「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 127 128 129 130 131 132 133 134 135 .... 161 162 次へ＞- To provide an image forming device, an image forming method, and program which can simply set a correction value for reducing density unevenness and can correct the quantity of light by little test printing.
濃度ムラを低減する補正値を簡便に設定することができ、少ないテスト印刷で光量を補正することのできる画像形成装置、画像形成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁 - To find out a method for simply, uniformly and stably dispersing a nanocarbon material in an animal cell culture liquid, so as to accurately and efficiently perform the toxicity test of the nanocarbon material.
ナノ炭素材料を簡便で、均一かつ安定した状態で動物細胞培養液中に分散する方法を見いだし、ナノ炭素材料の毒性試験を正確かつ効率的に行う。 - 特許庁 - To provide a method for determining a creep physical property value efficiently by removing repetition of stress measurement in a plurality of times in each temperature in a conventional creep test.
本発明は、従来のクリープ試験における各温度毎の複数の応力測定の繰り返しをなくし、効率的にクリープ物性値を決定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method for evaluating a corrosion fatigue damage, which simply reproduces the corrosion fatigue damage occurring in various members such as the inner cooling hole of a die and the like, by using a test strip.
金型の内冷孔といった各種部材に発生する腐食疲労損傷を、試験片を用いて簡便に再現する腐食疲労損傷の評価方法を提供する。 - 特許庁 - The method and the apparatus for testing the NQR enable the test of the existence of a nucleus selected in the sample (especially a nucleus in an integral spin quantum number such as ^14N).
本発明はまた、試料における選択された核（特に、^１４Ｎの如き整数スピン量子数の核）の存在についてテストするＮＱＲテストの方法および装置に関する。 - 特許庁 - To provide a program checking device and a program checking method capable of selecting and executing only an absolutely necessary test case and a recording medium with a checking program stored.
必要最小限のテストケースだけを選択して実行することができるプログラム検査装置、プログラム検査方法及び検査を行うためのプログラムを格納した記録媒体を提供すること。 - 特許庁 - In the nozzle defect inspection method, the abnormal nozzles are detected by preventing the erroneous determination by the blurring of ink even though the recording medium for recording the test pattern is the non-coat paper by the above defect determination.
この不良判断により、テストパターンを記録する記録媒体が非コート紙であっても、インクの滲みによる誤判断を防止して異常ノズルを検出するノズル不良検査方法である。 - 特許庁 - This EMI measuring instrument/method is provided with a turn table 2 mounted with an EUT (Equipment Under Test) 1, a turn table controller 3, an antenna 4, a rotary mechanism 5, an antenna controller 6, a measuring instrument 7, and a computer 8.
ＥＵＴ１を載せたターンテーブル２とターンテーブルコントローラ３とアンテナ４と回転機構５とアンテナコントローラ６と測定器７とコンピュータ８と演算機構９とを備える。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR EQUALIZING QUESTION USING NUMBER OF TIMES IN ADAPTIVE TEST AND QUESTION USING NUMBER OF TIMES EQUALIZING PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM WITH THE QUESTION USING NUMBER OF TIMES EQUALIZING PROGRAM STORED THEREIN
アダプティブ試験における問題利用回数均一化方法及び装置及び問題利用回数均一化プログラム及び問題利用回数均一化プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁 - To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.
命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit which highly accurately detects the mixing of foreign matters and makes a stress test in a short period of time, and also to provide an inspection method of the semiconductor integrated circuit.
高い精度で異物の混入が検知可能であり、短時間でのストレス試験が可能な半導体集積回路、および半導体集積回路の検査方法を実現する。 - 特許庁 - To provide a method for testing cytotoxicity, capable of quantifying the toxicity of a chemical subjected to the toxicity test with higher accuracy by accurately measuring the activities of cultured cells one by one.
培養細胞の細胞活性を１個ずつ正確に計測し、被毒性試験化学物質の毒性をより高い精度で定量化できる細胞毒性試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a socket test device and its method capable of testing whether each contact of a socket used for testing a semiconductor device is in a good state or in a bad state.
