「Spectrometer」を含む例文一覧(1221)
＜前へ 1 2 .... 9 10 11 12 13 14 15 16 17 .... 24 25 次へ＞- The ions are converged in an ion convergence part 17 and are sent to a time-of-flight mass spectrometer 21 from an ion trap 18.
イオンは、イオン収束部１７にて収束され、イオントラップ１８から飛行時間型質量分性装置２１に送られる。 - 特許庁 - This secondary ion mass spectrometer includes this irradiation direction-variable ion irradiation device, a sample base, and a mass spectrograph.
本二次イオン質量分析装置は、照射方向可変イオン照射装置と試料台と質量分析器とを含んでなる。 - 特許庁 - METHOD FOR DETERMINING RNA SEQUENCE BY ION-SOURCE DECAY USING MATRIX-ASSISTED LASER DESORPTION/IONIZATION TIME-OF-FLIGHT MASS SPECTROMETER
マトリクス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置を用いたイオン源内解裂によるＲＮＡ配列決定法 - 特許庁 - CHEMICAL IONIZATION REACTION OR PROTON TRANSFER REACTION MASS SPECTRUM ANALYSIS USING QUADRUPOLE OR TIME-OF-FLIGHT TYPE MASS SPECTROMETER
四重極または飛行時間型質量分光計を用いた化学イオン化反応または陽子移動反応質量分光分析 - 特許庁 - To provide a highly sensitive mass spectrometer capable of improving detecting sensitivity of specific ions in tandem mass spectrometry.
タンデムマススペクトロメトリーにおける特定イオンの検出感度を向上することを可能とする高感度質量分析計を提供する。 - 特許庁 - To continuously, directly analyze eluent from a liquid chromatograph with an MALDI laser desorption ionization flight time mass spectrometer.
液体クロマトグラフからの溶離液を直接ＭＡＬＤＩレーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計で連続的に行う。 - 特許庁 - The ion source provides the generated ions to a structure for analysis to identify the analyte, preferably being a mass spectrometer.
イオン源は、被分析物を同定する分析のための構造、好ましくは質量分析計に発生したイオンを提供する。 - 特許庁 - To realize a spectrometer capable of performing the output with an output wavelength interval of a spectrum at an optional wavelength interval.
分光されたスペクトルの出力波長間隔を任意の波長間隔で出力することが可能な分光器を実現する。 - 特許庁 - To significantly extend a dynamic range of a mass spectrometer so as to minimize effect of spacial distribution of an ion beam.
イオンビームの空間的分布による影響が最小限になるように、質量分析装置のダイナミックレンジを著しく高める。 - 特許庁 - A small casing of a magnetic deflection mass spectrometer tube is made of a block 12 of a material of the casing 1 by means of cut machining.
磁場偏向型質量分析管の小型のケーシング１を該ケーシングの材料のブロック１２から削り出し加工で作製する。 - 特許庁 - Then, a spectrometer part 7 is set to a wavelength capable of observing visibly a beam wavelength by a personal computer 24, so as to generate light.
次に、分光器部７をパーソナルコンピュータ２４にて光束波長を目視可能な波長に設定し、光を発生させる。 - 特許庁 - For example, a system, including software, is provided that directs and performs assays such as diagnostic assays that employ a mass spectrometer.
例えば、マススペクトロメーターを用いる診断アッセイのようなアッセイを指令および実行する、ソフトウェアを含むシステムが提供される。 - 特許庁 - Finally, the extracted component, dried and solidified on the sample stand, is analyzed in a time-of-flight secondary ion mass spectrometer.
最後に、上記試料台上に乾固した抽出成分を飛行時間型二次イオン質量分析装置にて分析する。 - 特許庁 - To solve such a problem that a systematic mass error occurs depending on an ion valence in a time-of-flight mass spectrometer.
飛行時間型質量分析計において、イオンの価数に依存して系統的な質量誤差が生じることを解決する。 - 特許庁 - Thereby, a secondary ion 36 from the area where a primary ion beam 32 is irradiated is inputted in the mass spectrometer 40.
こうして、１次イオンビーム３２が照射されている領域のみからの２次イオン３６を質量分析計４０に入射させる。 - 特許庁 - To accomplish high-sensitivity and high-reliability quantitative analysis in analysis of an organic compound using an ion trap mass spectrometer.
イオントラップ質量分析計を用いた有機化合物の分析において、高感度で高信頼性の定量分析を達成する。 - 特許庁 - The analyzer comprises a low-level emission source and a gaseous emission spectrometer 10 having a charge coupled device (CCD) diode array as a detector.
低レベル発光源および検出器として電荷結合素子（ＣＣＤ）ダイオードアレイを有するガス発光分光計１０を含む。 - 特許庁 - The spectrometer for receiving light with a light receiving element is improved by wavelength dispersing light to be measured with a wavelength dispersion element.
