「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 58 59 60 61 62 63 64 65 66 .... 161 162 次へ＞- FLASH MEMORY DEVICE PROVIDED WITH REDUNDANCY SELECTION CIRCUIT AND TEST METHOD
リダンダンシ選択回路を備えたフラッシュメモリ装置及びテスト方法 - 特許庁 - To provide an observing method of test allowing an attester present in a place distant from a test field to observe a test on the spot without going to the test field.
試験現場から離れた場所に居る立会者が試験現場に出向くことなく、その場に居ながら試験の立会いを行うことが可能な試験の立会い方法を提供する。 - 特許庁 - A pile loading test method: installs a test pile 10 deeper than a level of a prescribed depth; excavates the ground from a ground surface to the prescribed depth; and executes a loading test of the test pile 10.
杭の載荷試験方法は、所定深さのレベルより下側に試験杭１０を構築し、その後、地表面から所定深さまで掘削して、この試験杭１０に載荷試験を行う。 - 特許庁 - To provide a test scenario creation program, test scenario creation apparatus, and test scenario creation method for creating a test scenario which not only covers paths of a screen transition diagram but also has a variety of perspectives.
画面遷移図のパスを網羅するだけでなく、様々な観点を持つテストシナリオを作成するテストシナリオ作成プログラム、テストシナリオ作成装置、テストシナリオ作成方法を提供する。 - 特許庁 - To perform at low cost the durability test of a test target, in a durability testing method for performing the durability test of the test target arranged between a drive body and the load and that receives twisting.
本発明は、駆動体と負荷との間に配置されて、ねじりを受ける被試験体の耐久試験を行なう耐久試験方法等に関し、被試験体の耐久試験を安価に行なう。 - 特許庁 - To provide a test case management method which can collectively process maintenance of addition/deletion/copying of test cases while considering a combination of a test target screen and a test condition.
本発明は、テストケースの追加・削除・コピーのメンテナンスを行う際に、テスト対象画面・テスト条件の組み合わせを考慮して一括で処理が可能なテストケース管理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a pumping test method and a pumping test device capable of performing a pumping test at relatively inexpensive test cost, and highly accurately determining a hydraulic constant.
高い精度で水理定数を求めることができると共に、比較的安価な試験コストで揚水試験を行なうことができる揚水試験方法と揚水試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.
半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and a test method for executing a plurality of different tests as one continuous test in a burn-in test.
バーンインテストにおいて複数の異なるテストを１つの連続したテストとして実施することが可能なテスト回路及びテスト方法を提供することを提供することを目的とする。 - 特許庁 - The testing method can reduce man-hours for generating the test specifications and test data to reduce human errors in generating the test specifications and test data.
このようなテスト方法は、そのテスト仕様書とテストデータとを生成する工数をより低減することができ、そのテスト仕様書とテストデータとの生成時の人手によるミスを低減することができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method capable of preventing a reduction in the test efficiency and facilitating creation and administration of a test program.
試験効率の低下を防止することができるとともに、試験プログラムの作成及び管理を容易にすることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁 - The method includes: a test piece creating process of creating a test piece 3 on which the tread groove 4 is formed; and a testing process of performing a groove bottom crack resistance performance test by using the test piece 3.
前記トレッド溝４を形成した試験片３を作成する試験片作成工程と、該試験片３を用いて耐溝底クラック性能テストを行うテスト工程とを含む。 - 特許庁 - To provide a test case relation extracting method, a test case relation extracting device and a test case relation extracting program which can easily extract relation between test cases.
テストケース間の関係を容易に抽出できるテストケース関係抽出方法、テストケース関係抽出装置及びテストケース関係抽出プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁 - FEATURE-QUANTITY EXTRACTING METHOD, TEST PATTERN SELECTING METHOD, RESIST MODEL CREATING METHOD, AND DESIGNED-CIRCUIT-PATTERN VERIFYING METHOD
特徴量抽出方法、テストパターン選択方法、レジストモデル作成方法および設計回路パターン検証方法 - 特許庁 - In the test board for the semiconductor tester, signal wiring suitable for each method for a DC test and a function test is used and the signal wiring is switched, in response to a test method by providing a switching circuit.