半導体デバイスをテストするために用いられるソケットのコンタクタの良好及び不良状態をテストすることができるソケットテスト装置及びその方法を提供するにある。 - 特許庁 - To provide an optical head device for arranging a light emitting element in a predetermined position on a device axis without performing correction by a spacer or advance test production, and its manufacturing method.
スペーサなどによる補正や先行試作を行わなくても、装置光軸上の所定位置に発光素子を配置可能な光ヘッド装置およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a flooring made of a fiber which is capable of preventing static electricity by simply placing it on a floor, and a test method for measuring its static electricity preventive function without causing differences among people involved in testing.
単に床に置くだけで静電気を除電することができる繊維製床敷物の提供、並びに個人差を生ずることなく除電性能を測定する試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and method in which an A/D converter mounted on a small-sized integrated circuit, which has neither a D/A converter nor a bulk memory, can be tested with small numbers of pins.
少ないピン数で、Ｄ／Ａ変換器及び大容量メモリを有しない小型集積回路上に実装されたＡ／Ｄ変換器のテストが可能なテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁 - In the adjusting method of a wafer carrying mechanism, an annular scribe line is formed on a wafer for test which is carried on a chuck table by means of the wafer carrying mechanism while rotating the chuck table.
ウエーハ搬送機構の調整方法であって、ウエーハ搬送機構によりチャックテーブル上に搬送された試験用ウエーハにチャックテーブルを回転させながら環状罫書き線を形成する。 - 特許庁 - To provide a microplate which can separate an objective substance in a test body with a high efficiency and with a high throughput, and a separation method using the microplate.
本発明の目的は、検体中の目的物質を高効率でハイスループットに分離することが可能なマイクロプレートおよびそのマイクロプレートを用いた分離方法を提供することにある。 - 特許庁 - To provide the acceleration testing device and acceleration testing method of software for investigating the situations of a failure in the acceleration test of software including an application program in detail.
アプリケーションプログラムを含むソフトウェアの加速試験における不具合の状況を詳細に調査することのできるソフトウェアの加速試験装置及び加速試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and a method of testing a semiconductor memory device having a high degree of freedom in setting conditions of a stress test, and detecting various defects.
ストレス試験の条件設定の自由度が大きく、様々な欠陥を検出可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の試験方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide an in-vitro biofilm model giving an evaluation result similar to a biofilm formed in a human oral cavity, and to provide a method for evaluating a test liquid biofilm-removing effect therewith.
ヒトの口腔内で形成されるバイオフィルムに類似した評価結果が得られるインビトロバイオフィルムモデル及びこれを用いた被検液のバイオフィルム除去効果の評価方法の提供。 - 特許庁 - To provide a new system for automatically analyzing a liquid sample capable of serving various analyses in a concrete diagnosis test method such as clinical chemistry analysis and immunoassay.
臨床化学分析や免疫分析等の具体的診断検査法において様々な分析を行うよう適合させた、液体試料の自動分析用の新規システムを提供する。 - 特許庁 - In this manufacturing method for the semiconductor device, a prototype chip is tested using the semiconductor device, and the semiconductor chips are mass-produced after analysis-evaluating a test result.
本発明の半導体装置の製造方法では、前記半導体装置を用いて、試作チップの試験を行ない、前記試験結果を解析評価した後に、半導体チップの量産を行なう。 - 特許庁 - To provide a method for generating an image whose recessed part is emphasized by which positions and shapes of recessed parts on a surface of a test piece can accurately be observed contactless in a comparatively short time.
非接触で且つ比較的短時間で、試料表面にある凹部の位置及び形状を正確に観察することが可能な凹部強調画像の作成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a heat cycle testing device and a heat cycle test method capable of giving a temperature gradient to a sample, and fluctuating periodically the temperature of an evaluation object portion of the sample.
