「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 122 123 124 125 126 127 128 129 130 .... 161 162 次へ＞- To provide a method, an apparatus and a program for a tire endurance test, which can surely detect a tire failure at its early stage.
タイヤの故障を初期段階で確実に検出することができるタイヤ耐久試験方法、タイヤ耐久試験装置およびタイヤ耐久試験プログラムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method and a sales management system for a cold storage capable of eliminating a production-to-order system requiring a cooling test before delivery.
出荷前の冷却試験が必須となるような受注生産方式を排除できる冷却貯蔵庫の製造方法及び冷却貯蔵庫の販売管理システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a cable connection judging method and device, wherein a sensor switch is not used and only one test terminal is required, and it does not depend on the power source state of an opposite apparatus.
センサスイッチを使用せず、試験端子が１個でよく、相手機器の電源状態に依存しないケーブル接続判定方法及びケーブル接続判定装置を提供する。 - 特許庁 - A columnar polystyrene foam 20 is fixed to the under face of a lower pile 1 of a test objective and a hollow part 5 is closed and buried in a usually using construction method (b).
試験対象の下杭１の下面に、円柱状の発泡スチロール２０を固定して、中空部５を閉塞して、実際に使用する工法で埋設する（ｂ）。 - 特許庁 - BILIRUBIN CONCENTRATION MEASUREMENT ADJUSTING SOLUTION, BILIRUBIN CONCENTRATION MEASUREMENT ADJUSTING CAPILLARY, BILIRUBIN CONCENTRATION MEASUREMENT ADJUSTING TEST PIECE, AND BILIRUBIN CONCENTRATION MEASURING DEVICE ADJUSTING METHOD
ビリルビン濃度測定調整用溶液、ビリルビン濃度測定調整用毛細管、ビリルビン濃度測定調整用試験片、およびビリルビン濃度測定用機器の調整方法 - 特許庁 - To provide a driver monolithic liquid crystal panel which is excellent in resistance to static electricity trouble and exactly conducts test of operation during manufacture and a simple method for manufacturing the same.
静電気トラブル耐性に優れ、製造中に動作検査を的確に行うことが可能なドライバーモノリシック液晶パネルと、その簡便な製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of securing independence between a normal mode and a test mode without increasing the number of pins, and to provide a method for testing the semiconductor integrated circuit.
本発明は、ピン数を増加させることなく、通常モードとテストモードとの独立性を確保することができる半導体集積回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an evaluation method for permeability, which can continuously measure the permeability after a Lugeon test, and which quantitatively evaluates the permeability on a job site in a short period of time.
ルジオン試験の後に連続して測定が可能で、短時間に現場で透水性を定量的に評価することが可能な透水性の評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for repeatedly and quantitatively evaluating the antifouling property of a recording medium and a stamp for dummy fingerprint transfer in use for the same.
記録媒体の防汚性を再現性良く、かつ定量的に評価する試験方法及びそれに用いられる擬似指紋転写用のスタンプを提供することを目的とする。 - 特許庁 - The method includes the steps of establishing a bearer path via an IP network and implementing a bearer path verification test during a call setup before cutting through a call.
この方法は、ＩＰネットワークを介してベアラ・パスを確立する工程と、コールをカットスルーする前にコール・セットアップ中にベアラ・パス検証テストを実施する工程とを含む。 - 特許庁 - To provide a method for creating a hardened layer of rail in a test specimen capable of easily simulating the hardened layer arising in an actual rail with satisfactory accuracy and its apparatus.
簡易にかつ精度良く実際のレールに生じる硬化層を模擬することのできる試験片におけるレール硬化層の作成方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - The invention relates to the method for evaluating biological effect of the test material comprising a detecting process using a microarray capable of detecting at least 50% of all genes of the ascidian.
検出工程が、ホヤの全遺伝子の５０％以上の遺伝子を検出し得るマイクロアレイを用いる、被検物質の生物学的影響を評価する方法。 - 特許庁 - To provide a method and a device for testing a digital radio system which do not cause errors in test results, and enable proper maintenance and administration of the digital radio system.
試験結果に誤差が生じることがなくかつデジタル無線システムの適正な維持および管理を図ることができるデジタル無線システム試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a wiring structure and a wiring method in which the addition of a test circuit by a user can be controlled, and a scan clock can be supplied at each clock domain.
ユーザによるテスト回路の追加を抑制することが可能であり、クロックドメイン毎にスキャンクロックを供給可能な配線構造及び配線方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of providing ootid or oocyte in optimum state to test, by preventing adhesion and activity decrease during transportation thereof.
卵細胞または卵母細胞の輸送過程における接着や活性低下を防止して、当該細胞を最適な状態で実験に供するための方法を提供すること。 - 特許庁 - This method for testing mutagenicity using a bacterium is characterized by the step in which a test molding is made be directly contacted with a medium.
