SCANNING LASER MICROSCOPE, THE CONTROL METHOD AND THE CONTROL PROGRAM FOR THE SAME 走査型レーザ顕微鏡、該制御方法、及び該制御プログラム - 特許庁
PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE プローブ及び走査型プローブ顕微鏡並びにプローブの製造方法 - 特許庁
To provide an original scanning apparatus wherein precise drive information in a sub-scanning direction can be acquired while maintaining a line-scanning speed of a scanning unit, and to provide a method of controlling the same. 読取部による1ライン読取速度を維持したまま、副走査方向への精細な駆動情報を取得できるようにした原稿読取装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁
To provide a two-dimensional scanner having a horizontal scanning means and a vertical scanning means and a driving method which makes the number of scanning lines per frame constant even when horizontal scanning varies in driving cycle. 主走査手段と副走査手段を有する2次元走査装置と、主走査の駆動周期が変化した場合でも、1フレームの走査線数を一定にする駆動方法を提供する。 - 特許庁
The reversible compression method comprises: rearranging the display data of each block by scanning it in a predetermined order; compressing data rearranged by scanning processing; repeatedly performing the above processing by varying a scanningmethod; selecting a scanningmethod for minimizing the data quantity after compression; and outputting a selected scanningmethod and compressed data based on the selected scanningmethod. 可逆圧縮方法は、各ブロックの表示用データを予め決められた順序でスキャンして並べ替え、スキャン処理によって並べ替えられたデータを圧縮し、上記の処理をスキャン方法を変えて繰り返し実行し、圧縮後のデータ量が最も小さいスキャン方法を選択し、選択したスキャン方法およびそのスキャン方法に基づく圧縮データを出力する。 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND SCANNINGMETHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE 荷電粒子ビームの評価方法及び走査方法並びに荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
SCANNER, METHOD OF CALIBRATING SPECTRUM OF THE SAME, AND METHOD FOR SCANNING IMAGE USING THE SCANNER スキャナ及びそのスペクトル較正方法並びにスキャナを用いたイメージ走査方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD 走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法 - 特許庁
LASER MICROSCOPE, LASER BEAM SCANNER, LASER BEAM SCANNINGMETHOD, AND METHOD FOR GENERATING IMAGE DATA レーザ顕微鏡、レーザ光走査装置、レーザ光走査方法、画像データ生成方法 - 特許庁
To provide a scanning position detector of a scanning optical system with which linearity is measured in a short time and with high precision without requiring a special evaluation pattern and with which versatility is made high, a scanning position detecting method of the scanning optical system, the scanning optical system which is provided with the scanning position detector or the scanning position detecting method and an image forming apparatus. リニアリティを短時間に高い精度で測定でき、特別な評価用パターンを必要とせず汎用性の高い走査光学系の走査位置検出装置、走査光学系の走査位置検出方法を提供し、かかる走査位置検出装置あるいは走査位置検出方法を具備した走査光学系および画像形成装置を得る。 - 特許庁
To provide a barcode scanner, rapidly and continuously scanning objects during scanning operation, and an image-based barcode scanningmethod. 走査動作中、迅速に連続的にいくつかのオブジェクトを走査することが可能なバーコード・スキャナ及び画像ベースのバーコードの走査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an optical scanning probe and an optical scanning probe device which achieve low-voltage high-speed driving by a simple structure, and a method for controlling the optical scanning probe. 簡単な構造で低電圧高速駆動が可能となる光走査プローブおよび光走査プローブ装置並びに光走査プローブの制御方法を得る。 - 特許庁
Each dot recording mode employs the same sub-scanning method between main scanning operations but has a different order for recording the dots on each main scanning line. それぞれのドット記録モードは、主走査の合間に行う副走査のやり方は同じであるが、各主走査ラインのドットを記録する順番が異なっている。 - 特許庁
IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁
To provide an anti-malware scanning system and a method thereof that efficiently perform scanning even in an environment in which resources for scanning are limited. スキャニングするリソースが制限された環境でもスキャニングを効率的に行うことのできる、アンチマルウェアスキャニングシステム及びその方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a control method of a scanning motor, which is suitable for miniaturization and cost-reduction of a circuit, and is able to always maintain a scanning width. 回路の小型化・低コスト化に好適であって、スキャン幅を常時一定に保持することができる。 - 特許庁
DOCUMENT PROCESSING APPARATUS WITH IMAGE SCANNING RESOLUTION CORRECTION FUNCTION AND METHOD FOR CORRECTING IMAGE SCANNING RESOLUTION 画像読取り解像度の補正機能を有するドキュメント処理装置および画像読取り解像度の補正方法 - 特許庁
