「Spectrometer」を含む例文一覧(1221)
＜前へ 1 2 .... 5 6 7 8 9 10 11 12 13 .... 24 25 次へ＞- DEVICE AND METHOD FOR COMPENSATING TEMPERATURE DEPENDENCE OF DETECTOR USED FOR SPECTROMETER
分光計に使用される検出器の温度依存性補償のための装置および方法 - 特許庁 - SO3 GENERATOR AND QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF SO3 USING FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROMETER
ＳＯ３発生器およびフーリエ変換赤外分光計を用いたＳＯ３定量分析方法 - 特許庁 - SECONDARY ION MASS SPECTROMETER, ITS SAMPLE HOLDER AND SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY
２次イオン質量分析装置、該装置の試料ホルダ及び２次イオン質量分析方法 - 特許庁 - POWER CIRCUIT OF COIL AND PROBE EQUIPPED WITH SUCH CIRCUIT, AND NMR SPECTROMETER
コイルの電力回路、およびそのような回路を備えたプローブおよびＮＭＲスペクトロメータ - 特許庁 - To provide a mass spectrometer of which cost of an ion optical system transferring ion to a back stage while converging the ion is reduced.
イオンを収束させつつ後段に輸送するイオン光学系のコストを引き下げる。 - 特許庁 - ION DETECTOR, MASS SPECTROMETER HAVING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATING ION DETECTOR
イオン検出器、イオン検出器を備える質量分析計、イオン検出器を操作する方法 - 特許庁 - OPTICAL PATH LENGTH VARYING APPARATUS, OPTICAL INTERFEROMETER EMPLOYING THE SAME AND FOURIER TRANSFORM SPECTROMETER
光路長可変装置およびそれを用いた光干渉計ならびにフーリエ変換分光器 - 特許庁 - QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER WITH TOTAL PRESSURE MEASURING ELECTRODE, AND VACUUM DEVICE USING IT
全圧測定電極付き四重極質量分析計及びこれを用いる真空装置 - 特許庁 - SAMPLING DEVICE EQUIPPED WITH A PLURALITY OF INLETS FOR ION SOURCES OF MASS SPECTROMETER
質量分析計のイオン源用の複数の入口を備えている試料抽出装置 - 特許庁 - A mass spectrometer 140 detects an argon quantity and an oxygen quantity in the chamber 100.
質量分析器１４０は、チャンバ１００内のアルゴンおよび酸素の量を検出する。 - 特許庁 - ION SOURCE, MASS SPECTROMETER, CONTROL DEVICE, CONTROL METHOD, CONTROL PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
イオン源、質量分析装置、制御装置、制御方法、制御プログラムおよび記録媒体 - 特許庁 - To realize a time-of-flight mass spectrometer having high ion throughput at low cost.
低コストかつイオンのスループットが高い飛行時間型質量分析装置を実現する。 - 特許庁 - The quadrupole mass spectrometer 60 measures the desorption gas from the sample with high sensitivity.
四重極質量分析計６０では、試料からの脱離ガスを高感度に測定する。 - 特許庁 - ION DETECTOR AND QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER EQUIPPED WITH THE SAME, AND FARADAY CUP
イオン検出器及びこれを備えた四重極型質量分析計並びにファラデーカップ - 特許庁 - To provide a fluorescence spectrophotometer for easily inspecting the accuracy of the wavelength of a spectrometer.
分光器波長正確さを容易に検査する蛍光分光光度計を提供する。 - 特許庁 - Hence, a comparatively highly-accurate spectrum of the conversion light P2 can be acquired by the spectrometer 4.
そのため、分析器４によって、比較的高精度な変換光Ｐ２のスペクトルが得られる。 - 特許庁 - A new compact soft-X-ray spectrometer breaks through the energy resolution limitation of EDS.
新型のコンパクトな軟X線分光計は、従来のEDSのエネルギー分解能の限界を打破する。 - 科学技術論文動詞集 - In a dedicated STEM instrument, the FEG, lens and spectrometer occupy a little space.
