「Scanning method」を含む例文一覧(3560)
＜前へ 1 2 .... 22 23 24 25 26 27 28 29 30 .... 71 72 次へ＞- EXPLOSIVE DETECTION APPARATUS AND METHOD USING DOUBLE ENERGY INFORMATION IN SCANNING
走査の二重エネルギー情報を用いた爆発物検出装置および方法 - 特許庁 - LIQUID JETTING APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING SCANNING OF HEAD OF LIQUID JETTING APPARATUS
液体噴射装置および液体噴射装置のヘッド走査制御方法 - 特許庁 - AUTOMATIC FOCUSING ALIGNMENT ELECTRONIC SCANNING TYPE ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD, AND APPARATUS
自動焦点位置合わせ電子走査式超音波探傷方法および装置 - 特許庁 - ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD
元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE
走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置 - 特許庁 - ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁 - METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁 - METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法 - 特許庁 - PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM
走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁 - DEVICE-OPERATION METHOD FOR CAPTURING RASTER-SCANNING- TYPE DIGITAL SIGNAL AND DISPLAYING WAVEFORM
ラスタ走査型デジタル信号取込み及び波形表示装置の動作方法 - 特許庁 - CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD
荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法 - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, CONTROL METHOD AND CONTROL PROGRAM THEREFOR
走査型レーザ顕微鏡装置およびその制御方法ならびに制御プログラム - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム - 特許庁 - PULSE GENERATION CIRCUIT, PULSE GENERATION METHOD, SCANNING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS
パルス生成回路、パルス生成方法、走査回路、表示装置、及び、電子機器 - 特許庁 - ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING SCANNING CONDITION OF ELECTRON BEAM
電子ビームの走査条件を決定する電子線露光装置及び方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE-PROCESSING METHOD THEREFOR
走査電子顕微鏡、および、走査電子顕微鏡における画像処理方法 - 特許庁 - METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)
走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM
走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム - 特許庁 - SCANNING OPTICAL SYSTEM UNIT, APPARATUS OF MEASURING OPTICAL CHARACTERISTIC, METHOD OF MEASURING OPTICAL CHARACTERISTIC, METHOD OF ADJUSTING SCANNING OPTICAL SYSTEM UNIT AND IMAGE FORMING APPARATUS
走査光学系ユニットおよび光学特性測定装置および光学特性測定方法および走査光学系ユニットの調整方法および画像形成装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DECIDING SCANNING TIMING, AND RADIATION TOMOGRAPH
スキャンタイミング決定方法および装置並びに放射線断層撮像装置 - 特許庁 - To provide a method and a system for facilitating errorless scanning application.
無過誤スキャン施術を容易にするための方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - IMAGE READER AND READ SCANNING CONTROL METHOD IN THE IMAGE READER
画像読取装置及び画像読取装置における読取走査制御方法 - 特許庁 - To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample.
傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of adjusting an optical scanner for scanning a light beam on a face to be scanned at an intended scanning property.
被走査面上で光ビームを所望の走査性で走査させるための光走査装置の調整方法を提供する。 - 特許庁 - The present invention provides, for example, a scanning optical apparatus, an image forming apparatus including the scanning optical apparatus and a method of controlling the light quantity.
本発明は、例えば、走査光学装置、それを備えた画像形成装置及び光量制御方法として実現できる。 - 特許庁 - INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - METHOD FOR OBSERVING SAMPLE BY SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND ULTRA-FLAT SAPPHIRE SUBSTRATE FOR SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE
走査近接場光学顕微鏡による試料観測方法および走査近接場光学顕微鏡用超平坦サファイア基板 - 特許庁 - LINE PICTURE SCANNING TYPE PICTURE DISPLAY DEVICE AND METHOD OF CORRECTING DISTORTION OF DISPLAYED PICTURE
ライン像走査型画像表示装置および表示画像の歪み補正方法 - 特許庁 - To provide a grain-like sample observation method based on a scanning probe microscope.
