「Sem」を含む例文一覧(400)

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  • /proc/sys/kernel/sem " (since Linux 2.4)"
    /proc/sys/kernel/sem " (Linux 2.4 以降)" - JM
  • REVIEW SEM
    レビューＳＥＭ - 特許庁
  • sem is not a valid semaphore.
    semは有効なセマフォではない。 - JM
  • decrements (locks) the semaphore pointed to by sem .
    はsemが指すセマフォの値を 1 減らす (ロックする)。 - JM
  • and semmni settings can be changed via /proc/sys/kernel/sem ;
    semmniは/proc/sys/kernel/sem経由で変更可能である。 - JM
  • increments (unlocks) the semaphore pointed to by sem .
    は、semが指すセマフォの値を 1 増やす (ロックを解除する)。 - JM
  • is defined in <sys/sem.
    が <sys/sem.h> で定義されている。 - JM
  • /proc/sysvipc Subdirectory containing the pseudo-files msg ", " sem " and " shm "."
    を含むサブディレクトリ。 - JM
  • destroys the unnamed semaphore at the address pointed to by sem .
    はsemが指すアドレスにある名前なしセマフォを破棄する。 - JM
  • initializes the unnamed semaphore at the address pointed to by sem .
    は、semが指すアドレスにある名前なしセマフォを初期化する。 - JM
  • A new versatile SEM can handle large specimens.
    新型の多機能SEMは、大きな試料を扱うことができる。 - 科学技術論文動詞集
  • FIB-SEM COMPLEX DEVICE
    ＦＩＢ−ＳＥＭ複合装置 - 特許庁
  • SEM TYPE APPEARANCE INSPECTION DEVICE
    ＳＥＭ式外観検査装置 - 特許庁
  • METHOD OF MEASURING SEM SHRINK AMOUNT, AND DISTANCE MEASUREMENT SEM SYSTEM
    ＳＥＭシュリンク量測定方法および測長ＳＥＭ装置 - 特許庁
  • IMAGING RECIPE GENERATION METHOD AND MEASUREMENT RECIPE GENERATION METHOD IN SEM DEVICE OR SEM SYSTEM, AND SEM DEVICE OR SEM SYSTEM
    ＳＥＭ装置又はＳＥＭシステムにおける撮像レシピ生成方法及び計測レシピ生成方法並びにＳＥＭ装置又はＳＥＭシステム - 特許庁
  • places the current value of the semaphore pointed to sem into the integer pointed to by sval .
    は、semが指すセマフォの現在の値をsvalで指す整数に格納する。 - JM
  • To provide a quadrupole/octupole aberration correcting device adapted to TEM, STEM or SEM.
    TEM、STEM又はSEMにおいて適用する四極子・八極子収差補正器。 - 特許庁
  • The SEM image and an initial SEM image are displayed on a monitor 7.
    そして、このＳＥＭ像と初期ＳＥＭ像をモニタ７に表示する。 - 特許庁
  • A semaphore is a data structure of type "struct sem" containing the following members: +4n
    セマフォーは"struct sem"型のデータ構造体であり、以下のメンバーを含んでいる:+4n - JM
  • An SEM image is then generated using the third-order electron, and the SEM image allows for an observation of a condition of the processing by an ion beam.
    そして、この三次電子を用いてSEM像を生成し、そのSEM像によって、イオンビームによる加工の状態を観察することが可能なようになっている。 - 特許庁
  • In a SEM, the image is displayed on a cathode-ray tube (CRT) in synchronism with probe scan.
    SEMでは、像はプローブ走査と同期して陰極線管(CRT)に表示される。 - 科学技術論文動詞集
  • In an SEM, the electron probe is scanned in a raster over a region of the specimen.
    SEMでは、電子プローブは試料のある領域にわたってラスタ走査される。 - 科学技術論文動詞集
  • TREATMENT METHOD OF SEM MICROBIAL SAMPLE
    ＳＥＭ微生物試料の処理方法 - 特許庁
  • METHOD FOR GENERATING PSEUDO SEM IMAGE DATA
    擬似ＳＥＭ画像データの生成方法 - 特許庁
  • To provide a pretreatment method and a device thereof for performing SEM observation of a microbial sample.
    微生物試料のSEM観察のための前処理方法及びその装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a method for obtaining an SEM image and SEM equipment used for this.
    ＳＥＭ画像を得る方法及びこれに用いられるＳＥＭ装置を提供する。 - 特許庁
  • call (32) (on Linux, this limit can be read and modified via the third field of /proc/sys/kernel/sem ).
    (Linux では、この制限値は/proc/sys/kernel/semの第3フィールドに対応し、読み出しも変更もできる)。 - JM
  • The FIB-SEM inspects wafer surfaces in the semiconductor production lines.
    FIB(集束イオンビーム)-SEMは、半導体製造ラインの中でウエハの表面を検査する(点検する)。 - 科学技術論文動詞集
  • The most important signals in SEM are produced by secondary and backscattered electrons.