STEM専用装置では、FEG、レンズおよび分光計は少ししか場所をとらない(占有しない)。 - 科学技術論文動詞集 - To provide an absorption spectrum measuring method for a target analytical material, using a cavity ringdown spectrometer.
キャビティリングダウン分光計を用いた標的分析物の吸収スペクトル測定法。 - 特許庁 - The electron energy spectrometer has such a correcting means, and the electron microscope is provided with such a spectrometer.
また、下流側の１２重極子レンズでは電子線が電子線エネルギー分光器に入射する角度と入射電子線のエネルギー広がりに関係する値の積に比例する収差を補正する。 - 特許庁 - To obtain a simplified spectrometer having a temperature compensation mechanism capable of high-reliability reduction of drift in the direction of spectral image wavelength dispersion caused by changes in ambient temperature irrespective of the configuration of the spectrometer.
環境温度の変化によるスペクトル像の波長分散方向のドリフトを分光器の形態に関わらず確実に軽減できる温度補償機構を備えた簡素な分光器を得る。 - 特許庁 - To provide an X-ray spectrometer capable of acquiring spectral diffraction of an X-ray in a wide wavelength range with excellent reproducibility, relative to the X-ray spectrometer.
本発明はＸ線分光装置に関し、広い波長範囲でＸ線の分光を再現性よく得ることができるＸ線分光装置を提供することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a spectrometer capable of accurately carrying out wavelength calibration in a short time such that a wavelength of light emitting out from an emission slit of the spectrometer becomes a preset wavelength.
分光器の出射スリットから出射する光の波長が予め設定した波長となるように波長校正を短時間でかつ高精度に行うことができる分光器を得ること。 - 特許庁 - If a slit is fitted to the EELS spectrometer before the three quadrupole lenses, these lenses can be used to form an energy-filtered two-dimensional image of the microdiffraction pattern through the spectrometer.
もし、スリットが3個の四極子レンズの前にあるEELS分光器にはめ込まれると、これらのレンズは、その分光器を通る微小回折図形のエネルギーフィルタされた三次元像を作るために使える。 - 科学技術論文動詞集 - To provide a method with high sensitivity for analyzing an organic acid, using a liquid chromatograph/mass spectrometer.
液体クロマトグラフ質量分析計による感度の高い有機酸分析法を提供する。 - 特許庁 - SAMPLE PRETREATMENT DEVICE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND FLUORESCENCE X-RAY SPECTROMETER PROVIDED THEREWITH
蛍光Ｘ線分析用試料前処理装置およびそれを備えた蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁 - SIGHTING DEVICE, AND EMISSION SPECTROMETER WITH INDUCTIVELY COUPLED PLASMA SOURCE COMPRISING SUCH A DEVICE
照準装置及びそのような装置を含み誘導結合プラズマ源を有する発光分光計 - 特許庁 - To provide a device and method for compensating for the temperature dependence of a detector used for a spectrometer.
分光計に使用される検出器の温度依存性補償のための装置および方法 - 特許庁 - DIFFRACTION GRATING, SPECTROSCOPIC UNIT USING THE SAME, SPECTROMETER, AND METHOD FOR PREPARING DIFFRACTION GRATING
回折格子およびそれを用いる分光ユニット、分光計ならびに回折格子の作成方法 - 特許庁 - MASS SPECTROMETER EQUIPPED WITH MALDI ION SOURCE, AND SAMPLE PLATE FOR MALDI ION SOURCE
ＭＡＬＤＩイオン源を備えた質量分析装置およびＭＡＬＤＩイオン源用サンプルプレート - 特許庁 - A spectrometer 15 disperses the first partial light beam from the reflection/transmission device 14 for each wavelength.
分光器１５は、反射／透過器１４からの第１の部分光を波長毎に分解する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR TRANSPORTING AND ACCURATELY POSITIONING SAMPLE TUBE IN HIGH RESOLUTION NMR SPECTROMETER
高解像度ＮＭＲスペクトロメータにおけるサンプル管の搬送及び正確な位置決めのための装置 - 特許庁 - To realize a Fourier spectrometer having high S/N ratio by optimizing the synthesizing method of interferogram.
