「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 121 122 123 124 125 126 127 128 129 .... 288 289 次へ＞- To obtain an engine operation-testing device for testing the operation of an engine in a state suited for the actually used condition.
エンジンの運転試験を実際に使用される状況に即した状態で行うことができるエンジン運転試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To reduce a time for testing delay fault of a memory peripheral circuit.
メモリ周辺回路に対する遅延故障テストの時間を削減すること。 - 特許庁 - To provide a measurement method for measuring vibration characteristics of a coupling part between a structure and a vibration testing machine, even when there is no general-purpose vibration testing machine.
汎用の振動試験機が無くても、構造物と振動試験機の結合部の振動特性を測定することができる測定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an information distribution board with a home automation equipment testing function capable of easily testing home automation equipment without depending on a construction specialist.
専門の施工業者によらずに、ホームオートメーション機器の試験が容易に行えるホームオートメーション機器試験機能付き情報分電盤を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing apparatus for a home network, the testing apparatus easily determining whether or not the network service is available; and to provide a method of the same.
ネットワークサービスが利用可能か否かを容易に判定できるホームネットワークの試験装置及びその方法を提供することを目的としている。 - 特許庁 - A method for testing a resuspending characteristic of the chemical dispersing agent includes a step of providing a testing device with a solution container, a drive system and a shaft.
化学分散剤の再縣濁特性を試験する方法は、溶液収容容器、駆動システム及びシャフトを有した試験装置を提供するステップを含む。 - 特許庁 - To provide a testing device of a semiconductor integrated circuit and its testing method capable of reducing a cost of a delay test between different clock domains.
異なるクロックドメイン間のディレイテストのコストを低減することができる半導体集積回路の試験装置及びその試験方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a testing device which appropriately performs power supply and feedback.
電源供給及びフィードバックを適切に行う試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a test method for testing a general-purpose memory incorporated in a multi-chip module without preparing a special circuit for the testing.
本発明は、試験用の特別な回路を設けることなくマルチチップモジュール内蔵の汎用メモリを試験する試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To reduce cost by effectively use of a base material and shortening testing time.
基材の有効活用とテスト時間の短縮を図ってコストを低減する。 - 特許庁 - To provide an interface for an optical device for improving the coherent testing of the optical device.
光学装置のコヒーレント測定を改善する光学装置へのインタフェース。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal device, etc. in which corrosion resistance, etc. of a testing terminal for testing goodness/badness of a display panel and a connection terminal can be improved.
表示パネルの良否を検査する検査用端子、及び接続用端子の耐食性等の向上を図ることが可能な液晶装置等を提供する。 - 特許庁 - To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.
半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁 - PURIFICATION TEST METHOD OF CONTAMINATED SOIL, AND PURIFICATION TESTING DEVICE OF CONTAMINATED SOIL
汚染土壌の浄化試験方法および汚染土壌の浄化試験装置 - 特許庁 - To provide a structure and testing method for suppressing peak power consumption at the time of testing an integrated circuit device.
集積回路装置のテスト時におけるピークの消費電力を抑制するための構造，テスト方法，設計方法及び設計用データベースを提供する。 - 特許庁 - To provide a mobile terminal testing device which enables the test time for testing a transmission power control function of a mobile terminal to be shortened.
移動端末機の送信電力制御機能を試験する際に、試験時間を短縮することができる移動端末機試験装置を提供する。 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR LIGHTENING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC FLUX PINNING MECHANISM IN SUPERCONDUCTIVITY BEARING
超電導軸受における磁束ピンニング機構緩和特性の試験装置。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING RECORDING ON OPTICAL RECORDING MEDIUM, AND APPARATUS FOR TESTING
光記録媒体の記録制御方法、記録制御装置、及び検査装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor-testing device for suppressing expansion of damage to specimens by continuation currents after the specimens are destroyed and damage to testing circuits.
被検体の破壊後に継続電流による被検体の損傷拡大や試験回路の損傷を抑制可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a socket for testing a BGA integrated circuit of simple configuration.
簡単な構成のＢＧＡ集積回路装置試験用ソケットを提供する。 - 特許庁 - LIGHTING DEVICE, COMPONENT RECOGNITION DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE
照明装置、部品認識装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁 - TEST METHOD OF CONCRETE WATERPROOF LAYER, AND TESTING MACHINE USING SAME
コンクリート防水層の試験方法およびこの方法で使用する試験装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING COMPRESSED DIGITAL BROADCAST VIDEO DURING OPERATION
圧縮されたディジタル放送ビデオを稼働中にテストするシステム及び方法 - 特許庁 - PULSE CHARACTERISTIC DETECTION CIRCUIT BASED ON THRESHOLD, AND ITS MEASUREMENT/EVALUATION TESTING METHOD
閾値に基づくパルス特性検出回路及びその測定評価試験方法 - 特許庁 - To detect a defect around a synchronization mark with one write operation in a defect testing method for testing a defect in a synchronization mark part of a data part of a disk.
ディスクのデータ部の同期マーク部の欠陥を検出する欠陥検査方法に関し、１回のライト動作で、同期マーク周辺の欠陥を検出する。 - 特許庁 - To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test.
