「Test Patterns」を含む例文一覧(394)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 次へ＞- To provide an image recorder that can accurately calculate an amount of shifted angle of a recording head based on a mutual relationship of test patterns even when the test pattern is contaminated, dust is stuck to the test pattern, or a trouble such as a broken nozzle, position shift in deposition or the like occurs.
本発明の目的は、テストパターン上の汚れやゴミ、また、ノズル抜けや着弾位置ずれ等の欠陥が生じても、正確に記録ヘッドの角度ずれ量を相互の関係をもとに算出できる画像記録装置を提供することである。 - 特許庁 - The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus.
テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。 - 特許庁 - The modulation conditions for the exposure light quantity in the lithographic processes are selected so as to control the dimensional variance of the test patterns to a specified value or smaller on the basis of the dimensional variance of the test pattern (S4, S5).
テストパターンの寸法ばらつきに基づいて、当該テストパターンの寸法ばらつきが所定値以下となるように、リソグラフィー処理における露光量変調条件を選択する（Ｓ４〜Ｓ５）。 - 特許庁 - To execute simulation by generating an integrated test pattern by merging plural test patterns for verification at the time of simulation.
複数の検証用テストパタンをシミュレーション時にマージして、一体化したテストパタンを生成し、シミュレーションを実施することのできる回路検証用シミュレーション装置及び回路検証用シミュレーション方法を提供する。 - 特許庁 - Based on the compared result, the inkjet recorder selects the test pattern with the most impact amount of ink among a plurality of test patterns in a range not exceeding the receiving performance of the recording medium.
インクジェット記録装置は、その比較した結果に基いて、複数のテストパターンから、記録媒体の受容能力を越えない範囲において、最もインク打ち込み量の多いテストパターンを選択する。 - 特許庁 - To provide a driver IC also having a function capable of supplying test pattern signals for the inside of the IC without the need for the supply of various test patterns signals from the outside and to provide an inspection method of the same.
外部から各種検査パターン信号を供給することなく、ＩＣ内部に検査パターン信号を供給できる機能を併せ持たせたドライバＩＣ及びその検査方法を提供すること。 - 特許庁 - A pattern most approximate to the design pattern is selected from the finely processed test resist patterns, and the test pattern used for the formation of the selected pattern is adopted as a correction pattern (S4, S8).
微細化されたテスト用レジストパターンの中から前記設計パターンに最も近いパターンを選択し、選択されたパターンの形成に用いたテスト用パターンを補正パターンとして採用する（Ｓ４，Ｓ８）。 - 特許庁 - To provide an inspecting method of a semiconductor integrated circuit capable of easily detecting disconnection failure, capable of reducing input test patterns and capable of reducing test time in the inspecting method of the semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路の検査方法において、断線不良を容易に検出でき、かつ、入力テストパターンを削減し、テスト時間を低減できる半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁 - To enhance a thin-film transistor array substrate in test efficiency by a method wherein test patterns are checked to screen out defective chips before a drive circuit and pixel transistors are tested through a pulse response method.
パルス応答法を用いて駆動回路及び画素トランジスタの検査を行う前に、テストパターンの検査を行って不良品チップのスクリーニングを行い、検査効率を向上することを目的とする。 - 特許庁 - The personal computer 1 varies a ratio of color signals RGB to generate various test pattern signals under a plurality of color temperature conditions and allows the color image display panel to display various test patterns.
パーソナルコンピュータ１は、色信号ＲＧＢの比率を変えることにより複数の色温度条件のもとで各種テストパターン信号を発生しカラー画像表示パネルに各種テストパターンを表示させる。 - 特許庁 - Test patterns to make ink impact positions in a reciprocating scanning agree with each other to a main scanning direction are prepared in two or more dot sizes, and ink discharge timing is corrected on the basis of data obtained from the respective test patterns prepared in the two or more dot sizes.
往復走査間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのテストパターンを２以上のドットサイズによって作成し、その２以上のドットサイズによって作成したテストパターンそれぞれから得られるデータに基づいてインク吐出タイミングの補正を行う。 - 特許庁 - Test patterns for matching the ink impact position in the main scanning direction between going and returning stroke of scanning are formed of two colors or more of ink, and ejection timing of ink is corrected based on the data being obtained from test patterns formed of two colors or more of ink.
往復走査間の主走査方向に対するインク着弾位置を一致させるためのテストパターンを２色以上のインクによって作成し、その２色以上のインクによって作成したテストパターンそれぞれから得られるデータに基づいてインク吐出タイミングの補正を行う。 - 特許庁 - A pattern generator PG generates test patterns S_PTN1 to S_PTN4 for describing test signals S_TEST to be output by drivers DR_1 to DR_4, and control patterns S_PTN5 and S_PTN6 for describing control signals S_CNT2 and S_CNT1 to be output by drivers DR_5 and DR_6.
