「Test method」を含む例文一覧(8057)

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  • FLAW DETECTION TESTER, FLAW DETECTION TESTING METHOD AND SHEET MEMBER FOR FLAW DETECTION TEST
    探傷試験装置、探傷試験方法及び探傷試験用シート部材 - 特許庁
  • PROJECTION CONTROLLER, PROJECTION SYSTEM, TEST CHART, AND PROJECTION AREA DETERMINATION METHOD
    投写制御装置、投写システム、テストチャート、投写領域判定方法 - 特許庁
  • TEST CHART, AND DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING STEREOSCOPIC CAMERA FOR POSITIONAL DEVIATION
    テストチャート、ステレオカメラの位置ずれ検査装置および位置ずれ検査方法 - 特許庁
  • PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE
    検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁
  • METHOD FOR CREATING HARDENED LAYER OF RAIL IN RAIL TEST SPECIMEN, AND APPARATUS THEREFOR
    レール試験片におけるレール硬化層の作成方法及びその装置 - 特許庁
  • METHOD FOR SPECIFIC DETECTION OF OBJECT, DETECTION APPARATUS, AND TEST CHIP
    被検物質の特異的検出方法および装置、ならびに検査チップ - 特許庁
  • EDDY CURRENT TEST SIGNAL DISCRIMINATING METHOD AND DEVICE USING IT
    渦電流検査信号識別方法及びこの方法を用いる装置 - 特許庁
  • MEDIUM TEST AUXILIARY DEVICE FOR NETWORK TERMINATING DEVICE AND MEDIUM TESTING METHOD
    網終端装置用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁
  • To provide an integrated circuit test method, said method using at least one test vector comprising serialized input and output values.
    本発明は、直列化した入力と出力値を有する少なくとも一つのテストベクトルを利用する集積回路のテスト方法に関する。 - 特許庁
  • HEARING TEST DEVICE AND METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND HEARING AID ADJUSTMENT SYSTEM
    聴覚検査装置、方法およびコンピュータプログラム、補聴器調整システム - 特許庁
  • GROUND TEST METHOD FOR AIRCRAFT AND AIR INTAKE STRAIGHTENING DUCT USED THEREFOR
    航空機の地上試験方法およびそれに用いる吸気整流ダクト - 特許庁
  • TESTING SOCKET, TEST METHOD USING THE SAME AND MEMBER TO BE TESTED
    テスト用ソケット、このテスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁
  • ADJUSTMENT METHOD FOR STROBE TIMING, AND FUNCTION TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    ストローブタイミングの調整方法及び半導体装置のファンクションテスト装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CIRCUIT STRESS TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT
    半導体回路、及び半導体回路のストレス試験方法、半導体回路 - 特許庁
  • POLISHING TOOL OF CONTACT PIN FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST OF SEMICONDUCTOR IC, METHOD FOR MANUFACTURING THE POLISHING TOOL, AND ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST METHOD USING THE POLISHING TOOL
    半導体ＩＣの電気特性試験用コンタクトピンの研磨治具、研磨治具の製造方法および研磨治具を用いた電気特性試験方法 - 特許庁
  • PLL CIRCUIT AND ITS LOCK DECISION CIRCUIT, AND TEST METHOD AND DEVICE
    ＰＬＬ回路及びそのロック判定回路並びにテスト方法と装置 - 特許庁
  • OSCILLOSCOPE TESTING METHOD, OSCILLOSCOPE TEST SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
    オシロ装置試験方法、オシロ装置試験システム、プログラム、および記録媒体 - 特許庁
  • SOFTWARE TEST COMPLETION DETERMINATION METHOD, INFORMATION PROCESSOR, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
    ソフトウェアテスト終了判定方法、情報処理装置、プログラム、記録媒体 - 特許庁
  • BEHAVIORAL SYNTHESIS DEVICE AND METHOD HAVING TEST BENCH GENERATION FUNCTION, AND PROGRAM
    テストベンチ生成機能を有する動作合成装置と方法及びプログラム - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING DEMETHYLATION ACTIVITY AGAINST DNA OF TEST SPECIMEN
    被検物質のＤＮＡに対する脱メチル化作用を評価する方法 - 特許庁
  • TEST METHOD RELATED TO TURBINE FOR DRIVING WATER SUPPLY PUMP AND GENERATOR SET
    給水ポンプ駆動用タービンに関する試験方法および発電設備 - 特許庁
  • TRANSMISSION LINE ERROR TEST METHOD VIA LOOPBACK AND MULTIPLEX COMMUNICATION SYSTEM
    ループバックによる伝送路誤り試験方法及び多重化通信システム - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR IC AND METHOD OF AUTOMATIC INSERTING TEST FACILITATING CIRCUIT
    半導体集積回路及びテスト容易化回路の自動挿入方法 - 特許庁
  • TEST SOCKET, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING THIS
    テスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置 - 特許庁
