「Test method」を含む例文一覧(8057)

＜前へ 1 2 .... 53 54 55 56 57 58 59 60 61 .... 161 162 次へ＞
  • To provide an automatic test method for preparing for file creation for execution of a test or establishing test environments easily.
    試験の実施のためのファイル作成等の準備や、試験環境構築が簡単な自動試験方法を提供することを目的する。 - 特許庁
  • To provide a vehicle evaluation test system, and a vehicle evaluation test method for accurately and inexpensively attaining vehicle evaluation test, in a short time.
    高精度、短時間、低コストで車両評価試験を実現する車両評価試験システム、車両評価試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide the test device and method of an automatic control function capable of easily performing a test, and obtaining a highly reliable test result.
    試験が容易かつ信頼性の高い試験結果を得ることができる自動制御機能の試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an automatic test tool program and an automatic test method capable of efficiently performing an operation test of a screen display accompanied by an operation.
    操作に伴う画面表示の動作テストを効率的に行える自動テストツール・プログラム及び自動テスト方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a client-server system, a load test method, and a load test program capable of performing a proper load test using a simple structure.
    簡易な構成で適切な負荷テストを行なうことが可能なクライアント−サーバシステム、負荷テスト方法、および負荷テストプログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a scan test circuit with a multiplication circuit for performing a test by changing the speed of a clock by N-multiplication, and to provide a scan test method.
    クロックのスピードをＮ逓倍変化させてテストを行う逓倍回路を設けたスキャンテスト回路およびスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test program generating device and a test program generating system which can be adapted to a new test method without repairing the system main body.
    システム本体の改修無しで新たなテスト手法に適応できるテストプログラム生成装置及びテストプログラム生成システムを得る。 - 特許庁
  • To provide a biaxial testing device and a biaxial test method capable of enlarging a test space and reducing test cost.
    試験スペースの拡大化及び試験コストの低減化を実現することが可能である二軸試験装置及び二軸試験方法を提供する。 - 特許庁
  • TEST VECTOR GENERATOR, TEST VECTOR GENERATING METHOD, FAILURE ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM FOR GENERATING TEST VECTOR
    テストベクタの生成装置、テストベクタの生成方法、半導体集積回路の故障解析装置、およびテストベクタを生成するためのプログラム - 特許庁
  • To provide a wireless communication terminal test apparatus and a wireless communication terminal test method which efficiently reproduce a field test.
    フィールド試験を効率よく再現することのできる無線通信端末試験装置、及び無線通信端末試験方法を提供する。 - 特許庁
  • In this method (900) for assigning the test number, present test flow context information is maintained during execution of a test flow 200 (902).
    テスト番号を割り当てる方法（９００）において、現在のテストフローコンテキスト情報は、テストフロー２００の実行中維持される（９０２）。 - 特許庁
  • To provide a storage circuit controller and a storage circuit test method for obtaining an effective test result even if scan test fails.
    スキャンテストが失敗した場合でも有効なテスト結果を得ることができる記憶回路制御装置、記憶回路テスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test equipment and a method for the same capable of redoubling the throughput of the test capable of simultaneous measurement, and at the same time capable of shortening the test time, with regard to the semiconductor test equipment and the method capable of simultaneous measurement for the multiple objective device.
    同時測定可能な被試験デバイス数を倍増させると同時にテスト時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM
    組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁
  • The tearDown method is a test finalizer method and is run after each test case in the test class.A test finalizer method is not required for running tests, but you may need a finalizer to clean up any data that was required when running the test cases.
    tearDown メソッドはテスト終了メソッドであり、テストクラスの各テストケースのあとに実行されます。 テストの実行にテスト終了メソッドは必須ではありませんが、テストケースの実行時に求められたデータをクリーンアップするために終了メソッドが必要になる場合があります。 - NetBeans
  • The test pattern generation method, test pattern generation system, and test pattern generation device generate the test pattern through the use of a failure simulation execution means for executing failure simulation, and a test pattern generation means for generating the test pattern.
    テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置において、故障シミュレーションを実行する故障シミュレーション実行手段と、テストパターンを生成するテストパターン生成手段とを用いて、テストパターンを生成する。 - 特許庁
  • If you selected JUnit 3 as the version for your tests, the IDE can generate JUnit 3 test suitesbased on the test classes in the test package.In JUnit 3 you specify the test classes to include in the test suite by creating an instance of TestSuite and using the addTest method for each test.
    テストのバージョンとして JUnit 3 を選択した場合、IDE ではテストパッケージのテストクラスに基づいて JUnit 3 テストスイートが生成されます。 JUnit 3 では、TestSuite のインスタンスを作成し、各テストに対して addTest メソッドを使用することによって、テストスイートに含めるテストクラスを指定します。 - NetBeans
  • METHOD AND SYSTEM FOR FOCUS TEST OF LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE
    リソグラフィ装置の焦点試験方法およびシステム、およびデバイス製造方法 - 特許庁
  • AIRTIGHTNESS TEST DEVICE AND METHOD OF WASTE WATER TRAP, AND MANUFACTURING METHOD OF SAME
    排水トラップの気密性検査装置、気密性検査方法、及び製造方法 - 特許庁
  • MEDIA CONVERTER WITH TEST MANAGER, FAULT DETECTION METHOD, AND SYSTEM USING THE CONVERTER AND METHOD
    テストマネージャ付きメディアコンバータ、障害検出方法、およびそれを用いたシステム - 特許庁
  • SOLDER PLATING FILM EVALUATION METHOD, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ACCELERATED TEST EQUIPMENT
    めっき膜評価方法、半導体装置の製造方法及び加速試験装置 - 特許庁
  • AIR PERMEABILITY TEST METHOD OF COATING MATERIAL, AND NEUTRALIZATION RATE CALCULATION METHOD OF CONCRETE
    塗材の透気性試験方法及びコンクリートの中性化率算出方法 - 特許庁
  • TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF DISK DRIVE DEVICE IN CONSIDERATION OF MANUFACTURING EFFICIENCY
    生産効率を考慮したディスク・ドライブ装置のテスト方法及び製造方法 - 特許庁
  • OPERATION TEST METHOD AND APPARATUS AND STANDBY PRESSURE SETTING METHOD FOR GOVERNOR
    整圧器の稼働試験方法および装置、ならびに待機用圧力設定方法 - 特許庁
  • METHOD AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING TEST SUBSTRATE
    半導体素子のテスト方法、そのテスト基板及びそのテスト基板の製造方法 - 特許庁
  • IC TEST HANDLER, ITS CONTROL METHOD AND CONTROL METHOD FOR SUCTION HAND
    ＩＣテストハンドラおよびその制御方法並びに吸着ハンドの制御方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEMORY, ITS TEST METHOD, AND DEFECTIVE CELL RELIEVING METHOD
    半導体記憶回路装置並びにその検査方法及びセル不良救済方法 - 特許庁
  • TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR WAFER
    半導体記憶装置のテスト方法及び製造方法並びに半導体ウェハ - 特許庁
  • TEST METHOD, OPERATING CONDITION SETTING METHOD AND DEVICE CAPABLE OF SETTING OPERATING CONDITION
    試験方法、動作条件設定方法及び動作条件設定可能な装置 - 特許庁
  • PROGRAM TEST DEVICE, DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST PROGRAM AND INFORMATION RECORDING MEDIUM
    プログラム試験装置、試験用プログラム作成装置、試験用プログラム作成方法及び情報記録媒体 - 特許庁
  • To provide a nonvolatile semiconductor memory device and its self-test method, in which a test time can be shortened.
    テスト時間を短縮できる不揮発性半導体記憶装置及びその自己テスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an error correction test method capable of executing a test based on an accurate data error.
    正確なデータエラーに基づいてテストを実行することができるエラー訂正試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method for determining when executing a test of overspeed protection system of a power plant machine.
