「Test method」を含む例文一覧(8057)

＜前へ 1 2 .... 59 60 61 62 63 64 65 66 67 .... 161 162 次へ＞
  • To provide an onboard test device and an onboard test method for shortening a time required for inspection.
    点検に要する時間を短縮することが可能な車上試験装置および車上試験方法を得る。 - 特許庁
  • To provide a test method for fitting, capable of performing test taking deformation into consideration by mounting of fitting.
    建具の取り付けによる変形も加味した試験を行うことが可能な建具の試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a multi-test kit for screening a disease of a cat in a household test form, and provide a method using it.
    家庭用試験形態の、ネコの病気をスクリーニングするためのマルチ試験キットおよび方法を提供する。 - 特許庁
  • MEASURING METHOD OF REDUCING SUBSTANCE, TEST PIECE FOR REDUCING SUBSTANCE MEASUREMENT AND TEST LIQUID FOR REDUCING SUBSTANCE MEASUREMENT
    還元性物質の測定方法、還元性物質測定用試験片及び還元性物質測定用試験液 - 特許庁
  • To provide a decoder reproducing a test subtitle included in a test subtitle stream by a normalized system, and its method.
    テキスト・サブタイトル・ストリームに含まれるテキスト・サブタイトルを規格化された方式で再生するデコーダを提供する。 - 特許庁
  • SHEATH TYPE TEST PUNCTURE NEEDLE AND DEPTH-BLOOD-VESSEL PUNCTURE APPLIANCE AND METHOD USING TEST PUNCTURE NEEDLE
    外套型試験穿刺針および該試験穿刺針を使用する深部血管穿刺具および深部血管穿刺法 - 特許庁
  • To provide a software test method for effectively detecting a failure by using of a small number of test items.
    少ない試験項目で効果的に不具合を検出することの可能なソフトウェア試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a new leak test method for a membrane module shortening time consumed by a leak test and hardly causing error judgement.
    リークテストにかかる時間を短縮し、誤判定の起こりにくい新規な膜モジュールのリークテスト法を提供する。 - 特許庁
  • This method has a process of performing one or more test cycles of an LBIST system in a device during the test.
    この方法は、テスト中のデバイス内のＬＢＩＳＴシステムの１つ以上のテストサイクルを行う工程を具備する。 - 特許庁
  • To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.
    保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • ACTUAL ENVIRONMENT SIMULATING ATMOSPHERIC CORROSION TEST DEVICE AND ACTUAL ENVIRONMENT SIMULATING ATMOSPHERIC CORROSION TEST METHOD USING THE SAME DEVICE
    実環境シミュレート大気腐食試験装置とその装置を用いる実環境シミュレート大気腐食試験法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION, FAILURE DETECTION RATE CALCULATING DEVICE, TEST PATTERN GENERATION, AND FAILURE DETECTION RATE CALCULATION METHOD
    テストパターン作成及び故障検出率算出装置並びにテストパターン作成及び故障検出率算出方法 - 特許庁
  • To provide a vibration test method capable of easily and precisely performing the vibration test corresponding to a real environment.
    実環境に合致した振動試験を容易に高精度で行うことができる振動試験方法を提供する。 - 特許庁
  • In the JUnit test, you will test the LibClass by passing a phrase to the acrostic method and using an assertion to indicate what you think the result should be.
    JUnit テストでは、acrostic メソッドにフレーズを渡し、表明を使用して予測される結果を示すことで、LibClass をテストします。 - NetBeans
  • TEST CIRCUIT FOR HYSTERESIS VOLTAGE WIDTH MEASUREMENT AND MEASURING METHOD OF HYSTERESIS VOLTAGE WIDTH BY USING TEST CIRCUIT
    ヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのテスト回路を用いたヒステリシス電圧幅の測定方法 - 特許庁
  • TEST QUALITY EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST QUALITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト品質評価装置、および半導体集積回路のテスト品質評価方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TEST DEVICE, SEMICONDUCTOR TEST METHOD, AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM IN WHICH PROGRAM IS RECORDED
    半導体試験装置及び半導体試験方法並びにプログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing method capable of simultaneously performing a function test and a power supply voltage test.
    ファンクションテストと電源電圧試験とを同時に行うことの可能な半導体装置方法を提供する。 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT GENERATING METHOD IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路におけるテスト回路生成方法、テスト回路生成装置および半導体集積回路 - 特許庁
  • TEST SERVER FOR TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE, SOFTWARE RADIO DEVICE, AND TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE TEST METHOD OF THE SOFTWARE RADIO DEVICE
    技術基準適合試験サーバ、ソフトウェア無線機、およびソフトウェア無線機の技術基準適合試験の方法 - 特許庁
  • To provide a semiconductor circuit and its test method for acquiring reliable and stable test results.
    高い信頼性且つ安定したテスト結果を得ることのできる半導体回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • DELAY FAULT TEST QUALITY CALCULATING DEVICE AND METHOD, AND DELAY FAULT TEST PATTERN GENERATING DEVICE
    遅延故障テスト品質算出装置、遅延故障テスト品質算出方法、及び遅延故障テストパターン発生装置 - 特許庁
  • A test strip pressing member and a using method therefor are provided to be used together with a test strip analyzing system.
    テストストリップ分析システムとともに使用されるテストストリップ押圧部材およびその使用方法が提供される。 - 特許庁
  • To provide a ground test machine and a ground test method capable of obtaining data concerning the settlement characteristic of ground.