試料に温度勾配を持たせられ、しかも試料の評価対象部位の温度を周期的に変動可能な熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a tire curbstone run-over testing method and device that can dispense with a plurality of test vehicles, facilitate the maintenance, and prevent a damage in a measuring apparatus.
複数台の試験車を不要にすると共にメンテナンスを容易にし、かつ測定機器に対する損傷を防止することが可能なタイヤ縁石乗り越し試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - Further, in the manufacturing method of the internal unit 1, the underwater air-tightness test is performed in a state of the plurality of heat exchangers 2, 3 being connected to the frame 4 before attaching the plate member 5.
また、庫内ユニット１の製造方法では、板状部材５を装着する前の複数の熱交換器２、３がフレーム４に連結された状態で水中気密試験を行う。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a manufacturing method of the same capable of nicely maintaining the workability of a test process and reducing the generating probability of faulty operation of a semiconductor element.
テスト工程の作業性を良好に維持するとともに、半導体素子の動作不良の発生確率を低減することが可能な半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing a driving noise of road paving materials, which can measure the driving noise for a plurality of test samples of the road paving materials in a short time at low cost.
複数の道路舗装材の試験サンプルに対して短時間で、かつ低コストで走行騒音の測定を行なえるようにした道路舗装材の走行騒音試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a fuse clip with a variable resistor, and a testing system and a testing method capable of attaining high work efficiency in an alarm output test or the like by a power company.
電力会社などにおける警報出力試験などの作業の効率化を図ることができる可変抵抗付きヒューズクリップ，それを用いた試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁 - The device and method are usable in administering a small amount of test material to an animal body such as plant or reptile and testing it for availability as a crop protecting agent.
この装置および方法は少量の試験物質を植物または虫類のような生物体に投与し作物保護剤としてのその有用性を試験するのに使用することができる。 - 特許庁 - To provide a method and a device for entering the test mode of a semiconductor memory device using an internal clock signal for reflecting the change of an external clock only when predetermined conditions are satisfied.
所定条件が満たされる場合にのみ外部クロックの変化を反映する内部クロック信号を用いる半導体メモリ装置のテストモード進入方法及び進入装置を提供する。 - 特許庁 - To achieve reduction in complexity of hardware, reduction of test operation and reduction of system operation even when using a gain factor correspondence table generated by a "computed gain factor" method.
「コンピューテッド・ゲインファクタ」法によって生成されたゲインファクタ対応表を用いる場合であっても、ハードウエアの複雑性の低減や試験稼働の低減やシステム運用の低減を達成する。 - 特許庁 - To set tests of a plurality of kinds of IC's by a simple operation, and to perform the tests automatically, concerning an automatic test method and a program of the IC.
本発明はＩＣの自動試験方法及びプログラムに関し，複数の品種のＩＣの試験を簡単な操作により設定して自動的に試験を実行できることを目的とする。 - 特許庁 - To provide an ion beam processing device and a sample processing method in which a test piece can be extracted from a sample in a short time without moving a stage while carrying out a sampling operation.
サンプリング動作中にステージを移動させることなく試料から試料片を短時間に取り出すことができるイオンビーム加工装置及び試料加工方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for testing an integrated circuit capable of accurately performing an operation test of the integrated circuit even when the integrated circuit operates at a low voltage or a high frequency.
集積回路の動作が低電圧化や高周波数化した場合でも、当該集積回路の動作テストを正確に行うことができる集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device that can avoid plasma damage to a gate insulating film and stably operate even when microfabricated, to provide a test circuit, and to provide an evaluation method using the same.
ゲート絶縁膜に対するプラズマダメージを回避することができ、微細化されても安定に動作可能な半導体装置、テスト回路およびそれを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of testing a semiconductor wafer and an integrated circuit which increases the efficiency of the utilization of a space for test structures in scribed lines formed in an integrated circuit process.
