「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 125 126 127 128 129 130 131 132 133 .... 161 162 次へ＞- To provide a semiconductor integrated circuit and a test clock signal control method capable of performing a fine timing setting have freedom in timing adjustment of an internal signal by taking a test clock signal for timing adjustment from the outside and replacing the signal with an internal clock signal.
外部からタイミング調整のためのテストクロック信号を取込むようにして内部のクロック信号と置きかえることにより、内部信号のタイミング調整において自由度がありかつ微細なタイミング設定をすることが出来る半導体集積回路及びテストクロック信号制御方法を提供する。 - 特許庁 - The method for patient evaluation includes: a process for performing an exercise test on a patient; a process obtaining an electrocardiogram during the exercise test; a process converting the electrocardiogram to an audio file; and a process analyzing the audio file in order to evaluate the patient.
本明細書では患者を評価するための方法は、患者に対してエクササイズ検査を実施する工程と、エクササイズ検査中に心電図を取得する工程と、心電図をオーディオファイルに変換する工程と、患者の評価のためにオーディオファイルを解析する工程と、を含む。 - 特許庁 - To provide a decarburized layer evaluation method for a steel material for quickly and precisely making an evaluation of a test on various subjects related to decarbonization such as an unknown heating condition of a decarburized steel material and a test on a carbon concentration profile of the decarburized steel material.
脱炭に関する様々な課題例えば加熱条件が未知の脱炭鋼材について加熱条件を調べたり、脱炭鋼材の炭素濃度プロフィルを調べたりすることなどに対して、迅速かつ正確な評価を行うことができる鋼材の脱炭層評価方法を提供する。 - 特許庁 - The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system.
一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。 - 特許庁 - In the sample producing method, a groove section 12 is formed by etching / removing the periphery of a region, including a prescribed test point 7 disposed on the surface of the semiconductor wafer 14 treated in prescribed processes in a semiconductor device production line, and the region including the prescribed test point 7 is made thin.
半導体デバイス製造ラインで所定の処理を施した半導体ウエハ１４に対し、ウエハ表面に形成された所定の検査箇所７を含む領域の周辺部をエッチング除去して溝部１２を形成するとともに所定の検査箇所７を含む領域を薄片化する。 - 特許庁 - To provide a dedicated reading/quantifying apparatus for reading an expiration date of a test paper piece using a visual carrier such as gold colloidal particles and blue latex particles as a labeling antibody, and using the test paper piece for informing a user of the expiration date and improving the reliability in an immunological chromatograph method.
免疫学的クロマトグラフ法において、標識抗体に金コロイド粒子やブルーラテックス粒子などの可視担体を用いる試験試験片紙片の有効期限を読み取り、ユーザーに知らせ測定の信頼性を高める試験紙片を用いる専用の読み取り定量装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method whereby a specimen, which is preferably protected from direct contact to a worker or exposure to the outer environment from the viewpoint of hygiene like a specimen to be used in testing an infectious bacterium or virus, can be safely and effectively handled and treated; and a test kit.
感染性の細菌やウイルスの検査などに用いられる検体のように、衛生上の見地から取り扱い者に触れたり、外部環境に露出することが望ましくないような検体を安全に、かつ効率よく取り扱い、処理することが可能な検査方法および検査キットを提供する。 - 特許庁 - To provide a generating method and the like generating both or either test programs and/or test pattern programs used in each of plurality of semi-conductor testing devices of different programming languages, in which processing lines are simple and vainness is removed, without artificial technique.
プログラム言語が異なる複数の半導体試験装置のそれぞれで用いるテストプログラム及びテストパタンプログラムのいずれか又は両者を生成するための生成方法等であって、人為的な手法ではなく、処理工程がシンプルで無駄を取り除いた生成方法等を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.
より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electrostatic capacitance-type input device, a method of testing the electrostatic capacitance-type input device capable of reliably detecting whether or not a short circuit is formed in the electrodes used for detecting an input position without using a large-scale test device, and a driving device for an electrostatic-type input device capable of implementing such a test method.