波長分散素子で被測定光を波長分散して受光素子で受光する分光器に改良を加えたものである。 - 特許庁 - In another embodiment, a monolithic Offner spectrometer is manufactured by using molds which are made by a diamond machining process.
別の実施形態において、モノリシックオフナー分光器はダイアモンド機械加工プロセスで作成された金型を用いて作成される。 - 特許庁 - In a serial EELS spectrometer, electron intensity is recorded only from electrons that are bent through the correct angle to pass through a pair of slits.
シリアルEELS分光器では、電子強度は、一対のスリットを通過するように正確な角度に曲げられた電子だけで記録される。 - 科学技術論文動詞集 - To achieve mass production without essentially losing optical characteristics by ideally improving a general spectrometer, to manufacture a spectrometer essentially easier and more economical than a conventional, similar one, and to provide a prerequisite for miniaturization.
一般的スペクトロメータを思想的に改良して、光学的特性の実質的な損失なしに大量生産ができ、且つ従来の同様のスペクトロメータより実質的に簡単且つ経済的に製造でき、しかも、小型化の前提条件を提供できるようにすること。 - 特許庁 - To provide a mass spectroscope with a multipole ion guide, having an ion transport system transporting ions from an ionizing part to a mass spectrometer part which can exclude unnecessary ions before they reach the mass spectrometer part, and transmits the ion necessary for analysis with high efficiency.
イオン化部から質量分析部までイオンを輸送するイオン輸送系において、分析に必要なイオンを高効率に透過すると共に、不要なイオンを質量分析部に到達する前に排除可能な多重極イオンガイドを備えた質量分析装置を提供する。 - 特許庁 - To appropriately judge internal standard elements necessary for analyzing a sample such as tap water, simplify a general method, and improve the reliability of measured data in a mass spectrometer and an emission spectrometer using plasma for an ion source.
プラズマなどをイオン源とした質量分析装置、発光分析装置において、水道水などの、試料を分析する時、必要となる内標準元素の適正を判断することを目的とし、一般の方法を簡略化し、測定デ−タの信頼性の向上を図る。 - 特許庁 - To provide a small magnetic deflection mass spectrometer tube that can provide uniform sensitivity and resolution, is high in processing accuracy and suited for mass production.
一様な感度、分解能が得られ加工精度が高く量産に適した小型の磁場偏向型質量分析管を提供すること - 特許庁 - Pressure detected by a sensor 17 is stored when the mass spectrometer 14 detects a target component, and the plunger 1 is connected to the plunger 2.
質量分析装置１４がターゲット成分を検出するとセンサ１７で検出した圧力を記憶し、プランジャ１、２を接続する。 - 特許庁 - The sample is supplied to an ionic mobility spectrometer 5, and analyzed as a substance existing in vapor phase above the lubricating oil.
この試料はイオン移動度分光計（５）に供給され、そこで潤滑油上の蒸気相中に存在する物質の点で分析される。 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR IMPROVING SIGNAL PERFORMANCE AT FAST SCANNING SPEED BY DRIVING QUADRUPOLE MASS SPECTROMETER ELECTRONICALLY
四重極質量分析計を電子的に駆動して、速い走査速度における信号性能を向上させるための装置および方法 - 特許庁 - To provide a membrane inlet mass spectrometer capable of extending application over a wide range and of improving measurement efficiency and precision.
応用範囲を広げることができ、測定効率、精度を上昇させることが可能なメンブレンインレット質量分析計を提供する。 - 特許庁 - To provide a spectrometer object lens that makes more accurate measuring results and obtains smaller energy to use for an electric field.
より正確な計測結果を出せ、低エネルギー引出し電界に用いることもできる分光計対物レンズを実現することを目的とする。 - 特許庁 - The mass spectrometer 10 conducts analysis of a sample, by relating the connection of the sample segments A-D to the corresponding sample compound.
質量分析計４０は、サンプルセグメントＡ〜Ｄの接続を、対応するサンプル化合物に関連づけることにより、サンプルの分析を行う。 - 特許庁 - To provide a mass spectrometer capable of carrying out a measurement without generating any droplet at the tip of a needle of an ion source.
イオン源のニードルの先端に液滴を生成させることなしに、測定が可能な質量分析装置を提供することにある。 - 特許庁 - An fungi identification is also conducted based a spectral information which is obtained by measuring the substance relating to the synthetic substance by the mass spectrometer.
また、合成基質の代謝に関連する物質を質量分析により測定し、そのスペクトル情報から菌種同定を行う。 - 特許庁 - To provide a graftable nuclear magnetic resonance spectrometer for measuring chemical composition of fluid and/or flow velocity of the fluid.
流体の化学的組成および／または流体の流速を測定するための移植可能な核磁気共鳴分光計を提供する。 - 特許庁 - To provide a spectrometer for simultaneously measuring electric power component ratios of electromagnetic wave at a plurality of different frequencies without sweeping.