細菌を用いた変異原性試験方法において、培地に被検体である成形物を直接接触させる工程を有することを特徴とする変異原性試験方法。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ACCELERATED OXIDATION TEST OF FUEL OR MINERAL OIL PRODUCT, COMPUTER PROGRAM FOR CONTROLLING THE DEVICE, AND MEMORY MEDIA READABLE BY COMPUTER
燃料または鉱物油製品の加速酸化試験の方法とその装置ならびにその装置をコントロールするためのコンピュータ・プログラムおよびコンピュータによる読み取り可能なメモリメディア - 特許庁 - To provide a semiconductor wafer test method and a semiconductor wafer tester which can compensate the unevenness of electric characteristics on a holding surface of a sample chuck.
サンプルチャックの保持面における電気的特性のばらつきを補償することができる半導体ウェハ試験方法および半導体ウェハ試験装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of integrating, into a process control program or a safety control program using a field device, online test function of its field device.
フィールドデバイスを用いるプロセス制御プログラムまたは安全制御プログラムに対して、それらのフィールドデバイスのオンライン試験機能を統合するような方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device inspection method for highly reliably managing rewriting times in a test process concerning each semiconductor device, and to provide the semiconductor device.
個々の半導体装置について、試験工程での書き換え回数を信頼性高く管理できるようにした半導体装置の検査方法及び半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To provide semiconductor integrated circuits which can be driven by respectively different power supply voltages in accordance with manufacturing dispersion, and provide a test method for guaranteeing the operation.
製造ばらつきに応じて異なる電源電圧で動作させることが可能な半導体集積回路およびその動作を保証するための試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device with high reliability, capable of stably carrying out a test of the semiconductor device, after forming an electrode.
電極を形成後において、半導体装置のテストを安定的に実施することができるとともに信頼性の高い半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for designing a semiconductor integrated circuit capable of reducing power consumption in a scan test: a program for designing the semiconductor integrated circuit: and the semiconductor integrated circuit.
スキャンテストにおける消費電力を低減する半導体集積回路設計方法、半導体集積回路設計プログラム、及び半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - To provide a waveguide twist tester and a waveguide twist test method which can correctly and easily assess the twist tolerance of a waveguide.
導波路のねじり耐性を正確かつ容易に評価することのできる導波路のねじり試験機、及び、導波路のねじり試験方法を提供することである。 - 特許庁 - To shorten a test time and to reduce waste of water and pressurization gas and further to improve responsiveness of a pressure fluctuation in a method for detecting and testing the membrane damage of a filtration membrane.
ろ過膜の膜損傷検知試験方法において、試験時間を短縮し、かつ水や加圧気体の浪費を低減し、さらに圧力変動の応答性を向上する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for accurately measuring the viscoelasticity characteristic value of even an especially soft test piece.
特に軟質な試験片であっても、その粘弾性特性値が正確に測定されうる粘弾性特性値測定装置及び粘弾性特性値測定方法を提供する。 - 特許庁 - To prevent a guideline from reversing in the deep blood vessel puncture method having use of the guideline so that the guideline is prevented from being broken by the edge of the test puncture needle.
ガイドラインを使用する深部血管穿刺術において、ガイドラインの逆進を防止することにより、ガイドラインが試験穿刺針の刃先で破損されることを防止する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which can have its functions tested only by an inexpensive test device without specially using an expensive high- speed digitizer and its testing method.
高価な高速デジタイザーを別途使用することなく、安価なテスト装置のみで機能テストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a mask structure and method in which deterioration of a pellicle is quantitatively measured, in the manufacture of a photomask, by measuring superposition in the test structure on the mask.
フォトマスクの製造で、マスク上のテスト構造での重なり合いを測定することによってペリクル劣化を定量的に測定するマスク構造／方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for designing a semiconductor integrated circuit capable of reducing power consumption in a functional macro test by providing a control circuit for a gated clock buffer (GCB).
ゲーテッドクロックバッファ（ＧＣＢ）の制御回路を設けることにより、機能マクロ試験時の消費電力を削減できる半導体集積回路の設計方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid sample monitoring device, concretely a method for manufacturing and designing a test sensor for use in the measurement of an object to be analyzed in a liquid sample.
液体試料モニタリング装置に関し、より具体的には、液体試料中の分析対象物の測定に使用するための試験センサの製造及び設計に関する。 - 特許庁 - This method can include a step of constituting different programmable test clock controllers so that different clock domains may be tested mostly in parallel.
種々の実施形態において、本方法は、異なるクロックドメインをほぼ並行してテストするように異なるプログラム可能テストクロックコントローラを構成する段階を含むことができる。 - 特許庁 - To provide a method for rapidly and simply measuring the yeast agglutination activity of malt becoming a raw material without actually performing a fermentation test using yeast.
酵母を用いて実際に発酵試験を行うことなく、迅速かつ簡便に原料となる麦芽に含まれる酵母凝集活性を測定する方法を提供すること。 - 特許庁 - The test signal thus recorded is reproduced, to measure the jitter measured, and in the manner that the measurement is reduced, the method of waveform correction is changed in the waveform correcting circuit.
そして、記録したテスト信号を再生してそのジッタを測定し、測定値が減少するように、波形補正回路６０における波形補正の方法を変更する。 - 特許庁 - To provide an image processing apparatus and an image processing method which properly composite test patterns sequentially in accordance with the image processing details in each of image processing steps.
