「Scanning method」を含む例文一覧(3560)
＜前へ 1 2 .... 17 18 19 20 21 22 23 24 25 .... 71 72 次へ＞- SCANNING OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING IT, AND IMAGE FORMING APPARATUS
走査光学装置及びその製造方法及び画像形成装置 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING DEVICE, BEAM CURVATURE CORRECTION METHOD AND IMAGE FORMING APPARATUS
光走査装置、光線湾曲補正方法及び画像形成装置 - 特許庁 - LIGHT SOURCE DEVICE, ADJUSTMENT METHOD, OPTICAL SCANNING DEVICE AND IMAGE FORMING APPARATUS
光源装置、調整方法、光走査装置及び画像形成装置 - 特許庁 - LIGHT BEAM SCANNER, IMAGE FORMING DEVICE, AND LIGHT BEAM SCANNING METHOD
光ビーム走査装置、画像形成装置及び光ビーム走査方法 - 特許庁 - OPTICAL BEAM SCANNING EXPOSURE DEVICE AND METHOD FOR REGULATING OPTICAL AXIS THEREOF
光ビーム走査式露光装置及びそれの光軸調整方法 - 特許庁 - SCANNING PROJECTING LIGHT EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD USING IT
走査型投影露光装置、及び該装置を用いる素子製造方法 - 特許庁 - To provide an improved method for operating a laser scanning system.
レーザースキャンニングシステムを操作する改良された方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR CROSS-SECTIONAL OBSERVATION BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査電子顕微鏡による断面観察用サンプルの作製方法 - 特許庁 - METHOD FOR OBSERVING SAMPLE IMAGE IN SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
走査型荷電粒子ビーム装置における試料像観察方法 - 特許庁 - METHOD AND INSTRUMENT FOR MEASURING BEAM SHAPE OF SCANNING OPTICAL SYSTEM
走査光学系におけるビーム形状の測定方法及び装置 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING METHOD, OPTICAL SCANNER, PHOTOSENSITIVE MEDIUM, AND IMAGE FORMING APPARATUS
光走査方法・光走査装置・感光媒体・画像形成装置 - 特許庁 - METHOD, MODULE, AND DEVICE FOR OPTICAL SCANNING, AND IMAGE FORMING DEVICE
光走査方法、光走査モジュール、光走査装置、画像形成装置 - 特許庁 - DEFECT-DETECTING METHOD OF METAL BODY, AND SCANNING TYPE MAGNETIC DETECTOR
金属体の欠陥検出方法及びスキャニング式磁気検出器 - 特許庁 - SCANNING ELEMENT, SYMBOLIC DEVICE, AND METHOD FOR TESTING QUALITY OF COMBINED CIRCUIT
スキャン素子、論理装置および、組み合せ回路の良否テスト方法 - 特許庁 - IMAGE FORMING DEVICE, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND CONTROL METHOD FOR THE SAME
画像形成装置、光学走査装置、及びそれらの制御方法 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING SCANNING OPTICAL SYSTEM
走査光学系の調整方法及び走査光学系の調整装置 - 特許庁 - SCANNING BEAM INSPECTION DEVICE AND SIGNAL PROCESSING METHOD OF FLAW DETECTION
走査ビーム検査装置、および欠陥検出の信号処理方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING SAMPLE WITH SCANNING MICROSCOPY
走査顕微鏡により試料を画像化するための方法および装置 - 特許庁 - LIGHT BEAM SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS AND LIGHT BEAM SCANNING METHOD
光ビーム走査装置、画像形成装置、及び光ビーム走査方法 - 特許庁 - SCANNING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, DRIVE METHOD OF DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS
走査回路、表示装置、表示装置の駆動方法、及び、電子機器 - 特許庁 - ELECTRONIC CIRCUIT BOARD, ARRANGING METHOD FOR CIRCUIT BOARD, AND OPTICAL SCANNING DEVICE
電子回路基板、回路基板の配置方法、及び光走査装置 - 特許庁 - HEIGHT MEASURING METHOD, CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND PROGRAM
高さ測定方法、共焦点走査型光学顕微鏡、及びプログラム - 特許庁 - METHOD FOR REDUCING MOIRE INTERFERENCE PATTERN IN SCANNING OF HALFTONE IMAGE
ハーフトーン画像の走査におけるモアレ干渉パターンの低減方法 - 特許庁 - SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING SAMPLE INFORMATION
