「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 63 64 65 66 67 68 69 70 71 .... 161 162 次へ＞- VERIFYING ITEM EXTRACTING METHOD, REUSED CORE VERIFYING METHOD, VERIFICATION JUDGING METHOD AND REUSED TEST BENCH EDITING METHOD
検証項目抽出方法、再利用コア検証方法、検証判断方法、および再利用テストベンチ編集方法 - 特許庁 - To provide an electrical connection appliance for test plug in which wiring work for test is performed easily and surely with little risk of electric shocks, and to provide an electrical test method that utilizes the electrical connection appliance for test plug.
感電の危険が少なく、試験用の配線作業が容易で確実なテストプラグ用電気接続器具及びそのテストプラグ用電気接続器具を利用した電気試験方法を提供する。 - 特許庁 - A device and method for efficiently administering the test material to the test unit by atomizing a solution or suspension of the test material and drawing the atomized droplets to the test unit are described.
試験物質の溶液または懸濁液を霧状化し、霧状化した液滴を試験ユニットに引き付けることにより試験物質を試験ユニットに効率的に投与する装置および方法が記載されている。 - 特許庁 - To provide a method and an apparatus for attaching a mark to a test piece and measuring the deformation property of the test piece to decide the deformation property of the test piece by including the measurement of the macro or micro deformation of the test piece.
試験片のマクロまたはミクロの変形の測定を含め、試験片の変形特性を決定するために試験片にマークを付けて測定するための方法および装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a thunder stroke test device, a thunder stroke test system, and a thunder stroke test method capable of eliminating trouble in imaging or electricity leakage caused by dew condensation, etc., enhancing efficiency in cooling a test piece, and reducing a cost.
結露等による撮影への支障や、漏電がない上、供試体の冷却効率が高く、かつコストダウンが可能な雷撃試験装置、雷撃試験システム、および雷撃試験方法の提供。 - 特許庁 - To provide a pattern generation circuit of a BIST(build in self test) circuit capable of generating a prescribed test pattern in a small area by reducing the number of test pattern generation circuits, and a test pattern generation method for the BIST circuit.
テストパターン発生回路の数を減じることにより、小面積で所定のテストパターンを発生することができるＢＩＳＴ回路のパターン発生回路及び発生方法を提供する。 - 特許庁 - The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.
検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁 - To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.
ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁 - The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.
回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁 - To provide a test circuit and a test method in which a test is completed without interruption even though input signals are interrupted or changed, and to provide a semiconductor integrated circuit including the test circuit.
入力信号が中断又は変更されても、テストを中断させずに完了させることができるテスト回路、テスト方法、及びテスト回路を含む半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁 - In advance of a normal function test of the original test method for the semiconductor device, a SHMOO of each function test is done as a pretest and a degree of allowance of the test rate is calculated from the SHMOO results.
本来の半導体デバイスのテストである通常でのファンクションテストを行なう前に、予備テストとして、各ファンクションテストのＳＨＭＯＯを実行し、そのＳＨＭＯＯの結果から、テストレートの余裕度を出する。 - 特許庁 - In the test method, a number of test machines are accumulated in a test environment of optical transceivers, and an user uses the test system for optical transceivers to enable quick and simultaneous measurement of many products, resulting in enhancing productive efficiency.
多数のテストマシンを光トランシーバのテスト環境に集積し、ユーザが光トランシーバ用テストシステムを使用して多数の製品の迅速且つ同時測定を可能にして生産効率を改善する。 - 特許庁 - To provide a program test program, program test method, and program test device for testing a program capable of easily, quickly, uniformly, and efficiently preparing highly precise test results.
本発明は、番組の考査を行う番組考査プログラム、番組考査方法および番組考査装置に関し、精度の高い考査結果を簡易、迅速かつバラツキなく効率的に作成することを目的とする。 - 特許庁 - The test handler provides the test handler, having a method opening an insert which is arranged at the other part of area, by making a test tray moved after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.
テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁 - The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.
並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁 - To provide a test sequence determination method capable of preventing a throughput of a test from getting low caused by fluctuation of a fraction defective in test items in every production lot, as to test sequence determination for a device, saying in detail, when a test for the device such as a semiconductor and a magnetic head comprises the plurality of test items.
デバイスの試験順序決定に関し、より詳細には半導体や磁気ヘッドなどのデバイスの試験が複数の試験項目からなる場合に、製造ロット毎の試験項目に対する不良率変動に起因する試験のスループット低下を防ぐための試験順序最適化に関する。 - 特許庁 - To provide a device for a test item extraction system, a test item extraction method, a recording medium in which a test item extraction program is recorded and the test item extraction program to enable uniform extraction of a test item even when the extraction is performed by anyone without being influenced by knowledge and experience of a test operator.