パターン発生器ＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４と、ドライバＤＲ_５、ＤＲ_６が出力すべき制御信号Ｓ_ＣＮＴ２、Ｓ_ＣＮＴ１を記述する制御パターンＳ_ＰＴＮ５、Ｓ_ＰＴＮ６を生成する。 - 特許庁 - A reflection tape 25 indicating a rotation reference position of the color wheel 18 is stuck to a position deviated from a normal position and if the purity of the right and left test patterns differs, the timing for setting the data for the right and left test patterns in the DMD 14 is so adjusted as to be made faster or slower.
カラーホイール１８の回転基準位置を示す反射テープ２５が正規位置からずれた位置に貼られており、左右のテストパターンの赤色の純度が異なる場合は、ＤＭＤ１４に左右のテストパターン用のデータを設定するタイミングを早くするように、または遅くするように調整する。 - 特許庁 - At least two test patterns are formed by at least two different conveyance amounts on the recording medium using the recording head, and correction values of the conveyance amount are determined from the change amount of optical property in the direction of the conveyance of the respective at least two test patterns.
記録ヘッドを用い、前記記録媒体上に、少なくとも２つの異なる搬送量で少なくとも２つのテストパターンを形成し、当該少なくとも２つのテストパターンそれぞれの、前記搬送の方向における光学特性の変化量から、搬送量の補正値を決定する。 - 特許庁 - In the test pattern area 10, a plurality of unit test patterns 12, wherein ruled line patterns 14 corresponding to individual printing elements and having a fixed length in a relative moving direction are arrayed as parallel lines at different heights in the relative moving direction, are arrayed along the array direction of the printing elements.
ここで、テストパターン領域１０は、個々の印刷素子に対応する罫線パターン１４であって、相対的な移動方向に一定長を有するものを、相対的な移動方向に段違いに配置した単位テストパターン１２が、印刷素子の配列方向に沿って複数個配列してなる。 - 特許庁 - Plural test patterns are recorded (step S2) on the basis of image data corrected by a partially different correction value α, a test pattern that looks smoothest from among the test patterns is selected visually, a number corresponding to it is inputted (step S3), and a γ-table corresponding to the number is updated as the γ-table for image data correction (step S4).
部分的に異なる補正値αによって補正された画像データに基づいて、複数のテストパターンを記録し（ステップＳ２）、それらのテストパターンの中から、最も平滑に見えるテストパターンを目視により選択して、それに対応する番号を入力し（ステップＳ３）、その番号に対応するγテーブルを画像データ補正用γテーブルとして更新する（ステップＳ４）。 - 特許庁 - A plurality of test patterns is set to a test device 6 of a semiconductor memory, a different test pattern is applied to a plurality of semiconductor memories 1 to be tested, while it is discriminated whether test result output of each semiconductor memory 1 to be tested is in the prescribed tolerance or not.
半導体記憶装置の試験装置６に複数のテストパターンを設定し、試験装置に接続された複数個の被試験半導体記憶装置１に異なるテストパターンを適用すると共に、各被試験半導体記憶装置１の試験結果出力が所定の許容範囲内にあるか否かを判定するようにした方法。 - 特許庁 - A test pattern forming part makes an inkjet head print a plurality of the line patterns 71 which extend in a paper conveyance direction with respect to each delivering opening.
テストパターン形成部が、インクジェットヘッドに、各吐出口に関して用紙搬送方向に延在する複数のラインパターン７１を印刷させる。 - 特許庁 - A test pattern 90 including a plurality of segment patterns 91 to 95 in which intervals between adjacent segments are sequentially differentiated is printed and scanned with a sensor.
隣接する線分の間隔を順次異ならせた複数の線分パターン９１〜９５を含むテストパターン９０を印刷して、センサで走査する。 - 特許庁 - The device for tester simulation is the one that adds an improvement on a simulator for the tests on objects to be tested by testers, based on test patterns.
本発明は、テストパターンに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁 - The wiring patterns 12a to 12f are formed so as to be longer, in this order, and the test terminals Ta to Tf are further away from a mounting region in the order.
配線パターン１２ａ〜１２ｆは、この順に長く形成され、テスト端子Ｔａ〜Ｔｆは、この順に実装領域から離れている。 - 特許庁 - The image shift calculating section calculates positional shift of recording using the cross correlation function of the sum density data of the pair of test patterns, for example.
画像ずれ算出部は例えば一対のテストパターンの加算濃度データの相互相関関数を用いて記録位置ずれ量を算出する。 - 特許庁 - The simulation is executed based on the plurality of test patterns 21, the simulation execution order information 22 and the storage/reading-out time information 23.
