「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 54 55 56 57 58 59 60 61 62 .... 161 162 次へ＞- The method is provided which determines a sensor field of view with respect to a test patch and aligns the test patch with the sensor field of view.
センサの視野をテストパッチに対して決定し且つテストパッチをセンサ視野に位置合わせする方法。 - 特許庁 - To provide a test method of a Schmitt circuit capable of performing a test of the Schmitt circuit, in a short time.
シュミット回路の試験を、短時間で行うことが可能なシュミット回路の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test system and test method capable of efficiently testing a semiconductor device with many pins.
多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - TEST SIGNAL FAN-OUT DEVICE, AND METHOD OF SUPPLYING SIMULTANEOUSLY TEST DATA BLOCK TO AT LEAST ONE DEVICE
テスト信号ファンアウト装置および少なくとも一つのデバイスにテストデータブロックを同時に供給する方法 - 特許庁 - METHOD OF CHOOSING MEDICAL DIAGNOSTIC TEST AND BIOCHEMISTRY DIAGNOSTIC TEST EMPLOYING NEURAL NETWORK RELATED APPLICATION
ニューラルネットワーク関連アプリケーションを使用して医療診断テストおよび生化学診断テストを選択する方法 - 特許庁 - IMPACT TEST APPARATUS FOR CIRCUIT BOARD, IMPACT TEST METHOD FOR CIRCUIT BOARD, ACTUATOR HAMMER AND COMPUTER PROGRAM
回路基板の衝撃試験装置、回路基板の衝撃試験方法、アクチュエータハンマー、及びコンピュータプログラム - 特許庁 - THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST SYSTEM, REFERENCE WAVEFORM CALCULATION PROGRAM, AND THUNDER IMPULSE WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD
雷インパルス耐電圧試験システムおよび基準波形算出プログラム、並びに雷インパルス耐電圧試験方法 - 特許庁 - To provide a test circuit and a test method for accurately and quickly testing an ADC circuit.
正確で迅速にＡＤＣ回路のテストを行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a join test system, a join test method, and a join test program for efficient join test by reducing a load during test in a system composed of a plurality of modules.
複数のモジュールから構成されたシステムにおいて、テスト実施時の負担を軽減することにより、効率的に結合テストを行なうための結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a concrete test body allowed to be suitably used for a water permeability test, an air permeability test, a repair material evaluation test, etc. and having almost uniform perforated crack width having no dispersion, and to provide a method for manufacturing the concrete test body.
透水試験、透気試験、補修材の評価試験などに好適に用いることのできる、バラツキがなくほぼ均一な貫通ひび割れ幅を有するコンクリート試験体及びその作製方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a PT test supporting method which can perform unitary management of test data, can make data electronic without having errors and systematically, efficiently and easily prepares test data when preparing test data necessary to a PT test.
ＰＴ試験で必要なテストデータの作成を行うに当り、テストデータの一元管理をし、データの電子化をしてミス無く、体系的・効率的にテストデータを簡易に作成することができるＰＴ試験支援方法の提供。 - 特許庁 - To provide a test system, a test method and a sensor, allowing reduction of a time required for a test of a tester even when requiring a time for a test of the sensor, especially allowing confirmation of whether or not the sensor normally operates even without performing the sensitivity test of the sensor.
感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供することを目的としている。 - 特許庁 - A test result adjusting method comprises steps of assigning the identifier to the test result of first test execution, specifying the starting point, and assigning the identifier to the test result of second test execution.
一実施形態に係るテスト結果調整方法は、第１のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることと、開始点を指定することと、第２のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることとを含みうる。 - 特許庁 - ID MOUNTABLE LSI, SECRET KEY MOUNTING METHOD, LSI TEST METHOD, AND LSI-DEVELOPING METHOD
ＩＤ実装可能なＬＳＩ、機密鍵実装方法、ＬＳＩテスト方法およびＬＳＩ開発方法 - 特許庁 - To provide a test device and a test method which can test simultaneously a plurality of memory devices of which performances such as pause capability or the like are different.
ポーズ実力等の性能の異なる複数個のメモリデバイスを同時に試験することができる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - ELECTRIC TEST METHOD, ELECTRIC CONNECTION DEVICE AND TEST DEVICE FOR USE IN ELECTRIC TEST, AND MEASURING TOOL FOR USE IN ELECTRIC CONNECTION DEVICE
電気的試験方法、その電気的試験に用いる電気的接続装置及び試験装置並びにその電気的接続装置に用いる測定治具 - 特許庁 - BOX TYPE HOUSING HOLDER FOR EXPOSURE TEST PIECE, AND EXPOSURE TEST PIECE CORROSION STATE MEASURING METHOD USING BOX TYPE HOUSING HOLDER FOR EXPOSURE TEST PIECE
暴露試験片の箱型収納ホルダーと、この暴露試験片の箱型収納ホルダーを使用した、暴露試験片の腐食状態測定方法 - 特許庁 - To provide a test program generation device and a test program generation method capable of inputting a parameter corresponding to a template of the test program.
テストプログラムのテンプレートに応じて、パラメータが入力できるテストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法を実現することを目的にする。 - 特許庁 - To provide a burn-in test method and a burn-in test device that conduct a stable burn-in test with high reliability.
安定した信頼性の高いバーンイン試験を実施することが可能となるバーンイン試験を行う試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁 - The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.
＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁 - To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the measurement time of a current test on a semiconductor device, and semiconductor test method.