半導体テスター用テストボードにおいて、DCテストとファンクションテストのそれぞれの手法に適した信号配線を用い、切り替え回路を備えることにより、テスト手法に応じ信号配線の切り替えを行う。 - 特許庁 - To provide a test pattern producing apparatus, a circuit design apparatus, a test pattern producing method, a circuit design method, a test pattern producing program, and a circuit design program, for reducing the processing time in test pattern production and the amount of memory used.
テストパターン生成時の処理時間や使用メモリ量の削減を図るテストパターン生成装置、回路設計装置、テストパターン生成方法、回路設計方法、テストパターン生成プログラム、回路設計プログラムを提供する。 - 特許庁 - TEST MASK, MANUFACTURING METHOD, AND METHOD FOR CONTROLLING DETECTION SENSITIVITY OF DEFECT INSPECTING APPARATUS
テストマスク及び製造方法及び欠陥検査装置の検出感度調整方法 - 特許庁 - BACK PRESSURE RESISTANCE TEST METHOD FOR FILTER CARTRIDGE AND FILTERING PROCESS CONTROL METHOD FOR PLANT
フィルタカートリッジの逆圧耐性試験方法及びプラントの濾過工程制御方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE DEVICE, AND TEST METHOD OF THE DEVICE
半導体装置、半導体装置の製造方法及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING PIPE LINE AND METHOD FOR GENERATING PIPE LINE TEST INSTRUCTION AND ITS STORAGE MEDIUM
パイプライン試験方法、パイプライン試験命令生成方法及びその記憶媒体 - 特許庁 - TEST PATTERN CREATION METHOD, SIMULATION METHOD, INFORMATION PROCESSING APPARATUS AND SIMULATION APPARATUS
テストパターン作成手法、シミュレーション方法、情報処理装置およびシミュレーション装置 - 特許庁 - ABERRATION MEASURING METHOD, FOCUS MEASURING METHOD, AND MASK FOR TEST OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM
投影光学系の収差測定方法とフォーカス測定方法及びテスト用マスク - 特許庁 - SEMICONDUCTOR SUBSTRATE, AND MANUFACTURING METHOD AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR APPARATUS
半導体基板、半導体装置の製造方法及び半導体装置の試験方法 - 特許庁 - SEPARATION MEMBRANE MODULE AND ITS PRODUCTION METHOD, AND AIRTIGHT TEST METHOD OF SEPARATION MEMBRANE MODULE
分離膜モジュールとその製造方法並びに分離膜モジュールの気密検査方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR SUPPORTING PROGRAM TEST AND STORAGE MEDIUM STORING PROGRAM ON METHOD
プログラムテスト支援装置、方法、および該方法に係るプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR NONDESTRUCTIVE INSPECTION FOR HAMMERING TEST WORKPIECE AND QUALITY MANAGEMENT METHOD
打音検査物の非破壊検査方法、非破壊検査装置及び品質管理方法 - 特許庁 - To provide an endurance test apparatus for a golf club head to automatically carry out an endurance test with requiring by an observer to always stays at a test site for visual examination and without stop of the test device, provide a method for the endurance test for the golf club head, and provide an endurance test program for the golf club head.
常時観察者が付いて目視観察することがなく、さらに装置を停止することなく自動的に耐久試験を行うゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a test specification preparation support device and a test specification preparation method, allowing storage/reuse of a test policy to efficiently prepare test specifications by a unified procedure, to provide a test specification preparation program making a computer execute the method, and to provide a construction method for a database used for the method.
テスト方針の蓄積・再利用を可能にして統一した手順でテスト仕様書を効率的に作成し得るテスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、この方法をコンピュータに実行させるテスト仕様作成プログラムおよびこの方法に用いるデータベースの構築方法を提供すること。 - 特許庁 - In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector.
試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。 - 特許庁 - To provide a test pattern generation managing system for easy storing and managing of the test pattern of a semiconductor memory, and to provide a test pattern generation management method for the semiconductor memory.
半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システムおよび半導体メモリのテストパターン生成管理方法を提供する。 - 特許庁 - To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.
パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁 - To provide a test apparatus and a test method for discriminating between foreign substances and scars, capable of discriminating between minute foreign substances and scars without taking time in test work.
検査作業に手間取ることなく微小な異物とキズ痕とを判別可能な異物とキズ痕との判別検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a computer system, a test device, a test method, and a test program for reliably testing whether an overtaking function works normally or not.
