「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 120 121 122 123 124 125 126 127 128 .... 161 162 次へ＞- To provide an active material and an electrode which have sufficient charge and discharge cycle characteristics and high safety at the time of high-temperature reservation and a nailing test, and a manufacturing method of these.
十分な充放電サイクル特性を有し、かつ、高温保存時や釘刺し試験時の安全性が高い活物質、電極及びこれらの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a tester and testing method which enable one to test silicon wafers for dirt with a simpler configuration and more simplified information processing.
本発明は、より簡単な構成で、より簡易な情報処理でシリコンウェハの汚れを検査し得るシリコンウェハ汚れ検査装置およびシリコンウェハ汚れ検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a hardness test method, a hardness tester and a program, capable of calculating the estimation value of Vickers hardness being the value corresponding to Vickers hardness in nanoindentation.
ナノインデーションにおいて、ビッカース硬さに相当する値であるビッカース硬さの推定値を求めることのできる硬さ試験方法、硬さ試験機、及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - A test method includes operating a lithographic apparatus several times while deliberately imposing a relatively large dynamic positioning error at different specific frequencies and axes (504).
テスト方法は、異なる特定の周波数および軸で比較的大きな動的位置決め誤差を恣意的に注入しながら装置を数回動作させること（５０４）を含む。 - 特許庁 - To provide a method of testing an engine shortening test time and allowing engine torque to be accurately found even for an engine with an unknown inertia value, and to provide a device therefor.
試験時間を短縮することができ、且つ、慣性値の分からないエンジンであってもエンジントルクも精度良く求めることができるエンジン試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor circuit capable of obtaining a drive voltage according to an operating mode without using a regulator; and to provide an LSI test method using the semiconductor circuit.
レギュレータを使用せずに動作モードに応じた駆動電圧を得ることができる半導体回路及びその半導体回路を使用したＬＳＩテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a self-diagnosis system and an inspection circuit determination method that allow determination of normality of an inspection circuit for executing an diagnosis of a test target circuit.
テスト対象回路の診断を実行する検査回路の正常性を判定することができる自己診断システム及び検査回路判定方法を提供すること - 特許庁 - To provide a test procedure and a calculation method, approximating the efficiency of intermediate pressure section of a steam turbine while accurately accounting for an cooling effect of internal leakage.
内部漏出の冷却作用を正確に考慮しながら、蒸気タービンの中圧セクションの効率を概算することができる試験手順及び算出方法を提供する - 特許庁 - To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.
近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a high temperature sliding test device which accurately evaluates sliding characteristic between a steel sheet and a press die in a hot press method of the steel sheet.
鋼板の熱間プレス工法における鋼板とプレス金型との間の摺動特性を的確に評価することができる高温摺動試験装置を提供する。 - 特許庁 - One application includes the preparation of a simulation data store which is generated by using a test grid to model a geometric shape of an IC mutual connection and its method of use.
ひとつの適用としては、ＩＣ相互接続の幾何学的形状をモデル化するテスト格子を使用して生成されたシミュレーションデータストアの作成と使用法を含む。 - 特許庁 - To provide an oil carbonization test method capable of forming coking from an oil as a sample, even at a temperature of 200°C or lower, and which can verify the carbonization phenomenon.
２００℃以下の温度であっても試料としての油からコーキングを生成させて、その炭化現象を検証できる油の炭化試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device capable of effectively deteriorating a gate oxide film of the semiconductor device in a short period of time in a burn-in test, and to provide a method for testing the same.
バーンイン試験において、半導体装置のゲート酸化膜を短時間で効果的に劣化させることができる半導体装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for easily and rapidly evaluating the fatigue characteristic of a T-joint in a T-type welded joint structure without performing a complicated fatigue test.
Ｔ型溶接継手構造体におけるＴ継手部の疲労特性を、煩雑な疲労試験を行なうことなく、簡便かつ迅速に評価するための方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.
パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁 - The method further repeats verifications at major design check points to again verify the acceptability of an initial test yield estimated value at a time when a product is estimated to a client.
この方法は更に、顧客に対して製品が見積もられたときの初期のテスト歩留まり推測値の妥当性を再検証するため、主要な設計チェックポイントで繰り返す。 - 特許庁 - To provide an evaluation apparatus and an evaluation method for reducing the wear of a pad in an evaluation test by increasing the reproducibility of a measured value to a DUT board and a probe card.
ＤＵＴボードおよびプローブカードに対し、測定値の再現性を増し、評価試験でのパッドの磨耗を低減する評価装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an abrasion tester having long service life capable of accurately performing an abrasion test using a small amount of a sample, and to provide an abrasion testing method that uses the tester.