本発明は、各画像処理段階でその画像処理内容に応じて適切にテストパターンを順次合成する画像処理装置及び画像処理方法に関する。 - 特許庁 - After inoculating a test piece on a medium supplemented with fluorescein substrate or luminescent substrate, the method performs inspection by measuring signals generated over time and comparing the signals.
蛍光基質、或いは発色基質を添加した培地に試料を接種した後、経時的に生成する信号を測定し、その信号を比較することにより検査を行う。 - 特許庁 - The method of constructing an air conditioning system 1 comprises a refrigerant circuit constructing step, an air sealing test step, an air sealing gas releasing step, and a noncondensable gas exhausting step.
空気調和装置１の施工方法は、冷媒回路構成ステップと、気密試験ステップと、気密ガス放出ステップと、非凝縮性ガス排出ステップとを備えている。 - 特許庁 - To provide a screening method of a pig infected by verotoxin type 2e (VT2e) produced Escherichia coli by a field test, by detecting infection of verotoxin type 2e (VT2e) produced Escherichia coli.
ベロ毒素タイプ2e（VT2e）産生大腸菌の感染を検出し、野外試験によりベロ毒素タイプ2e（VT2e）産生大腸菌に感染している豚をスクリーニングする方法の提供。 - 特許庁 - To provide an interferometer system and a signal processing method and the like in the interferometer system capable of measuring position information of test objects with high precision.
高い精度をもって測定対象の位置情報を測定することができる干渉計システム及び干渉計システムにおける信号処理方法等を提供する。 - 特許庁 - The relation between the strain gradient and the deformation limit is acquired by a hole-enlarging experiment while variously changing an initial hole diameter and the shape of a punch in a hole-enlarging test method.
ひずみ勾配と変形限界量の関係は、穴広げ試験方法において、初期穴径およびポンチ形状を種々変えて、穴広げ実験を行うことにより得られる。 - 特許庁 - To provide an eye target presentation device, an optometric apparatus and the eye test method by using the optometric apparatus capable of measuring eyesight of a subject easily by taking no time.
時間を掛けることなく容易に被検者の視力を測定することができる視標呈示装置、検眼装置及び該検眼装置を用いた検眼方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a fastening fixture of communication connectors allowing a port communication test to be performed in a short time and a method of testing port communication of a communication equipment using the fastening fixture.
短時間でポート通信試験を行なうことのできる通信用コネクタ固定器具及びそれを用いた通信機器のポート通信試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a tensile characteristics measuring method and a tensile characteristics measuring apparatus which are widely applicable for fragile materials whose strength measurement is difficult by the conventional tensile test.
従来の引張試験では強度測定が困難な脆弱な材料に広く適用可能な引張特性測定方法および引張特性測定装置を提供する - 特許庁 - To provide an evaluating method capable of smoothly evaluating separation performance (interlayer separation characteristics) of S-shaped curves in an optical pickup device and to provide a test disk used for the same.
光ピックアップ装置におけるＳ字カーブの分離性能（層間分離特性）を円滑に評価し得る評価方法およびそれに用いるテストディスクを提供する。 - 特許庁 - To test and manage crystallinity of a polysilicon film by a method wherein impurities of a predetermined value or less are introduced to a semiconductor thin film, and an electric characteristic of the semiconductor thin film is measured to evaluate the crystallinity of the semiconductor thin film.
レーザー結晶化直後やひきつづくプロセスでｐｏｌｙ−Ｓｉ膜中の欠陥を検査する半導体薄膜の結晶性検査方法を与える。 - 特許庁 - The test load applying method includes a step in which an actuator 4 attached to a support section 91 pulls first and second link beams 5, 5 through a load tournament 2.
試験荷重負荷方法は、支持部９１に取り付けられたアクチュエータ４が負荷トーナメント２を介して第１リンクビーム５及び第２リンクビーム５を引っ張るステップを具備する。 - 特許庁 - To provide a sample producing method which can produce an in-line test sample, without contaminating wafers and bring the wafer back to a production line thereby contributing to the production.
インライン検査試料作製をウエハを汚染することなく行うことができ、ウエハを製造ラインへ戻して生産に寄与することができる試料作製方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for measuring a polarization optical property of an optics system under test more simply without using any optical element such as a wave plate, a polarizer or the like, in comparison with conventional methods.
波長板や偏光子などの光学素子を使用しないで被検光学系の偏光光学特性を従来よりも単純に計測する方法に関する。 - 特許庁 - To provide a method for estimating reduced powderizing amount of sintered ore in a blast furnace, which is not completely difficult to accurately measure in JIS-RDI test, regulated in JIS M 8720.
従来のJIS M 8720に規定されたJIS-RDI試験では、必ずしも正確に測定することが難しい高炉内焼結鉱の還元粉化量評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for easily and quickly judging the contamination of a test specimen with the tissue or secretion of a genetically modified animal at a low cost.
被判別試料に遺伝子組換え動物の組織又は分泌物が混入しているか否かを簡便、迅速、且つ低コストで判別できる方法などを提供する。 - 特許庁
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