複数のテストパターン２１、シミュレーション実行順序情報２２、及び、保存／読み出し時間情報２３に基づいて、シミュレーションを実行する（Ｓ３）。 - 特許庁 - A plurality of test patterns prepared by varying the layout area of line-and-space pattern in different levels of factors are formed on a mask substrate by lithographic processes (S1, S2).
リソグラフィー処理により、ラインアンドスペースパターンの展開面積を水準振りした複数のテストパターンをマスク基板上に形成する（Ｓ１，Ｓ２）。 - 特許庁 - A pattern generator 10 generates a test pattern to be applied to the semiconductor integrated circuits 30a-30n, and a distributor 13 distributes patterns S1 generated by the generator 10 and outputs them as patterns S4a-S4n.
パターン発生器１０は半導体集積回路３０ａ〜３０ｎに印加する試験パターンを発生し、分配器１３はパターン発生器１０で発生したパターンＳ１を分配してパターンＳ４ａ〜Ｓ４ｎとして出力する。 - 特許庁 - The densities in the case of the presence of the transparent toner in different halftone processing are predicted based on the dot patterns in the case of the presence of the transparent dot patterns in the test patch, and the densities in the case of the absence of the transparent toner in different halftone processing are predicted based on the dot patterns in the case of absence of the transparent toner (S106).
試験パッチにおける透明トナー有りのドットパターンに基づき、異なる中間調処理における透明トナー有りの場合の濃度を予測すると共に、透明トナー無しのドットパターンに基づき、異なる中間調処理の透明トナー無しの場合の濃度を予測する（Ｓ１０６）。 - 特許庁 - To reduce the number of test patterns without increasing the area of a semiconductor integrated circuit, and without lowering a failure detection rate, in an actual-speed scan test of the semiconductor integrated circuit operated in a plurality of clocks.
複数のクロックで動作する半導体集積回路の実速度スキャンテストにおいて、半導体集積回路の面積を増加させることなく、かつ故障検出率を低下させることなく、テストパタン数を削減する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits, capable of simultaneously testing a plurality of semiconductor integrated circuits in parallel, whose outputs in test results become a synchronized with each other, even if identical test patterns are simultaneously input in it.
同じテストパタ−ンを同時に入力してもテスト結果の出力が相互に非同期となる複数の半導体集積回路を同時に並列的にテスト可能な半導体集積回路のテスト装置を提供する。 - 特許庁 - In outputting a test chart for a first face and a test chart for a second face of one and the same printing medium, respectively, configuration patterns different between the first face and the second face are output to perform calibration.
同一の印刷媒体の第１面と第２面に第１面用のテストチャートと第２面用のテストチャートとをそれぞれ出力する場合、第１面と第２面で異なる構成のパターンを出力して、キャリブレーションを行う。 - 特許庁 - To make a toggle ratio 100% in all of circuits constituting a semiconductor device while minimizing an increase in circuit cost by reducing the number of test patterns used in an IDDQ test of the semiconductor device.
半導体装置のＩＤＤＱ試験において、使用するテストパターン数を減少させ、回路コストの増加を最小限に抑えながら、半導体装置を構成する全ての回路のトグル率を１００％とする。 - 特許庁 - To detect the direction of deviation between the first and second LED print heads 2, 3, on the basis of a pattern formed by the first LED print head 2, overlapping with the pattern, two types of patterns for detecting rightward deviation and leftward deviation are formed by the second LED print head 3 on a photosensitive body, so as to form test patterns (first and second test patterns) for detecting rightward/leftward deviation.
第１及び第２のＬＥＤプリントヘッド２、３間のずれの方向を検出するために、第１のＬＥＤプリントヘッド２で形成したパターンを基準に、それに重ねて第２のＬＥＤプリントヘッドで右ずれ及び左ずれ検出用の２種のパターンを感光体上に形成し、それぞれ左・右のずれ検出用のテストパターン（第１及び第２のテストパターン）を形成する。 - 特許庁 - The test patterns are read with sensors 41 provided just behind the respective print heads 12, and a poorly discharging nozzle in the print heads 12 is detected with the images.
該テストパターンを各印字ヘッド１２の直後に備えられたセンサ４１で読み取り、この画像から各印字ヘッド１２内の吐出不良ノズルが検出される。 - 特許庁 - A test chart 10 is provided with a platy chart board 12 having a rectangular measuring surface 11, and chart patterns 15 formed on the measuring surface 11.
テストチャート１０は、矩形状の測定面１１を有する板状のチャート板１２と、測定面１１に形成されたチャートパターン１５とを備える。 - 特許庁 - The printed image evaluation part digitizes the image noises which are included in a plurality of image data for evaluation, generated from the plurality of test patterns.
印刷画像評価部は、複数のテストパターンから生成された複数の評価用画像データに含まれた画像ノイズを数値化することを特徴とする。 - 特許庁 - First, test patterns wherein a plurality of patches each recorded with a small dot pattern and a large dot pattern are arranged by changing respective dot sizes are printed (S101, S108).
