LASER IRRADIATION DEVICE, EXPOSURE METHOD USING SCANNING LASER BEAM, AND MANUFACTURING METHOD FOR COLOR FILTER USING SCANNING LASER BEAM レーザ照射装置並びに走査レーザ光を用いた露光方法及び走査レーザ光を用いたカラーフィルタの製造方法 - 特許庁
SCANNING OPTICAL DEVICE, COLOR IMAGE FORMING APPARATUS, METHOD FOR MANUFACTURING SCANNING OPTICAL DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING COLOR IMAGE FORMING APPARATUS 走査光学装置、カラー画像形成装置、走査光学装置の製造方法及びカラー画像形成装置の製造方法 - 特許庁
LASER BEAM SCANNING UNIT, METHOD OF MANUFACTURING SAME, IMAGE FORMING APPARATUS, AND METHOD OF ADJUSTING LASER BEAM SCANNING UNIT レーザビーム走査ユニットの製造方法、レーザビーム走査ユニット、画像形成装置及びレーザビーム走査ユニットの調整方法 - 特許庁
To provide an interlaced scanning circuit and an interlaced scanningmethod capable of executing interlaced scanning by simple constitution by using a scanning type video signal for displaying even scanning lines in each frame. 各フレーム内で偶数本の走査線を表示する走査方式の映像信号を用いて簡単な構成でインターレース走査を実現することができるインターレース走査回路およびインターレース走査方法を提供することである。 - 特許庁
MULTIBEAM SCANNING DEVICE AND METHOD, LIGHT SOURCE DEVICE FOR MULTIBEAM SCANNING DEVICE AND IMAGE FORMING DEVICE マルチビーム走査装置・マルチビーム走査方法・マルチビーム走査装置用の光源装置および画像形成装置 - 特許庁
MEASURING METHOD USING SINUSOIDAL WAVE-LIKE WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER AND SINUSOIDAL WAVELIKE WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER 正弦波状波長走査干渉計による計測方法及び正弦波状波長走査干渉計 - 特許庁
LENS ARRAY FOR SCANNING SYSTEM, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, OPTICAL EQUIPMENT, AND METHOD OF MANUFACTURING LENS ARRAY FOR SCANNING SYSTEM スキャニングシステム用レンズアレイ、電気光学装置、光学機器、およびスキャニングシステム用レンズアレイの製造方法 - 特許庁
To provide a method for correcting skew generated in scanning processing using print scanning closed loop processing. 印刷走査閉ループ処理を利用した走査処理において生じるスキューの補正方法を提供する。 - 特許庁
SCANNING LINE INTERPOLATING CIRCUIT, SCANNING LINE INTERPOLATING METHOD USED THEREIN, AND IMAGE DISPLAYING APPARATUS 走査線補間回路、該走査線補間回路に用いられる走査線補間方法、及び画像表示装置 - 特許庁
VISUAL INSPECTION DEVICE WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE FORMING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像生成方法 - 特許庁
CARBON NANOTUBE CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡用カーボンナノチューブカンチレバーとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING OSCILLATION AMPLITUDE OF CANTILEVER IN NONCONTACT SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE ノンコンタクト走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバーの発振振幅測定方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD 走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING LENS ARRAY FOR SCANNING SYSTEM, LENS ARRAY FOR SCANNING SYSTEM, ELECTROOPTICAL DEVICE AND OPTICAL EQUIPMENT スキャニングシステム用レンズアレイの製造方法、スキャニングシステム用レンズアレイ、電気光学装置、および光学機器 - 特許庁
CONFORMING METHOD OF SCANNING BIST ARCHITECTURE TO LOW ELECTRIC POWER OPERATION AND SCANNING BIST TESTING CONSTITUTION 低電力動作への走査BISTアーキテクチャの適合方法および走査BIST試験構成 - 特許庁
ARRANGEMENT FOR COMBINING RADIATION TO SCANNING HEAD IN MICROSCOPE WITH SCANNING UNIT, AND METHOD OF OPERATING THE SAME 走査ユニット付き顕微鏡における放射を走査ヘッドに結合するための配置およびその操作方法 - 特許庁
CONTROL METHOD FOR DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
A flag showing whether the rough scanning system of an image pickup method or a projection method on an input video signal is sequential scanning or skip scanning is prepared. 入力映像信号についての撮像方法または映写方法などの大本の走査方式が順次走査であるか飛び越し走査であるかのフラグを用意する。 - 特許庁