集積回路プロセスにおいて形成されるスクライブライン内において、テスト構造のためのスペース利用の効率を増大させた、半導体ウエハおよび集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of treating an asphalt waste fluid which can treat the asphalt waste fluid formed in the asphalt test without causing environmental contamination to promote the effective utilization of sources.
アスファルト試験で発生するアスファルト廃液を、環境汚染を招くことなく処理でき、資源の有効利用を図ることができるアスファルト廃液の処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a cycle testing device and a cycle test method for acquiring an accurate cycle lifetime to a repeated impact load of an electronic component requiring reliability in radio communication.
無線通信の信頼性が要求される電子部品の繰り返し衝撃負荷に対する正確なサイクル寿命を知ることが出来るサイクル試験装置及びサイクル試験方法を提供する。 - 特許庁 - The surface prearrangement adjuster has preferably 110-200 flow value by a physical property test method of cement (JIS R 5201) in order to prevent sagging when the surface prearrangement adjuster is applied to a surface prearrangement base.
また、セメントの物理試験方法（ＪＩＳ Ｒ ５２０１）によるフロー値が１１０〜２００であることが、下地調整材を下地基材に塗工したときのタレを防止するために望ましい。 - 特許庁 - To provide a method and a device for an automatic test which make function testing operation efficient and improve reliability of the software of a portable telephone by automating the function testing operation for the software.
携帯電話のソフトウエアに対する機能試験作業を自動化し、試験作業を効率化するとともに、ソフトウエアの信頼性を向上させる自動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing device and a testing method capable of performing a test for evaluating pumping-out characteristics (resistance) of heat transfer grease used for accelerating heat radiation of a power module, or the like.
パワーモジュール等の放熱促進用に用いられる伝熱グリースのポンピングアウト特性（耐性）を評価するための試験を実行可能な試験装置、及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection method for a semiconductor integrated circuit including an equalization process for generating a burn-in test pattern for equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化するバーンインテストパターンを生成する平準化工程を含む半導体集積回路の検査方法の提供。 - 特許庁 - To provide an air permeation testing method and its device capable of performing an accurate air permeation test without being affected by fluctuation in an air pressure for testing or in the atmospheric pressure.
検査用の空圧や大気圧の変動に影響されることなく、正確な通気検査を行うことができる棒状物品の通気検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a camera and photography method that prevent a camera user from missing the decisive moment to take a photograph and enable the camera user to test the camera through desired adjustments.
取り返しのつかない写真撮影のチャンスを逃すことを防ぐ一方で、カメラユーザがカメラを自由に調整して試すことを可能にするカメラおよび写真撮影方法を提供する。 - 特許庁 - The method of screening for the compound useful for the treatment of allergic disease, includes a step of determining whether a test compound specifically binds to Vimentin or a functional fragment thereof.
試験化合物が、Ｖｉｍｅｎｔｉｎ又はその機能的断片に特異的に結合するか否かを判定する工程を含む、アレルギー疾患の治療に有用な化合物をスクリーニングする方法。 - 特許庁 - To provide an ozone exposure test method high in reproducibility and reliability even with respect to recorded matter wherein a recording medium such as a printing, ink jet or silver salt photographic medium itself has water/ moisture absorbability.
印刷やインクジェット、銀塩写真など、その記録媒体自体が吸水性・吸湿性を有する記録物に対しても、再現性と信頼性の高いオゾン暴露試験方法の提供。 - 特許庁 - To provide a vibration testing system for facilitating control of response amplitude of the maximum displacement amount and the maximum acceleration of a test object to a target value, and a method for controlling the same.
被試験体の最大変位量や最大加速度の応答振幅を目標値に制御することを容易にすることができる振動試験装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a packaging method that ensures long life in a temperature cycle test and improves junction reliability in a structure where semiconductor devices with solder balls have been mounted on a circuit board.
半田ボールを有する半導体装置を回路基板上に実装した実装構造において、温度サイクル試験による寿命が長く、接合信頼性を高めることができるようにする。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
