「Spectrometer」を含む例文一覧(1221)
＜前へ 1 2 .... 14 15 16 17 18 19 20 21 22 .... 24 25 次へ＞- This spectrometer includes an incident fiber 10, two parabolic mirrors 20, 28, a plane diffraction grating 22, two plane mirrors 24, 26, an outgoing slit 30 and a photo detector 32.
この分光器は、入射ファイバ１０、２つの放物面鏡２０、２８、平面回折格子２２、２つの平面鏡２４、２６、出射スリット３０、光検出器３２を含んで構成されている。 - 特許庁 - To provide a mass spectrometry apparatus capable of restraining contamination of a mass spectrometer from being generated, and capable of preventing detection sensitivity from getting worse, when measuring an unknown concentration of liquid sample.
濃度不明の液体試料を測定する場合に、質量分析計の汚染の発生を抑制し、検出感度の低下を防止することができる質量分析装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a mass spectrometer that allows replacement of a filament to be simply be completed in a short time and also allows the center of the filament to be always arranged at the center of a converging magnet.
簡単に、短時間でフイラメントの交換作業が完了し、かつフイラメント中心を収束磁石の中心に常に配置することができる質量分析計を提供する。 - 特許庁 - Further, the drug sensitivity test is conducted for the substance relating to the metabolism of synthesis substance by comparing a result of the mass spectrometer of the case where the chemical is added with the result of the case where the chemical is not added.
さらに、合成基質の代謝に関連する物質について、薬剤添加と無添加の場合との質量分析結果を比較して、薬剤感受性試験を行う。 - 特許庁 - To provide a sector secondary ion mass spectrometer capable of providing depth resolution as much as that of a Q-pole one while making the best use of the advantage of the sector having a low detection limit.
セクタ型の検出限界の低い利点を生かしつつ、Ｑ−ｐｏｌｅ型並みの深さ分解能を得ることが可能なセクタ型の２次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁 - The loss factor of the grip 1 at -30°C measured by the visco-elastic spectrometer under the condition that the frequency is 10 Hz and the dynamic strain is 2% is 0.6 to 2.0.
周波数が１０Ｈｚであり動歪が２％である条件で粘弾性スペクトロメーターによって測定された−３０℃におけるグリップ１の損失係数は、０．６以上２．０以下である。 - 特許庁 - To provide a mass spectrometer capable of preventing deviation of mass number due to the effect of nonlinear characteristic of a rectification element for detecting a high frequency voltage applied on an electrode.
質量分析装置において、電極に印加される高周波電圧を検波するための整流素子の非直線的な特性の影響による質量数のずれを防止する。 - 特許庁 - In an ion mobility spectrometer, a linearity of a flying route of an ion is improved at a non-linear drift region by a reinforced electric field caused by extensions of guard rings to the non-linear drift region.
非直線ドリフト領域への保護リングの延長による強化電界によって、非直線ドリフト領域でのイオンの飛行経路の直進性を改良したイオン移動度分光計。 - 特許庁 - To provide an optical spectrometer with a superior measuring accuracy in particular for light in an ultraviolet region, and in particular for light in a far ultraviolet region and a vacuum ultraviolet region, and to provide a spectroscope being employed in the spectral metering device.
特に紫外領域の光、特に遠紫外、真空紫外領域に於て、測定精度の優れた分光測定装置及び既装置に用いられる分光器を提供する。 - 特許庁 - To detect a wave accurately even if a high frequency voltage is small, provide phase detection characteristic having the linear property over a wide range, and dispense with minute adjustment of a phase detection circuit every time a quadrupole mass spectrometer is used.
高周波電圧が小さい場合も正確に検波でき、検波特性が広い範囲で直線性を有し、使用する度に検波回路の微調整が必要のないようにする。 - 特許庁 - To provide a plasma ion source mass spectrometer with an ion deflector lens having an improved removal ratio of photons and neutral particles as compared with the prior art while an ion transmittance is maintained.
イオン透過率を維持しつつ、光子および中性粒子の除去率が従来に比べて向上したイオン偏向レンズを備えるプラズマイオン源質量分析装置の提供 - 特許庁 - Thereafter, only the object molecule is ionized by irradiating a femtosecond laser having ionizable intensity of only the excited object molecule, and analyzed by a time-of-flight mass spectrometer.