TEMPERATURE MEASURING DEVICE, SCANNING EXPOSURE DEVICE, EXPOSURE METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE 温度測定装置、走査型露光装置、露光方法及びデバイスの製造方法 - 特許庁
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD 走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁
METHOD OF POSITIONING OPTICAL DEVICE, OPTICAL DEVICE, OPTICAL SCANNING APPARATUS, AND METHOD OF ADHESION 光学素子の位置決め方法、光学素子、光走査装置および接着方法 - 特許庁
OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS OF SCANNING OPTICAL SYSTEM, METHOD OF CALIBRATING OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS OF SCANNING OPTICAL SYSTEM, SCANNING OPTICAL SYSTEM AND IMAGE FORMING APPARATUS 走査光学系光学特性測定装置、走査光学系光学特性測定装置校正方法、走査光学系及び画像形成装置 - 特許庁
To provide a laser scanning microscope apparatus which facilitates the setting of an observation range, to provide a control method of the laser scanning microscope and to provide a control program for the laser scanning microscope. 観察範囲の設定を容易にする、レーザ走査型顕微鏡装置、その制御方法、及びその制御プログラムを提供する。 - 特許庁
To provide an image sensor driving method which makes the scanning speed higher in scanning an optical image with a low resolution than that in scanning it with a high resolution. 光学像の低解像度走査時に高解像度走査時よりも走査速度を高速にするイメージセンサの駆動方法を提供する。 - 特許庁
OPTICAL SCANNER, IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF CORRECTING SCANNING LINE VARIATION 光走査装置・画像形成装置・走査線変化補正方法 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD FOR REGULATING POSITION OF LIGHT SCANNING DEVICE 画像形成装置および光走査装置の位置調整方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR SCANNING DATA STORED ON RECORDING MEDIUM 記録媒体に保存されたデータをスキャニングする方法及び装置 - 特許庁
SCANNING ALIGNER AND MANUFACTURING METHOD OF ELEMENT USING THE ALIGNER 走査型露光装置、及び該装置を用いる素子製造方法 - 特許庁
METHOD OF DETERMINING APPLICATION RANGE FOR PLANAR SCANNING NEAR-FIELD ANTENNA MEASUREMENT 平面走査近傍界アンテナ測定の適用範囲判定法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD OF IMAGE RESTORATION ADOPTING LINEAR TRACK SCANNING 直線軌跡走査を採用した画像復元システム及び方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING SCANNING OPTICAL UNIT 走査光学ユニット検査方法および走査光学ユニット検査装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR SCANNING TIME SEQUENCE OF MOVING OBJECT 運動する対象の時間系列を走査する方法及び装置 - 特許庁
LIGHT BEAM SCANNER, IMAGE DISPLAY UNIT AND LIGHT BEAM SCANNINGMETHOD 光線走査装置、画像表示装置及び光線走査方法 - 特許庁
MEASURING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM SCANNING DEVICE 荷電粒子線の測定方法、荷電粒子線走査式装置 - 特許庁
SYSTEM, METHOD, AND PRODUCT FOR SCANNING BIOLOGICAL MATERIAL 生物学的物質の走査のためのシステム、方法、および製品 - 特許庁
ELECTRONIC SCANNING TYPE ULTRASONIC-WAVE OBJECT DETECTING DEVICE AND ITS METHOD 電子走査式超音波物体検出装置及びその方法 - 特許庁
EXPOSURE SCANNING MECHANISM FOR IMAGE FORMING DEVICE AND ADJUSTMENT METHOD THEREOF 画像形成装置の露光走査機構およびその調整方法 - 特許庁
IMAGE FORMATION DEVICE AND ITS MAIN SCANNING DEVIATION CORRECTION METHOD AND MAIN SCANNING DEVIATION CORRECTION METHOD THEREOF 画像形成装置および画像形成装置の主走査ズレ調整方法並びに画像形成装置の主走査ズレ補正方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE FITTED WITH DYNAMIC VIBRATION REDUCER AND ITS MEASURING METHOD 動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁
PRINTED BOARD TESTING DEVICE AND SCANNINGMETHOD OF PRINTED BOARD TESTING DEVICE プリント板検査装置及びプリント板検査装置の走査方法 - 特許庁
METHOD AND CIRCUIT FOR DRIVING SELF SCANNING TYPE LIGHT- EMITTING ELEMENT ARRAY 自己走査型発光素子アレイの駆動方法および駆動回路 - 特許庁