「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 48 49 50 51 52 53 54 55 56 .... 161 162 次へ＞- POWER SYSTEM FACILITY CONTROL TEST SUPPORT SYSTEM AND POWER SYSTEM FACILITY CONTROL TEST SUPPORT METHOD
電力系統設備制御試験支援システムおよび電力系統設備制御試験支援方法 - 特許庁 - METHOD FOR MAKING GAS HYDRATE DEPOSIT, APPARATUS FOR MAKING THE SAME, AND TEST PIECE FOR DYNAMIC TEST THEREOF
ガスハイドレート堆積物の作成方法、及びその作成装置、並びにその力学試験用供試体 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit and its test method in which a test time can be shortened.
テスト時間の短縮を可能とする半導体集積回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus which make it possible to perform an air leakage test and a helium leakage test continuously.
エアリークテストとヘリウムリークテストを続けて行うことができる方法，装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electric vehicle and a coupling test method capable of more simply performing a coupling test.
より簡易に併結試験を行うことが出来る電気車両、及び併結試験方法を提供する。 - 特許庁 - TEST STRUCTURE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR DETECTING DEFECT SIZE, AND TEST METHOD USING THE SAME
欠陥サイズを検出することができる半導体素子のテスト構造及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁 - SAFETY EVALUATION TEST METHOD, SAFETY EVALUATION TEST DEVICE, AND DESTRUCTIVE MEASURING INSTRUMENT WITH THERMOCOUPLE
安全性評価試験方法、安全性評価試験装置、および熱電対付破壊測定器具 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST DEVICE THEREFOR AND TEST METHOD THEREFOR
半導体集積回路、半導体集積回路の試験装置、及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁 - TEST EQUIPMENT FOR LIGHT EMITTING CIRCUIT OF FIRE SENSOR AND TEST METHOD FOR LIGHT EMITTING CIRCUIT OF FIRE SENSOR
火災感知器の発光回路の検査装置および火災感知器の発光回路の検査方法 - 特許庁 - MEMORY SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND IC CARD AND MEMORY SELF-TEST METHOD
メモリセルフテスト回路及びそれを備えた半導体装置及びＩＣカード並びにメモリセルフテスト方法 - 特許庁 - SUBSTRATE FIXING DEVICE, MANUFACTURING APPARATUS OF TEST PIECE EQUIPPED THEREWITH AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE
基板固定装置及びこれを備えた試験片の製造装置並びに試験片の製造方法 - 特許庁 - TEST CASE VALIDITY AUTOMATIC VERIFICATION PROGRAM AND TEST CASE VALIDITY AUTOMATIC VERIFICATION RESULT DISPLAY METHOD
テストケース妥当性自動検証プログラムおよびテストケース妥当性自動検証結果表示方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory device and its test method capable of simplifying the stress test.
ストレステストを簡略化出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - PARTIAL DISCHARGE TEST DEVICE FOR PREMOLDED INSULATOR AND PARTIAL DISCHARGE TEST METHOD FOR PREMOLDED INSULATOR
プレモールド絶縁体の部分放電試験装置及びプレモールド絶縁体の部分放電試験方法 - 特許庁 - TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE INCLUDING HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT DEVICE
高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁 - INTAKE MANIFOLD FOR PERFORMANCE TEST, AND ENGINE PERFORMANCE TEST DEVICE AND METHOD USING THE SAME
性能試験用インテークマニホールド、それを用いたエンジン性能試験装置及びその性能試験方法 - 特許庁 - To provide a test method of a circuit suitable for performing a test of reduced incorrect determination.
