IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡の像表示方法 - 特許庁
ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査電子顕微鏡による分析方法 - 特許庁
LASER SCANNING MICROSCOPE AND SETTING METHOD レーザ走査顕微鏡および設定方法 - 特許庁
CALIBRATION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE 走査型電子顕微鏡の校正方法 - 特許庁
LIGHT SCANNING ELEMENT AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME 光走査素子及びその製造方法 - 特許庁
SCANNING TEST DEVICE AND ITS DESIGN METHOD スキャンテスト装置およびその設計方法 - 特許庁
BEAM SCANNINGMETHOD OF PHASED ARRAY ANTENNA AND RADAR DEVICE USING BEAM SCANNINGMETHOD フェーズドアレイアンテナのビーム走査方法及びこのビーム走査方法を用いたレーダ装置 - 特許庁
SCANNING OPTICAL APPARATUS, IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF ADJUSTING SCANNING LINE OF SCANNING OPTICAL APPARATUS 走査光学装置および画像形成装置並びに走査光学装置の走査線調整方法 - 特許庁
METHOD FOR SCANNING SURFACE OF MEASURED OBJECT USING SCANNING PROBE WITH CONSTANT SCANNING SPEED 一定の走査速度を備えた走査プローブを用いた測定対象物の表面の走査方法 - 特許庁
OPTICAL SCANNING TYPE OBSERVATION APPARATUS, METHOD OF SETTING OPTICAL SCANNING TYPE OBSERVATION APPARATUS, AND OPTICAL SCANNING PROBE APPARATUS 光走査型観察装置、走査型観察装置の設定方法及び光走査プローブ装置 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡、走査用プローブ及び走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁
In this case, a scanningmethod determining part 76 determines a scanningmethod (moving scanning and rotary scanning) of the ultrasonic probe, and the three-dimensional image corresponding to the determined scanningmethod is constituted. その場合、走査方式判定部76が超音波探触子の走査方式(移動走査、回転走査)を判定し、その判定された走査方式に対応した三次元画像が構成される。 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE METHOD AND DEVICE MANUFACTURING METHOD EMPLOYING THE METHOD 走査露光方法及び該方法を用いるデバイス製造方法 - 特許庁
SURFACE SCANNINGMETHOD OF MEASURING OBJECT BY OSCILLATING SCANNING PROBE 振幅型走査プローブによる測定対象物の表面の走査方法 - 特許庁
SCANNING RECEIVER AND SCANNING RECEIVING METHOD OF INCOMING CALL HISTORY REFERENCE TYPE 着信履歴参照型スキャニング受信機及びスキャニング受信方法 - 特許庁
LASER SCANNING OPTICAL DEVICE AND LASER SCANNINGMETHOD USING THIS OPTICAL DEVICE レーザ走査光学装置及び該光学装置を用いたレーザ走査方法 - 特許庁
A4-SIZE SCANNER HAVING FUNCTION OF SCANNING A3 DOCUMENT AND SCANNINGMETHOD THEREOF A3用紙スキャン機能を備えたA4スキャナー及びこのスキャン方法 - 特許庁
SCANNING DEVICE AND METHOD FOR OBTAINING GRAY SCALE OF SCANNING OBJECT 走査対象物体のグレースケールを得るための走査装置及び方法 - 特許庁
DEVICE FOR INSPECTING SCANNING OPTICAL SYSTEM, AND METHOD OF INSPECTING SCANNING OPTICAL SYSTEM 走査光学系の検査装置、および走査光学系の検査方法 - 特許庁
LIGHT BEAM SCANNER, LIGHT BEAM SCANNINGMETHOD, AND LIGHT BEAM SCANNING PROGRAM 光ビーム走査装置、光ビーム走査方法、及び光ビーム走査プログラム - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR CONVERTING INTERLACE SCANNING SIGNAL INTO PROGRESSIVE SCANNING SIGNAL 飛越走査信号の順次走査信号への変換方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR DISPLAYING IMAGE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査プローブ顕微鏡の像表示方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁
APPROACH METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE 走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
CATHODE-RAY TUBE, ITS SCANNING CONTROL DEVICE AND ITS SCANNINGMETHOD 陰極線管およびその走査制御装置、ならびにその走査方法 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND IMAGE SCANNINGMETHOD 画像形成装置および画像スキャン方法 - 特許庁
This optical scanningmethod for structural surface utilized an optical scanningmethod, using at least two crossing optical planes. 交差する少なくとも2つの光平面を用いる光走査法を利用する。 - 特許庁
SCANNING TYPE ALIGNER AND ITS METHOD 走査型露光装置及び走査露光方法 - 特許庁
NETWORK SCANNER AND SCANNINGMETHOD ネットワークスキャナ装置およびネットワークスキャン方法 - 特許庁
EXPOSURE CONTROL METHOD AND SCANNING EXPOSURE DEVICE 露光制御方法及び走査露光装置 - 特許庁
SCANNER DEVICE, PRINTER, AND SCANNINGMETHOD スキャナ装置、印刷装置、および、スキャン方法 - 特許庁
IMAGE FORMING DEVICE AND SCANNING LIGHT CONTROL METHOD 画像形成装置、走査光制御方法 - 特許庁
SCANNING OPTICAL DEVICE AND ITS ADJUSTING METHOD 走査光学装置及びその調整方法 - 特許庁
SCAN EXPOSURE METHOD AND SCANNING ALIGNER 走査露光方法及び走査型露光装置 - 特許庁
IMAGE FORMING APPARATUS AND SCANNING CONTROL METHOD 画像形成装置、及び、走査制御方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR SCANNING TYPE PRINTING 走査型印刷装置および印刷方法 - 特許庁
DOUBLE SCANNINGMETHOD AND DOCUMENT SCANNER 二重走査方法および文書走査装置 - 特許庁
SCANNING PROJECTION ALIGNER AND DEVICE-MANUFACTURING METHOD 走査露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE 走査露光装置及びデバイス製造方法。 - 特許庁
SCANNING OPTICAL DEVICE AND ITS CONTROLLING METHOD 走査光学装置及びその制御方法 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD 走査露光装置およびデバイス製造方法 - 特許庁
SCANNING MICROSCOPE AND ADJUSTMENT METHOD FOR THE SAME 走査型顕微鏡とその調節方法 - 特許庁
SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD 走査型プローブ顕微鏡及び検査方法 - 特許庁
HYPER-SPECTRAL SCANNING DEVICE AND METHOD FOR THE SAME ハイパースペクトル走査装置およびその方法 - 特許庁
DIGITAL BROADCAST RECEPTION DEVICE AND SCANNINGMETHOD デジタル放送受信装置及びスキャン方法 - 特許庁
SCANNING ALIGNER AND METHOD FOR CONTROLLING THE SAME 走査型露光装置とその制御方法 - 特許庁
SCANNING EXPOSURE APPARATUS AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE 走査露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁
ELECTRONIC SCANNING FLAW DETECTION DEVICE AND ITS METHOD 電子スキャン探傷装置及びその方法 - 特許庁
APPARATUS FOR AND METHOD OF TRANSFORMING SCANNING FORMAT 走査フォーマットの変換装置及び方法 - 特許庁
HARD X-RAY BEAM SCANNING DEVICE AND METHOD 硬X線ビーム走査装置および方法 - 特許庁
SCANNER APPARATUS, PRINTER, AND SCANNINGMETHOD スキャナ装置、印刷装置、および、スキャン方法 - 特許庁