「Pattern」を含む例文一覧(50000)
＜前へ 1 2 .... 65 66 67 68 69 70 71 72 73 .... 999 1000 次へ＞- CARD TOY AND ITS PATTERN DRAWING METHOD
カードおもちゃとその型抜き方法 - 特許庁 - PATTERN FORMING METHOD, PATTERN EVALUATING METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
パターン作成方法、パターン評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - PATTERN FORMED MICROWAVE SENSITIVE BODY
パタ—ン形成したマイクロウェ—ブ感受体 - 特許庁 - more than one repeat of the pattern
当該模様の2以上の繰り返し - 特許庁 - METHOD OF GENERATING DESIGN LAYOUT PATTERN OF SEMICONDUCTOR AND APPARATUS FOR GENERATING FIGURE PATTERN
半導体設計レイアウトパタン生成方法および図形パタン生成装置 - 特許庁 - The inter-pattern distance calculating means calculates the inter-pattern distance between a measurement pattern as aggregate of measurement peaks and reference pattern as aggregate of the reference peaks.
パターン間距離計算手段は、測定ピークの集合である測定パターンと基準ピークの集合である基準パターンの間のパターン間距離を計算する。 - 特許庁 - PATTERN FOR CHECKING CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF FORMING CHARACTERISTICS CHECK PATTERN
半導体装置の特性チェックパターン及び特性チェックパターンの形成方法 - 特許庁 - PATTERN PREDICTING METHOD, PROGRAM, AND APPARATUS
パターン予測方法、プログラム及び装置 - 特許庁 - DRAWING PATTERN RECOGNITION DEVICE, DRAWING PATTERN RECOGNITION METHOD, AND REMOTE CONTROL DEVICE
描画パターン認識装置、描画パターン認識方法および遠隔操作装置 - 特許庁 - GAME MACHINE WITH PICTURE PATTERN RE-VARYING FUNCTION
図柄再変動機能付き遊技機 - 特許庁 - PATTERN QUALITY EXAMINATION METHOD AND DEVICE
パターン品質検査方法及び装置 - 特許庁 - EXPOSURE SYSTEM AND PATTERN FORMING METHOD
露光装置及びパターン形成方法 - 特許庁 - PATTERN INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR THE SAME
パターン検査装置及びその方法 - 特許庁 - EXPOSURE DEVICE AND PATTERN FORMING METHOD
露光装置及びパターン形成方法 - 特許庁 - PATTERN FORMING METHOD AND EXPOSURE DEVICE
パターン形成方法及び露光装置 - 特許庁 - SATELLITE-MOUNTED ANTENNA PATTERN MEASUREMENT METHOD
衛星搭載アンテナパタン測定方法 - 特許庁 - PATTERN QUALITY INSPECTION METHOD AND DEVICE
パターン品質検査方法及び装置 - 特許庁 - The relationship between the pattern space (H: mm) of the electric wiring or electrodes and the voltage difference (Vh: V) meets a formula: 0.05 Vh+19>H>0.0016 Vh+0.01.
式：０．０５Ｖｈ＋１９＞Ｈ＞０．００１６Ｖｈ＋０．０１ - 特許庁 - PRODUCTION OF POINT SYMMETRIC PATTERN GROUP
点対称パターン群の製作方法 - 特許庁 - NEGATIVE RADIATION-SENSITIVE COMPOSITION, CURED PATTERN FORMING METHOD AND CURED PATTERN
ネガ型感放射線性組成物、硬化パターン形成方法及び硬化パターン - 特許庁 - To provide a board pattern forming method capable of improving a pattern in accuracy.
パターンの精度を向上できる基板のパターン形成方法を提供する。 - 特許庁 - A control part 44 generates a Moire' pattern by an arithmetic operation of both a reading pattern formed when the image sensor 40 reads the test pattern and a reference pattern.
制御部４４は、イメージセンサ４０がテストパターンを読み取って形成される読み取りパターンと、基準パターンとの演算によりモワレパターンを生成する。 - 特許庁 - FINISHED PRODUCT WITH PROJECTING PATTERN FORMED ON SURFACE AND METHOD FOR FORMING THE PROJECTING PATTERN
表面に凸模様を有する製品及び該凸模様を形成する方法 - 特許庁 - COLORED PATTERN CORRECTION APPARATUS AND COLORED PATTERN CORRECTION METHOD OF COLOR FILTER
カラーフィルタの着色パターン修正装置及び着色パターン修正方法 - 特許庁 - OPERATION-PATTERN CHANGEOVER STATE DISPLAY DEVICE
操作パターン切換状態表示装置 - 特許庁 - The second resist pattern 3 is removed.
