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「Spectrometer」を含む例文一覧(1221)
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ION SOURCE FOR MASS
SPECTROMETER
質量分析計用イオン源
- 特許庁
LASER IONIZATION MASS
SPECTROMETER
レーザイオン化質量分析装置
- 特許庁
an {optical instrument} called
spectrometer
分光計という光学計器
- EDR日英対訳辞書
MONITORABLE
SPECTROMETER
モニター可能な分光計測装置
- 特許庁
SPECTROSCOPY AND
SPECTROMETER
分光方法及び分光装置
- 特許庁
Q POLE TYPE MASS
SPECTROMETER
Qポール型質量分析計
- 特許庁
MULTIPOLE MASS
SPECTROMETER
多重極型質量分析計
- 特許庁
QUADRUPLE MASS
SPECTROMETER
四重極質量分析装置
- 特許庁
DETECTOR FOR ELECTRON
SPECTROMETER
電子分光装置用検出器
- 特許庁
LASER IONIZATION MASS
SPECTROMETER
レ—ザ—イオン化質量分析装置
- 特許庁
ION TRAP TYPE MASS
SPECTROMETER
イオントラップ型質量分析計
- 特許庁
METHOD FOR WAVELENGTH CALIBRATION OF
SPECTROMETER
分光計の波長較正法
- 特許庁
GAS CHROMATOGRAPH-MASS
SPECTROMETER
ガスクロマトグラフ−質量分析計
- 特許庁
LASER IONIZATION MASS
SPECTROMETER
レーザーイオン化質量分析装置
- 特許庁
SPECTROMETER
AND IMAGING DEVICE
分光装置および撮像装置
- 特許庁
PROBE FOR NEAR-INFRARED
SPECTROMETER
近赤外分光装置用プローブ
- 特許庁
TOF TYPE MASS
SPECTROMETER
TOF型質量分析装置
- 特許庁
ION SOURCE FOR MASS
SPECTROMETER
質量分析装置用イオン源
- 特許庁
QUADRUPOLE MASS
SPECTROMETER
四重極型質量分析計
- 特許庁
QUADRUPOLE TYPE MASS
SPECTROMETER
四極子形質量分析計
- 特許庁
LIQUID CHROMATOGRAPHIC MASS
SPECTROMETER
液体クロマトグラフ質量分析計
- 特許庁
LIQUID CHROMATOGRAPHY/MASS
SPECTROMETER
液体クロマトグラフ/質量分析計
- 特許庁
DIRECT PROBE FOR MASS
SPECTROMETER
質量分析計のダイレクト・プローブ
- 特許庁
SPECTROSCOPE AND OPTICAL
SPECTROMETER
分光器及び分光測定装置
- 特許庁
PLASMA ION SOURCE MASS
SPECTROMETER
プラズマイオン源質量分析装置
- 特許庁
LINEAR ION TRAP MASS
SPECTROMETER
リニアイオントラップ質量分析装置
- 特許庁
LASER IRRADIATION MASS
SPECTROMETER
レーザー照射質量分析装置
- 特許庁
MS/MS MASS
SPECTROMETER
MS/MS型質量分析装置
- 特許庁
MASS FILTER FOR MASS
SPECTROMETER
質量分析器の質量フィルター
- 特許庁
MASS
SPECTROMETER
FOR GAS ANALYSIS
ガス分析用の質量分析計
- 特許庁
TIME OF FLIGHT TYPE MASS
SPECTROMETER
飛行時間型質量分析計
- 特許庁
ION RESONANCE TYPE MASS
SPECTROMETER
イオン共振型質量分析計
- 特許庁
MS/MS TYPE MASS
SPECTROMETER
MS/MS型質量分析装置
- 特許庁
MULTIPOLAR DEVICE FOR MASS
SPECTROMETER
質量分析計多重極装置
- 特許庁
LIQUID CHROMATOGRAPHIC MASS
SPECTROMETER
液体クロマトグラフ質量分析装置
- 特許庁
FLIGHT TIME TYPE MASS
SPECTROMETER
飛行時間型質量分析装置
- 特許庁
DATA COLLECTION METHOD FOR TIME-OF-FLIGHT MASS
SPECTROMETER
AND THE MASS
SPECTROMETER
飛行時間型質量分析装置用データ収集方法及び装置
- 特許庁
SINGLE-BEAM TYPE
SPECTROMETER
AND OPERATION METHOD FOR SINGLE BEAM TYPE
SPECTROMETER
シングルビ—ム型の分光計及びシングルビ—ム型の分光計の操作方法
- 特許庁
ION SOURCE FOR MASS
SPECTROMETER
AND MASS
SPECTROMETER
HAVING THE SAME
質量分析計用のイオン源及びこれを備えた質量分析計
- 特許庁
ION IDENTIFICATION METHOD IN MASS
SPECTROMETER
, AND THE MASS
SPECTROMETER
質量分析計におけるイオン同定方法および質量分析計
- 特許庁
ELECTROSPRAY IONIZATION MASS
SPECTROMETER
エレクトロスプレイイオン化質量分析装置
- 特許庁
ELECTRON MONOCHROMATOR MASS
SPECTROMETER
エレクトロン・モノクロメータ質量分析装置
- 特許庁
IONIZING DEVICE FOR MASS
SPECTROMETER
質量分析装置用イオン化装置
- 特許庁
TIME OF FLIGHT TYPE MASS
SPECTROMETER
飛行時間型質量分析装置
- 特許庁
WAVELENGTH DISPERSION TYPE X-RAY
SPECTROMETER
波長分散型X線分光器
- 特許庁
FOURIER TRANSFORM TYPE INFRARED
SPECTROMETER
フーリエ変換型赤外線分光計
- 特許庁
EXPOSURE TESTING MACHINE SYSTEM EQUIPPED WITH
SPECTROMETER
, AND PORTABLE
SPECTROMETER
分光装置を備える暴露試験装置システムおよび携帯型分光装置
- 特許庁
MASS
SPECTROMETER
AND ITS ION SOURCE
質量分析計及びそのイオン源
- 特許庁
IONIZED MASS
SPECTROMETER
, ANALYSIS METHOD, AND MEASURING SYSTEM USING IONIZED MASS
SPECTROMETER
イオン化質量分析計,分析方法およびそれを用いた計測システム
- 特許庁
NMR
SPECTROMETER
WITH REFRIGERATOR COOLING
冷凍機冷却式NMR分光器
- 特許庁
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