「Testing」を含む例文一覧(14414)
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試験時において基準セルトランジスタＴ２ｒのゲート電圧が設定され、試験用基準メモリセル３に流れる基準電流が調節される。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING SUBSTRATE FOR TESTING ACCURACY OF LANDING LIQUID DROPLET MATERIAL FOR COLOR FILTER
カラーフィルタ用液滴材料着弾精度試験基板の製造方法 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING INTERNAL PRESSURE, AND CARTON FOR CONTAINING CAN
内圧検査方法および内圧検査装置並びに缶収納用カートン - 特許庁 - To provide a material testing machine capable of easily regulating the axial center.
軸芯調整を容易に行うことができる材料試験機の提供。 - 特許庁 - To realize an IC tester capable of shortening a testing time.
試験時間の短縮を図れるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁 - HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TESTING DEVICE AND HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TEST METHOD
高圧材料強度試験装置および高圧材料強度試験方法 - 特許庁 - COMPOSITION FOR TESTING DISEASE ACCOMPANYING METABOLIC DISORDER, KIT, AND METHOD
代謝障害を伴う疾患の検定のための組成物、キットおよび方法 - 特許庁 - MICROREACTOR CHIP, METHOD FOR TESTING CHEMICAL REACTION, AND THIN FILM MATERIAL FOR MICROREATOR CHIP
マイクロリアクタチップ，化学反応試験方法及びマイクロリアクタチップ用薄膜部材 - 特許庁 - EXPOSURE TESTING MACHINE SYSTEM EQUIPPED WITH SPECTROMETER, AND PORTABLE SPECTROMETER
分光装置を備える暴露試験装置システムおよび携帯型分光装置 - 特許庁 - Would it be possible to use the products that have been developed for three years for testing?
3年経過した製品を使用してテストすることは可能でしょうか。 - Weblio Email例文集 - METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPERATION OF ELECTRONIC UNIT BY SIMULATION, AND EQUIPMEMNT FOR TESTING ELECTRONIC UNIT SUITED TO RAILROAD VEHICLE OR ELECTRIC VEHICLE
シミュレーションによって電子ユニットの動作を試験する方法と装置、および鉄道車両または電気車両に適合する電子ユニットを試験する設備 - 特許庁 - In the low-pressure thrusting step, a pneumatic piston is caused to contact each external terminal with each testing probe by a contacting thrust lower than an adequate thrust suitable for testing.
低圧押圧工程は、検査に好適な適正押圧力よりも低圧の当接押圧力で空気圧ピストンが各外部端子を各検査用プローブに当接させる。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD INCLUDING EFFICIENT DATA TRANSMISSION FOR TESTING A/D CONVERTER
Ａ／Ｄ変換器試験用の効率的データ転送を含む装置及び方法 - 特許庁 - EVALUATING METHOD OF FLUIDIZED BED COMBUSTION TESTING DEVICE AND COAL-ADDED COMBUSTIBLE MATTER
流動層燃焼試験装置及び石炭添加可燃物の評価方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING LIGHT IRRADIATION RADICAL WEATHERABILITY, AND LIGHT IRRADIATION RADICAL WEATHERABILITY TESTER
光照射ラジカル耐候試験方法及び光照射ラジカル耐候試験機 - 特許庁 - VIBRATION TESTING APPARATUS FOR SUPERCONDUCTING MAGNET FOR SUPERCONDUCTING MAGNETIC LEVITATION TYPE RAILROAD
超電導磁気浮上式鉄道用超電導磁石の振動試験装置 - 特許庁 - ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE HAVING ADVERTISEMENT DISPLAY FUNCTION, AND ADVERTISEMENT DISTRIBUTING SYSTEM
広告表示機能を有する環境試験装置及び広告配信システム - 特許庁 - To provide a synchronous semiconductor integrated circuit device for more rapidly testing than an external clock signal generated from a tester in a testing mode.
テスト動作モードにおいてテスタ装置の生成する外部クロック信号よりも高速なテスト動作が可能な同期型半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND PROGRAM FOR TESTING RADIO COMMUNICATION QUALITY OF INFORMATION PROCESSOR
情報処理装置の無線通信品質を試験する方法およびプログラム - 特許庁 - To provide a tablet disintegration testing apparatus and a disintegration testing method for simply and reproducibly evaluating the disintegration characteristic of a tablet (orally-disintegrating tablet).
簡便にかつ再現性よく錠剤（口腔内崩壊錠）の崩壊性を評価できる崩壊試験装置及び崩壊試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a slip evaluating/testing apparatus and a slip evaluating/testing method for accurately evaluating a slip phenomenon when a rolling element is a spherical body.
転動体が球体の場合における滑り現象を正確に評価することができる滑り評価試験装置及び滑り評価試験方法を提供する。 - 特許庁 - AUTOMATIC DISK CLAMPING METHOD FOR SPIN STAND FOR TESTING MAGNETIC HEAD AND DISK
磁気ヘッド及びディスク試験用スピンスタンドのための自動化ディスククランピング方法 - 特許庁 - CORROSION TESTING METHOD OF ANTI-CORROSION STEEL FOR HOLD OF COAL SHIP AND SHIP FOR COAL AND IRON ORE AND METHOD FOR PREDICTING USAGE LIFE OF SHIP USING THE CORROSION TESTING METHOD
石炭船および石炭・鉄鉱石兼用船ホールド用耐食鋼の腐食試験方法及びそれを用いた船舶の使用寿命を予測する方法 - 特許庁 - DATA OUTPUT COMPRESSION CIRCUIT FOR TESTING CELL IN BANK AND ITS METHOD
バンク内のセルをテストするためのデータ出力コンプレス回路及びその方法 - 特許庁 - This testing method is performed by using the defoaming performance measuring device 100.