走査型共焦点顕微鏡および試料情報測定方法 - 特許庁 - BEAM LIGHT SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS, AND BEAM LIGHT SCANNING METHOD
ビーム光走査装置、画像形成装置、及びビーム光走査方法 - 特許庁 - MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁 - DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME
距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, HEIGHT MEASURING METHOD AND PROGRAM
共焦点走査型光学顕微鏡、高さ測定方法、及びプログラム - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE APPARATUS, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD THEREOF
レーザ走査型顕微鏡及びその表面形状の測定方法 - 特許庁 - PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁 - ELECTROMAGNETIC WAVE SCANNING METHOD, PICTURE PROJECTION DEVICE AND IMAGE ACQUISITION DEVICE
電磁波の走査方法、映像投影装置および画像取得装置 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING APPARATUS AND IMAGE PROCESSING METHOD BY SHEET SCANNING SYSTEM
シートスキャン方式による画像処理装置および画像処理方法 - 特許庁 - PATTERN DIMENSION MEASURING METHOD, AND SCANNING TRANSMISSION CHARGED PARTICLE MICROSCOPE
パターン寸法計測方法及び走査型透過荷電粒子顕微鏡 - 特許庁 - LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE
低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁 - SCANNING CONTROL METHOD FOR INPUT DEVICE, APPARATUS THEREFOR AND RECORDING MEDIUM
入力装置のスキャン制御方法、その装置及び記録媒体 - 特許庁 - SCANNING TYPE SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD
走査型面形状測定装置および面形状測定方法 - 特許庁 - LIGHT BEAM DISPLACEMENT CALCULATION METHOD, LIGHT SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMATION APPARATUS
光線変位算出方法、光走査装置、及び画像形成装置 - 特許庁 - FIXING METHOD OF OPTICAL ELEMENT, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMING DEVICE
光学素子の固定方法、光走査装置及び画像形成装置 - 特許庁 - SCANNING CONTROL METHOD FOR INPUT DEVICE, APPARATUS THEREFOR, AND RECORDING MEDIUM
入力装置のスキャン制御方法、その装置及び記録媒体 - 特許庁 - INTERPORATION METHOD AND DEVICE FOR ACOUSTIC SCANNING LINE, AND ULTRASONOGRAPH
音響走査線補間方法および装置と超音波診断装置 - 特許庁 - OPTICAL SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS, AND METHOD FOR DETECTING SCANNING LINE INCLINATION
光走査装置・画像形成装置・走査線傾きの検出方法 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING DEVICE, LIGHT-QUANTITY CONTROL METHOD, AND IMAGE FORMATION DEVICE
光学走査装置、光量制御方法及び画像形成装置 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE
走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR FORMING IMAGE ON PLATE AND INTER-SLEEVE RASTER SCANNING METHOD
版に画像を形成する装置、およびインタリーブラスタ走査ライン方法 - 特許庁 - CORPUSCULAR-BEAM CANCER TREATMENT APPARATUS AND CORPUSCULAR-BEAM SCANNING IRRADIATION METHOD
粒子線がん治療装置および粒子線スキャニング照射方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE
走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁 - SCANNING IMAGE FORMING LENS, IMAGE WRITING METHOD AND IMAGE WRITING DEVICE
走査結像レンズおよび画像書込方法および画像書込装置 - 特許庁 - OPTICAL RECORDING MEDIUM SCANNING METHOD AND DEVICE THEREOF, AND OPTICAL RECORDING MEDIUM
光記録媒体走査方法およびその装置と光記録媒体 - 特許庁 - MEASURING METHOD AND APPARATUS OF BEAM TYPE IN SCANNING OPTICAL SYSTEM
走査光学系におけるビーム形状の測定方法及び装置 - 特許庁 - SCANNING IMAGE FORMATION LENS, AND METHOD AND DEVICE TO WRITE IMAGE
走査結像レンズおよび画像書込方法および画像書込装置 - 特許庁
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