    パワープラント機械の過速度保護システムの試験を行うときを決定する方法を提供すること。 - 特許庁
  • SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM
    動物検査情報提供システム、中央装置、動物検査情報提供方法及びコンピュータプログラム - 特許庁
  • START FILE CREATING DEVICE, CONTROLLER, CONNECTION TEST SYSTEM FOR MONITORING SYSTEM, AND CONNECTION TEST METHOD OF MONITORING SYSTEM
    起動ファイル作成装置、コントローラ、監視システムの接続試験システム及び監視システムの接続試験方法 - 特許庁
  • BURN-IN BOARD, BURN-IN TESTER, BURN-IN TEST METHOD AND MEMORY MEDIUM HAVING STORED BURN-IN TEST PROGRAM THEREON
    バーンインボード、バーンイン試験装置、バーンイン試験方法、及び、バーンイン試験プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST DRUG OF SYSTEMIC LUPUS ERYTHEMATOSUS PHOSPHATIDYL SERINE SPECIFIC PHOSPHOLIPASE A1 MEASUREMENT
    ホスファチジルセリン特異的ホスホリパーゼＡ１測定による全身性エリテマトーデスの検査方法および検査薬 - 特許庁
  • To provide a semiconductor storage and a test method which can perform a read-out test at high speed.
    高速で読出しテストを行なうことができる半導体記憶装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method capable of easily preparing a test pattern.
    テストパターン作成の容易化等を実現できるテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁
  • AMPLIFICATION CONTROL DEVICE, TEST SIGNAL GENERATION MODULE, TEST DEVICE, AMPLIFICATION CONTROL METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    増幅制御装置、試験用信号生成モジュール、試験装置、増幅制御方法、プログラム、記録媒体 - 特許庁
  • To provide a sterilization/disinfection test system and a control method suitable for collecting test data.
    検査データを収集するのに適した殺菌・消毒検査システムおよび制御方法を提供する。 - 特許庁
  • TEST PATTERN COMPRESSION METHOD AND APPARATUS, TEST PATTERN COMPRESSION PROGRAM, AND MEDIUM WITH THE PROGRAM STORED
    テストパターンの圧縮方法および装置、並びに、テストパターンの圧縮プログラムおよび該プログラムを記録した媒体 - 特許庁
  • VEHICLE COLLISION SIMULATION TEST DEVICE AND METHOD THEREOF, AND VEHICLE COLLISION SIMULATION TEST DEVICE CONTROLLER
    自動車衝突模擬試験装置及びその方法と自動車衝突模擬試験装置用制御装置 - 特許庁
  • TEST DEVICE FOR DYNAMIC TEST FOR COMBUSTION ENGINE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME
    燃焼式動力機関の動力学的試験課題用試験装置とそのような試験装置の動作方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE USING HIERARCHICAL TEST DEVELOPMENT TREE TO SPECIFY DEVICES AND THEIR TEST SETUP
    階層的な試験開発ツリーを使用して装置及びそれらの試験セットアップを規定する方法及び装置 - 特許庁
  • WORKPIECE POSITIONING METHOD OF WORKPIECE INSPECTION DEVICE, WORKPIECE CONVEYING PALLET, ENVIRONMENTAL TEST DEVICE AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM
    ワーク検査装置のワーク位置決め方法、ワーク搬送パレット、環境試験装置および環境試験システム - 特許庁
  • To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.
    荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁
  • TEST MANAGEMENT DEVICE, TEST MANAGEMENT METHOD, PROGRAM AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM
    試験管理装置、試験管理方法、プログラム、および、プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR PREPARING TELEGRAPHIC MESSAGE FOR TEST AND RECORDING MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TELEGRAPHIC MESSAGE FOR TEST
    試験用電文作成方法およびその装置、試験用電文作成プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • To provide a device and method for test disk formation, which can easily form an adequate test disk.
    適切なテストディスクを容易に作成することができるテストディスク作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁
＜前へ 1 2 .... 53 54 55 56 57 58 59 60 61 .... 161 162 次へ＞

例文データの著作権について