「Test」を含む例文一覧(39567)

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  • TEST DATA ANALYZING SYSTEM AND TEST DATA ANALYZING METHOD
    検査デ—タ解析システムおよび検査デ—タ解析方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN, TEST PATTERNING METHOD, RECORDER AND PROGRAM
    テストパターン、テストパターン作成方法、記録装置及びプログラム - 特許庁
  • BURN-IN TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD
    バーンインテスト信号発生回路及びバーンインテスト方法 - 特許庁
  • VEHICLE TEST PROVIDING SYSTEM
    車両試験提供システム - 特許庁
  • To provide an endurance test equipment of vehicles which efficiently can test vehicles for endurance.
    車両の耐久試験を効率的に実施する。 - 特許庁
  • TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体メモリ試験装置 - 特許庁
  • SHOCK WIND TUNNEL TEST EQUIPMENT
    衝撃風洞試験装置 - 特許庁
  • TEST SUBSTRATE FOR BIOCHEMICAL TEST AND SOLID-PHASE CARRIER
    生化学的検査用の検査基板および固相担体 - 特許庁
  • (3) Utilization of Stress Test Results
    ③【ストレス・テスト結果の活用】 - 金融庁
  • Instead of a bias temperature-stress test (BT test), a simple test having a correlation with the BT test is performed.
    バイアス−熱ストレス試験（ＢＴ試験）のかわりに、当該試験と相関関係を有する簡便な試験を行う。 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATING PROGRAM AND TAPE LIBRARY TEST PROGRAM
    試験データ生成プログラムおよびテープライブラリ試験プログラム - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TEST DEVICE AND TEST METHOD USING IT
    半導体試験装置及びこれを用いる試験方法 - 特許庁
  • BROWSER TEST SYSTEM AND METHOD
    ブラウザテストシステム及び方法 - 特許庁
  • TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE
    試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁
  • AIRCRAFT ENGINE TEST FACILITY
    航空機用エンジンテスト設備 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING TEST CIRCUIT AND TEST METHOD FOR IT
    テスト回路を備える集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁
  • OPTICAL PICKUP TEST METHOD AND OPTICAL PICKUP TEST DEVICE
    光ピックアップ検査方法および光ピックアップ検査装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR PROBE TEST APPARATUS
    半導体プローブ検査装置 - 特許庁
  • DRIVING CIRCUIT FOR DISPLAY DEVICE, AND TEST CIRCUIT, AND TEST METHOD
    表示装置用駆動回路、テスト回路、及びテスト方法 - 特許庁
  • TEST PLANNING SUPPORT APPARATUS AND TEST PLANNING SUPPORT PROGRAM
    テスト計画支援装置およびテスト計画支援プログラム - 特許庁
  • SCAN TEST CIRCUIT AND SCAN TEST METHOD USED FOR IT
    スキャン試験回路及びそれに用いるスキャン試験方式 - 特許庁
  • ABRASION TEST DEVICE FOR GEAR
    歯車の摩耗試験装置 - 特許庁
  • The test unit inputs the test result of the device to be tested.
    テスト装置は、被テストデバイスのテスト結果を入力する。 - 特許庁
  • BUILT-IN SELF TEST CIRCUIT OF MEMORY AND SELF TEST METHOD
    メモリの組み込み自己テスト回路および自己テスト方法 - 特許庁
  • The test pattern is read by a test pattern imaging section 6.
    このテストパターンをテストパターン撮像部６により読み取る。 - 特許庁
  • TEMPERATURE TEST METHOD AND TEMPERATURE TEST DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品の温度試験方法及び温度試験装置 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体メモリ試験方法・半導体メモリ試験装置 - 特許庁
  • To efficiently execute an operation test by a test program.
    テスト・プログラムによる動作テストを効率的に実行する。 - 特許庁
  • VEHICLE CRASH TEST APPARATUS
    車両衝突試験装置 - 特許庁
  • FLYING TEST ANALYSIS DEVICE
    飛しょう試験解析装置 - 特許庁
  • NON-TANK TYPE PRESSURE TEST METHOD AND TEST APPARATUS THEREOF
    非水槽式耐圧試験方法及びその試験装置 - 特許庁
  • COATING FILM STRENGTH TEST METHOD
    塗膜強度試験方法 - 特許庁
  • RUBBER TEST PIECE BLANKING DEVICE
    ゴム試験片打抜き装置 - 特許庁
  • A test performance table 33 stores actual test man-hours in each test project using each test specification set.
    テスト実績テーブル３３には、各テスト仕様書の各テストプロジェクトにおけるテストの実績工数が格納される。 - 特許庁
  • SPRING CONNECTOR AND TEST HEAD
    スプリングコネクタおよびテストヘッド - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TENSILE TEST OF FILMLIKE TEST PIECE
    フィルム状試験片の引張試験方法とその装置 - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体記憶装置の試験方法および試験装置 - 特許庁
  • CAP FOR TEST TUBE AND TEST TUBE HAVING THE SAME MOUNTED THEREON
    試験管用キャップ及びこれを装着した試験管 - 特許庁
  • TEST PROBLEM SETTING SYSTEM, TEST PROBLEM SETTING METHOD AND PROGRAM THEREFOR
    テスト出題装置、とテスト出題方法およびプログラム - 特許庁
  • A test signal generating part 334 generates the test signal.
    テスト信号発生部３３４は、テスト信号を発生する。 - 特許庁
  • TEST RESULT EVALUATION SYSTEM AND TEST RESULT EVALUATION METHOD
    試験結果評価装置および試験結果評価方法 - 特許庁
  • An impact test apparatus includes a control device 10 and a test device 20.
    制御装置１０と、試験装置２０とを備える。 - 特許庁
  • Central Trade Skill Test Commissioners
    中央技能検定委員 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • TEST SCORE TOTALING SYSTEM
    テストの得点集計システム - 特許庁
  • TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY, AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
    半導体メモリ試験方法・半導体メモリ試験装置 - 特許庁
  • TEST SPECIMEN FOR QUALITATIVE REACTION
    定性反応用試験片 - 特許庁
  • SMOKE EXHAUSTION BEHAVIOR TEST DEVICE
    排煙挙動試験装置 - 特許庁
  • IMMUNOLOGICAL TEST PIECE AND IMMUNOLOGICAL TEST METHOD
    免疫学的検査片および免疫学的検査方法 - 特許庁
  • SYSTEM-IN-PACKAGE TEST INSPECTION DEVICE AND TEST INSPECTION METHOD
    システムインパッケージ試験検査装置および試験検査方法 - 特許庁
  • The test is performed while the probes contact the test pad 5.
    試験はプローブ針をテストパッド５に接触させて行う。 - 特許庁
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