被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。 - 特許庁 - TESTING DEVICE OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION AND TEST METHOD OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION
ケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法 - 特許庁 - BIOMEDICAL ELECTRODE UNIT PACKAGE AND METHOD FOR JUDGING AND TESTING QUALITY THEREOF
生体用電極ユニット包装体およびその良否判定検査方法 - 特許庁 - To provide an array testing device, a method of measuring substrate one location position of the array testing device, and a method of measuring specific position coordinate imaged by a camera assembly.
本発明は、アレイテスト装置と、アレイテスト装置の基板一地点位置測定方法と、カメラアセンブリーに撮像された特定位置座標測定方法を提供する。 - 特許庁 - IMPACT LOAD RESPONSE EVALUATION METHOD AND IMPACT TESTING APPARATUS FOR TRACK PAD
軌道パッドの衝撃荷重応答評価方法及びその衝撃試験装置 - 特許庁 - SUBSTRATE INSPECTION DEVICE, SUBSTRATE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
基板検査装置、基板検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁 - (3) This scratchability testing method for floor material comprises performing a test by spraying a particulate material on the floor material by use of the testing machine according to claim 3.
（３）請求項３記載の試験装置を用い、床材上に粒子状物質を散布して試験を行なう床材の傷付き性試験方法。 - 特許庁 - METHOD FOR CONVERTING PHOSPHOLIPID INTO SOLID PHASE AND BASE MATERIAL FOR TESTING CONVERSION OF PHOSPHOLIPID INTO SOLID PHASE
リン脂質固相化方法及びリン脂質固相化検査用基材 - 特許庁 - To provide a technology for appropriately testing a network address and port translating apparatus.
ネットワークアドレスポート変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁 - A tester 5 detects a trouble portion when testing the printed circuit board 6.
プリント回路基板６を試験する際、テスタ５が故障箇所を検出する。 - 特許庁 - MACHINE AND METHOD FOR TESTING BENDING RESISTANCE OF WAVEGUIDE
導波路の耐屈曲性試験機、及び導波路の耐屈曲性試験方法 - 特許庁 - CONNECTION TESTING METHOD IN REPLACING RAILWAY ELECTRONIC INTERLOCKING DEVICE, AND LIGHT SWITCH
鉄道用電子連動装置取替時の接続試験方法および光スイッチ - 特許庁 - To provide a shearing testing method and a shearing testing tool, which finds easily and directly a shearing strength of concrete.
簡単で、直接的にコンクリートのせん断強度を求めることのできるせん断試験方法及びせん断試験用治具を提供することを解決課題とする。 - 特許庁 - To automatically change signal level of the communication signal to a testing terminal only by changing positional relationship between the displayed testing terminal and a pseudo base station.
表示された被試験端末と擬似基地局との位置関係を変化させるのみで、被試験端末への通信信号の信号レベルを自動変更する。 - 特許庁 - To provide a testing device and its calibration method for efficiently carrying out calibration of a diver, a comparator, and the like in the testing device for an electronic device and the like.
電子デバイス等の試験装置において、ドライバ、コンパレータ等のキャリブレーションを効率よく行うことのできる試験装置、及びキャリブレーション方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a scan testing method of a semiconductor integrated circuit of advanced integration, and the semi-conductor integrated circuit to be tested by the scan testing method.
集積化の進んだ半導体集積回路に対するスキャンテスト方法、及び該スキャンテスト方法によりテストされる半導体集積回路を求める。 - 特許庁 - HEAT-CYCLE CREEP FATIGUE TEST PIECE AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME
熱サイクルクリープ疲労の試験片、その試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁 - The electronic component testing device includes a workstation, a tester body, and a test head.
電子部品試験装置は、ワークステーション、テスタ本体、及びテストヘッドを備える。 - 特許庁 - To describe a heater for heating packaged die for burn-in and heat testing.
バーンイン及び加熱試験用のパッケージダイを加熱するヒーターが記載される。 - 特許庁 - To provide a testing system for facilitating the communication test of an information communications device.
情報通信装置の通信テストを容易にするテストシステムを提供する。 - 特許庁 - To provide a rubber testing machine capable of controlling the abrasion conditions and fatigue conditions, respectively independently, and to provide a rubber test method which uses the testing machine.
摩耗条件と疲労条件とを各々独立して制御し得るゴム試験機、及びかかる試験機を用いたゴム試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an IC device testing socket that exhibits high efficiency of signal transmission in testing of an IC device without decreasing contact pin replacement workability.
コンタクトピンの交換作業性を低下させることなく、ＩＣデバイスの検査時には高い信号伝送効率を発揮できるＩＣデバイス検査用ソケットを提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for testing characteristics of mobile radio equipment which can quicken characteristic testing works and prevent human errors.
特性試験作業の迅速化が図れるとともに人為的ミスを防止することができる移動無線機特性試験器および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory testing apparatus that efficiently retrieves fail chips meeting the desired conditions and displays results of testing in an easy to view way.
所望の条件と一致するフェイルチップを効率よく検索でき、その検索結果を見やすく表示できる半導体メモリ検査装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for testing germination ratio of seeds of an arboreous plant as an object for testing the germination ratio in a short period such as within about 7 days.
木本植物種子を対象としたほぼ７日以内という短期間で発芽率を検定するための種子の発芽率検定方法を提供する。 - 特許庁
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