「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • DEVICE PACKAGE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD
    デバイスパッケージ、ならびにその製造方法および試験方法 - 特許庁
  • DCL DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME
    ＤＣＬデバイスおよびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
  • TESTING METHOD AND SPECIFICATION VALUE DETERMINATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR ELEMENT
    半導体素子の試験方法及び規格値決定方法 - 特許庁
  • CIRCUIT OPENING TEST SYSTEM AND CIRCUIT OPENING TESTING METHOD
    回線開通試験システムおよび回線開通試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND DELAYED FAULT TESTING METHOD
    半導体集積回路装置、及び、遅延故障試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING PINHOLE IN RUBBER GLOVE AND PINHOLE TEST SYSTEM
    ゴム手袋のピンホール検査方法及びピンホール検査装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR SIMULATION TESTING ON CENTRIFUGAL STRESS OF TURBINE BLADE
    タービン翼の遠心応力模擬試験方法及び装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST PROGRAM, TEST METHOD, AND TESTING DEVICE
    半導体装置、試験プログラム、試験方法、および試験装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • TEST CORRESPONDING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD
    テスト対応型半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD OF TESTING AUXILIARY BRAKE OF PASSENGER CONVEYOR
    乗客コンベアの補助ブレーキの試験装置及び試験方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE
    半導体装置、および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
  • INTER-HOLE PERMEABILITY TESTING METHOD AND GROUT EFFECT DETERMINING METHOD
    孔間透気試験方法及びグラウト効果判定方法 - 特許庁
  • CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
    半導体集積回路装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS
    半導体装置の製造方法及び半導体試験装置 - 特許庁
  • To reduce a testing cost and a testing time by using an inexpensive analog tester in a semiconductor integrated circuit.
    半導体集積回路装置において、廉価なアナログテスタを用いて検査コストを低減し且つ検査時間を短縮する。 - 特許庁
  • CREATINE-MEASURING METHOD AND TESTING PIECE FOR MEASURING CREATININE
    クレアチニンの測定方法およびクレアチニン測定用試験片 - 特許庁
  • CERAMIC HEATER AND SUPPOTING PIN FOR SEMICONDUCTOR MANUFACTURING AND TESTING DEVICE
    半導体製造・検査装置用セラミックヒータおよび支持ピン - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING FeRAM CELL AND ITS TESTING METHOD
    ＦｅＲＡＭセルを含む集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING DEVICE AND METHOD OF THE SAME
    半導体装置及びその試験装置、並びに試験方法 - 特許庁
  • To provide a testing device capable of efficiently testing the sealability of a joint of a pipe made of a bonded synthetic resin.
    接合合成樹脂製配管の接合部の密封性を効率よく試験することの可能な試験装置を提供する。 - 特許庁
  • DISCHARGE PROBE AND ELECTROSTATIC DISCHARGE TESTING MACHINE EQUIPPED WITH IT
    放電プローブ及びそれを備えた静電気放電試験機 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
    半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • DSP BUS STRUCTURE OF CONTROL DEVICE IN VIBRATION TESTING MACHINE
    振動試験機における制御装置のＤＳＰバス構造 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SYSTEM FOR TESTING THE SAME
    半導体集積回路及びその試験を行う試験システム - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE AND CIRCUIT TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置および半導体装置の回路試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT USING INTEGRATED DEBUGGING CIRCUIT
    統合デバッグ回路を利用する集積回路の試験方法 - 特許庁
  • DICING SUBSTRATE FOR TEST, PROBE, AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING APPARATUS
    試験用個片基板、プローブ、及び半導体ウェハ試験装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁
  • PERFORMANCE TESTING METHOD FOR HEAD GIMBAL ASSEMBLY WITH MICROACTUATOR
    マイクロアクチュエータを備えたヘッドジンバルアセンブリの性能試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING PHOTOTOXICITY WITH HUMAN RETINAL PIGMENT EPITHELIAL CELL
    ヒト網膜色素上皮細胞を用いた光毒性試験法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND A/D CONVERTER TESTING METHOD
    半導体集積回路およびＡ／Ｄ変換器テスト方法 - 特許庁
  • VOLTAGE APPLICATION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS USING IT
    電圧印加回路およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus and a testing process capable of performing tests suitable for operating environments of a buffer.
    緩衝器の使用環境に適した試験を行うことができる試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁
  • PROBE CARD, SEMICONDUCTOR TESTING SYSTEM, AND PROBE CONTACT METHOD
    プローブカード、半導体試験システム及びプローブの接触方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD THEREOF AND SEMICONDUCTOR CHIP
    半導体装置およびその検査方法および半導体チップ - 特許庁
  • AUTOMATIC CHUCK WIDTH ADJUSTING TYPE CHUCK DEVICE FOR TIRE TESTING DEVICE
    タイヤ試験装置の自動チャック幅調節式チャック装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND MAXIMUM DELAY TESTING METHOD
    半導体集積回路及びその最大遅延試験定方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING AGENT FOR TREATMENT OR PREVENTION OF BONE METABOLISM DISORDER
    骨代謝異常の治療または予防剤の試験方法 - 特許庁
  • This testing apparatus for semiconductor devices has the same arrangement as testing apparatuses of the prior art except the arrangement of a contact holder.
    本半導体デバイスの試験装置は、コンタクト押さえの構成を除いて従来の試験装置と同じ構成を備える。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME
    半導体集積回路、そのテスト回路、及びテスト方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS MAINTENANCE METHOD
    半導体集積回路の試験装置及びその管理方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING AND TESTING FLOWABILITY OF CONCRETE
    コンクリートの流動性評価試験方法及びその装置 - 特許庁
  • CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路の試験回路およびその試験方法 - 特許庁
  • To shorten the testing time, reduce the size of a semiconductor and reduce the number of terminals required for testing the semiconductor.
    試験時間の短縮化と、半導体のサイズを低減させると共に半導体の試験に必要な端子数を削減する。 - 特許庁
  • CONTACTOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD USING CONTACTOR
    コンタクタ、その製造方法及びコンタクタを用いた試験方法 - 特許庁
  • FIBER MIXING RATIO TESTING METHOD OF ORGANIC FIBER MIXED CONCRETE
    有機繊維混入コンクリートの繊維混入率試験方法 - 特許庁
  • The node specifies a step for executing the sample testing, and a step for forming the rheometer for executing the sample testing.
    ノードは、サンプルのテストを実行するステップまたはサンプルのテストを実行するためのレオメータを形成するステップを特定する。 - 特許庁
  • The only way to know how strong is to keep testing your limits.
    その強さを知る方法は― 自分の限界を試す事だ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • It's a plant used for testing. normally, we don't go this far.
    試験用のプラントです 普通はここまでやらないんですが - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
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