半導体素子の電流試験の測定時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供すること。 - 特許庁 - As the evaluation method, test bath compositions containing the quality improver are prepared and tension between test cloths 1 and 2 are measured by using test equipment.
評価方法として、核品質向上剤を含む試験浴組成を作成し、試験装置を用いて、試験布１，２間の張力を測定する。 - 特許庁 - To provide a test method and a test system of a semiconductor integrated circuit capable of easily testing contact between a test probe and a pad.
テスト用のプローブとパッドとの接触を容易にテストすることが可能な半導体集積回路のテスト方法およびテストシステムを提供する。 - 特許庁 - In this method 100 for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).
テスト番号を割り当てる方法１００において、現行テストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中維持される（１０２）。 - 特許庁 - In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).
テスト番号を割り当てる方法（１００）において、現在のテストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中、維持される（１０２）。 - 特許庁 - In this method for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).
テスト番号を割り当てるための方法において、現行のテストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中、維持される（１０２）。 - 特許庁 - To provide a test circuit and a test method of a semiconductor integrated circuit in which the number of test terminals is decreased and the scale of the circuit is reduced.
テスト端子数を少なくすると共に、回路規模を小さくした半導体集積回路のテスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of processing a test current for measuring an analyte in a fluid by using a test strip and a test meter.
テストストリップと、検査計測器とを使用して、液体の中の分析物の測定のために検査電流を処理する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test method and a device for efficiently performing a test using a pseudo call device and a test using a speech path system device simulator.
疑似呼装置を用いた試験と、通話路系装置シミュレータを用いた試験を効率的に行うための試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test print and its calorimetric method capable of shortening a time required for manufacturing the test print and reducing a cost of the test print.
テストプリントの作製に要する時間を短縮しかつテストプリントのコストを削減できる、テストプリントおよびその測色方法を提供する。 - 特許庁 - In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).
テスト番号を割り当てる方法（１００）において、テストフロー２００の実行中、現在のテストフローコンテキスト情報３００を維持する（１０２）。 - 特許庁 - To provide a computer program, a test support method and a test support device capable of supporting setting of an expectation value used for a program test.
プログラムテストに使用される期待値の設定を支援することができるコンピュータプログラム、テスト支援方法及びテスト支援装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST BENCH, AND COMPUTER PROGRAM
テストベンチ生成方法、テストベンチ生成装置、及びコンピュータプログラム - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING STATE OF CIRCUIT UNDER TEST
被テスト回路の状態検出方法及び状態検出装置 - 特許庁 - AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST
高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁 - METHOD FOR CONDUCTING CONTACTLESS TEST ON ANTENNA RECORDED ON MATERIAL BELT
材料帯に記録されたアンテナを無接触試験する方法 - 特許庁 - MEDIUM TEST AUXILIARY UNIT FOR REPEATER AND METHOD FOR TESTING MEDIUM
中継器用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁 - ICE TEST DEVICE FOR TIRE, AND METHOD OF EVALUATING ON-ICE PERFORMANCE OF TIRE
タイヤの氷上試験装置および氷上性能評価方法 - 特許庁 - TEST AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁 - SPECIMEN FOR BENDING FATIGUE DETECTION, AND BENDING FATIGUE TEST METHOD
曲げ疲労検出用試験体並びに曲げ疲労試験方法 - 特許庁 - CONTROLLED SUBSTANCE DETECTION UNIT AND CONTROLLED SUBSTANCE EVALUATION TEST METHOD
規制物質検出ユニット及び規制物質評価試験方法 - 特許庁 - RADIO COMMUNICATION DEVICE AND RETURN TEST METHOD USING THE SAME
無線通信装置およびこれを用いた折り返し試験方法 - 特許庁 - METHOD, DEVICE AND TEST PIECE FOR TESTING THERMAL FATIGUE
熱疲労試験方法、熱疲労試験装置及び熱疲労試験片 - 特許庁 - CENTRIFUGAL LOADING EXPERIMENT METHOD, AND TEST BODY FOR CENTRIFUGAL LOADING EXPERIMENT
遠心載荷実験方法および遠心載荷実験用試験体 - 特許庁 - CIRCUIT AND METHOD FOR CONTROLLING TEST ON INTEGRATED CIRCUIT
集積回路におけるテスト制御回路およびテスト制御方法 - 特許庁 - METHOD FOR GENERATING TEST PRINT DATA, PRINT CONTROLLER AND PROGRAM
テスト印刷データ生成方法、印刷制御装置およびプログラム - 特許庁 - SEMICONDUCTOR MEMORY AND TEST METHOD THEREOF
半導体記憶装置およびこの半導体記憶装置の試験方法 - 特許庁 - METHOD AND STORAGE MEDIUM FOR ANALYZING PUMPING TEST
揚水試験解析方法及び揚水試験解析用記憶媒体 - 特許庁 - TEST PIECE FOR QUANTITATIVE DETERMINATION OF ALCOHOL, AND METHOD OF DETERMINING ALCOHOL QUANTITATIVELY
アルコール定量用試験片およびアルコールの定量方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR UNIFORMIZING LUMINOUS INTENSITY OF LIGHT SOURCE OF DIGITAL IMAGE TEST MEMBER, AND DEVICE AND METHOD FOR DIGITAL IMAGE HUE TEST USING IT
デジタルイメージテスト部材の光源光度均一化装置及び方法と、これを用いたデジタルイメージ色相テスト装置及び方法 - 特許庁
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