大掛かりな検査装置を用いなくても、入力位置検出用の電極が断線しているか否かを確実に検出することのできる静電容量型入力装置、該静電容量型入力装置の検査方法、およびかかる検査方法を実現可能な静電容量型入力装置用駆動装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a control material and a calibration material in a pathologic range of a coagulation test (preferably a general purpose test), which is simpler than a conventional method and therefore inexpensive, and the control material manufacturable more simply with higher reproducibility than a conventional material.
本発明の課題は、従来の方法よりも簡易であり、したがって安価な、凝固試験（好ましくは汎用試験）の病理学的範囲についてのコントロール物質および較正物質の製造方法を提供すること、ならびに従来の物質よりも簡単に且つ高い再現性で製造できるコントロール物質を提供することである。 - 特許庁 - This measuring method of the volatile organic compounds from the building material is characterized by collecting a test piece from the coating- processed building material, sealing the test piece in a glass bottle, and, after heating, measuring the kind and the concentrations of the volatile organic compounds in the glass bottle and the concentration of the total volatile organic compounds by a gas chromatographic mass spectrometry head space method.
塗装加工建材から試験片を採取し、該試験片をガラス瓶に密封し、加温後、ガスクロマトグラフ質量分析ヘッドスペース法により、該ガラス瓶中の揮発性有機化合物の種類及びその濃度、並びに全揮発性有機化合物の濃度を測定することを特徴とする建材からの揮発性有機化合物の測定方法。 - 特許庁 - There are provided a surface microstructure manufacturing method for manufacturing an unevenness P3 of nano meter order through dry etching by seeding a nano diamond fine particle P2 on the test piece surface of a test piece P1 composed of silicon, gallium arsenide, and diamond and using this as a minute hard mask, and a diamond nano electrode manufacturing method using the microstructure.
シリコン、ガリウム砒素、ダイヤモンドからなる試料Ｐ１の試料表面にナノダイヤモンド微粒子Ｐ２を種付けしてこれを微小ハードマスクとして使用し、ドライエッチングを行うことによりナノメートルオーダーの凹凸Ｐ３を製造することを特徴とする表面微細構造製造方法及びこの微細構造を利用したダイヤモンドナノ電極の製造方法。 - 特許庁 - Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.
さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁 - As for a contactor used for test of LSI with minute terminals and its manufacturing method, to provide a conductor wherein a lot of probes become possible to be formed at a low cost, that has good heat resistance and a mechanical life of several hundred times and also that is capable of conducting a fast turn-around test and its manufacturing method.
本発明は、微細な端子を有するＬＳＩの試験に使用されるコンタクタ及びその製造方法に関し、低コストで多数のプローブが形成可能であり、良好な耐熱性と数百回の機械的寿命を有し、且つ、高速動作試験を行うことができるコンタクタ及びその製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide an electron microscope device in which analysis of spacial configuration is made possible by applying a CT method (computerized tomography method) without segmentizing the test piece and application of the CT method is possible in a general case.
ＣＴ法を応用することにより試料を切片化することなしに立体構造の解析を可能とし、電子顕微鏡装置に特有の問題を解決して、一般的なケースにおいてＣＴ法の応用が可能である電子顕微鏡装置を提供する - 特許庁 - Provided are a method for measuring the citrulline-reacted GFAP by an immunity measurement using the antibody or its antigen-binding fragment, and a method for detecting a neurodegeneration disease, indicating the amount of the citrulline-reacted GFAP in a test sample, measured by the measurement method.
また、該抗体又はその抗原結合性断片を用いた免疫測定によるシトルリン化GFAPの測定方法、及び該測定方法により測定した被検試料中のシトルリン化GFAPの存在量を指標とする神経変性疾患の検出方法を提供した。 - 特許庁 - To provide a method for determining a fatigue degree of a subject using the biological sample which can be easily obtained from the subject, a method for determining the effectiveness of a test article to the fatigue, a method for searching the substance that can recover, improve or prevent the fatigue, and to provide a method for a fatigue determining reagent or kid.