    地盤の沈下特性についてのデータを得ることができる地盤試験機及び地盤試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus, for the test of the sideslip, etc., of a vehicle, wherein a drop in test accuracy due to the initial stress of the wheel of the test vehicle is prevented and a drop in test accuracy due to the unnatural posture of the test vehicle is prevented.
    被験車両の車輪の初期応力による試験精度の低下を防止し、又被験車両の不自然な姿勢による試験精度の低下を防止する、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁
  • OPTICAL PULSE TESTER AND OPTICAL FIBER LONGITUDINAL DIRECTION CHARACTERISTIC TEST METHOD
    光パルス試験器及び光ファイバ長手方向特性試験方法 - 特許庁
  • PEAK EXCESS LOADING DEVICE AND METHOD THEREOF FOR CREEP RUPTURE TEST
    クリープ破断試験のためのピーク超過載荷装置及びその方法 - 特許庁
  • FIRE TEST METHOD AND GARAGE FOR AUTOMOBILE GARAGE
    自走式自動車車庫の火災試験方法及び火災試験用車庫 - 特許庁
  • MULTI-ITEM VITAL COMPONENT MEASURING TEST IMPLEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD
    多項目生体成分測定用試験具及びその製造方法 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR ELECTRONIC WATTHOUR METER AND ELECTRONIC WATTHOUR METER
    電子式電力量計のテスト方法及び電子式電力量計 - 特許庁
  • To provide a tire noise test method at acceleration with indoor evaluation.
    室内評価による加速時タイヤ騒音試験方法を提供する。 - 特許庁
  • TEST APPARATUS AND METHOD OF RESISTANCE CHANGE MEMORY, AND RESISTANCE CHANGE MEMORY DEVICE
    抵抗変化メモリのテスト装置、方法および抵抗変化メモリ装置 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR PREDICTING RECURRENCE OF SOLID CANCER AND RECURRENCE PROPHYLACTIC
    固形癌の再発予測のための試験方法および再発予防剤 - 特許庁
  • LOAD DRIVER, AND HIGH VOLTAGE APPLICATION TEST METHOD FOR LOAD DRIVER
    負荷駆動装置及び負荷駆動装置の高電圧印加試験方法 - 特許庁
  • FLUORESCENT OPTICAL STATION FOR TEST SAMPLE CARD, AND FLUORESCENT ANALYSIS METHOD
    テスト試料カード用蛍光光学ステーション及び蛍光分析方法 - 特許庁
  • LOAD CARRYING TEST METHOD USING DOUBLE VANE TYPE PILE AND ITS DEVICE
    二重羽根式杭を使用した載荷試験方法およびその装置 - 特許庁
  • WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD FOR THREE-TERMINAL CAPACITOR, AND WITHSTAND VOLTAGE TESTER THEREOF
    ３端子コンデンサの耐電圧試験方法及びその耐電圧試験器 - 特許庁
  • SWITCHING DEVICE, TRANSMISSION LINE CHANGE-OVER DEVICE, MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE
    スイッチ装置、伝送路切り替え装置、製造方法、および試験装置 - 特許庁
  • BELT MEANDERING PREVENTING DEVICE AND MEANDERING PREVENTING METHOD OF RUNNING TEST DEVICE
    走行試験装置のベルト蛇行防止装置及び蛇行防止方法 - 特許庁
  • CHARACTERISTIC MEASURING TEST DEVICE AND METHOD FOR GAS INJECTOR
    ガスインジェクタの特性測定試験装置および特性測定試験方法 - 特許庁
  • PSEUDO-FECES AND METHOD OF CONTROLLING ACCURACY OF FECES HEMOCCULT TEST USING THE SAME
    擬似便およびそれを用いる便潜血試験の精度管理方法 - 特許庁
  • NONDESTRUCTIVE COMPRESSION TEST METHOD AND DEVICE FOR CONCRETE
    コンクリートの非破壊圧縮試験方法及び非破壊圧縮試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR WEDGE PRESSURE TEST OF GENERATOR STATOR BAR
    発電機ステータ・バーのくさび圧力試験のための方法及び装置 - 特許庁
  • TEST MEASUREMENT APPARATUS AND DATA ACQUISITION METHOD IN SAME
    試験測定装置及び試験測定装置におけるデータ取得方法。 - 特許庁
  • RECORD INFORMATION PROCESSING APPARATUS, RECORDING APPARATUS, AND METHOD FOR FORMING TEST PATTERN
    記録情報処理装置、記録装置、及びテストパターン形成方法 - 特許庁
  • PRECISION NOTCHING DEVICE AND METHOD FOR CUTTING TEST PIECE USING IT
    精密切欠き装置及びそれを用いた試験片の割断方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR BAND TORSIONAL ENDURANCE TEST
    バンド捻り耐久試験用装置およびバンド捻り耐久試験方法 - 特許庁
  • PERFORMANCE TEST METHOD FOR PRESSURE REGULATING VALVE IN GAS SUPPLY DEVICE
    ガス供給装置における圧力調整弁の性能試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING PHYSICAL LAYER DEVICE, AND THE PHYSICAL LAYER DEVICE WITH TEST CIRCUIT
    物理層デバイスのテスト方法及びテスト回路付き物理層デバイス - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR INQUIRING TEST RESULT AND COMPUTER PROGRAM
    試験結果問い合わせシステムおよびその方法ならびにコンピュータプログラム - 特許庁
＜前へ 1 2 .... 59 60 61 62 63 64 65 66 67 .... 161 162 次へ＞

例文データの著作権について