少ないサンプル量で正確に摩耗試験を行うことができる長寿命な摩耗試験機およびそれを用いる摩耗試験方法を提供することである。 - 特許庁 - In various embodiments, the released method can provide the CPS components with improved accuracy, robustness, field test and exchangeability.
開示される方法は、様々な実施形態において、ＣＰＳ構成要素に強化された精度、ロバスト性、現場でのテスト、および交換可能性を提供することができる。 - 特許庁 - To provide a joint for piping using the anaerobic adhesive and having superior sealability, reliability and workability, a pressure proof test unit, a connecting structure of a pipe, and a connecting method.
嫌気性接着剤を使用し、密閉性、信頼性、作業性に優れる配管用継手、耐圧試験ユニットおよびパイプの接続構造並びに接続方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.
ＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、ＲＡＭ及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁 - The semiconductor inspection device 50 irradiates the semiconductor device (DUT (Device under Test)) 3 with a laser beam, and specifies a failure part of the semiconductor device (DUT) 3 using the DLS (Dynamic Laser Stimulation) method.
半導体検査装置５０は、半導体デバイス（ＤＵＴ）３にレーザ光を照射し、ＤＬＳ法を用いて半導体デバイス（ＤＵＴ）３の故障箇所の特定を行う。 - 特許庁 - To provide a method for biochemical testing by which the number of biochemical substances contained in a test sample can be tested from a detected value of fluorescent intensity for each probe array element.
各プローブアレイ要素ごとの蛍光強度の検出値から被検サンプルに含まれる生化学的物質の数量を検査し得る生化学的検査方法を提供すること。 - 特許庁 - The apparatus and method for obtaining information such as a heart rate or the presence of atrial fibrillation from electrodes (32 and 34) attached to the feet of a test subject, are provided.
被検者の足に付着させた電極（３２、３４）から、心拍速度や心房細動の有無などの情報を取得するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of finding an accurate plane strain fracture toughness value of low alloy steel such as that in a turbine rotor, using a test piece remarkably smaller than a conventional specification.
タービンロータなどの低合金鋼の正確な平面ひずみ破壊靭性値を、従来の規格よりも相当小さな試験片により求める方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor storage device which can perform the defective bit sensing of a memory cell which can store multi-value data in a chip, and its automatic test method.
多値データを記憶可能なメモリセルの不良ビット検出をチップ内部で行うことが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその自動テスト方法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND MEASURING MACHINE FOR FORMING FINE TEST PIECE WITH CONDITION CHANGE TO NANO DOMAIN AND MEASURING PROPERTY TO NANO DOMAIN AT ANY TIME WITH AUTOMATIC OPTIMUM CONTROL
微細試験片をナノ領域まで条件変化をさせながら成形し、隋時ナノ領域までの物性を、自動的に最適制御しながら測定する方法及び測定機 - 特許庁 - To provide a method for estimating and evaluating corrosion rate of steel products by non-destructively measuring an evaluation test piece exposed to an atmospheric environment and estimating the corrosion rate of the steel products.
大気環境下に暴露した評価試験片を非破壊的に測定し、鋼材の腐食速度の推定を行う鋼材の腐食速度推定と評価に関する。 - 特許庁 - To provide an evaluation method of a semiconductor device for improving the efficiency of the reliability test of the semiconductor device and the reliability of the semiconductor device, and to provide the semiconductor device.
半導体デバイスの信頼性試験の効率および、半導体デバイスの信頼性を向上する半導体デバイスの評価方法および半導体デバイスを提供する。 - 特許庁 - To provide a method realizing a precise leak test by completely filling pores in a selective separation layer of a porous film having asymmetric structure with leak testing liquid.
非対称構造を有する多孔質膜の選択分離層の細孔中にリークテスト用の液体を完全に充填し、正確なリークテストを可能にする方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electronic semiconductor wafer which can be stuck on an optical semiconductor wafer, a burn-in test of the electronic semiconductor wafer being easily conducted before the sticking; and its inspecting method.
光半導体ウエハと貼合せ可能な電子半導体ウエハについて、貼合せ前バーインテストを容易に実施できる電子半導体ウエハおよびその検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for producing a modified rubber obtained by modifying a diene rubber and having a lowered tan δ value in the viscoelasticity test, that is, having lowered heat generating properties.
ジエン系ゴムを変性した変性ゴムであって、粘弾性試験におけるtan δの値を低下せしめ、すなわち発熱性を低下せしめた変性ゴムの製造法を提供する。 - 特許庁 - To provide an analyzing method which enables the analysis of the carbon component in steel by the image processing of a spark produced by the spark test of steel, and an analyzer of analyzing the carbon component in steel.
鋼の火花試験により生じる火花を画像処理することにより鋼中の炭素成分を分析することが可能な分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a connection testing method in replacing a railway electronic interlocking device capable of shortening the total number of working days required for a connection test of a new electronic interlocking device.
