「Pattern」を含む例文一覧(50000)
＜前へ 1 2 .... 25 26 27 28 29 30 31 32 33 .... 999 1000 次へ＞- PATTERN DEFECT ANALYSIS EQUIPMENT, PATTERN DEFECT ANALYSIS METHOD, AND PATTERN DEFECT ANALYSIS PROGRAM
パターン欠陥解析装置、パターン欠陥解析方法およびパターン欠陥解析プログラム - 特許庁 - MASK PATTERN VERIFICATION METHOD AND MASK PATTERN PREPARING METHOD
マスクパターン検証方法およびマスクパターン作成方法 - 特許庁 - REMOVING METHOD OF RESIST PATTERN
レジストパターンの除去方法 - 特許庁 - OPTICAL PATTERN READING DEVICE
光学的パターン読取装置 - 特許庁 - METHOD FOR DIVIDING MASK PATTERN AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN
マスクパターン分割方法およびレジストパターン形成方法 - 特許庁 - VARIABLE COLOR PATTERN PRINT PRODUCT AND METHOD OF FORMING PATTERN
可変色彩図柄印刷物及び図柄の形成方法 - 特許庁 - PATTERN INSPECTION METHOD, EXPOSURE MASK, AND PATTERN INSPECTION PROGRAM
パターン検査方法、露光用マスク、およびパターン検査プログラム - 特許庁 - PATTERN FORMING SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERN FORMING SUBSTRATE
パターン形成基板及びパターン形成基板製造方法 - 特許庁 - SWELLING PATTERN ENGRAVING DEVICE
浮き出し模様刻印装置 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING ELECTRODE PATTERN
電極パターン検査方法 - 特許庁 - DETERMINING METHOD OF RETICLE PATTERN
レチクルパターンの決定方法 - 特許庁 - VEIN PATTERN ACQUISITION DEVICE
静脈パターン取得デバイス - 特許庁 - With this setup, a test chip pattern is set equal in pattern density to a main chip pattern.
これによって、テストチップのパターン密度を本チップのパターン密度と同等にする。 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION APPARATUS AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - A test pattern generator 24 reads a test pattern out of a test pattern storage 25 and prints out the pattern by using an output device.
テストパターン発生装置２４がテストパターン記憶装置２５からパターンを読み出し、出力装置に印刷する。 - 特許庁 - PATTERN INSPECTION METHOD AND PATTERN INSPECTION REGION DEFINING PROGRAM
パターン検査方法及びパターン検査領域規定プログラム - 特許庁 - GENERATING METHOD FOR PATTERN DATA, AND PATTERN DATA GENERATING PROGRAM
パタンデータの作成方法およびパタンデータ作成プログラム - 特許庁 - MASK, RESIST PATTERN, AND METHOD OF FORMING RESIST PATTERN
マスク及びレジストパターン並びにレジストパターンの形成方法 - 特許庁 - FORMING METHOD OF PRINTING PATTERN
印刷パターン形成方法 - 特許庁 - SCALE PATTERN FORMING METHOD, SCALE PATTERN FORMING DEVICE, AND SCALE
スケールパターン形成方法、スケールパターン形成装置、スケール - 特許庁 - BIT PATTERN MAGNETIC RECORDING MEDIUM
ビットパターン磁気記録媒体 - 特許庁 - PATTERN EDGE DETECTION METHOD
パターン輪郭検出方法 - 特許庁 - METHOD OF FORMING CONDUCTOR PATTERN
導体パターン形成方法 - 特許庁 - METHOD FOR PRESS-FORMING MINUTE PATTERN
微細パターンプレス成形法 - 特許庁 - RESIST PATTERN FORMING METHOD AND FINE PATTERN FORMING METHOD
レジストパターン形成方法及び微細パターン形成方法 - 特許庁 - CONDUCTIVE PATTERN FORMING METHOD
導電パターン形成方法 - 特許庁 - METHOD FOR MENDING EMBROIDERY PATTERN
刺繍柄の補修方法 - 特許庁 - PROJECTION PATTERN FORMING METHOD
突起パターンの形成方法 - 特許庁 - PRODUCTION METHOD OF RESIST PATTERN
レジストパターンの製造方法 - 特許庁 - SYSTEM FOR CORRECTING MASK PATTERN AND METHOD FOR CORRECTING MASK PATTERN
マスクパターンの補正システム及びマスクパターンの補正方法 - 特許庁 - THIN FILM PATTERN PRINTING METHOD
薄膜パターン印刷方法 - 特許庁 - PATTERN IMAGE FORMING METHOD
パターン画像の形成方法 - 特許庁 - PSEUDO-RANDOM PATTERN GENERATOR
擬似ランダムパターン発生装置 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING FINE PATTERN
微細パタンの製造方法 - 特許庁 - PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE AND PATTERN DEFECT INSPECTION METHOD
パターン欠陥検査装置およびパターン欠陥検査方法 - 特許庁 - PATTERN POSITION DETECTOR AND PATTERN POSITION DETECTING METHOD
パターン位置検出装置及びパターン位置検出方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING RESIST PATTERN
レジストパターンの製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN
レジストパターンの形成方法 - 特許庁 - FINE PATTERN FORMING MEMBER
微細パターン形成用部材 - 特許庁 - LAY OUT PATTERN VERIFICATION METHOD
レイアウトパターン検証方法 - 特許庁 - PATTERN-CORRECTION SUPPORTING METHOD AND PATTERN-CORRECTION SUPPORTING PROGRAM
パターン補正支援方法およびパターン補正支援プログラム - 特許庁 - IRREGULAR PATTERN INSPECTING APPARATUS AND IRREGULAR PATTERN INSPECTION METHOD
凹凸パターン検査装置及び凹凸パターン検査方法 - 特許庁 - FIXED PATTERN NOISE ELIMINATOR
固定パターンノイズ除去装置 - 特許庁 - PSEUDO RANDOM PATTERN TRANSMITTER
擬似ランダムパターン送信装置 - 特許庁 - EXPOSURE MASK, PATTERN FORMING DEVICE AND PATTERN FORMING METHOD
露光用マスク、パターン形成装置及びパターン形成方法 - 特許庁 - PATTERN DRAWING APPARATUS, METHOD FOR DRAWING PATTERN, AND INSPECTION APPARATUS
パターン描画装置、パターン描画方法、および検査装置 - 特許庁 - ELECTRODE PATTERN FORMING METHOD
電極パターン形成方法 - 特許庁 - CONDUCTIVE FILM PATTERN AND METHOD OF FORMING CONDUCTIVE FILM PATTERN
導電膜パターン及び導電膜パターンの形成方法 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING CONDUCTIVE FILM PATTERN AND CONDUCTIVE FILM PATTERN
導電膜パターン形成方法、及び導電膜パターン - 特許庁 - SURFACE TREATING AGENT FOR RESIST PATTERN, AND PATTERN FORMING METHOD
レジストパターン用表面処理剤及びパターン形成方法 - 特許庁
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