その後、励起された目的分子のみがイオン化可能な強度のフェムト秒レーザーを照射することにより目的分子のみをイオン化し、飛行時間型質量分析装置で分析を行う。 - 特許庁 - To make an impurity filtrated from an inspection liquid used, as it is, for measurement by a microscopic infrared spectrophotometer and a pyrolysis gas chromatograph mass spectrometer.
検査液から濾過した不純物をそのまま、顕微赤外分光光度計及び熱分解ガスクロマトグラフ質量分析計の測定に用いることのできる不純物分析用濾過膜を提供する。 - 特許庁 - The sensitivity of a secondary ion mass spectrometer (SIMS) is increased by using steam in order to raise yield of a positive secondary ion to be sputtered by a primary convergence ion beam.
二次イオン質量分析計（ＳＩＭＳ）の感度は、一次集束イオンビームによってスパッタリングされる正の二次イオンの収量を高めるために水蒸気を使用することで増加される。 - 特許庁 - To provide a mass spectrometer, capable of obtaining a plural kinds of spectra at one measurement and improving identification accuracy or the structural analysis of an object sample.
簡便な構造でありながら、一測定で複数種のスペクトルを取得し、対象試料の同定・構造解析の精度を向上可能な質量分析装置を実現することである。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope prevented from unnecessarily restricting the flexibility in a set magnification of an image focused by an electron beam spectrally diffracted by an electron spectrometer.
電子分光器により分光された電子ビームにより結像される像の設定倍率の自由度に不必要な制限が加わらない透過型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a TEG for stress evaluation which is capable of accurately measuring and evaluating residual stresses in substrates due to anodic bonding of them by using a microscopic Raman spectrometer.
陽極接合によって生じた基材の残留応力を、顕微ラマン分光装置を用いて正確に測定及び評価することができる応力評価用ＴＥＧを提供する。 - 特許庁 - To provide a multi-spectral two-dimensional imaging spectrometer capable of acquiring separated two-dimensional images of a spectrum at the same time in real time while keeping the spatial perfectness of images.
本発明は、画像の空間的な完全さを維持しながら実時間で同時にスペクトルの分離した二次元画像を取得する多重スペクトル二次元結像分光計を提供する。 - 特許庁 - This laser ablation mass spectrometer 1 of the present invention includes a sample stage 10, a laser irradiation part 20, a pneumatic conveying system 30, an ion source 40 and an analytical part 50.
本発明にかかるレーザーアブレーション質量分析装置１は、試料ステージ１０と、レーザー照射部２０と、気流搬送系３０と、イオン源４０と、分析部５０とを備えている。 - 特許庁 - To provide a parallel magnetic field type Rutherford back-scattering analyzer capable of distinguish the number of cyclotron circulations of scattered ions without providing unnecessary devices in the inside of a superconductive spectrometer.
超伝導スペクトロメータ内部に余計な装置を設けることなしに，散乱イオンのサイクロトロン周回数を判別することが可能な平行磁場型ラザフォード散乱装置を提供すること。 - 特許庁 - An analysis result by the reflectron type mass spectrometer 13 is reported to an analysis part 21, and is referred to for identifying ions detected by the position sensing type ion detector 11.
リフレクトロン型質量分析器１３による分析結果は、解析部２１に通知され、位置感知型イオン検出器１１により検出されたイオンの同定のために参照される。 - 特許庁 - To provide a liquid chromatograph mass spectrometer capable of raising ionization efficiency of an ionization interface without lowering the flow rate of a liquid sample to be transmitted from a liquid chromatograph.
液体クロマトグラフから送出される液体試料の流量を低くすることなく、イオン化インターフェイスのイオン化効率を高めることができる液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する。 - 特許庁 - The content and the structure of a molecule can be directly determined by allowing another analytical test device such as a mass spectrometer to pass through the eluate after elution.
溶出に続いて、溶出物に質量分光計のような他の分析試験装置を通過させることによって、分子の含量及び構造を直接決定することが可能である。 - 特許庁 - In an ion source 5 for a mass spectrometer which is equipped with a filament 52 and a grid 51 and ionizes gas, the grid has a cylindrical profile and the filament is inserted in this grid.