新設の電子連動装置の接続試験に要する延べ作業日数を短縮化できる鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a semiconductor device which has a plurality of test regions arranged on narrow dicing lines without increasing a chip size, and to provide a semiconductor wafer.
チップサイズを増大させることなく、狭隘なダイシングライン上に複数のテスト領域を配置した半導体装置の製造方法および半導体ウェーハを提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device for a D/A converter shortening a required time for a test even when the bits of the D/A converter are increased, and also to provide a testing method for the testing device.
Ｄ／Ａコンバータが高ビット化しても、試験の所要時間を短縮することができるＤ／Ａコンバータの試験装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁 - In a method for filtering the analyzing test solution, the clogging state of the filter is monitored and the filter is automatically fed when a clogging degree exceeds a determined standard.
分析用試験液を濾過する方法において、フィルターの閉塞状況をモニターし、閉塞の度合いが決められた基準を超えた場合に自動的にフィルターを送る。 - 特許庁 - To provide a method for simultaneously analyzing reducing substances and capable of easily grasping the overall image of known or unknown reducing substances contained in test samples.
被験試料中に含まれる既知または未知の還元物質の全体像を簡便に把握することができる、還元物質の一斉分析法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a portable apparatus and a method for protecting test strips from environmentally polluting materials which include light, moisture, oil transferred from hands of users, etc.
携帯可能であり、検査用細片を光、湿気およびユーザーの手から移る油分等を含む環境上の汚染物質から保護する装置および方法を提供する。 - 特許庁 - The specified period is a period before the second tracer dosage after the first tracer dosage in the load test by the divided dose method using the blood flow SPECT.
特定期間は血流ＳＰＥＣＴを用いた分割投与法による負荷試験における第１回目トレーサ投与後から第２回目トレーサ投与前までの期間とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and a method for testing the same, which use a clock signal gating technique capable of reducing a power consumption in a test operation.
テスト動作時の消費電力を低減することのできるクロック信号ゲーティング技術を利用した半導体集積回路およびそのテスト方法の提供を図る。 - 特許庁 - The method performs a pretreatment process for providing a pneumatic tire with outer-diameter growth and performs an indoor wear test process on the pneumatic tire which has passed through the pretreatment process.
空気入りタイヤに外径成長を生じさせる前処理工程を実施し、該前処理工程を経た空気入りタイヤに対して室内摩耗試験工程を実施する。 - 特許庁 - To provide a gas discharge panel and a manufacturing method for it capable of easily performing a reliability test for determining and evaluating whether residual impurity gas inside the panel is reduced or not.
パネル内の残留不純物ガスが減少しているかどうかの信頼性試験を簡便に実行し評価できるガス放電パネルおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - In the measuring method, the reaction for forming the specific ligand pair with the test material in the fluid sample is at least an antigen-antibody reaction or a hybridizing reaction of nucleic acid.
流体試料中の被検物質と特異的リガンド対を形成する反応が少なくとも抗原抗体反応、又は核酸のハイブリダイズ反応である測定方法。 - 特許庁 - To provide a nonvolatile semiconductor memory device which can store a defective block address with a smaller memory capacity compared with a conventional technology, and its self-test method.
不良ブロックアドレスを、従来技術に比較して少ない記憶容量で記憶することができる不揮発性半導体記憶装置とその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for the vibration resistance of a photo spacer allowing evaluation of the vibration resistance of a photo spacer and a liquid crystal panel without assembling the liquid crystal panel.
液晶パネルを組み立てることなくフォトスペーサ及び液晶パネルの耐振動性を評価することを可能とするフォトスペーサの耐振動性試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To realize a temporally parallel test between a predetermined circuit block having a self-diagnosis circuit and another circuit block in a testing method for an IC having a plurality circuit blocks.
複数の回路ブロックを有するＩＣのテスト方法において、自己診断回路を有する所定の回路ブロックと、その他の回路ブロックとの時間的な並列テストを実現する。 - 特許庁 - To provide a measuring method and a residual chlorine analyzer capable of washing an electrode by stirring beads excellently even in the case of a small quantity of test water in the residual chlorine analyzer.
残留塩素計において、少量の検水であっても良好にビーズを攪拌して電極を洗浄できる測定方法及び残留塩素計を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device for obtaining accurate test results by mounting a tire with a wheel without making it eccentric to a tire mounting shaft, and to provide a testing method.
ホイール付きタイヤをタイヤ取り付け軸に対して偏心させることなく装着し、正確な試験結果を得ることを可能にした試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test sample mounting device, a bending testing apparatus, and a bending testing method, etc. which can accurately apply load to an object.
当該対象物に正確に荷重を加えることができる試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置及び曲げ強さ試験方法等を提供することを目的とする。 - 特許庁
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