VACUUM CHAMBER TESTING METHOD AND DEVICE FOR PIPELINE PENETRATION WELD ZONE 配管貫通溶接部真空箱試験方法及び装置 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING STIMULATION THRESHOLD ENERGY IN HEART 心臓における刺激しきい値エネルギーを試験するための装置 - 特許庁
INTEGRATED DATA JITTER GENERATOR FOR HIGH-SPEED SERIAL INTERFACE TESTING 高速シリアルインターフェースのテスト用の集積データジッター発生器 - 特許庁
FLAT DISPLAY DEVICE AND A METHOD FOR TESTING FLAT DISPLAY DEVICE フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR 半導体記憶装置および半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁
To provide a control circuit for a contact opening and closing device, and a semiconductor chip testing system and a semiconductor chip testing method using the control circuit. 接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WEATHER RESISTANCE OF LOW ALLOY STEEL ACCELERATED BY COMBINED CYCLE 低合金鋼の複合サイクル促進耐候性試験方法 - 特許庁
PROBE, PROBE SET, PROBE-IMMOBILIZED CARRIER AND METHD FOR TESTING GENE プローブ、プローブセット、プローブ固定担体及び遺伝子検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING FRICTION COEFFICIENT OF MACROMOLECULAR MATERIAL 高分子材料の摩擦係数試験方法および装置 - 特許庁
To provide an IC testing device capable of preventing a test cost from increasing in accompaniment to enhancement of performance in a testing object. 試験対象の性能向上にともなう試験コストの増大を防ぐことが可能なIC試験装置を提供する。 - 特許庁
DEVICE FOR EVALUATING AND TESTING TRANSPORT PACKAGE ASSEMBLED IN UNIT LOAD ユニットロードにまとめられた包装貨物の評価試験装置 - 特許庁
BURN-IN TESTING DEVICE AND CLASSIFICATION METHOD OF DEVICE TO BE TESTED バーンイン試験装置、および、被試験デバイスの分類方法 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING DEVICE OF STANDBY POWER SOURCE FOR FIRE ALARM SYSTEM 火災報知設備における予備電源の自動試験装置 - 特許庁
METHOD AND MEMBER FOR TESTING OPTICAL FILM 光学フィルム用検査部材及び光学フィルムの検査方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR PRESSURE RELIEF TESTING OF LIGHTNING ARRESTER 避雷器放圧試験装置および避雷器放圧試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT WITH DRIFT OF AVERAGE VALUE TAKEN INTO CONSIRATION 平均値のドリフトを考慮した電子部品のテスト方法 - 特許庁
COMPONENT TRANSFER APPARATUS, SURFACE-MOUNTING APPARATUS, AND COMPONENT TESTING APPARATUS 部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
The reception power in the testing mobile equipment 109 is reduced. 試験移動機109での受信電力が減少する。 - 特許庁
TOOL AND METHOD FOR TESTING ADHESIVE STRENGTH, AND SYSTEM 粘着力試験器具および粘着力試験方法,システム - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING BAR STEEL MEMBER FOR WITHDRAWING RESISTANCE 棒鋼部材の引抜抵抗試験装置およびその試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING TOROIDAL TYPE CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION トロイダル型無段変速機の試験方法及び試験装置 - 特許庁
To provide a vehicle suspension testing method of module type. モジュール方式の車両サスペンション試験法を提供する。 - 特許庁
COMPONENT TRANSFER APPARATUS, SURFACE MOUNTING MACHINE, AND COMPONENT TESTING DEVICE 部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
IMMUNOLOGICAL TESTING ELEMENT HAVING IMPROVED CONTROL COMPARTMENT 改良された対照区画を有する免疫学的試験素子 - 特許庁
TESTING METHOD FOR BASE STATION UNIT IN MOBILE COMMUNICATION SYSTEM 移動体通信システムにおける基地局装置試験方法 - 特許庁
Could we get the results from the vibration testing? 振動検査の結果を手に入れることは出来ますでしょうか? - Weblio Email例文集
he was testing the government's receptiveness to reform
彼は、革新に対しての政府の受容力をテストしていた - 日本語WordNet
NANO-WIRE TENSION TEST DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE ナノワイヤ引張試験デバイス及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
FLEXIBLE PRINTED CIRCUIT CABLE SYSTEM FOR CRASH TESTING DUMMY 衝突試験用ダミーのためのフレキシブルプリント回路ケーブルシステム - 特許庁
METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE 半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁
To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device. エンコードデータをデコードする被試験対象を、IC試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁
APPARATUS, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER 半導体ウェハの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁
SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT 半導体集積回路の試験システムおよびその試験方法 - 特許庁
BOLT TESTING MACHINE INSTALLING DEVICE FOR ROOF AND ITS INSTALLATION METHOD 屋根用ボルト試験機取付装置及びその設置方法 - 特許庁
SINGLE-PHASE THREE-WIRE TYPE CIRCUIT BREAKER AND ITS TESTING METHOD 単相三線式回路遮断器およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体試験装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING DRIVER CIRCUIT OF AMOLED AMOLEDの駆動回路を検査する方法および装置 - 特許庁
TESTER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD 半導体集積回路の試験装置およびその試験方法 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR CONTINUITY TESTING OF MEDICAL ELECTRODE 医療用電極の導通試験のための方法およびシステム - 特許庁
SILICON-ON-INSULATOR CHANNEL ARCHITECTURE FOR AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT 自動試験装置のためのシリコン・オン・インシュレータ・チャネルアーキテクチャ - 特許庁
MODULATION CIRCUIT, SIGNAL GENERATOR, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP 変調回路、信号発生器、試験装置、及び半導体チップ - 特許庁