フィラメント５２及びグリッド５１を備えてガスをイオン化する質量分析計用のイオン源５においては、グリッドが筒状の輪郭を有し、このグリッド内にフィラメントが挿設されている。 - 特許庁 - The gas in the vacuum vessel taken into the mass spectrometer, electrons are added therein to particles in the gas and counting values for negative ions of particles, e.g. specific radicals which are ionized are measured.
この質量分析装置において、真空容器内のガスを取り込み、そのガス中の粒子に電子を付加し、粒子例えば特定のラジカルがイオン化された負イオンの計数値を測定する。 - 特許庁 - By this, because mass analysis time of the ions accumulated in the linear ion trap is shortened, ion utilization rate is improved, and as a result, the detection sensitivity of the mass spectrometer is improved.
これにより、リニアイオントラップに蓄積されたイオンの質量分析時間が短縮されるため、イオン利用率が向上し、その結果、質量分析装置の検出感度が向上する。 - 特許庁 - If the magnetic material used in the EELS spectrometer suffers from hysteresis, greater nonlinearity can be expected (particularly at the beginning of each scan of the energy-loss spectrum).
もし、EELS分光器に使われる磁性材料がヒステリシス(履歴現象)を被る(蒙る)と、より大きな非線形性が期待される(特に、エネルギー損失スペクトルの個々のスキャンの始まりにおいて)。 - 科学技術論文動詞集 - To reduce lowering of detecting accuracy caused by sputter particles adhering again to a specimen and remaining gas in a specimen compartment adhering to the sputter particles, in a secondary ion mass spectrometer to detect only a desired element in the specimen by irradiating the specimen with a primary ion beam and analyzing a secondary ion generated by the irradiation by a mass spectrometer.
試料３５に１次イオンビーム３２を照射し、それによって発生した２次イオン３６を質量分析計４０で分析して、試料３５中の所望とする元素のみを検出するようにした２次イオン質量分析装置において、スパッタ粒子の試料３５への再付着や、試料室内の残留ガスのスパッタ粒子への付着などによる検出精度の低下を低減する。 - 特許庁 - The collected sample is dissolved into an acid solvent to generate sample solution 4, and the sample solution 4 is introduced into an inductively coupled plasma emission spectrometer 10 or an inductively coupled plasma mass spectrometer, to thereby perform concentration analysis of the sample in the sample solution 4, namely, a prescribed element such as lead or cadmium included in the electroless nickel plating 2.
そして、その採取した試料を酸の溶剤に溶解させて試料溶液４を生成し、その試料溶液４を誘導結合プラズマ発光分析装置１０若しくは誘導結合プラズマ質量分析装置に導入することによって試料溶液４中の試料、すなわち無電解ニッケルめっき２に含まれる鉛及びカドミウム等の所定元素の濃度分析を行う。 - 特許庁 - The WDM signal monitor is provided with both a spectrometer in which a plurality of photodiodes are arranged in a prescribed direction to disperse the wavelengths of optical signals in a prescribed direction and receive each dispersed optical signal with every couple of elements of the photodiodes and a power operation means for determining the total power of the optical signals on the basis of output of the photodiodes of the spectrometer which receives the optical signals.
本装置は、フォトダイオードが所定の方向に複数個配置され、光信号を所定の方向に波長分散し、分散した各光信号をフォトダイオード１素子おきに受光する分光器と、光信号を受光する分光器のフォトダイオードの出力によって光信号のトータルパワーを求めるパワー演算手段とを設けたことを特徴とするものである。 - 特許庁 - There are provided an ionizing part 1 for ionizing a sample, an ion transport system 3 which uses a high-frequency field of the multipole of at least quadrupole field, an ion incident part 4 which makes ions passing through the transport system incident on the mass spectrometer part, a mass spectrometer part 5 which separates and analyzes ions by mass-to-charge ratio of ions, and a detecting part 6 to detect ions analyzed for mass.
試料をイオン化するイオン化部１と、４重極場以上２の多重極の高周波場を用いるイオン輸送系３と、前記輸送系を通過したイオンを質量分析部に入射させるイオン入射部４と、イオンの質量対電荷比によってイオンを分離分析する質量分析部５と、質量分析されたイオンを検出する検出部６とを備える。 - 特許庁 - The WDM signal monitor is provided with both a spectrometer in which a plurality of photodiodes are arranged in a prescribed direction to disperse the wavelengths of optical signals in a prescribed direction and receive each optical signal with two elements of the photodiodes and an operation part for computing at least either the wavelengths or optical power of the optical signals on the basis of measurement data of the two elements as a group outputted from the spectrometer.