被験体より容易に入手し得る生体試料を用いた被験体の疲労の程度を判定する方法、被験物質の疲労に対する有効性を判定する方法、疲労を回復、改善又は予防し得る物質を探索する方法、及び疲労判定試薬又はキットを提供すること。 - 特許庁 - To provide a new labeling method that is preferably applicable to a labeling enzyme such as luciferase, having difficulty in a direct labeling method by a chemical modification method and has a simple labeling operation and a high degree of freedom in construction of detection system, and a test substance measurement method using the same.
ルシフェラーゼ等のような化学修飾法による直接標識法が適用困難な標識酵素に対しても好ましく適用可能であり、且つ標識操作も簡便で検出系構築の際の自由度が高い新規な標識方法、並びにこれを用いた被検物質測定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a separation membrane module causing no deformation nor crashing of the membrane even when a centrifugal molding method is adopted as a potting method, realizing superior fixing property, sufficiently demonstrating its function over a long period of time, its production method, and the airtight test method of the separation membrane module.
ポッティング法として、遠心成形法を行う場合であっても、膜の変形・潰れ現象などを起こすことなく、優れた固着を実現し、長期に亘って、その機能を十分に発揮させるようにした分離膜モジュールとその製造方法並びに分離膜モジュールの気密検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide method and program for predicting software reliability, a computer readable recording medium recording the predicting program, and a software reliability predicting device allowing accurate planning of a test process by estimating an upper limit of an estimated value of the number of potential bugs existing in software just after starting the test and thus estimating the test period somewhat long.
試験開始後間もない時点で、ソフトウェア内に存在する潜在バグ数の推定値の上限を見積もり、それに伴い試験期間を多少長めに見積もることで、試験工程の正確な計画を立てることを可能にするソフトウェア信頼性予測方法、ソフトウェア信頼性予測プログラム及び当該予測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びにソフトウェア信頼性予測装置を提供する。 - 特許庁 - This examining method comprises culturing a cell in which SR-PSOX gene is forcibly expressed and a fluorescently labeled bacterium in the presence or absence of a test substance and, in the cell cultured in the absence of the test substance and the cell culture in the presence of the test substance, each measuring a ratio of the cell in which the bacterium is taken or an amount of bacterium taken in the cell.
ＳＲ−ＰＳＯＸ遺伝子を強制発現させた細胞と蛍光標識された細菌とを被験物質の存在下または非存在下で培養し、次いで、被験物質非存在下で培養した細胞と、被験物質存在下で培養した細胞とについて、それぞれ細菌が取り込まれた細胞の割合または細胞内に取り込まれた細菌の量を測定することを特徴とする試験方法。 - 特許庁 - There is provided a screening method of candidate compounds of acid-fast bacterium growth inhibitors, screening from the test compound group consisting of one or plural test compounds, the test compounds having selectively inhibiting activity to the reaction synthesizing in the cell of the acid-fast bacterium, phosphatidylinositol phosphate (PIP) from CDP-diacylglycerol and inositol monophosphate, and selecting as the candidate compounds of the acid-fast bacterium growth inhibitors.
１または複数の被検化合物からなる被検化合物群の中から、抗酸菌の菌体内においてＣＤＰ−ジアシルグリセロールとイノシトール１−リン酸とからホスファチジルイノシトールリン酸（ＰＩＰ）を合成する反応に対する選択的阻害活性を有する被検化合物をスクリーニングし、抗酸菌生育阻害剤の候補化合物として選定する抗酸菌生育阻害剤の候補化合物のスクリーニング方法。 - 特許庁 - The method for selecting the candidate substance of the obesity-suppressing agent includes making a test substance in contact with cells, measuring the expression of an MXD3 gene in the cells, and in the case that the expression of the MXD3 gene is inhibited on making the contact with the test substance as compared with not making the contact, and selecting the test substance as the candidate substance of the obesity-suppressing agent.