本検査方法は、消泡性能測定装置１００を用いて行なう。 - 特許庁 - SERIAL COMMUNICATION APPARATUS, TEST DEVICE THEREOF AND METHOD FOR TESTING SERIAL COMMUNICATION APPARATUS
シリアル通信装置、その試験装置及びシリアル通信装置の試験方法 - 特許庁 - CANTILEVER SENSOR, MATERIAL DETECTING SYSTEM USING THE SAME, AND MATERIAL TESTING SYSTEM
カンチレバー型センサ、それを用いる物質検知システム及び物質検査方法 - 特許庁 - VERTICAL LOADING TESTING METHOD FOR GROUND FOR UTILIZING FOUNDATION OF EXISTING STRUCTURE
既存構造物の基礎を利用するための地盤の鉛直載荷試験方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time.
テスト時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a durability testing device and a durability testing method by which durability of a liquid crystal panel can be appropriately evaluated in a short period of time.
液晶パネルの耐久性を短時間で適正に評価することができる耐久性試験装置および耐久性試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a testing circuit and a testing method of a semiconductor integrated circuit for suppressing an increase in chip area and easily analyzing fail in a semiconductor memory.
チップ面積増加を抑制し、且つ半導体記憶装置の不良解析が容易な半導体集積回路の試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁 - A semiconductor testing device for testing a semiconductor device 20 having a bump 21 is formed of a contact 11 and a wiring board 15A fitted to each other freely to be removed from each other.
バンプ21を有する半導体装置20に対して試験を行う半導体試験装置を着脱可能とされたコンタクタ11と配線基板15A とにより構成する。 - 特許庁 - To provide a lift-off testing method of an anchor, capable of re-tensioning various anchors, and improving efficiency and safety of testing work.
多様なアンカーに対して再緊張が可能であり、かつ試験作業の効率と安全性を向上させたアンカーのリフトオフ試験方法を提供する。 - 特許庁 - VARIABLE DELAY DEVICE, SIGNAL DELAYING METHOD AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
可変遅延装置、信号遅延方法、および半導体装置の試験方法 - 特許庁 - The circuit testing device 100 also has a function for executing an operation test of the object circuit 102 by the generated circuit testing mechanism 110.
また、回路試験装置１００は、生成した回路試験機構１１０によって、対象回路１０２の動作試験を実行する機能も備えている。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit which shortens testing time.
テスト時間を短くすることが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR
半導体試験装置、半導体試験方法、及び半導体の製造方法 - 特許庁 - When the second testing device is connected to the system, this method includes the step of making the second testing device operational together with the above interface.
第２の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第２の試験装置が前記インタフェースと共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁 - To provide a material testing machine for preventing misoperation.
誤操作等による誤動作を防止することができる材料試験機の提供。 - 特許庁 - To provide a testing device and its testing method for a semiconductor element, suppressing progression of breakdown of the semiconductor element by over current.
本発明は、過電流による半導体素子の破壊の進行を抑えることができる、半導体素子の試験装置及びその試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD FOR INPUT CHARACTERISTICS USING THE SAME
半導体集積回路及びそれに用いる入力特性試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE
半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置 - 特許庁 - A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.
半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁 - To carry out testing with the same signal as an actual broadcasting environment in testing of the interference suppression ratio of adjacent channels for domestic ground digital broadcasting.
国内地上デジタル放送の隣接チャンネルの妨害抑圧比の試験において、実際の放送環境と同様の信号により試験を行なう。 - 特許庁 - POWER SOURCE UNIT AND DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
電源ユニット、半導体デバイス試験装置、及び半導体デバイス試験方法 - 特許庁 - ELECTRICAL CONNECTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の電気的接続装置及び半導体装置用試験装置 - 特許庁 - JIG AND TOOL FOR TESTING SEMICONDUCTOR, SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM, AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD
半導体試験治工具、半導体試験システム、及び半導体試験方法 - 特許庁 - A method of testing resuspension characteristics of a chemical dispersant includes the step of providing a testing apparatus having a solution containment vessel, a drive system, and a shaft.
化学分散剤の再縣濁特性を試験する方法は、溶液収容容器、駆動システム及びシャフトを有した試験装置を提供するステップを含む。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING METHOD AND EQUIPMENT THEREOF, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD USING THE SEMICONDUCTOR CRYSTAL DEFECT TESTING EQUIPMENT
半導体結晶欠陥検査方法、半導体結晶欠陥検査装置、及びその半導体結晶欠陥検査装置を用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of more precisely performing a calibration, a calibration board therefor, and a calibration method of semiconductor testing device.
校正をより精度よく行うことが可能な半導体試験装置、その校正用ボード、および半導体試験装置の校正方法を提供すること。 - 特許庁
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