まず小ドットパターンと大ドットパターンによりそれぞれ記録したパッチを、それぞれのドットサイズを変えて複数配置したテストパターンを印刷する（Ｓ１０１、Ｓ１０８）。 - 特許庁 - A plurality of test patterns for adjusting print position are prepared depending on the shape of print area of various kinds of CD-R and used appropriately depending on the shape.
種々のＣＤ−Ｒが備える印刷領域の形状に応じた複数の印刷位置調整用のテストパターンを用意し、形状に応じて使い分ける。 - 特許庁 - The contrasts of the contrast areas 12-1 to 12-4 are adjusted so as to make how the respective test patterns look like almost coincide with the pixel values of the backgrounds fixed.
そして、バックグランドの画素値を固定したまま、各テストパタンの見え方がほぼ一致するように、コントラスト領域１２−１〜１２−４のコントラストを調整する。 - 特許庁 - Test patterns 100 of a number (P1-P6) corresponding to the number of a plurality of plate-like members 300 are recorded in a carriage moving direction on a recording medium 16 supported on the platen plate 200 (A1).
プラテン板200上に支持される記録媒体16上に、複数の板状部材300の数に応じた数（P1〜P6）のテストパターン100を、キャリッジ移動方向に記録する（A1）。 - 特許庁 - The cutout portions 14A, 14B, 14C, and 14D each comprise a test coupon 20 including two parallel wiring patterns 26 and 28 meanderingly extended respectively from the two signal terminals 24A and 24B.
切り抜き部分１４Ａ，１４Ｂ，１４Ｃ，１４Ｄは、２つの信号端子２４Ａ，２４Ｂから平行な２本の配線パターン２６，２８が蛇行して延設されたテストクーポン２０を有している。 - 特許庁 - A first process discriminates detectable failures from undetectable failures by performing a failure simulation based on prescribed test patterns to an integrated circuit.
第１の工程は、集積回路に対し所定のテストパターンに基づく故障シミュレーションを行って検出可能な故障と検出不可能な故障とを弁別する。 - 特許庁 - To provide a test pattern which can determine etching condition for a wiring board having a lot of various wiring patterns in a shorter time.
本発明は、より短時間に多種多様な配線パターンを有した配線板のエッチング条件を出せるテストパターンを提供することを目的とする。 - 特許庁 - When solutions other than 'all di are 0' are found by solving it, the respective solutions correspond to error generation patterns in the test response pattern 104.
これを解いて「すべてのｄｉが０」以外の解を求めると、それぞれの解がテスト応答パターン１０４中のエラー発生パターンに対応している。 - 特許庁 - Then, it is decided if any of the pens, 50, 52, 54, 56 have at least one defect, based on the read test patterns, 92, 94, 96.
読み取られたテストパターン９２、９４、９６に基づいてペン５０、５２、５４、５６のいずれかが少なくとも１つの欠陥を含むかどうかを判断する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for verifying logic circuit design, capable of performing logic verification without preparing for test patterns.
テストパタンの準備を行うことなく論理検証を実行できる論理回路設計検証装置及び論理回路設計検証方法を提供すること - 特許庁 - Based on results of recording of test patterns for density correction, the density of the image to be recorded is corrected by using a plurality of the same color inks with different densities.
濃度補正用のテストパターンの記録結果に基づいて、濃度が異なる同色の複数のインクを用いて記録されるべき画像の濃度を補正する。 - 特許庁 - A recording signal (test data, including all patterns) is generated (S2), and mark lengths or space lengths before and after the signal to be recorded are detected (S3).
記録信号（テストデータ、すべてのパターンが含まれている）を発生させ（Ｓ２）、記録する信号の前後のマーク長あるいはスペース長を検出する（Ｓ３）。 - 特許庁 - The composite image of the test patterns is sent from the master projector 1 and displayed as a web page on the screen of a terminal device 10 that a user operates.
合成されたテストパターンの画像は、ユーザの操作する端末装置１０の画面に、マスタのプロジェクタ１から送信されるＷｅｂページとして表示される。 - 特許庁 - The tester 21 provides one set of bit-compressed test patterns 32 from a storage device via an input channel 40 to a circuit such as an IC.
テスター２１は、記憶装置からビットの圧縮したテストパターン３２の１セットをＩＣのような回路３４への入力チャネル４０を介して提供する。 - 特許庁 - The density value of the main scanning line of test patterns continuously formed on paper three times are detected while changing the sensing field of view of the sensor array.
用紙へ３回にわたって連続して形成されるテストパターンの主走査ラインの濃度値を、センサアレイのセンシング視野を変化させながら検出する。 - 特許庁
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