試験物質を細胞と接触させ，細胞におけるＭＸＤ３遺伝子の発現を測定し，そして，試験物質と接触させたときに接触させていないときと比較してＭＸＤ３遺伝子の発現が抑制されている場合に，その試験物質を肥満抑制剤の候補物質として選択することにより，肥満抑制剤の候補物質を選択する方法が開示される。 - 特許庁 - The method for detecting and quantitatively determining the species-specific DNA of wheat in a test specimen by polymerase chain reaction includes a step of amplifying a nucleic acid having a partial sequence by using a nucleic acid in the test specimen or a nucleic acid extracted from the test specimen as a template and using a primer pair amplifiable of the partial sequence in a specific base sequence, and a step of detecting or quantitatively determining the amplified nucleic acid.
被検試料中のコムギ種特異的ＤＮＡを、ポリメラーゼ連鎖反応によって検出又は定量する方法であって、被検試料中の核酸又は被検試料から抽出した核酸を鋳型とし、特定の塩基配列中の部分配列を増幅可能なプライマーペアを用いて、部分配列を有する核酸を増幅する工程と、増幅された核酸を検出又は定量する工程と、を含む方法。 - 特許庁 - This method includes a process during which a configuration file including predetermined parameters prescribing the type and function of the device is read, and then, by generating test components, for generating a test environment, which have been selected according to the configuration file by adopting a configuration engine and have been connected, through a bus, to device representation, the test environment for the device is dynamically generated.
本方法は、デバイスのタイプおよびデバイスの機能を規定する予め定められたパラメータを含むコンフィギュレーション・ファイルを読み込み、次に、コンフィギュレーション・エンジンを採用して、前記コンフィギュレーション・ファイルに従って選ばれ、バスを介してデバイス表現と接続されることによって試験環境を生成する試験部品を生成することによって前記デバイスのための試験環境を動的に生成する工程を含む。 - 特許庁 - To provide a compact and low-cost characteristic test device and a characteristic test method allowing a test in a short time while being able to increase the number of optical modules to be tested, and performing temperature control only to the optical module to be tested and needing to move a measuring means only in a single direction.
検査対象の光モジュールの数を増やすことが可能なうえ、短時間に検査することができる小型で安価な特性検査装置と特性検査方法を提供することを第１の目的とし、第１の目的に加え、検査対象の光モジュールのみに温度制御を施すことができ、測定手段を単一の方向のみに移動させるだけでよい特性検査装置と特性検査方法を提供することを第２の目的とする。 - 特許庁 - In the accelerated weatherability test method for arranging a sample inside a case and performing accelerated weatherability test by irradiation from an artificial light source, illumination value is measured with time, integrated light quantity is continuously calculated with time based on the data of the temporal illumination value, and the artificial light source is turned off with reference to the completion of the test when the integrated light quantity reaches a certain value set previously.
筐体の内部に試料を配置して人工光源からの照射によって促進耐候性試験を行う促進耐候性試験方法において、経時的に照度値を測定し、該経時的な照度値のデータより積算光量を経時的に算出し続け、試験の完了に係る該人工光源の消灯を、事前に設定した一定値に該積算光量が至った際に行うことを特徴とする。 - 特許庁 - In this method, under use of at least one spatial arrangement of the radiation source 11, the detector 13, and a test object 58 substituted for a subject 18 to be scanned, a filter for providing optimum filter processing and back projection of the projection data of the test object for tomographic image display in a given arrangement and by means of repeated reconstruction technique and test projection is determined.
本発明の方法においては、放射線源（１１）と検出器（１３）と走査すべき対象（１８）の代わりの試験対象（５８）との少なくとも１つの同じ空間的配置の使用下で、試験投影および反復式の再構成技術によって、与えられた配置において断層撮影表示のための試験対象の投影データの最適なフィルタ処理および逆投影を与えるフィルタが決定される。 - 特許庁 - This post-operative prognosis testing method for the patients with lung cancer, which includes measuring of the amount of manifestation endogenous secretory RAGE (Endogenous Secretory Receptor for Advanced Glycation End products: esRAGE), a test kit used for the above method, a prognosis testing reagent for the patients with lung cancer comprising anti-esRAGE antibody, etc.