走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法を提供する。 - 特許庁 - MST DEVICE, PATTERN FORMING APPARATUS, SCANNING LITHOGRAPHY, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
移動体装置、パターン形成装置、走査型露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR REDUCING TRANSMITTER OVERLOADING IN TRANSMISSION SCANNING RECEIVER
送信スキャニングレシ—バにおける送信機オ—バ—ロ—ドを低減する方法および装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SCANNING ELECTRONIC BEAMS, AND DEVICE FOR INSPECTING TFT ARRAY
電子ビーム走査方法、電子ビーム走査装置、およびＴＦＴアレイ検査装置 - 特許庁 - SLICE THICKNESS SETTING METHOD FOR TWIN ASYMMETRICAL SCANNING AND X-RAY CT DEVICE
ツイン非対称スキャン用スライス厚設定方法およびＸ線ＣＴ装置 - 特許庁 - MULTIBEAM SCANNING METHOD AND DEVICE, MULTIBEAM LIGHT SOURCE DEVICE AND IMAGE FORMING DEVICE
マルチビーム走査方法および装置・マルチビーム光源装置及び画像形成装置 - 特許庁 - METHOD FOR DRIVING LASER SCANNING MICROSCOPE HAVING PRECISE FOCUSING STAGE CAPABLE OF BEING INCLINED
傾斜可能な精密焦準ステ—ジをもつレ—ザ—走査顕微鏡駆動方法 - 特許庁 - ROTOR-MANUFACTURING METHOD, POLYGON SCANNER UNIT, LASER SCANNING UNIT, AND IMAGE FORMING DEVICE
回転子の製造方法、ポリゴンスキャナユニット、レーザスキャンユニット及び画像形成装置 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for parameter scanning for signal over-sampling.
信号オーバーサンプリングに対するパラメータスキャン方法及び装置を提供すること。 - 特許庁 - SCANNING RANGE SETTING UNIT, TOMOGRAPH SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING THE SAME
スキャン範囲設定装置およびＸ線ＣＴシステムおよびその制御方法 - 特許庁 - To provide a coordinate detection method for microelectromechanical scanning, and a touch panel therefor.
微小電子機械走査の座標検出方法とそのタッチパネルを提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR SCANNING INTERNAL LATCH IN INTEGRATED CIRCUIT, AND THE INTEGRATED CIRCUIT
集積回路の内部ラッチをスキャンする方法及び装置並びに集積回路 - 特許庁 - SENSOR ASSEMBLY FOR COLOR OPTICAL IMAGE SCANNER, OPTICAL SCANNER AND COLOR IMAGE SCANNING METHOD
カラー光学イメージスキャナ用センサアセンブリ、光学スキャナ及びカラーイメージの走査方法 - 特許庁 - SCANNING MICROSCOPIC LIGHT SCATTERING MEASUREMENT/ANALYSIS DEVICE AND LIGHT SCATTERING ANALYSIS METHOD
走査型顕微光散乱測定解析装置および光散乱解析方法 - 特許庁 - To provide a device for scanning and detecting a touch point of a touch panel, and a method thereof.
タッチパネルの押圧ポイントの走査検出装置及びその方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING LINEAR SPOT VELOCITY OR POSITION VARIATION IN SCANNING SYSTEM
走査システムの線形スポット速度又は位置変化の測定方法及び装置 - 特許庁 - OPTICAL SCANNER, OPTICAL SCANNING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL SCANNER
光スキャナ、光走査装置、画像形成装置及び光スキャナの製造方法 - 特許庁 - WIRELESS LAN TERMINAL, AND METHOD AND PROGRAM FOR SCANNING OPERATION OF WIRELESS LAN TERMINAL
無線ＬＡＮ端末、無線ＬＡＮ端末のスキャン動作方法およびスキャン動作プログラム - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND INSPECTION METHOD
走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用のプローブ、及び検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING PLASTIC OPTICAL ELEMENT AND PLASTIC OPTIAL ELEMENT/OPTICAL SCANNING DEVICE
プラスチック光学素子の製造方法、プラスチック光学素子及び光走査装置 - 特許庁 - OSCILLATION ELEMENT, OSCILLATION ELEMENT MANUFACTURING METHOD, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMING DEVICE
振動素子、振動素子の製造方法、光走査装置及び画像形成装置 - 特許庁
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