誤判定の低減された試験を行なうのに適した、回路の試験方法を提供する。 - 特許庁 - TEST METHOD AND TEST DRUG OF PREGNANCY AND PREGNANCY HIGH-BLOOD PRESSURE SYNDROME BY AUTOTAXIN MEASUREMENT
オートタキシン測定による妊娠および妊娠高血圧症候群の検査方法および検査薬 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT HAVING SCAN TEST FUNCTION, AND SCAN TEST METHOD THEREFOR
スキャンテスト機能を有する半導体集積回路及び半導体集積回路のスキャンテスト方法 - 特許庁 - TIMING GENERATING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
タイミング発生回路、半導体試験装置および半導体試験方法ならびに半導体デバイス - 特許庁 - TEST METHOD FOR DETECTING LOCALITY FAULT ON SEMICONDUCTOR WAFER AND TEST SYSTEM USING THE SAME
半導体ウエハ上の局所性不良を検出するテスト方法及びこれを用いるテストシステム - 特許庁 - BROADBAND LOW LOSS COUPLER, TEST TOOL USING THE COUPLER, AND TEST METHOD OF RADIO SIGNAL
広帯域低損失カプラおよび該カプラを用いた試験治具、ならびに、無線信号の試験方法 - 特許庁 - TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE
複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁 - GATED CLOCK CELL, SCAN TEST CONTROL CIRCUIT, AND METHOD FOR DESIGNING RTL LEVEL OF SCAN TEST CONTROL CIRCUIT
ゲーテッドクロックセル、スキャンテスト制御回路及びスキャンテスト制御回路のＲＴＬレベルの設計方法 - 特許庁 - ELECTRICAL CONNECTION APPLIANCE FOR TEST USED FOR MAINTENANCE OF APPARATUS, REMOVABLE COVER AND ELECTRICAL TEST METHOD
機器の保守に用いられる試験用電気接続器具、着脱カバー体及び電気試験方法 - 特許庁 - To provide a method, a test chamber and a test setup for leak testing of a closed container.
閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成を提供する。 - 特許庁 - POWER SYSTEM PROTECTION CONTROL SYSTEM, TEST METHOD, PROTECTION CONTROL DEVICE, MERGING UNIT, AND TEST DEVICE
電力系統保護制御システム、試験方法、保護制御装置、マージングユニット、および試験用装置 - 特許庁 - To provide a transmission characteristic test device for an analog subscriber circuit that can reduce the cost of a test system by decreasing number of test devices and conduct a test in the device of subscriber circuits so as to reduce the test time and to provide a transmission characteristic test method.
計測器を削減することで試験システムを低価格化でき、かつ、複数の加入者回路単位で試験を行ない、試験時間を短縮できるアナログ加入者回路の伝送特性試験装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test support device, a test device, a test support method and a computer program which can appropriately select a test node for obtaining a snapshot so that a test can be completed in the minimum time along all of test scenarios.
全てのテストシナリオに沿ってテストを最小時間で完了させることができるよう、スナップショットを取得するテストノードを適切に選択することができるテスト支援装置、テスト装置、テスト支援方法及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATOR, SCAN TEST METHOD, METHOD FOR DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING METHOD, METHOD FOR EXECUTING SCAN TEST CIRCUIT DESIGN
スキャンテスト回路、自動テストパターン生成装置、スキャンテスト方法、スキャンテスト回路設計方法、自動テストパターン生成方法、スキャンテスト回路設計方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および自動テストパターン生成方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a test item creation device which can be used in an upstream step of a software test, and to provide a test item creation system, a test item creation method, and a test item creation program.
ソフトウェア・テストの上流工程においても用いることの可能なテスト項目生成装置、テスト項目生成システム、テスト項目生成方法、およびテスト項目生成プログラムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit, by which macro and the like of a test object can be tested without adding an external connection pin for a test which is necessary for a test.
テスト時に必要となるテスト用の外部接続ピンを追加することなく、テスト対象のマクロ等をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.
データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide an optical member which clears various environment tests such as a test on adhesive force, a durability test, a high-temperature test, a cycle temperature test and a humidity test without reducing transmittance, and to provide its manufacture method.
透過率を低減させず、密着力、耐久性試験、高温試験、サイクル温度試験、湿度試験等の種々の環境試験をクリアする光学部材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.
多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - There is provided the test method for the computer system including a test environment in which one or more test servers are installed and a test management server which manages an operation test of a system to be tested in the tests environment.
