「Scanning method」を含む例文一覧(3560)
＜前へ 1 2 .... 15 16 17 18 19 20 21 22 23 .... 71 72 次へ＞- IMAGING APPARATUS, TWO-DIMENSIONAL SCANNING DEVICE, NOISE REDUCTION METHOD AND PROGRAM
撮像装置、２次元走査装置、ノイズ低減方法、および、プログラム - 特許庁 - BEAM SPOT SHAPING METHOD, OPTICAL SCANNING APPARATUS, AND IMAGE FORMING DEVICE
ビームスポット整形方法、光走査装置、及び画像形成装置 - 特許庁 - SCANNING TYPE OPTICAL APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS, AND JITTER CORRECTION METHOD
走査式光学装置、画像形成装置及びジッター補正方法 - 特許庁 - BEAM CONTROLLER, PHASED ARRAY RADAR AND METHOD FOR SCANNING THE BEAM
ビーム制御器及びフェーズドアレーレーダ、並びにそのビーム走査方法 - 特許庁 - COLOR IMAGE SCANNER, COMMUNICATION DEVICE AND METHOD FOR SCANNING COLOR IMAGE
カラー画像読取装置、通信装置及びカラー画像読取方法 - 特許庁 - IMAGE DISPLAY DEVICE, DRIVING METHOD THEREOF, AND SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT
画像表示装置及びその駆動方法と走査線駆動回路 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR SPEED-NORMALIZED LOCATION-BASE SCANNING
速度正規化した位置ベースの走査のための方法およびシステム - 特許庁 - POLISHING METHOD, DIE OR OPTICAL ELEMENT OR OPTICAL SCANNING UNIT
研磨方法、金型または光学素子あるいは走査光学ユニット - 特許庁 - OPTICAL RETICLE SUBSTRATE INSPECTION APPARATUS AND BEAM SCANNING METHOD FOR THE SAME
光学式レチクル基板検査装置及びそのビーム走査方法 - 特許庁 - IMAGE FORMING APPARATUS, SCANNING OPTICAL APPARATUS, AND CONTROL METHOD THEREFOR
画像形成装置、走査光学装置、及びそれらの制御方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT
走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR SCANNING IMAGE VIA INTERNET RECEIVER
インターネット受信機を介して画像を走査する方法およびシステム - 特許庁 - CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE AND IMAGE INFORMATION CONSTRUCTING METHOD
共焦点走査型顕微鏡および画像情報構築方法 - 特許庁 - SCANNING SIGNAL LINE DRIVING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, AND ITS DRIVING METHOD
走査信号線駆動回路、表示装置、およびその駆動方法 - 特許庁 - SAMPLE INFORMATION MEASURING METHOD AND SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE
試料情報測定方法および走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁 - DATA LINE DRIVE CIRCUIT, SCANNING LINE DRIVE CIRCUIT, DISPLAY APPARATUS, ELECTRONIC EQUIPMENT, DATA LINE DRIVE METHOD, SCANNING LINE DRIVE METHOD, AND COMPUTER PROGRAM
データ線駆動回路、走査線駆動回路、表示装置、電子機器、データ線駆動方法、走査線駆動方法及びコンピュータプログラム - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR SCANNING COMPUTER TOMOGRAPHY
コンピュータ断層撮影走査を実行するための方法及び装置 - 特許庁 - LASER SCANNING MICROSCOPE AND SENSITIVITY SETTING METHOD FOR PHOTODETECTOR
レーザ走査顕微鏡および光検出器の感度設定方法 - 特許庁 - MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD AND IMAGE FORMING DEVICE
マルチビ—ム走査装置・マルチビ—ム走査方法および画像形成装置 - 特許庁 - LIGHT BEAM SCANNER, PICTURE DISPLAY DEVICE AND LIGHT BEAM SCANNING METHOD
光線走査装置、画像表示装置及び光線走査方法 - 特許庁 - MULTIBEAM CYLINDER INNER FACE SCANNING EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD THEREOF
マルチビーム円筒内面走査型露光装置及び露光方法 - 特許庁 - MULTIBEAM OPTICAL SCANNING METHOD AND OPTICAL SCANNER USING THE SAME
マルチビーム光走査方法及びそれを用いた光走査装置 - 特許庁 - PARTIAL EXTENDED SCANNING METHOD REDUCING QUANTITY OF DELAY TEST PATTERN
遅延テストパターンの量を削減する部分的拡張スキャン方法 - 特許庁 - IMAGE OUTPUT APPARATUS AND METHOD FOR SETTING VERTICAL SCANNING PERIOD THEREOF
画像出力装置及びその副走査周期設定方法 - 特許庁 - ELECTRONIC SCANNING TYPE ULTRASONIC OBJECT DETECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR
電子走査式超音波物体検出装置及びその方法 - 特許庁 - PRESSURIZING AND INFILTRATING METHOD FOR SCANNING AND INSPECTING FLAW AND PRESSURIZING AND INFILTRATING APPARATUS
加圧式浸透探傷検査方法及び加圧式浸透装置 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR SCANNING PROJECTION ALIGNMENT, AND MANUFACTURE OF DEVICE
走査露光方法、走査型露光装置、及びデバイス製造方法 - 特許庁 - BEAM-INSPECTING DEVICE AND BEAM ADJUSTMENT METHOD FOR LIGHT-SCANNING UNIT
光走査ユニットのビーム検査装置およびビーム調整方法 - 特許庁 - MULTIBEAM SCANNER, MULTIBEAM SCANNING METHOD, RECORDING MEDIUM, AND PROGRAM
マルチビーム走査装置、マルチビーム走査方法、記録媒体及びプログラム - 特許庁 - SCANNING EXPOSURE METHOD AND MANUFACTURE OF DEVICE USING THE SAME
走査露光方法及び該方法を用いるデバイス製造方法 - 特許庁 - PICTURE DISPLAY DEVICE, PIXEL DRIVING METHOD, AND SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT
画像表示装置、画素駆動方法、および走査線駆動回路 - 特許庁 - METHOD FOR AUTOMATICALLY APPLYING CORRECTION SUCH AS CROPPING TO SCANNING IMAGE
走査画像にクロッピング等の修正を自動的に行う方法 - 特許庁 - OPTICAL SCANNING TYPE IMAGE DISPLAY DEVICE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD
光走査型画像表示装置及びその画像表示方法 - 特許庁 - SCANNING LASER MICROSCOPE, AND DETECTION WAVELENGTH RANGE SETTING METHOD
走査型レーザ顕微鏡および検出波長範囲設定方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND ITS FOCUSING METHOD
走査型電子顕微鏡装置およびその焦点あわせ方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT
走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法 - 特許庁 - SUBSTRATE SUPPORT DEVICE, SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE, AND METHOD SUPPORT SUBSTRATE
基板支持装置、走査型電子顕微鏡、及び基板支持方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SAME
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料の観察方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING IT
走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法 - 特許庁 - METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁 - EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD OF THE SAME
走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法 - 特許庁 - ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TYPE CONFOCAL MICROSCOPE AND ITS OPTICAL AXIS CHECKING METHOD
走査型共焦点顕微鏡およびその光軸チェック方法 - 特許庁 - PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁 - APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE
走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY
走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁 - SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT
走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT
走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法 - 特許庁 - SCANNING TYPE LASER MICROSCOPE, ITS ADJUSTMENT METHOD AND PROGRAM
走査型レーザ顕微鏡及びその調整方法、並びにプログラム - 特許庁
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