreasing a size of the very device, and arranging a coarse/fine focusing operation part and an objective lens switching part on a near side relative to an observing optical axis; and a microscope equipped with an objective lens focusing device.
対物レンズの切り換えを簡単に行うことができ、装置自体をコンパクトにするとともに、粗微動焦準操作部と対物レンズ切り換え操作部を観察光軸よりも手前側に配置する対物レンズ切り換え装置及び対物レンズ焦準装置を具備する顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for quickly and firmly attaching the cover glass of an optical microscope sample to a lower material and a chamber with which reaction from a moment to a long time to stimulation to a live sample is continuously observed in high resolution.
光学顕微鏡試料のカバーガラスを素早くかつ強固に下部材に密着する方法を提供すること、および生きた試料の刺激などに対する瞬時から長期に及ぶ反応を高解像度で継続的に観察することを可能にするチャンバーを提供すること。 - 特許庁 - In a hardness tester 1 which measure the hardness of a sample S by pushing an indenter 11 against the sample S and is provided with an optical system which can observe the recess, a probe microscope 17 which can scan the surface of the recess with a probe 18 is provided.
試料Ｓに圧子１１を押し付けることによって形成されるくぼみから硬さを測定し、前記くぼみを観察可能な光学システムを備える硬さ試験機１において、前記くぼみの表面をプローブ１８によって走査可能であるプローブ顕微鏡１７を備えている。 - 特許庁 - The slope adjusting device 1 of the objective lens servo-controls the position of the objective lens 5 by using a focusing actuator 41 and a tracking actuator 42 provided in an optical pickup 4, and thereby prevents the shifting of a beam spot out of the visual field of the microscope during the slope adjustment of the objective lens 5.
対物レンズの傾角調整装置１は、光ピックアップ装置４に備わっているフォーカシングアクチュエータ４１およびトラッキングアクチュエータ４２を利用して対物レンズ５の位置をサーボ制御し、これにより、対物レンズ５の傾角調整時にビームスポットが顕微鏡視野内から外れることを防止している。 - 特許庁 - In an atomic force microscope wherein an optical lever system is adopted, a light emitting element 8 is provided on the back side of a cantilever 5, and a light receiving device 9 is directly irradiated with light from the light emitting element 8, to thereby suppress decline of light receiving sensitivity of the light receiving device 9 caused by reflection of unintended light.
光てこ方式を採用した原子間力顕微鏡において、発光素子８をカンチレバー５の背面側に設け、発光素子８から直接受光装置９に光を照射することで、意図しない光の反射による受光装置９の受光感度の低下を抑制する。 - 特許庁 - In a microscope in which an optical system is internally mounted on a shaft and which is provided with a wedge-shaped prism at its tip, two light sources are arranged downward at the upper end face of the prism, and its lower part is cut obliquely so as to form a mirror surface.
この発明は、軸部に光学系を内装し、先端部に楔状プリズムを備えたスコープにおいて、前記楔状プリズムの上端面に、２つの光源を下向きに配置すると共に、下部を斜切してミラー面を形成したことを特徴とするマイクロスコープにより目的を達成した。 - 特許庁 - Succeedingly, illumination light from the selected light source among the light sources 62A-62C transmits through the filters 72 combined by the filter changeover means 70A and 70B and an illumination light inputted to a light source changeover means 68 is outputted to the microscope through an optical fiber 56.
続いて、選択された光源６２Ａ〜６２Ｃからの照明光は、固定円板６６を介して、フィルタ切換え手段７０Ａ、７０Ｂにより組合わせたフィルタ７２を透過することにより、光源切換え手段６８に入力した照明光は、光ファイバ５６を介して顕微鏡に出力される。 - 特許庁 - In a microscope including optical systems (4, 5, and 6) for microscopic observation in a column 2 erected on a base 11, the base 11 includes a leg piece 20 which is freely pulled out to both left and right sides of the base 11 and a storage box 30 which is freely pulled out to the front side of the base 11.
基台１１に立設した支柱２に、顕微鏡観察する光学系（４，５，６）を設けた顕微鏡において、基台１１には、基台１１の左右側方に引き出し自在な脚片２０、基台１１の前方に引き出し自在な収納ボックス３０を設ける。 - 特許庁 - A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.
レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁 - The microscope illuminator includes: a light source 11 including a solid-state light emitting element for emitting illuminating light; and an illuminating optical system including, in order from the light source 11, a collector lens 12 for condensing illuminating light and a condenser lens 14 for emitting illuminating light to a specimen 3.
顕微鏡用照明装置は、照明光を射出する固体発光素子からなる光源１１と、光源１１側から順に、照明光を集光するコレクタレンズ１２と照明光を標本３へ照射するコンデンサレンズ１４とを含む照明光学系と、を含んで構成される。 - 特許庁
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