試験作業者の知識及び経験に左右されずに、誰が行なっても均一な試験項目の抽出を可能とする試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラムの提供。 - 特許庁 - IP NETWORK END-TO-END CONTINUITY TEST METHOD, ROUTER, AND HOME GATEWAY DEVICE
ＩＰ網エンド・ツー・エンド導通試験方法、ルータおよびホームゲートウェイ装置 - 特許庁 - METHOD FOR SYNTHESIZING FULL APERTURE NUMERICAL DATA MAP OF OBJECT TEST SURFACE
物体試験表面の完全アパーチャ数値データマップを合成する方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DESIGN SUPPORTING DEVICE AS WELL AS TEST METHOD THEREFOR
半導体集積回路とその設計支援装置およびテスト方法 - 特許庁 - MEDICAL NETWORK SYSTEM, TEST REQUEST MANAGEMENT DEVICE, AND MANAGEMENT METHOD THEREOF
医用ネットワークシステム並びに検査依頼管理装置及びその管理方法 - 特許庁 - MICROCHEMICAL ANALYZER, ITS MEASURING METHOD, AND TEST SAMPLE PICKING DEVICE
マイクロ化学分析装置、その測定方法、及び被検試料採取器具 - 特許庁 - BENDING TEST METHOD AND BENDING TESTER FOR FLEXIBLE PRINTED WIRING BOARD
フレキシブルプリント配線板の屈曲試験方法および屈曲試験装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING TUBE FORMATION TEST BY IMAGE ANALYSIS
画像解析による管腔形成試験の評価方法および評価装置 - 特許庁 - TEST HEAD FOR MAGNETIC DISK, AND METHOD FOR MANUFACTURING MAGNETIC DISK USING THE SAME
磁気ディスク用テストヘッド及びそれを用いた磁気ディスクの製造方法 - 特許庁 - ALARM CONTROL BOARD UPDATING METHOD FOR PLANT, AND UPDATE TEST MONITORING APPARATUS
プラントの警報制御盤更新方法及び更新試験監視装置 - 特許庁 - PROGRAM, DEVICE AND METHOD FOR GENERATING TEST CASE
テストケース生成プログラムとテストケース生成装置およびテストケース生成方法 - 特許庁 - FOAMABLE FLUORESCENT MAGNETIC POWDER FOR WET MAGNETIC POWDER TEST AND ITS PRODUCING METHOD
湿式磁粉探傷試験用発泡性蛍光磁粉及びその製造法 - 特許庁 - IMAGE PROCESSING UNIT, METHOD OF GENERATING CHART, TEST CHART, AND CHART GENERATION PROGRAM
画像処理装置、チャート生成方法、テストチャート及びチャート生成プログラム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ATMOSPHERIC CORROSION TEST OF METAL MATERIAL FOR HOME ELECTRICAL APPLIANCE
家電用金属材料の大気腐食試験方法およびその装置 - 特許庁 - COMMUNICATION TEST EQUIPMENT, METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING THE PROGRAM
通信試験装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR EARLY Z TEST IN THREE-DIMENSIONAL IMAGE RENDERING
３次元画像のレンダリングにおける早期Ｚテスト方法およびシステム - 特許庁 - DETERMINATION METHOD AND DETERMINING DEVICE FOR STRAIN AND TENSILE FORCE OF TEST PIECE
テストピ—スのひずみおよび引張力決定方法ならびに決定装置 - 特許庁 - TEST HAMMER FOR UNDERWATER EVALUATION AND CONCRETE COMPRESSION STRENGTH EVALUATION METHOD
水中評価用テストハンマおよびコンクリート圧縮強度評価方法 - 特許庁 - WHEEL OF TEST VEHICLE, EXPERIMENTAL DEVICE AND AERODYNAMIC CHARACTERISTIC DETECTION METHOD
テスト車両の車輪、実験装置及び空力特性検出方法 - 特許庁 - PHASE CALIBRATION METHOD FOR ATTENUATING PHASE-SHIFT MASK, TEST STRUCTURE AND SYSTEM
減衰位相シフト・マスクの位相較正の方法、試験構造、およびシステム - 特許庁 - CONCRETE TEST BODY HAVING PERFORATED CRACK AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
貫通ひび割れを有するコンクリート試験体及びその作製方法 - 特許庁 - DURABILITY PERFORMANCE TEST METHOD OF STEERING DEVICE OF VEHICLE AND TESTING DEVICE
車両のステアリング装置の耐久性能試験方法及び試験装置 - 特許庁 - TEST MODULE AND TESTING METHOD FOR MEASURING COLOR AND LIGHT INTENSITY
光の色及び強度を測定するためのテストモジュール及び試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPERATING TEST RESULT THEREOF
半導体集積回路試験装置及びその試験結果操作方法 - 特許庁 - METHOD FOR GENERATING TEST CASE, INFORMATION PROCESSING SYSTEM, AND COMPUTER PROGRAM
テスト・ケース生成のための方法、情報処理システムおよびコンピュータ・プログラム - 特許庁 - The method and the system test an integrated circuit (IC) by optical coupling.
光結合により集積回路（ＩＣ）を試験する方法およびシステム。 - 特許庁 - BEHAVIOR SIMULATION DEVICE FOR TIRE TREAD RUBBER AND TEST METHOD FOR TIRE TREAD RUBBER
タイヤトレッドゴムの挙動シミュレーション装置及びタイヤトレッドゴムの試験方法 - 特許庁 - IN-PLANE SHEARING TESTING METHOD FOR RUBBERY ELASTIC LAMINATE AND IN-PLANE SHEARING TEST EQUIPMENT
ゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置 - 特許庁 - To provide an acceleration test method for a life time evaluation of a fuel cell.
燃料電池の寿命評価用の加速テスト方法を提供する。 - 特許庁 - IN-SERVICE TESTING METHOD AND DETERMINATION DEVICE FOR DETERMINING EXISTENCE/ABSENCE OF TEST LIGHT CUTOFF FILTER
インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - 特許庁 - TEST MAGNETIC RECORDING SIGNAL GENERATION DEVICE, AND PREPARATION METHOD AND PROGRAM FOR THE SAME
テスト用磁気記録信号発生装置、該作成方法及び該プログラム - 特許庁 - ABNORMALITY DETECTING METHOD OF TEST WATER PASSAGE IN CONTINUOUS ORGANIC POLLUTION MONITOR
連続式有機汚濁モニタにおける検水流路の異常検知方法 - 特許庁 - The present method also includes transmitting the test signal from the path selector to the network.
本方法はテスト信号を経路選択器からネットワークに伝送する。 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, INTEGRATED CIRCUIT AND INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM
集積回路のテスト方法、集積回路および集積回路テストシステム - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
