「Test method」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目)

「Test method」を含む例文一覧(8057)

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DIAGNOSIS PROGRAM, SWITCH PROGRAM, TEST DEVICE, AND DIAGNOSIS METHOD
診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法 - 特許庁
MEASUREMENT METHOD AND TEST INSTRUMENT USING MAIN AND REMOTE UNITS
主ユニットと遠隔ユニットを用いる測定方法と試験機器 - 特許庁
FLOORING MADE OF FIBER AND TEST METHOD FOR ITS STATIC ELECTRICITY-PREVENTIVE FUNCTION
繊維製床敷物及びその除電性能試験方法 - 特許庁
NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY IC AND ITS BURN-IN TEST METHOD
不揮発性半導体メモリＩＣ及びそのバーンインテスト方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MOTION SIMULATION OF TEST MODEL
試験模型の移動シミュレーション試験方法及びその装置 - 特許庁
DATA TRANSFER TEST SYSTEM AND ITS DATA TRANSFER TESTING METHOD
デ—タ転送試験システム及びそのデ—タ転送試験方法 - 特許庁
TEST METHOD FOR TESTER OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS DEVICE
半導体メモリ装置のテスタのテスト方法及びその装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR DISPENSING DIAGNOSTIC TEST STRIPS
診断検査ストリップを分配するための方法および装置 - 特許庁
TUBULAR BODY SEALING DEVICE, AND AIRTIGHT TEST METHOD OF WELD PART
管体封止装置及び溶接部の気密試験方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TRANSMISSION WAVE FRONT ABERRATION OF TEST LENS
被検レンズの透過波面収差測定方法及び装置 - 特許庁
IN-SITU PERMEABILITY TEST METHOD AND PERMEABILITY COEFFICIENT MEASURING DEVICE
原位置透水試験法及び透水係数の測定装置 - 特許庁
TEST SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING DISPLAY DEVICE
テスト信号発生装置及び表示装置の評価方法 - 特許庁
MAGNETIZER FOR MAGNETIC PARTICLE TEST AND MAGNETIC PARTICLE LIQUID SPRAYING METHOD
磁粉探傷試験用磁化装置及び磁粉液散布方法 - 特許庁
ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT
電気光学装置及びその検査方法並びに電子機器 - 特許庁
NON-WATER TANK PRESSURE EXPANSION TEST METHOD FOR HIGH-PRESSURE GAS CONTAINER
高圧ガス容器の非水槽式耐圧膨張試験方法 - 特許庁
REPRODUCTION POWER TEST METHOD AND OPTICAL INFORMATION REPRODUCING DEVICE
再生パワーテスト方法及び光学的情報再生装置 - 特許庁
METHOD OF DISPLAYING COMMUNICATION TEST RESULT AND COMMUNICATION TESTING DEVICE
通信試験結果表示方法および通信試験装置 - 特許庁
TISSUE FUSION SYSTEM, AND METHOD OF PERFORMING FUNCTIONAL VERIFICATION TEST
組織融合システムおよび機能検証試験の実施方法 - 特許庁
OPTICAL MEDIA CONVERTER DEVICE AND FAULT ISOLATION TEST METHOD
光メディアコンバータ装置および障害切り分け試験方法。 - 特許庁
METHOD FOR ANALYZING SAMPLE ON TEST ELEMENT AND ANALYSIS SYSTEM
テストエレメント上でのサンプルの分析方法および分析システム - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR PREPARING TEST SPECIFICATION
テスト仕様書作成システムおよびテスト仕様書作成方法 - 特許庁
SETTING METHOD OF CORRECTION VALUE, AND TEST PATTERN FOR DENSITY CORRECTION
補正値の設定方法、及び濃度補正用のテストパターン - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR ACQUIRING PROFILE DATA OF MACRO- GRATING TEST PATTERN
マクロ格子テストパターンプロファイルデータ取得システムおよび方法 - 特許庁
IMAGE PROCESSOR AND IMAGE PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND TEST PATTERN
画像処理装置、画像処理方法、プログラムおよびテストパターン - 特許庁
METHOD OF PREVENTING REUSE OF TEST STRIP AND METHOD OF PREVENTING REUSE OF TEST STRIP IN SPECIMEN MEASURING SYSTEM
試験細片の再使用を防止する方法および検体測定システムでの試験細片の再使用を防止する方法 - 特許庁
TEST SHEET, OBJECT DIAGNOSTIC APPARATUS AND METHOD, AND PROGRAM
試験シート、物体診断装置および方法並びにプログラム - 特許庁
To provide an optical test apparatus, a test method, a driving method, and a probe card that are suitable for selectively testing an image sensor.
イメージセンサを選択的にテストするのに適する光学テスト装置、テスト方法、駆動方法、及びプローブカードを提供する。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MAGNETIC HEAD ELEMENT, TESTING DEVICE, AND TEST PROGRAM
磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム - 特許庁
ASSAY PLATE, READER SYSTEM AND METHOD FOR LUMINESCENCE TEST MEASUREMENT
発光試験測定用のアッセイプレート、リーダシステム及び方法 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device and its test method.
半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD USING THE SAME
スキャンフリップフロップ回路及びこれを用いたスキャンテスト方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD OF PROCESSING AND OBSERVING TEST PIECE
集束イオンビーム装置及び試料の加工・観察方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR EXECUTING TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置および半導体装置のテスト実行方法 - 特許庁
TEST METHOD OF DRIVING CIRCUIT AND DRIVING CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE
駆動回路のテスト方法及び表示装置の駆動回路 - 特許庁
PROBE DEVICE, PROCESSING APPARATUS, AND METHOD OF PROCESSING WAFER PROBE TEST
プローブ装置、処理装置及びウェハプローブテストの処理方法 - 特許庁
GAS REMOVAL RATE TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF CHEMICAL FILTER
ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 - 特許庁
METHOD FOR DETERMINING REPRESENTATIVE DENSITY VALUE OF TEST EXPOSURE DOT LINE
テスト露光ドットラインの代表濃度値を決定する方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR MAINTAINABILITY TEST OF POROUS MATERIAL
多孔性材料の保全性試験のための方法及びシステム - 特許庁
METHOD FOR EXECUTING MEMORY TEST, COMPUTER PROGRAM, AND SYSTEM
メモリのテストを実行する方法、コンピュータ・プログラム、およびシステム - 特許庁
METHOD AND TEST MEASUREMENT INSTRUMENT OF SWITCHING OF WAVEFORM DISPLAY STYLE
波形表示スタイル切り替え方法及び試験測定機器 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TEST METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT
半導体装置およびその検査方法ならびに電子機器 - 特許庁
METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁
TEST METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT WITH FLEXIBLE TIMING CONTROL
フレキシブルタイミング制御を有する集積回路のテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS SELF-TEST FAILURE DETECTION METHOD
半導体装置及びその自己試験故障検出方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND TEST METHOD THEREFOR
半導体装置、半導体記憶装置及びその試験方法 - 特許庁
MIMO EVALUATION APPARATUS AND TEST DATA STREAM TRANSMISSION METHOD
ＭＩＭＯ評価装置、及び、試験データストリームの送信方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE THEREFOR
半導体記憶装置、その製造方法、及びその試験装置。 - 特許庁
TEST CARRIER AND MOUNTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT THEREON
テストキャリアとそのテストキャリアへの半導体素子の実装方法 - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR MAINTAINABILITY TEST BETWEEN PROCESSES OF FILTER
フィルタの工程間保全性試験のためのシステム及び方法 - 特許庁

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「Test method」を含む例文一覧(8057)

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