１以上のテスト用サーバを備えたテスト環境と、テスト環境におけるテスト対象システムの動作テストを管理するテスト管理サーバとを備えた計算機システムにおけるテスト方法である。 - 特許庁 - To provide a burn-in test apparatus and test method capable of reducing the cost required for test by performing a characteristic analyzing test in a short time.
短時間で特性解析用試験を行うことで、試験に要するコストを低減することができるバーンイン試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - SOFTWARE TEST ITEM SELECTING DEVICE, SOFTWARE TEST ITEM SELECTING PROGRAM, RECORDING MEDIUM IN WHICH SOFTWARE TEST ITEM SELECTING PROGRAM IS STORED, AND SOFTWARE TEST ITEM SELECTING METHOD
ソフトウェア試験項目選択装置、ソフトウェア試験項目選択プログラム、ソフトウェア試験項目選択プログラムが格納された記憶媒体およびソフトウェア試験項目選択方法 - 特許庁 - To provide a management method of a load test for a web system in which a test cooperator can determine participation in the test after recognizing an execution period of the each test.
テスト協力者が予め各テストの実行期間を認識した上で、テスト参加を決定することができるウェブシステムに対する負荷テストの管理方法を、提供する。 - 特許庁 - To provide a test base apparatus, a test base program and a test base method for automating a test for a Web application for which a name of a parameter received at each access is varied.
アクセスの都度受け付けるパラメータの名前が変化するＷｅｂアプリケーションに対するテストを自動化するテスト基盤装置、テスト基盤プログラム、テスト基盤方法を提供する。 - 特許庁 - A Propagation Test instruction, a Decay Test instruction and a Cycle Test instruction are added to the interconnect circuit test method of a circuit including a conventional JTAG boundary scan cell.
伝搬テスト命令、減衰テスト命令、およびサイクル・テスト命令を従来型ＪＴＡＧ境界スキャン・セルを含む回路の相互接続回路テスト方法に追加する。 - 特許庁 - To provide a method for recovering from a grounding bounce during a boundary scan test, including an integrated circuit test, a board test and/or a system level test and to provide an apparatus for recovering.
集積回路テスト，基板テスト，及び／又はシステム・レベル・テスト中を含む、バウンダリ・スキャン・テスト中に接地バウンスから回復するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test device and a test method which can test a margin in power supply voltage and also a timing margin in a clock with an easy structure in the test device and the test method.
本発明は、試験装置及び試験方法に関し、例えばコンピュータのメモリボードの試験に適用して、簡易な構成により電源電圧に対するマージン、動作基準信号に対するタイミングマージンをも試験することができるようにする。 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT, METHOD OF TESTING THE SAME AND METHOD OF INITIALIZING FLIP-FLOP
スキャンテスト回路とそのテスト方法、およびフリップフロップの初期設定方法 - 特許庁 - METHOD FOR PRINTING TEST PATTERN, METHOD FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE, AND APPARATUS FOR ACQUIRING CORRECTION VALUE
テストパターンの印刷方法、補正値の取得方法、補正値の取得装置 - 特許庁 - NEW LABELING METHOD USING ZINC FINGER AND METHOD FOR MEASURING TEST SUBSTANCE
ジンクフィンガーを用いた新規標識方法及び被検物質の測定方法 - 特許庁 - METHOD OF MAKING CONCRETE TEST BODY AND WATER CONTENT MEASURING METHOD OF CONCRETE
コンクリート試験体の作製方法およびコンクリートの含水率測定方法 - 特許庁 - TEST PATTERN FORMING METHOD, ETCHING CHARACTERISTIC MEASURING METHOD, AND CIRCUIT USING SAME
テストパターン形成方法、それを用いたエッチング特性測定方法及び回路 - 特許庁 - DYNAMIC LOADING DEVICE FOR PILE, DYNAMIC LOADING METHOD FOR PILE AND DYNAMIC LOADING TEST METHOD
杭の動的載荷装置、杭の動的載荷法および動的載荷試験法 - 特許庁 - METHOD OF PROCESSING GEOMETRIC DATA AND METHOD OF CREATING TEST LINE FOR PROTECTING PEDESTRIAN
形状データ処理方法及び歩行者保護用試験線作成方法 - 特許庁
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