本装置は、フォトダイオードが所定の方向に複数個配置され、光信号を所定の方向に波長分散して、各光信号あたり２素子のフォトダイオードで受光する分光器と、分光器からの出力される２素子を組とした測定データから、光信号の波長または光パワーの少なくとも一方を演算する演算部とを設けたことを特徴とするものである。 - 特許庁 - The ion implanting device 101 comprises an ion source 11 which generates and extracts ion beam IB, a mass spectrometer 12 having a magnet, an ion beam convergence part such as an electrostatic lens and Q lens (four-pole lens), and an ion beam emittance measuring mechanism 15 between the ion source 11 and the mass spectrometer 121, preferably at the rear stage of the electrostatic lens 141.
イオン注入装置１０１は、イオンビームＩＢを発生、引き出すイオン源１１、マグネット（電磁石）を有する質量分析器１２、イオンビームを加速する加速器１３、静電レンズ、Ｑレンズ（４極レンズ）等のビーム収束部１４、そして、イオン源１１と質量分析器１２１の間、好ましくは静電レンズ１４１の後段にイオンビームエミッタンス測定機構１５が設けられる。 - 特許庁 - The ionizing chamber 31 connected to a mass spectrometer 32 is maintained in a vacuum state of approximately 10-6-10-3 Torr by a vacuum pump 33, and the dioxins in the ionizing chamber 31 are selectively ionized by pulse laser light 35 (wavelengths of 200-400 nm) emitted from a laser 34 for ionization, and the ionized dioxins are determined by the mass spectrometer 32.
質量分析計３２に通じるイオン化室３１は、真空ポンプ３３により約１０^-6torr〜約１０^-3torrの真空状態に保たれており、イオン化用レーザ３４から放出されたパルスレーザ光３５（波長２００〜４００ｎｍ）によって、イオン化室３１の中のダイオキシン類は選択的にイオン化され、イオン化したダイオキシン類は質量分析計３２によって定量される。 - 特許庁 - To provide a method which enables the stable introduction of a sample separated by a gas chromatograph, which is maintained at a high temperature, as an intermittently short pulse, to a mass spectrometer under a condition of a negligible dead volume.
ガスクロマトグラフで分離した試料を、高温状態に保持したまま、デッドボリュームが無視できる条件下で、間歇的に短いパルスとして安定に質量分析計に導入することができる。 - 特許庁 - To provide an analyzing system capable of measuring mass spectrum of a trace of component in a mass spectrometer, by forming a passage so as not to loose the trace of component in a specimen.
試料中の微量成分をできるだけ損失しないように流路を構成することで、質量分析装置において微量成分のマススペクトル測定が行えるような分析システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an X-ray fluorescence spectrometer capable of carrying out a sufficiently accurate analysis of coating weights and compositions of a plated coating on an alloyed hot-dip galvanized steel plate having the compositions nonuniform in the depth direction.
合金化溶融亜鉛めっき鋼板における組成が深さ方向に不均一なめっき被膜の付着量および組成を十分正確に分析できる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁 - A position sensitive type detector 35 is mounted on a spectrum detector 34, misregistration of the spectrum is measured as needed, and the drift is fed back to an internal drift tubing 40 or an electron beam deflector 32 in the interior of a spectrometer 31.
スペクトル検出器３４に位置敏感型検出器３５を取り付け、スペクトルの位置ずれを随時計測し、スペクトロメータ３１の内部のドリフトチューブ４０又は電子線偏向器３２にフィードバックする。 - 特許庁 - The complex elastic modulus of the grip 1 at 0°C measured by a visco-elastic spectrometer under the condition that a frequency is 10 Hz and dynamic strain is 0.5% is 2.0 MPa to 6.5 MPa.
周波数が１０Ｈｚであり動歪が０．５％である条件で粘弾性スペクトロメーターによって測定された０℃におけるグリップ１の複素弾性率は、２．０ＭＰａ以上６．５ＭＰａ以下である。 - 特許庁 - This method is a method in which a film is extracted with an extrapure water, and then the extracted liquid is measured using an ion chromatography, an in-liquid particle counter, a combined induction plasma-mass spectrometer, and an atomic absorption photometer.
