「Scanning method」を含む例文一覧(3560)
＜前へ 1 2 .... 18 19 20 21 22 23 24 25 26 .... 71 72 次へ＞- UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE
ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁 - BLOCK DECODING DEVICE AND METHOD THEREFOR FOR INTERLACE SCANNING DIGITAL VIDEO SIGNAL
インターレス走査ディジタルビデオ信号のブロック復号化装置及び方法 - 特許庁 - SCANNING OPTICAL MICROSCOPIC APPARATUS, ITS CONTROL METHOD AND PROGRAM
走査型光学顕微鏡装置及びその制御方法並びにプログラム - 特許庁 - SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF
走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁 - SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE
走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION
走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD
走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法 - 特許庁 - SAMPLE STAND FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS ANGLE ADJUSTING METHOD
走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECTIVE POSITION ANALYSIS METHOD USING IT
走査型電子顕微鏡およびそれによる欠陥部位解析方法 - 特許庁 - STANDARD SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルおよびその製造方法 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND HEATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE
試料ホルダ、走査プローブ顕微鏡及び半導体試料加熱方法 - 特許庁 - SAMPLE FOR TUNING OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法 - 特許庁 - SPECIMEN FREEZING METHOD, COOLING HOLDER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
試料凍結方法および冷却ホルダ並びに走査電子顕微鏡 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法 - 特許庁 - IMAGE PROCESSOR AND PROCESSING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置 - 特許庁 - SCANNING OPTICAL UNIT, METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND LASER MACHINING APPARATUS
スキャン光学ユニット及びその制御方法並びにレーザ加工装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR REMOTELY CONTROLLING PARAMETER OF IMAGE SCANNING DEVICE
イメージスキャニング装置のパラメタをリモート制御する装置および方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR SCANNING FOR IDLE CHANNEL IN FREQUENCY ENVIRONMENT
周波数環境での遊休チャンネル検索方法及びその装置 - 特許庁 - METHOD, APPARATUS, AND PROGRAM FOR SCANNING IMAGE AND MEDIUM WITH THE PROGRAM STORED THEREIN
画像読取方法、装置、プログラム及びプログラムを記憶した媒体 - 特許庁 - METHOD OF CONTROLLING SAMPLE STATIC ELIMINATOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡における試料除電器の制御方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR PASSIVE SCANNING OF AUTHORIZED WIRELESS CHANNELS
認可済みワイヤレス・チャネルの受動掃引のためのシステムおよび方法 - 特許庁 - IMAGE RECORDING DEVICE AND METHOD FOR SCANNING WITH LIGHT BEAM IN IMAGE RECORDING DEVICE
画像記録装置及び画像記録装置の光ビーム走査方法 - 特許庁 - SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD
走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁 - ADAPTIVE SPATIAL CHARGE SCANNING DEVICE AND ADAPTIVE SPATIAL CHARGE SCANNING METHOD, AS WELL AS IMAGE CODING DEVICE AND IMAGE CODING METHOD
適応的空間充填走査装置及び適応的空間充填走査方法、並びに画像符号化装置及び画像符号化方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS MAINTENANCE/MANAGEMENT PROGRAM, MAINTENANCE/MANAGEMENT METHOD, AND RESOURCE ALLOCATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM
走査型電子顕微鏡、その保守・管理プログラム、保守・管理方法および走査型電子顕微鏡システムにおける資源割り当て方法 - 特許庁 - A method of a scanning method of scanning for an available channel of a frequency spectrum includes bidirectional search away from an initial channel frequency.