LIGHT BEAM SCANNING POSITION DETECTION MODULE, METHOD OF DETECTING LIGHT BEAM SCANNING POSITION, OPTICAL SCANNER AND IMAGE FORMING APPARATUS 光ビーム走査位置検出モジュール、光ビーム走査位置検出方法、光走査装置及び画像形成装置 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS, METHOD FOR CORRECTING MAIN SCANNING MAGNIFICATION THEREFOR, PROGRAM FOR CORRECTING MAIN SCANNING MAGNIFICATION, AND RECORDING MEDIUM 画像形成装置、その主走査倍率補正方法、及び主走査倍率補正プログラム、並びに記録媒体 - 特許庁
SCANNING POSITION DETECTION DEVICE, OPTICAL WRITING DEVICE, IMAGE FORMING APPARATUS, AND SCANNING POSITION DETECTING METHOD OF THE OPTICAL WRITING DEVICE 走査位置検知装置、光書き込み装置、画像形成装置及び光書き込み装置の走査位置検知方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SCANNING OPTICAL DEVICE AND ADJUSTMENT AMOUNT ARITHMETIC DEVICE USED IN MANUFACTURING SCANNING OPTICAL DEVICE 走査光学装置の製造方法および走査光学装置の製造時に使用する調整量演算装置 - 特許庁
MULTI-BEAM LASER SCANNING UNIT AND LASER-BEAM DEFLECTION COMPENSATING METHOD OF MULTI-BEAM LASER SCANNING UNIT AND PICTURE FORMING DEVICE マルチビーム光走査装置及びマルチビーム光走査装置のビーム位置補正方法並びに画像形成装置 - 特許庁
SCANNING MAGNETIC FORCE MICROSCOPE, ITS SAMPLE MOUNT, MAGNETISM OBSERVATION METHOD USING THE SCANNING TYPE MAGNETIC FORCE MICROSCOPE 走査型磁気力顕微鏡およびそのサンプル台、ならびに走査型磁気力顕微鏡を用いた磁気観察方法 - 特許庁
APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法 - 特許庁
PIXEL CLOCK GENERATOR, IMAGE FORMING APPARATUS, MAIN SCANNING MAGNIFICATION CORRECTING METHOD, MAIN SCANNING MAGNIFICATION CORRECTING PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM 画素クロック生成部、画像形成装置、主走査倍率補正方法、主走査倍率補正プログラム及び記録媒体 - 特許庁
To provide a scanningmethod for a scanning electron microscope improving degradation of length measuring precision by shrink of a sample. 試料のシュリンクによる測長精度の低下を改善する走査電子顕微鏡の走査法を提供する。 - 特許庁
SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DEVICE, AND PROCESSING METHOD OF IMAGE TAKEN BY SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DEVICE 走査型荷電粒子顕微鏡装置および走査型荷電粒子顕微鏡装置で取得した画像の処理方法 - 特許庁
SURFACE OBSERVING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INSPECTION DEVICE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法および走査型プローブ顕微鏡による表面検査装置 - 特許庁
GRAIN-LIKE SAMPLE OBSERVATION METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE AND GRAIN-LIKE SAMPLE BODY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法及び走査プローブ顕微鏡用粒子状試料体 - 特許庁
SCANNING PROJECTION ALIGNER AND METHOD FOR FABRICATING DEVICE USING IT 走査型露光装置、及びその装置を用いるデバイス製造方法 - 特許庁
SCANNING TYPE BEHICLE-MOUNTED RADAR AND AZIMUTH CORRECTION METHOD THEREOF 走査型車載レーダの方位補正方法及び走査型車載レーダ - 特許庁
SAMPLE INCLINATION OBSERVING METHOD IN SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM 走査型荷電粒子ビーム装置における試料傾斜観察方法 - 特許庁
FLAW DETECTION METHOD OF METAL BODY, AND SCANNING-TYPE MAGNETIC DETECTOR 金属体の欠陥検出方法及びスキャニング式磁気検出器 - 特許庁
LIGHT SOURCE ASSEMBLY AND MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND LASER SCANNING OPTICAL SYSTEM 光源部組立体、その製造方法及びレーザ走査光学装置 - 特許庁
METHOD FOR DRIVING OPTICAL SCANNER, OPTICAL SCANNING DEVICE, AND IMAGE FORMING DEVICE 光スキャナの駆動方法、光走査装置および画像形成装置 - 特許庁
FLAW DETECTION METHOD OF METAL BODY, AND SCANNING-TYPE MAGNETIC DETECTOR 金属体の欠陥検出方法及びスキャニング式欠陥検出器 - 特許庁
MEASUREMENT EVALUATION METHOD FOR SCANNING OPTICAL SYSTEM AND MEASUREMENT EVALUATION DEVICE 走査光学系の測定評価方法および測定評価装置 - 特許庁
RECORDING CONTROL METHOD FOR HELICAL SCANNING TYPE DIGITAL MAGNETIC RECORDING AND REPRODUCING DEVICE ヘリカルスキャン型デジタル磁気記録再生装置の記録制御方法 - 特許庁
SCANNING OPTICAL APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF CONTROLLING LIGHT QUANTITY 走査光学装置、画像形成装置及び光量制御方法 - 特許庁
ELECTRONIC SCANNING RADAR DEVICE, RECEIVED WAVE DIRECTION ESTIMATION METHOD, AND PROGRAM 電子走査型レーダ装置、受信波方向推定方法及びプログラム - 特許庁
PHANTOM DEVICE AND MEASURING METHOD OF ROTARY SCANNING TYPE ULTRASONIC PROBE 回転走査式超音波プローブのファントム装置及び測定方法 - 特許庁
LIGHT-QUANTITY CONTROLLING METHOD OF LIGHT SCANNING DEVICE AND IMAGE FORMATION DEVICE 光走査装置の光量制御方法及び画像形成装置 - 特許庁
OPTICAL SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS, AND METHOD OF CORRECTING VERTICAL SCANNING POSITION 光走査装置、画像形成装置及び副走査位置補正方法 - 特許庁