フィルムを超純水で抽出し、その抽出液をイオンクロマトグラフ、液中パーティクルカウンター、結合誘導プラズマ−質量分析計、原子吸光分光光度計により測定する方法である。 - 特許庁 - To provide a tandem TOFMS (time of flight mass spectrometer) capable of imparting a desired mass resolution to a first MS (mass analyzer) when using the TOFMS of which the flight distance is shorter than the flight distance to give desired mass resolution for the first MS.
第１MSに所望する質量分解能を与える飛行距離よりも短い飛行距離のTOFMSを用いて、所望する質量分解能を与えることが可能なタンデムTOFMSを提供する。 - 特許庁 - To reconfigure a mass spectrum of which not only the mass resolution is high but also the peak strength precision is high, on the basis of a time-of-flight mass spectrum obtained by a multiplex circular time-of-flight type mass spectrometer.
多重周回飛行時間型質量分析装置で得られた飛行時間スペクトルに基づいて、質量分解能が高いのみならずピーク強度の精度も高いマススペクトルを再構成する。 - 特許庁 - In this liquid chromatograph mass spectrometry apparatus, the mass spectrometer starts measurement by a sample injection signal from an autosampler, and judges whether a peak exceeding a reference peak M is measured during the measurement or not.
液体クロマトグラフ質量分析装置において、質量分析計はオートサンプラのサンプル注入信号により、測定を開始し、測定中に基準ピークＭを超えるピークが測定されたか否かを判断する。 - 特許庁 - To provide a sample introducing device for introducing a sample capable of carrying out elementary analysis with high sensitivity, by an element analyzer such as an ICP mass spectrometer and an ICP emission spectrophotometer.
ＩＣＰ質量分析装置又はＩＣＰ発光分光分析装置等の元素分析装置にて高感度に元素分析を行うことができる試料の導入を行う試料導入装置を提供する。 - 特許庁 - A weight change Xo of a sample in heating is measured by means of a thermal balance (process A), while gas constituents generated in heating the sample are qualitatively analyzed by means of a mass spectrometer (process B).
熱天秤により加熱した際の試料の重量変化Ｘ_０を測定するとともに（工程イ）、試料を加熱した際に発生するガス成分を質量分析装置により定性分析する（工程ロ）。 - 特許庁 - The spectrometer 1 can realize the first mode for injecting the observation light onto the optical path, and the second mode for performing measurement by the measuring part 10 without injecting the observation light onto the optical path.
分光器１は、観察光を光学経路に注入する第１モードと、観察光を光学経路に注入せずに測定部１０による測定を行なう第２モードとを実現可能である。 - 特許庁 - To provide an ion source for a mass spectrometer, wherein an inner chamber is easily attached to and detached from a base chamber, the stability of an ionizing current, an emission current, and ionization efficiency is excellent, and reproducibility is excellent.
ベースチャンバーとインナーチャンバーとの着脱が容易で、しかも、イオン化電流、エミッション電流、イオン化効率等の安定性、再現性に優れた質量分析装置用イオン源を提供する。 - 特許庁 - To provide a mass spectrometry using a multiple circuiting flight time mass spectrometer in which a proper calibration can be performed and measuring errors can be reduced.
本発明は，適切にキャリブレーションを行うことができ，測定誤差を少なくできる多重周回飛行時間型質量分析計を用いた質量分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an interface for an inductively coupled plasma mass spectrometer capable of performing stable measurement longer than conventional especially for a sample including a matrix of a high fusing point.
特に高融点のマトリックスを含むサンプルに対して、従来よりも長時間にわたり安定した測定を実現可能とする、誘導結合プラズマ質量分析装置のための改良されたインターフェースの提供。 - 特許庁 - A window 15 is formed in a production gas feed pipe 12 to feed a combustible production gas, produced in a gasifying furnace, to a burner 11, and a photodetector 16 connected to a Raman spectrometer 17 is positioned facing the window.
ガス化炉で生成された可燃性生成ガスをバーナ１１に供給する生成ガス供給管１２に、窓１５を設け、ラマン分光計１７に接続された光検出器１６を対向させる。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
- Copyright(C)1996-2026 JEOL Ltd., All Rights Reserved.