追い越し機能が正常に動作しているか否かを信頼性よく試験することができる、コンピュータシステム、試験装置、試験方法、及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.
回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a test support system, a test support method, and a program capable of easily generating a test satisfying requirements of a software structure coverage analysis.
ソフトウェア構造カバレッジ分析の要件を満たすテストを容易に生成することができるテスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラムを提供すること - 特許庁 - To provide a test paper supplying method which eliminates the need for adjusting the location of the tip part of urine test paper in the case of placing the test paper to a holder of a urine analyzing device.
尿分析装置のホルダーに試験紙を載置する場合に、尿試験紙先端部の位置調整を不要とする試験紙供給方法を提供する。 - 特許庁 - To provide test data for allowing anyone to adequately judge good or bad of a processed result in an RIP (Raster Image Processor), a test print material, and a method of forming the test print material.
誰でもがＲＩＰにおける処理結果の良否を正しく判断できるようにするためのテストデータ、テスト印刷物と、その作成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample cooling device, a hardness test device, and a hardness test method for implementing a hardness test under a stable low temperature environment.
安定した低温環境で硬さ試験を実施することができる試料冷却装置、硬さ試験機及び硬さ試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a leak test method for a gas supply inner pipe and a tool for leak test capable of efficiently conducting a leak test by shortening work time.
作業時間の短縮を図って効率よく漏洩試験を行い得るガス供内管の漏洩試験方法および漏洩試験用工具を提供する。 - 特許庁 - IDENTIFIER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, HOLDER OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡用試料の識別子、走査型電子顕微鏡用試料のホルダーおよび走査型電子顕微鏡用試料の観察方法 - 特許庁 - To provide a method, device and program for creating the test scenario, capable of effectively obtaining the test scenario meeting to the test object of high level importance.
テスト目的に即した重要度の高いテストシナリオを効率的に得ることができるテストシナリオ作成方法、テストシナリオ作成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁 - SCAN TEST DESIGN METHOD, SCAN TEST CIRCUIT, SCAN FLIP-FLOP CIRCUIT, CAD PROGRAM FOR SCAN TEST CIRCUIT INSERTION, LARGE-SCALE INTEGRATED CIRCUIT, AND MOBILE DIGITAL DEVICE
スキャンテスト設計方法、スキャンテスト回路、スキャンフリップフロップ回路、スキャンテスト回路挿入用ＣＡＤプログラム、大規模集積回路及び携帯デジタル機器 - 特許庁 - To provide semiconductor test equipment and a semiconductor test method which can conduct a test for defects with high accuracy in a semiconductor manufacturing process.
半導体製造工程における欠陥検出検査を高精度で行うことが可能な半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.
高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁 - This method includes a step in which the recorder/player extends the additional extra space of a test disk by using the test disk having test reference information and test information is generated from the test disk, and a step in which reference information predicted with the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information are provided.
テスト基準情報を有するテストディスクを用いて記録及び再生装置でテストディスクの追加余裕空間を拡張し、テストディスクからテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method for the test of a semiconductor device whose test time can be shortened.
試験時間を短縮することができる半導体デバイスの試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁 - As another test method, various different voltages are applied to the test pad 2 to detect a current value.
また別の試験方法として、試験パッド２にそれぞれ異なる電圧を印加して電流値を検出する。 - 特許庁 - INFORMATION PROCESSOR, METHOD, AND PROGRAM FOR DETERMINING PRIORITY OF TEST CASE TO BE EXECUTED IN REGRESSION TEST
回帰テストにおいて実施すべきテストケースの優先度を決定するための情報処理装置、方法、及びプログラム - 特許庁 - LOAD TEST DEVICE, PSEUDO CALL FOR LOAD TEST USED THEREFOR, RESULT-VERIFYING INFORMATION GENERATION METHOD AND PROGRAM THEREFOR
負荷テスト装置及びそれに用いる負荷テスト用擬似呼・結果検証用情報生成方法並びにそのプログラム - 特許庁 - To provide an apparatus and method for LSI test to reduce a test time without causing malfunction.
誤動作を引き起こすこと無くテスト時間を短縮するＬＳＩ試験装置、ＬＳＩ試験方法を提供する。 - 特許庁
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