「Test method」を含む例文一覧(8057)
＜前へ 1 2 .... 60 61 62 63 64 65 66 67 68 .... 161 162 次へ＞- PROGRAM ANALYSIS SYSTEM, TEST EXECUTION DEVICE, AND ANALYSIS METHOD AND PROGRAM THEREOF
プログラム解析装置、テスト実行装置、その解析方法及びプログラム - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR PERFORMING TEST DURING OPERATION OF RING OPTICAL NETWORK
リング光ネットワークの動作中に試験を行う方法及びシステム - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置のテストパタン生成方法およびテストパタン生成装置 - 特許庁 - PRINTER, PRINTING METHOD OF TEST PRINTING, AND POS TERMINAL DEVICE
印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置 - 特許庁 - TEST METHOD AND CIRCUIT FOR POWER SUPPLY CONTROL INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
電源制御集積回路装置の試験方法および試験回路 - 特許庁 - METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE
電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁 - TEST EQUIPMENT, ITS CONTROL METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM
試験装置及びその制御方法、並びにプログラム及び記憶媒体 - 特許庁 - TEST METHOD AND DEVICE OF IGNITION RELATED APPARATUS IN MULTIPLE CYLINDER ENGINE
多気筒エンジンにおける着火関連機器の試験方法及び装置 - 特許庁 - PATTERN GENERATOR AND PATTERN GENERATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TEST
半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法 - 特許庁 - WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD FOR PLANT JOINT PART OF LONG POWER CABLE
長尺電力ケーブルの工場ジョイント部の耐電圧試験方法 - 特許庁 - DETERMINATION METHOD FOR CENTER OF LAMP OF VEHICLE UNDER TEST, AND HEADLIGHT TESTER
被試験車両のランプの中心決定方法及びヘッドライトテスタ - 特許庁 - METHOD OF CONDUCTING CRASH TEST USING CARRIAGE AND CORRESPONDING DEVICE
キャリッジを用いてクラッシュテストを行う方法および対応する機器 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING TEST SAMPLE IN OPTICAL GRANULAR MATERIAL SORTER
光学式粒状物選別機における試験サンプルの製造方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR SUBSCRIBER LINE DIGITAL CONTINUITY TEST
加入者線ディジタル導通試験システム及びその導通試験方法 - 特許庁 - FRONT-REAR AXLE LOAD CONTROLLING METHOD IN FOUR-WHEEL DRIVE VEHICLE BENCH TEST
四輪駆動車台上試験における前後軸負荷制御方式 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR SOLVING TEST GENERATION PROBLEM
テスト生成問題解決システム及びテスト生成問題解決方法 - 特許庁 - SERIAL PRINTER AND METHOD FOR ACTUATING SERIAL PRINTER FOR PRINTING TEST PATTERN
シリアルプリンタ及びテストパターン印刷のためのシリアルプリンタの動作方法 - 特許庁 - ANALYTICAL METHOD FOR OPTICAL PATH CHARACTERISTIC, AND OPTICAL PATH TEST MONITORING SYSTEM
光線路特性の解析方法及び光線路試験監視システム - 特許庁 - PROGRAM, DEVICE, AND METHOD FOR SOFTWARE TEST MANAGEMENT
ソフトウェアテスト管理プログラム、ソフトウェアテスト管理装置、ソフトウェアテスト管理方法 - 特許庁 - To provide a method of evaluating a blurring caused by video processing in a test video sequence.