  • ROW DECODER, SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
    ローデコーダ、半導体記憶装置および半導体記憶装置の検査方法 - 特許庁
  • ION SOURCE, ION BEAM PROCESSING-OBSERVING DEVICE, AND TEST PIECE CROSS-SECTION OBSERVATION METHOD
    イオン源、イオンビーム加工・観察装置、及び試料断面観察方法 - 特許庁
  • STERILIZATION/DISINFECTION TEST SYSTEM AND CONTROL METHOD FOR STERILIZATION/DISINFECTION TREATMENT
    殺菌・消毒検査システムおよび殺菌・消毒処理の制御方法 - 特許庁
  • ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TESTING DEVICE AND ELECTRODE REACTION CHARACTERISTIC TEST METHOD
    電極反応特性試験装置及び電極反応特性試験方法 - 特許庁
  • PSEUDO BASE STATION APPARATUS AND VIDEOPHONE TERMINAL TEST METHOD EMPLOYING SAME
    擬似基地局装置及び該装置を用いたテレビ電話端末試験方法 - 特許庁
  • TEST METHOD OF BRAKE SYSTEM OR AUXILIARY STARTER SYSTEM OF CABLE TRANSPORT EQUIPMENT
    ケーブル輸送設備のブレーキシステム又は補助起動システムの試験方法 - 特許庁
  • RADIO COMMUNICATION SYSTEM, RADIO COMMUNICATION TERMINAL, AND TEST METHOD THEREFOR
    無線通信システム、無線通信端末及びそれらに用いる試験方法 - 特許庁
  • MEMORY TEST SYSTEM/METHOD AT THE TIME OF STARTING SYSTEM BY CONTROL FIRMWARE
    制御ファームウェアによるシステム立ち上げ時のメモリ試験システム及び方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR LOW TORQUE LOW SPEED TEST IN TURBOMACHINERY
    ターボ機械における低トルク低速度試験のための方法及び装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD
    半導体試験回路、半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND MEMORY TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路および半導体集積回路のメモリテスト方法 - 特許庁
  • METHOD FOR PREPROCESSING SEMICONDUCTOR TEST PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    半導体試験用プログラムの前処理方法および半導体試験装置 - 特許庁
  • ELECTRIC CIRCUIT HAVING CIRCUIT COMPONENT AND TEST METHOD OF CIRCUIT COMPONENT
    回路コンポーネントを有する電気回路、および回路コンポーネントのテスト方法 - 特許庁
  • SIGNAL PROCESSING CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND TEST METHOD OF SIGNAL PROCESSING CIRCUIT
    信号処理回路、電子装置、および信号処理回路の試験方法 - 特許庁
  • TACKINESS TESTING DEVICE FOR PREPREG AND TACKINESS TEST METHOD OF PREPREG
    プリプレグの粘着性試験装置およびプリプレグの粘着性試験方法 - 特許庁
  • ELUTION TEST DEVICE AND METHOD HAVING IMPROVED FILTRATION SYSTEM
    改善されたろ過システムを有する溶出試験装置および試験方法 - 特許庁
  • To provide a system and method for monitoring handheld devices in a test environment.
    試験中の携帯装置を監視するシステムと方法を提供する。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEMORY, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体メモリ及び半導体装置並びに半導体メモリの試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
    半導体装置のテスト回路、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁
  • GAS SUPPLY FACILITY FOR AIRTIGHT TEST AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    気密試験用ガス供給設備及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR RECOVERING DYESTUFF FOR NONDESTRUCTIVE TEST OF CERAMICS
    セラミックス非破壊検査用染料回収方法及びその回収システム - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR DERIVATION OF MISSING DATA OBJECTS FROM TEST DATA
    テストデータから欠落データオブジェクトを導出するための方法およびシステム - 特許庁
  • SOFTWARE TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD AND MACHINE READABLE RECORDING MEDIUM THAT RECORDS PROGRAMS TO REALIZE THE METHOD
    ソフトウェアのテスト項目生成装置、テスト項目生成方法およびその方法を実現するプログラムを記録した機械読取可能な記録媒体 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD
    半導体集積回路およびその半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
  • This is called immediately before calling the test method; any exception raised by this method will be considered an error rather than a test failure.The default implementation does nothing.
    このメソッドを実行中に例外が発生した場合、テストの失敗ではなくエラーとされます。 デフォルトの実装では何も行いません。 - Python
  • The default implementation of this method returns the first line of the test method's docstring, if available, or None.
    デフォルトでは、テストメソッドのdocstringの先頭の一行、またはNoneを返します。 - Python
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