「Test」を含む例文一覧(39547)

<前へ 1 2 .... 37 38 39 40 41 42 43 44 45 .... 790 791 次へ>
  • SUPPORT TEST CASE GENERATION DEVICE AND TEST CASE GENERATION METHOD
    支援テストケース作成装置及びテストケース作成方法 - 特許庁
  • TEST PLAN PREPARATION DEVICE AND TEST PLAN PREPARATION METHOD
    テスト計画作成装置およびテスト計画作成方法 - 特許庁
  • TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR PRESSURE SENSOR
    半導体圧力センサの試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • TEST SOCKET AND CONNECTION SHEET FOR USE IN TEST SOCKET
    テスト用ソケット、およびテスト用ソケットに用いる接続シート - 特許庁
  • TEST HEAD FOR SEMICONDUCTOR TESTER
    半導体テスタ用テストヘッド - 特許庁
  • OFFICIAL APPROVAL TEST EDUCATION SYSTEM
    検定試験教育システム - 特許庁
  • TEST METHOD OF STORAGE DEVICE
    記憶装置の検査方法 - 特許庁
  • TAG-RAM TEST METHOD AND DEVICE FOR THE TEST
    TAG−RAM試験方法およびそのための装置 - 特許庁
  • INCORPORATED SELF-TEST CIRCUIT
    組込み型自己試験回路 - 特許庁
  • MEDICAL TEST SUPPORT SYSTEM AND MEDICAL TEST SUPPORT METHOD
    医療検査支援システム及び医療検査支援方法 - 特許庁
  • CONTROL METHOD OF TEST BURN-IN APPARATUS AND TEST BURN- IN APPARATUS
    テストバーンイン装置の制御方法及びテストバーンイン装置 - 特許庁
  • TEST DEVICE FOR COMMUNICATION EQUIPMENT
    通信装置の試験装置 - 特許庁
  • ANTI-AGING TEST CONTROL SYSTEM
    抗老化検査管理システム - 特許庁
  • CONNECTION CABLE FOR TEST PLUG, AND SHORT-CIRCUIT STRUCTURE OF TEST PLUG
    テストプラグ用接続ケーブル及びテストプラグの短絡構造 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATING DEVICE, TEST DATA GENERATING METHOD AND PROGRAM
    テストデータ生成装置、テストデータ生成方法およびプログラム - 特許庁
  • TEST DEVICE, TEST METHOD, AND CORRECTION VOLTAGE CALCULATION DEVICE
    テスト装置、テスト方法および補正電圧算出装置 - 特許庁
  • MONITOR BURN-IN TEST METHOD, AND MONITOR BURN-IN TEST DEVICE
    モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置 - 特許庁
  • I had an AIDS test.
    エイズの検査を受けました。 - Tanaka Corpus
  • Test by Designated Verification Body
    指定検定機関の試験 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Promotion of Test and Research
    試験研究等の推進 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • 4.Test 3D accelerationReboot to the new kernel
    新しいカーネルのリブート - Gentoo Linux
  • A W3CUTF-8 Test PageA UTF-8 test page provided by the University of FrankfurtInput Methods
    フランクフルト大学によるUTF-8テストページ 入力方法 - Gentoo Linux
  • Test the RESTful web services again.
    RESTful Web サービスを再テストします。 - NetBeans
  • New Test Runner interface for displaying test results
    テスト結果を表示するための新しいテストランナーインタフェース - NetBeans
  • Setting the Test Properties.
    テストプロパティーを設定します。 - NetBeans
  • The test method testTemporarilyDisabled will run if you run the test class.
    テストクラスを実行すると、テストメソッド testTemporarilyDisabled が実行されます。 - NetBeans
  • The test method temporarilyDisabledTest will run if you run the test class.
    テストクラスを実行すると、テストメソッド temporarilyDisabledTest が実行されます。 - NetBeans
  • Deselect Test Initializer and Test Finalizer.Click Finish.
    「テスト初期化」および「テスト終了」を選択解除します。 - NetBeans
  • SCAN TEST CIRCUIT AND METHOD OF DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT
    スキャンテスト回路およびスキャンテスト回路の設計方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR WAFER, TEST DEVICE, TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR WAFER
    半導体ウェハ、テスト装置、半導体ウェハのテスト方法 - 特許庁
  • PROBER AND WAFER TEST METHOD
    プローバ及びウエハテスト方法 - 特許庁
  • FIRMWARE TEST AUTOMATION METHOD
    ファームウェアテスト自動化方法 - 特許庁
  • TEST TOOL FOR IMMUNO-CHROMATOGRAPHY
    イムノクロマトグラフィー用試験具 - 特許庁
  • IC TEST SYSTEM, IC TEST METHOD, AND STORAGE MEDIUM
    IC試験システム、IC試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF ERROR DETECTION CORRECTING CIRCUIT
    エラー検出訂正回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁
  • SPACER FOR IRRADIATION TEST PIECE
    照射試験片用スペーサ - 特許庁
  • TEST PIECE FOR IMMUNOCHROMATOGRAPHY
    イムノクロマトグラフィー用試験片 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT OF OSCILLATION CIRCUIT
    発振回路の試験回路 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEMORY, TEST CIRCUIT, AND TEST METHOD
    半導体メモリ装置並びにテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEMORY TEST CIRCUIT
    半導体メモリのテスト回路 - 特許庁
  • TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE
    半導体素子の試験方法及び半導体試験装置 - 特許庁
  • TEST METHOD FOR NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY AND TEST CIRCUIT
    不揮発性半導体メモリのテスト方法及びテスト回路 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE TEST EQUIPMENT AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST METHOD
    半導体デバイステスト装置及び半導体デバイステスト方法 - 特許庁
  • TEST MODE SETTING METHOD AND TEST CIRCUIT AND MICROCONTROLLER
    テストモード設定方法とテスト回路およびマイクロコントローラ - 特許庁
  • AUTOMATIC SOFTWARE TEST DEVICE AND AUTOMATIC SOFTWARE TEST METHOD
    ソフトウェア自動試験装置及びソフトウェア自動試験方法 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路のテスト回路およびテスト方法 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT, TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
    テスト回路、テスト方法、及び半導体集積回路装置 - 特許庁
  • CATHETER TEST SIMULATION SYSTEM
    カテーテル検査シミュレーションシステム - 特許庁
  • Readily Carbonizable Substances Test
    硫酸呈色物試験法 - 厚生労働省
  • We'll give them a paper test
    ペーパーテストを受けさせます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
<前へ 1 2 .... 37 38 39 40 41 42 43 44 45 .... 790 791 次へ>

例文データの著作権について