    SEMにおける最も重要な信号は、二次電子と後方散乱電子によって作られる。 - 科学技術論文動詞集
  • SEM TYPE VISUAL-INSPECTION METHOD AND APPARATUS
    ＳＥＭ式外観検査方法及び検査装置 - 特許庁
  • You're from the sem tribe that lived beyond kes river, aren't you?
    あなたはケス河の向こうに住むセム族ね - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • The wafer-inspection SEM is useful to review minute defects in the semiconductor-manufacturing process.
    ウエハ検査SEMは、半導体製造工程の微小な欠陥を調べ直すのに有用である(役立つ)。 - 科学技術論文動詞集
  • In this SEM instrument, the specimen stage is drawn out from the specimen chamber after the chamber is vented.
    このSEM装置では、試料ステージは試料室が大気にされた後で試料室から引き出される。 - 科学技術論文動詞集
  • SEM-TYPE VISUAL INSPECTION APPARATUS AND INSPECTION METHOD
    ＳＥＭ式外観検査装置および検査方法 - 特許庁
  • REMOVING IMAGE NOISE IN FIB / SEM COMPOSITE DEVICE
    ＦＩＢ／ＳＥＭ複合装置の画像ノイズ除去 - 特許庁
  • To provide an SEM imaging method applicable to uses about samples comprising unknown composition/geometry.
    未知の組成/幾何学形状を有する試料に関する用途に適応できるSEM画像化法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technique to enable an SEM observation on a real time basis without degrading a processing efficiency in an FIB processing.
    FIB加工における加工効率を低下させずにリアルタイムでSEM観察を可能にする技術を提供する。 - 特許庁
  • Oracle Strategic Enterprise Management (SEM) enables the key management processes of strategic planning, integrated budgeting and forecasting, ...
    オラクル社のSEMは, 戦略的計画, 予算と予測の統合化, 等々の主要管理プロセスを可能にします. - コンピューター用語辞典
  • So far, the efforts of aberration correction have been proven successful for the low-voltage SEM, the 200 kV TEM and the 100 kV STEM.
    今まで収差補正の努力は、低(加速)電圧SEM、200kV-TEMおよび100kV-STEMで成功裡に証明されてきた。 - 科学技術論文動詞集
  • SEM METHOD REVIEWING DEVICE, AND METHOD FOR REVIEWING AND INSPECTING DEFECT USING SEM METHOD REVIEWING DEVICE
    ＳＥＭ式レビュー装置並びにＳＥＭ式レビュー装置を用いた欠陥のレビュー方法及び欠陥検査方法 - 特許庁
  • DEFECT OBSERVING METHOD USING SEM, AND APPARATUS THEREFOR
    ＳＥＭを用いた欠陥観察方法及びその装置 - 特許庁
  • The SEM unit 13 is arranged on the shroud 11.
    ＳＥＭユニット１３は、シュラウド１１上に配置される。 - 特許庁
  • WHITE BAND REGION EXTRACTION PROCESSING METHOD OF SEM IMAGE AND FEATURE QUANTITY CALCULATION METHOD OF SEM IMAGE
    ＳＥＭ画像の白帯領域抽出処理方法およびＳＥＭ画像における特徴量算出方法 - 特許庁
  • To prevent resolution degradation of a scanning electron microscope.
    走査電子顕微鏡(SEM)の分解能劣化を防止する。 - 特許庁
  • Furthermore, the SEM image corresponding to a detected position is registered again as a template, and the matching process is carried out.
    さらに検出された位置に対応したSEM画像をテンプレートとして再登録しなおしマッチング処理を行う。 - 特許庁
  • STEREOSCOPIC SHAPE MEASURING METHOD BY SEM AND ITS DEVICE
    ＳＥＭによる立体形状計測方法およびその装置 - 特許庁
  • This reference image preparing method uses a pattern recognizing device 1 and acquires an SEM image representing a pattern on a wafer 41 by a SEM 10.
    パターン認識装置１を用い、ＳＥＭ１０によりウェーハ４１上のパターンを表すＳＥＭ画像を取得する。 - 特許庁
  • To provide an in-column back-scattered electron detector placed in a combined electrostatic/magnetic objective lens for a SEM.
    本発明は、SEM用の複合静電/磁気対物レンズ内に設けられた鏡筒内後方散乱電子検出器に関する。 - 特許庁
  • SAMPLE FOR OBSERVATION IN TEM AND SEM AND ITS MANUFACTURE
    ＴＥＭおよびＳＥＭ用観察試料とその作製方法 - 特許庁
  • METHOD OF PRODUCING SEM SAMPLE FROM BIOLOGICAL TISSUE THIN STRIPE, SEM SAMPLE, AND METHOD OF EVALUATING STATE OF SKIN
    生物組織薄切切片からＳＥＭ標本を作製する方法及びＳＥＭ標本、並びに皮膚の状態を評価する方法 - 特許庁
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