インターフェログラムの合成方法を最適化することにより高Ｓ／Ｎのフーリエ分光器を実現する。 - 特許庁 - SPECTRAL ANALYZER AND METHOD BY MEANS OF REFLECTIVITY AND PERMEABILITY, AND PROBE FOR SPECTROMETER
反射率および透過率による分光分析装置および方法並びに分光計用のプロ—ブ - 特許庁 - To provide a mass spectrometer having the improved sensitivity of an analysis by restraining the spread of ions passed through an orifice of a skimmer.
スキマーのオリフィスを通過したイオンの広がりを抑制し分析感度を向上させる。 - 特許庁 - CIRCUIT FOR EXCITING AND FETCHING SIGNAL TRANSMITTED INTO NMR SPECTROMETER BY MEANS OF SENSOR
センサによりＮＭＲ分光測定装置内に送信される信号の励起および取り込み回路 - 特許庁 - SAMPLING TOOL FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND FLUORESCENT X-RAY SPECTROMETER USING THE SAME
蛍光Ｘ線分析用試料採取治具およびそれを用いる蛍光Ｘ線分析装置 - 特許庁 - TIME-OF-FLIGHT TYPE MASS SPECTROMETER AND SOLID SAMPLE IMPURITY ANALYSIS DEVICE EQUIPPED WITH IT
飛行時間型質量分析装置および該装置を備えた固形試料不純物分析装置 - 特許庁 - Hereby, an ion yield of a time-of-flight mass spectrometer is improved and a resolution is raised.
これにより、飛行時間型質量分析計のイオン収率が向上し、分解能が高くなる。 - 特許庁 - To provide a sample plate for an MALDI mass spectrometer enabling identification of trace amounts of protein.
微量タンパク質の同定を可能にするMALDI質量分析装置用サンプルプレートを提供する。 - 特許庁 - SAMPLE ANALYZING METHOD, SAMPLE CARRY-IN MEMBER, SAMPLE CARRY-IN METHOD AND THERMAL DESORPTION SPECTROMETER
試料分析方法、試料搬入部材、試料搬入方法および昇温脱離分析装置 - 特許庁 - To provide a mass spectrometer, an ion implantation apparatus, and an ion beam sealing method.
質量分析装置、イオン注入装置、およびイオンビームの封じ込め方法を提供すること。 - 特許庁 - MEANS FOR REDUCING FORMATION OR REFORMATION OF UNWANTED MOLECULE ION, AND MASS SPECTROMETER
不要な分子イオンの形成または再形成を減少させる方法および原子質量分析装置 - 特許庁 - To provide a mass spectrometer capable of detecting ion with high resolution and high sensitivity.
質量分析装置において高分解能かつ高感度でのイオン検出を可能にすること。 - 特許庁 - The wavelength selection member transmits only a wavelength component of a part of light spectrally diffracted by the spectrometer.
波長選択部材は、分光器で分光された光の一部の波長成分のみを透過させる。 - 特許庁 - ILLUMINANT, AND ELECTRON BEAM DETECTOR, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME
発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置 - 特許庁 - To provide a spectrometer capable of separate and simultaneous spectrometry of light from multiple directions.
多方向からの光を、別々にかつ同時に分光測定することができる分光装置の提供。 - 特許庁 - Like any optical element, an electron energy-loss spectrometer suffers from aberrations.
あらゆる光学素子のように(がそうであるように)、電子エネルギー損失分光器は収差を被る(蒙る)。 - 科学技術論文動詞集 - In a serial-recording system for the EELS spectrometer, a detection slit selects electrons of a particular energy loss.
EELS分光器のシリアル記録系では、検出スリットは特定のエネルギー損失電子を選択する。 - 科学技術論文動詞集 - QUADRUPLE MASS SPECTROMETER AND MASS CALIBRATION METHOD THEREFOR
四重極型質量分析装置および四重極型質量分析装置の質量校正方法 - 特許庁
- 特許庁
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