テスト・ビデオ・シーケンスにおけるビデオ処理によるブレを評価する。 - 特許庁 - PRINTER, METHOD OF JUDGING FORMING OF DOT, COMPUTER PROGRAM, RECORDING MEDIUM, COMPUTER SYSTEM, TEST PATTERN REGION, AND METHOD OF PRINTING TEST PATTERN REGION
印刷装置、ドット形成判定方法、コンピュータプログラム、記録媒体、コンピュータシステム、テストパターン領域、及び、テストパターン領域印刷方法 - 特許庁 - CHARACTERISTIC TEST METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INSULATING FILM
半導体絶縁膜の特性試験方法及びその特性試験装置 - 特許庁 - SCAN TEST CIRCUIT, LOGICAL CONNECTION INFORMATION GENERATING METHOD OF THE SAME, AND PROGRAM
スキャンテスト回路、その論理接続情報生成方法及びプログラム - 特許庁 - FRICTION AND ABRASION TESTER FOR RESIN GEAR AND TEST METHOD FOR THE SAME
樹脂製歯車用の摩擦摩耗試験機およびその試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND OPERATIONAL AMPLIFIER AND TEST METHOD OF THE SAME
半導体集積回路およびオペアンプならびにそれらのテスト方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS BURN-IN OPERATION TESTING DEVICE AND TEST METHOD
半導体装置およびそのバーンイン動作試験装置・試験方法 - 特許庁 - TEST METHOD, ITS DEVICE, AND MULTIPOINT MEASURING DEVICE OF MULTIPLEXER SWITCH
マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 - 特許庁 - SUBSTRATE FOR ELECTROPHORESIS, AND BIOLOGICAL TEST SAMPLE ANALYZING DEVICE AND METHOD
電気泳動用基板、生体検査試料分析装置及びその方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TRANSFER TRAY, BURN-IN BOARD USING THE SAME, INSPECTION APPARATUS FOR BURN-IN TEST, BURN-IN TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD
半導体搬送トレイ、これを用いたバーンインボード、バーンイン試験用の検査装置及びバーンイン試験方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁 - MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, ANALYSIS METHOD, AND ANALYSIS PROGRAM
移動体通信端末試験システム、解析方法、及び解析プログラム - 特許庁 - METHOD OF COMPARING FEATURE OF TEST RECORD WITH FEATURE OF REFERENCE RECORD
試験レコードの特徴を参照レコードの特徴と比較する方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING NECESSARY NUMBER OF TESTS IN ACCELERATED TEST
加速試験における必要試験個数見積もり方法および装置 - 特許庁 - METHOD FOR INSPECTING INSECTICIDE RESISTANCE OF MEDIATOR INSECT AND TEST KIT
媒介昆虫の殺虫剤耐性の検査方法および試験キット - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS OF PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST)
プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法及び装置 - 特許庁 - PLL CIRCUIT, AND COMMUNICATION APPARATUS AND LOOPBACK TEST METHOD THEREOF
ＰＬＬ回路、並びに通信装置及びその折り返し試験方法 - 特許庁 - TEST CONDITION SUFFICIENCY MEASURING METHOD IN LSI LOGICAL FUNCTION VERIFICATION
ＬＳＩの論理機能検証での試験条件充足測定方法 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND TEST METHOD USING IT
パワー半導体素子の試験装置およびこれを用いた試験方法 - 特許庁 - SUPPORT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR CREATING TEST DATA
テストデータ作成支援装置、作成支援方法、及び作成支援プログラム - 特許庁 - In this method, heterologous test sequence is adopted for a parallel-tested die.
並列にテストされるダイについて、異種のテストシーケンスを採用する。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR POSITIONING INTERFACE UNIT OF AUTOMATIC TEST SYSTEM
自動試験システムのインタフェースユニットを位置付ける装置及び方法 - 特許庁 - LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE
低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁 - A method for an influenza test by extracting oral mucous membranes with cotton bud
インフルエンザ検査のための綿棒による口腔粘膜採取方法。 - 特許庁 - ATTACHING/REMOVING DEVICE, TEST HEAD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ATTACHING/REMOVING METHOD
着脱装置、テストヘッド、半導体試験装置及び着脱方法 - 特許庁 - ELECTRIC EQUIPMENT AND TEST METHOD OF THE ELECTRIC EQUIPMENT WITH AUDIO PORT
オーディオポートを有する電気機器およびこの電気機器の検査方法 - 特許庁 - CONTENTS TRANSMITTING/RECEIVING SYSTEM AND SELF-TEST METHOD THEREFOR
コンテンツ送受信システムおよびコンテンツ送受信システムのセルフテスト方法 - 特許庁 - HEAT-RESISTING FATIGUE TEST METHOD FOR CERAMICS SINTERED BODY AND ITS DEVICE
セラミックス焼結体の耐熱疲労性テスト方法及びその装置 - 特許庁 - LOAD TEST EXECUTION DEVICE AND SYSTEM, AND METHOD AND PROGRAM THEREOF
負荷テスト実行装置及びシステム、及びその方法、及びそのプログラム - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL
多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR THERMAL VACUUM TEST OF SATELLITE
衛星用熱真空試験装置及び衛星用熱真空試験方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR INJECTOR CHARACTERISTIC MEASURING TEST DEVICE
インジェクタの特性測定試験装置および特性測定試験方法 - 特許庁