内在性分泌型RAGE（Endogenous Secretory Receptor for Advanced Glycation End products :esRAGE）の発現量を測定することを含む、肺癌患者の術後予後検査方法、それに使用する検査キット、抗esRAGE抗体から成る肺癌患者の予後検査用試薬等を提供する。 - 特許庁 - To provide an evaluation method which can perform evaluation of heat fluctuation characteristics in a comparatively short time, without being accompanied by complicated adjustment work in an evaluation test of heat fluctuation accompanied by acceleration; and to provide an evaluation device for the evaluation method.
加速を伴う熱揺らぎの評価試験において、煩雑な調整作業を伴わず、かつ比較的短時間で熱揺らぎ特性の評価を行うことのできる評価方法及びそのための評価装置を提供する。 - 特許庁 - Pinching faces given shapes of chuck jaws 27 and 28 of a chuck device adapted to grasp a test piece 21 being pinched are improved in hardness by forming a hard film thereon out of titanium or a titanium compound using a PVD method or a CVD method.
試験片２１を挟着して把持するつかみ具のつかみ歯２７、２８の歯形を有する挟着面を、ＰＶＤ法あるいはＣＶＤ法を用いてチタンあるいはチタン化合物による硬質被膜を形成して硬度を向上させる。 - 特許庁 - To provide a method for producing an optical glass which has a prescribed optical constant, a low glass transition temperature, excellent acid resistance according to the ISO test method, high viscosity at liquid phase temperature and excellent transmissivity, and is suitable for precision press molding.
所定の光学定数を有し、ガラス転移温度が低く、ＩＳＯ試験法耐酸性に優れ、液相温度における粘度が高く、透過率に優れ、精密プレスモールド成形に適した光学ガラスの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.
パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a simultaneous determination method of atoropine and scopolamine dispensing with complicated pretreatment operation not only to simplify a quantitative analyzing method of a scopolia extract but also to conserve labor in a quality evaluation test of a digestive preparation.
煩雑な前処理操作を不要としたアトロピン及びスコポラミンの同時定量方法を提供し、もってロートエキスの定量分析方法を簡易化し、胃腸薬製剤の品質評価試験の省力化を図ることを目的とする。 - 特許庁 - To provide a short-time and highly accurate inspection method, and inspection equipment by using a signal, except an electric signal such as current, voltage by a charge/discharge test as a method for inspecting an internal state of a lithium ion secondary battery in details.
リチウムイオン二次電池の内部状況を詳細に検査する方法として、充放電試験による電流，電圧等の電気的信号以外の信号を用いて、短時間で、高精度な検査方法、及び検査装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING THIN FILM STRUCTURE CONDUCTOR, THE THIN FILM STRUCTURE CONDUCTOR ACQUIRED BY USING THE SAME METHOD, AND PROBE DEVICE FOR INTEGRATED CIRCUIT TEST USING THE SAME CONDUCTOR
薄膜構造導電体を製造する方法及びその薄膜構造導電体を製造する方法を用いて得られた薄膜構造導電体ならびにその薄膜構造導電体を用いた集積回路テスト用のプローブデバイス - 特許庁 - To provide a semiconductor device provided with temperature detection function detecting the prescribed temperature with less dispersion and optimizing an operation state in accordance with the detected prescribed temperature, a test method, and a refresh-control method.
所定温度をばらつき少なく検出し、検出された所定温度に応じて動作状態を最適化する温度検出機能を備えた半導体装置、試験方法、及びリフレッシュ制御方法を提供することを目的とすること - 特許庁 - To provide an evaluating method for characteristics of a semiconductor laser device, a test method for characteristics of a semiconductor laser device which can accurately evaluate magnitude of return optical noise.
戻り光雑音の大きさを正確に評価でき、かつ、戻り光雑音の大きさを評価する検査ステップを軽減できる半導体レーザ装置の特性評価方法および半導体レーザ装置の特性検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method for a semiconductor device that can conduct a test while the semiconductor device is connected to a lead frame and the lead frame used for the manufacturing method for the semiconductor device.