複数の異なる周波数における電磁波の電力成分比を、掃引することなく、同時に計測するスペクトロメータを提供する。 - 特許庁 - The WDM signal monitor using a spectrometer has a means of measuring the spectrum of the WDM signal, a means of storing response characteristics data of the spectrometer to the line spectra of light signals and a means of calculating the optical signal level and the optical noise level of each channel according to the spectral data measured for these WDM signals and the response characteristics data of the spectrometer.
分光器を用いたＷＤＭ信号モニタにおいて、ＷＤＭ信号のスペクトラムを測定する手段と、光信号の線スペクトルに対する分光器の応答特性データを格納する手段と、これらＷＤＭ信号のスペクトラム測定データおよび分光器の応答特性データに基づき各チャンネルの光信号レベルおよび光ノイズレベルを演算する手段、とを設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁 - The deterioration substance that is sampled at respective sampling holes is guided to an analyzer 15 (gas chromatograph mass spectrometer) by a capillary column 31.
各採取孔で採取された劣化物質は、キャピラリカラム３１によって分析装置１５（ガスクロマトグラフ質量分析計）に導かれる。 - 特許庁 - SUPERCONDUCTING MAGNET DEVICE, NMR ANALYZER USING THE SAME, MRI EQUIPMENT OR ICR MASS SPECTROMETER
超電導磁石装置、及びこの超電導磁石装置を用いたＮＭＲ分析装置、ＭＲＩ装置又はＩＣＲ質量分析装置 - 特許庁 - To provide an interferometer of preventing reduction of measurement accuracy without using an expensive detector, and to provide a spectrometer provided with the same.
高価な検出器を用いなくとも測定の精度が低下するおそれのない干渉計及びそれを備えた分光装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an ion guide which can easily be assembled and arranged and has a small diameter, and a mass spectrometer using this.
組立・調整が容易にでき、しかも小径であるイオンガイドおよびそのようなイオンガイドを用いた質量分析装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser resonance ionization mass spectrometer for reducing the influences of ions of other gas than gas to be analyzed on detection signals.
レーザ共鳴イオン化質量分析装置において、分析目的のガス以外のガスのイオンが検出信号に影響するのを軽減する。 - 特許庁 - To provide a mass spectrometer that reduces a relatively high electric charge state in an ETD product ion or an ETD fragment ion.
ＥＴＤプロダクトイオンまたはＥＴＤフラグメントイオンが有する比較的高い電荷状態を低減する質量分析計を提供する。 - 特許庁 - To provide a Fourier spectrometer having sufficiently high resolution and capable of highly accurately measuring spectral characteristics of the light from a measuring object.
十分に高い分解能を有し、測定対象物からの光の分光特性を高精度に測定することのできるフーリエ分光器。 - 特許庁 - A plurality of wavelengths reflected by the surface of the wafer to be etched are measured by a spectrometer during a plasma etching process.
プラズマエッチングプロセス中、エッチングされるウェハの表面から反射される放射の複数の波長が分光計によって測定される。 - 特許庁 - A mass spectrometer 10 is configured with an ion source 1, an ion introduction part 2, a mass separation part 3, an ion detector 4, and the like.
質量分析装置１０をイオン源１、イオン導入部２、質量分離部３、およびイオン検出部４などによって構成する。 - 特許庁 - An ion gas generated is introduced into a vacuum part 9 from an ion take-in part inlet 7 and mass-analyzed with a mass spectrometer.
生成された気体状イオンはイオン取りこみ口７より真空部９へ導入され質量分析計で質量分離される。 - 特許庁 - To provide a wavelength dispersion type X-ray spectrometer that performs detailed and precise analysis in a short time and has small individual difference.
詳細で精密な分析を短時間で行うことができ、しかも、個体差の少ない波長分散型Ｘ線分光器を提供する。 - 特許庁 - This multi-spectral two-dimensional imaging spectrometer 10 includes a combination of achromatic, corrected lenses 14 for imaging a two-dimensional scene on an internal field stop 20.
分光計１０では、内部の視野絞り２０上に二次元画像を結像する補正済み色消しレンズ１４の組み合わせを含む。 - 特許庁 - To provide a secondary ion mass spectrometer capable of analyzing in the depth direction with high sensitivity as well as high depth-resolution.
高い深さ分解能と同時に高感度で深さ方向分析を行うことができる二次イオン質量分析装置を提供する。 - 特許庁 - The vapor is sampled using cavity ring down spectrometer and the measured vapor concentration of a contaminant is converted to a liquid contaminant concentration.
空胴リングダウン分光計を使用して蒸気がサンプルされ、汚染物質の測定蒸気濃度が液体汚染物質濃度に変換される。 - 特許庁 - DEVICE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, METHOD OF PREPARING THE SAME, LASER DESORPTION IONIZATION MASS SPECTROMETER USING THE SAME
質量分析用デバイスおよびその作製方法、並びに、そのデバイスを用いたレーザ脱離イオン化質量分析装置および分析方法 - 特許庁
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