第２のレジストパターン３を除去する。 - 特許庁 - IC TESTER, AND STRUCTURE OF PATTERN MEMORY
ＩＣテスタおよびパターンメモリの構造 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING CONDUCTIVE PATTERN-COVERED BODY, AND CONDUCTIVE PATTERN COVERED BODY
導電性パターン被覆体の製造方法および導電性パターン被覆体 - 特許庁 - PATTERN FORMING MATERIAL, PATTERN FORMING METHOD AND METHOD FOR PRODUCING MASK FOR EXPOSURE
パターン形成材料、パターン形成方法、及び露光用マスクの製造方法 - 特許庁 - DISCHARGE GAP PATTERN AND POWER SOURCE DEVICE
放電ギャップパターン及び電源装置 - 特許庁 - To form a high precision resist pattern.
高精度のレジストパターンを形成する。 - 特許庁 - PASTE COMPOSITION, FORMING METHOD OF PATTERN USING SAME, AND ITS PATTERN
ペースト組成物、及びそれを用いたパターンの形成方法、並びにそのパターン - 特許庁 - WIRING PATTERN OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE
液晶表示装置の配線パターン - 特許庁 - A notch 7 indicates a pattern position.
切り欠き７はパターンの位置を示す。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD FOR METAL-PATTERN MATERIAL
金属パターン材料の製造方法 - 特許庁 - To prevent deformation in a resist pattern shape and a decrease in accuracy in a transfer pattern.
レジストパターン形状の変形、および転写パターンの精度低下を防ぐ。 - 特許庁 - TEST PATTERN GENERATION METHOD AND PROGRAM
テストパターン作成方法およびプログラム - 特許庁 - If the final variation pattern does not constitute the special pattern (S2839: NO), the expected winning finish pattern is converted again into the originally displayed pattern to be displayed (S2845).
最終変動図柄が特定図柄を構成しない場合（Ｓ２８３９：ＮＯ）、リーチ図柄を最初に表示された図柄に再び変換して表示する（Ｓ２８４５）。 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE OF PERIODIC PATTERN
周期性パターンの欠陥検査装置 - 特許庁 - PATTERN MEMBER AND PRODUCTION METHOD THEREOF
パターン部材およびその製造方法 - 特許庁 - ELECTRONICALLY CONTROLLED MACHINE CAPABLE OF EMBROIDERING, EMBROIDERING PATTERN PROVISION SYSTEM, EMBROIDERING PATTERN PROVISION METHOD, EMBROIDERING PATTERN PROVISION SERVER AND EMBROIDERING PATTERN PROVISION PROGRAM
刺繍縫製可能な電子制御ミシン、縫製模様提供システム、縫製模様提供方法、縫製模様提供サーバー及び縫製模様提供プログラム - 特許庁 - METHOD FOR DECIDING PATTERN RECOGNITION POSSIBILITY OF TIME SERIES PATTERN, AND DEVICE THEREFOR
時系列信号のパターン認識可能性の判断方法及びその装置 - 特許庁 - PATTERN-FORMING METHOD BY PHOTOLITHOGRAPHY
フォトリソグラフィによるパターン形成方法 - 特許庁 - METALLIC MOLD FOR WAX PATTERN AND MANUFACTURE OF WAX PATTERN USING THE SAME
ワックス模型形成用金型およびこれを用いたワックス模型製造方法 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, AND MASK
レジストパターン形成方法およびマスク - 特許庁 - COATING AGENT FOR PATTERN MINIATURIZATION AND FINE PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME
パターン微細化用被覆剤、及びそれを用いた微細パターンの形成方法 - 特許庁 - NEGATIVE RADIATION-SENSITIVE COMPOSITION, METHOD FOR FORMING CURED PATTERN, AND CURED PATTERN
ネガ型感放射線性組成物、硬化パターン形成方法及び硬化パターン - 特許庁 - APPLICATION UNIT AND PATTERN CORRECTION DEVICE
塗布ユニットおよびパターン修正装置 - 特許庁 - PATTERN MEASURING DEVICE, PATTERN MEASURING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
パターン計測装置、パターン計測方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - PRINTER LANGUAGE DESCRIPTION SYSTEM, AND METHOD OF AVOIDING INTERFERENCE BETWEEN BRUSH PATTERN AND DITHER PATTERN
プリンタ言語記述システム、及びブラシパターンとディザパターンの干渉回避方法 - 特許庁