本発明は、半導体装置をリードフレームに繋がった状態で試験を行うことのできる半導体装置の製造方法及びそのような半導体装置の製造方法に使用するリードフレームを提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a method for estimating a compressive strength of concrete without a need of creating a test piece and without making an experiment to investigate a relationship between an accumulated temperature and the compressive strength, and to provide an apparatus for easily realizing the method.
テストピースの作成を必要とせず、また積算温度と圧縮強度との関係を調べる実験を行うことなく、コンクリートの圧縮強度の推定を行う方法、及びそれを容易に実現する装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a method for generating higher stress in a thin-film material, and an appropriate tool for executing the method in the tool for measuring strength being used for the biaxial tension test of the thin-film material using a one-axis tension tester.
１軸引張試験機を用いて薄膜材料の２軸引張試験を行うのに用いる強度測定治具において、薄膜材料により高い応力を発生させる方法及びこの方法の実施に好適な治具を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for correcting mask data for an LSI, the method capable of reducing the number of measurement points on a test pattern transferred onto a wafer and reducing the measuring time while carrying out optical proximity correction and process proximity correction with high accuracy.
光近接効果補正とプロセス近接効果補正を高精度に行いながら、ウエハー上に転写したテストパターンの測定点数の削減および測定時間の短縮を行えるＬＳＩ用マスクデータ補正方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a method for receipt of an order and delivery of a system and a method for ordering the system which enable a user to realize a cost reduction for tests and shorten a development time by providing a dynamic pre-test on a computer prior to the ordering.
発注前にコンピュータ上で事前動作テストすることができ、テストにかかる費用の節約および開発期間の短縮を実現することが可能なシステム受注納入方法およびシステム発注方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for providing an image quality test and reporting method for X-rays that allows a field engineer to effectively maintain and troubleshoot vascular imaging systems produced by all manufacturers.
サービス技術員があらゆる製造業者により製造された血管イメージングシステムを効果的に保守しかつ故障発見修理することを可能にするような、Ｘ線についての画質テスト及びレポート方法を提供する方法及び装置。 - 特許庁 - To provide a thick steel sheet of at least 50 mm in thickness with excellent long brittle fracture propagation stopping properties, to provide a method for production thereof, to provide a method for evaluating the long brittle fracture propagation stopping performance, and to provide a test apparatus.
長大脆性き裂伝播停止特性に優れる板厚５０ｍｍ以上の厚鋼板およびその製造方法ならびに長大脆性き裂伝播停止性能を評価する方法および試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an exposure method, an exposure device, and a manufacturing method of a semiconductor device, capable of supplying an optimal exposure amount distribution on a wafer even if a dimensional error exists between a device pattern and an exposure amount adjustment test pattern.
デバイスパターンと露光量調整用のテストパターンとの間に寸法誤差があっても、ウェハ上に最適な露光量分布を与えることが可能な露光方法、露光装置、及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a laying structure of a fiber cable, a laying method, and a maintenance method capable of enhancing the safety and operation efficiency of a maintenance operation by facilitating a maintenance operation such as extension works of branching drop lines, a conduction test operation and a repair operation with regard to an optical fiber cable.
光ファイバーケーブルにおいて、ドロップ線を分岐させるなどの増設工事や、導通試験作業、補修作業などのメンテナンス作業を容易に行うことにより、メンテナンス作業の安全性及び作業効率を向上させる。 - 特許庁 - To provide a method and device for estimating the life of a resin lining layer that can quantitatively judge even the fine defect of a resin lining layer, and has the advantage of a percussion test method that can be executed nondestructively and easily.
樹脂ライニング層の微細な欠陥に対しても定量的な判別が可能で、非破壊かつ簡易に実施できるという打診テスト法の利点を備えた樹脂ライニング層の寿命予測法と寿命予測装置とを提供する。 - 特許庁 - To realize a stage transfer control method in an electrically-charged beam device in which an arbitrary part of a test piece can be arranged on an optical axis even when an image is rotated as well as a method and a device for electrically charged particle beam observation.
像の回転を行った状態でも試料の任意の箇所を光軸上に配置することができる荷電粒子ビーム装置におけるステージ移動制御方法並びに荷電粒子ビーム観察方法および装置を実現する。 - 特許庁
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