周波数スペクトルの利用可能チャンネル用走査の走査方法の方法は初期チャンネル周波数から離れた双方向探索を含む。 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD AND CORRECTION METHOD OF THE DEVIATION OF ELECTRON BEAM SCANNING AXIS WITH STAGE MOVING AXIS AND STAGE MOVING ERROR IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡における電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれ及びステージの移動誤差の測定方法及び補正方法。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR PHASE COMPENSATION OF POSITION SIGNAL AND DETECTION SIGNAL IN SCANNING MICROSCOPIC METHOD AND SCANNING MICROSCOPE
走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 - 特許庁 - METHOD OF OPTICAL SCANNING, OPTICAL SCANNER, METHOD OF IMAGE FORMING AND IMAGE FORMING APPARATUS
光走査方法・光走査装置および画像形成方法および画像形成装置 - 特許庁 - MULTI-BEAM OPTICAL SCANNER, MULTI-BEAM OPTICAL SCANNING METHOD, IMAGE FORMING DEVICE AND IMAGE FORMING METHOD
マルチビーム光走査装置、マルチビーム光走査方法、画像形成装置、画像形成方法 - 特許庁 - METHOD OF ADJUSTING MULTICOLOR IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF REPLACING OPTICAL BEAM SCANNING UNIT
多色画像形成装置の調整方法及び光ビーム走査ユニットの交換方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING FLUORESCENCE IN CONFOCAL SCANNING MICROSCOPIC METHOD
共焦点走査型顕微鏡法における蛍光の検出のための方法および装置 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法およびデバイス製造方法 - 特許庁 - PHOTOLITHOGRAPHY APPARATUS, SCANNING PHOTOLITHOGRAPHY APPARATUS, DEVICE MANUFACTURING METHOD, ORIGINAL PLATE CLEANING METHOD, AND THE ORIGINAL PLATE
露光装置、走査露光装置、デバイス製造方法、原版のクリーニング方法、および原版 - 特許庁 - DEFECT INSPECTION DEVICE, DEFECT INSPECTION METHOD, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND PRODUCTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
欠陥検査装置、欠陥検査方法、光学式走査装置、半導体デバイス製造方法 - 特許庁 - FORMING METHOD OF OUTGOING WIRING AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE
引出配線の形成方法及び走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁 - SCANNING PROJECTION ALIGNER, METHOD OF CORRECTING RUNNING OF MASK STAGE, AND METHOD OF MANUFACTURING MICRO DEVICE
走査型投影露光装置、マスクステージの走り補正方法及びマイクロデバイスの製造方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SCANNING EXPOSURE AND MANUFACTURE OF DEVICE USING METHOD THEREOF
走査露光方法、走査型露光装置、及び前記方法を用いるデバイス製造方法 - 特許庁 - FREEZING-POINT TEMPERATURE MEASURING METHOD AND TEMPERATURE CALIBRATION METHOD IN DIFFERENTIAL SCANNING CALORIMETRY
示差走査熱量測定における凝固点温度測定方法及び温度較正方法 - 特許庁 - To make an error smaller when a double beam method and a scanning type machining method are used in combination.
ダブルビーム法と走査型加工法とを併用した場合に誤差を小さくできる。 - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE
走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁 - To achieve high resolution of tomographic images acquired by conventional scanning (axial scanning), cine scanning, helical scanning or variable pitch helical scanning by an X-ray CT apparatus having a multi-row X-ray detector or a matrix structured two-dimensional X-ray detector by a simple method.
多列X線検出器または、マトリクス構造の2次元エリアX線検出器を持ったX線CT装置のコンベンショナルスキャン（アキシャルスキャン）またはシネスキャンまたはヘリカルスキャンまたは可変ピッチヘリカルスキャンの断層像の高分解能化を簡易的な方法で実現する。 - 特許庁 - To provide an optical scanner in which a scanning signal is formed by contriving wave form by effectively using a saw-tooth wave and optical scanning is excellently performed by the scanning signal, and to provide an optical scanning type display device and a method of scanning.
鋸歯状波を有効に活用して波形に工夫をこらした走査信号を形成し、この走査信号でもって良好に光の走査を行うようにした光走査装置、光走査型表示装置及び光走査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical scanning device in which an image misalignment corresponding to a scanning angle difference for each scanning is reduced, a control method of the optical scanning device, and an image forming apparatus using the optical scanning device.
一回の走査の実行中に走査の角度に対応して発生する結像ずれを低減させることが可能な光走査装置、および光走査装置の制御方法、並びにこれを用いた画像形成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR SCANNING OBJECT IN TOMOSYNTHESIS APPLICATION
トモシンセシス用途における対象物を走査するためのシステム及び方法 - 特許庁 - KINETIC PRESSURE BEARING AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR, AND OPTICAL DEFLECTION SCANNING UNIT
動圧軸受およびその製造方法ならびに光偏向走査装置 - 特許庁 - OPTICAL SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF CORRECTING VARIATION IN SCANNING LINE
光走査装置、画像形成装置および走査線変化補正方法 - 特許庁 - SCANNING ALIGNER ITS MANUFACTURE, AND METHOD THEREFOR
走査型露光装置およびその製造方法、並びに走査型露光方法 - 特許庁
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