「Testing」を含む例文一覧(14414)
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係止部８が手摺強度試験機１の転倒及び滑動を阻止する。 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING DEVELOPER CHARACTERISTIC, LIQUID DEVELOPER AND WET PROCESS IMAGE FORMING METHOD
現像剤特性試験方法、液体現像剤、及び、湿式画像形成方法 - 特許庁 - The testing machine is sunk from above the sea by using a cable and is placed on the sea bottom.
試験機はケーブル等により海上から沈められ、海底に着底させる。 - 特許庁 - This road noise test road 1 is used for testing the road noise of a vehicle 10.
車両１０のロードノイズの試験に使用されるロードノイズ試験路１である。 - 特許庁 - RATE-MATCH CALCULATING METHOD, RATE-MATCH CALCULATING APPARATUS, AND MOBILE TERMINAL TESTING APPARATUS
レートマッチ演算方法、レートマッチ演算装置および移動体端末試験装置 - 特許庁 - COVER FOR PREPARATION WORK IN SPACE ENVIRONMENT TESTING DEVICE, AND ITS INSTALLING METHOD
宇宙環境試験装置における準備作業用カバー及びその設置方法 - 特許庁 - METHOD FOR REDUCING FLAW WHEN TESTING SMD TYPE PASSIVE ELEMENT AND TEST SYSTEM
ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法及び試験システム - 特許庁 - COMPONENT RECOGNITION DEVICE, COMPONENT RECOGNITION METHOD, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE
部品認識装置、部品認識方法、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁 - POWDER FLOW CHARACTERISTIC ESTIMATING METHOD, AND POWDER FLOW CHARACTERISTIC TESTING DEVICE
粉体流動特性の推定方法及び粉体流動特性試験装置 - 特許庁 - VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM
ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 - 特許庁 - OIL RESISTANCE TEST METHOD OF RESIN MATERIAL OR RUBBER COMPOSITION, AND TESTING DEVICE THEREFOR
樹脂材料またはゴム組成物の耐油性試験方法およびその試験装置 - 特許庁 - RAID TEST SYSTEM, RAID TEST PROGRAM AND RAID TESTING METHOD
ＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラム及びＲＡＩＤ試験方法 - 特許庁 - So, some local governments have begun testing special yellow plastic bags.
そこで，いくつかの地方自治体は特殊な黄色いビニール袋を試し始めている。 - 浜島書店 Catch a Wave - TESTING METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE EVALUATION FOR VEHICLE BY AUTOMATIC PRESSING OF OPERATION MEMBER
操作部材の自動押圧による車輌の性能評価試験方法及び装置 - 特許庁 - The testing apparatus to be disclosed is used with an existing sample collection apparatus.
開示される試験装置は既存のサンプル収集装置と共に使用される。 - 特許庁 - A power cycle testing device 1 comprises a resistor part DE and a power supply unit 10.
パワーサイクル試験装置１は、抵抗部ＤＥと電源部１０とを備える。 - 特許庁 - METHOD OF KEEPING PRECISION FOR TIRE TESTING MACHINE, AND METHOD OF MEASURING PRODUCT PERFORMANCE OF TIRE
タイヤ用試験機の精度維持方法及びタイヤの製品性能測定方法 - 特許庁 - A port 1 and a port 2 are connected to an external part by external wiring at testing time.
テスト時には、ポート１とポート２とが外部配線により外部接続される。 - 特許庁 - The method provided is for testing the integrity of a separation membrane using the colloidal dispersion liquid.
また、コロイド分散液を用いた分離膜の完全性試験方法である。 - 特許庁 - To provide a small universal testing device and a small hydraulic actuator.
小型の万能試験装置及び、小型の油圧アクチュエータを提供することである。 - 特許庁 - To reduce testing time by improving processing efficiency in replacing software.
ソフトウェアの入れ替えに係る処理を効率化することで試験時間を短縮する。 - 特許庁 - To reduce the time required in testing pneumatic tire air leakage resistance performance.
空気入りタイヤの耐空気漏れ性能の試験に要する時間を低減すること。 - 特許庁 - MOUNTED BOARD TESTING JIG AND TEST PIN INSERTION METHOD THEREFOR
実装基板試験用治具とこの実装基板試験用治具のテストピン挿入方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening the testing interval and being easily tested.
テスト時間を短縮でき、テスト容易な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - To facilitate γ-ray sensitivity testing of a proportional counter type neutron detector.
比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験を容易とする。 - 特許庁 - To provide a material testing machine for preventing a breakage failure of a cable and tube.
ケーブルやチューブの破断故障が防止された材料試験機を提供する。 - 特許庁 - SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR TESTING COMMUNICATION QUALITY
通信品質試験システム、通信品質試験方法及び通信品質試験プログラム - 特許庁 - Each reagent well contains a piston element for feeding reagent onto testing surface.
各試薬ウェルは、試薬を、試験表面に搬送するためのピストン要素を含む。 - 特許庁 - INSPECTION APPARATUS, TESTING METHOD, INSPECTION PROGRAM, AND COMPUTER READABLE MEDIUM
検査装置、検査方法、検査プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - TESTING METHOD FOR EVALUATING MATERIAL SEPARATION RESISTANCE OF HIGH LIQUIDITY CONCRETE
高流動コンクリートの材料分離抵抗性を評価するための試験方法 - 特許庁 - A simulator main body 1 simulates movement of a tester device for testing a semiconductor.
シミュレータ本体１は、半導体を試験するテスタ装置の動作をシミュレートする。 - 特許庁 - RING NETWORK SYSTEM, NODE DEVICE AND PROTECTION BAND TESTING METHOD FOR RING NETWORK SYSTEM
リングネットワークシステム、ノード装置及びリングネットワークシステムのプロテクション帯域試験方法 - 特許庁 - METHOD AND PRETREATMENT DEVICE FOR TESTING AND ANALYZING TRACE AMOUNT OF ELEMENT
微量元素試験分析方法及び微量元素試験分析前処理装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN A/D AND D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD
ＡＤ・ＤＡコンバ—タ内蔵半導体集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING FUNCTION OF TANK EXHAUST DEVICE AND TANK EXHAUST DEVICE FOR AUTOMOBILE
タンク排気装置における機能の試験方法及び自動車のタンク排気装置 - 特許庁 - RUBBER ABRASION TESTER, AND ABRASION TESTING METHOD OF RUBBER FOR TIRE TREAD USING IT
ゴム摩耗試験機、および、それを用いたタイヤトレッド用ゴムの摩耗試験方法 - 特許庁 - ELECTRONIC COMPONENT TRAY, ELECTRONIC COMPONENT TRAY CARRIER AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS
電子部品用トレイ、電子部品用トレイ搬送装置および電子部品試験装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING JITTER, RECORDING MEDIUM, COMMUNICATION SYSTEM, AND TESTING APPARATUS
ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、記録媒体、通信システム、および試験装置 - 特許庁 - SWEEP SYNCHRONIZATION TESTING DEVICE, AND METHOD OF SIMULATING OPTIMUM CONTROL SET VALUE THEREFOR
掃引同調試験装置及びその最適制御設定値シミュレーション方法。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit having short test time for self testing of function.
自己機能テストのテスト時間が短い半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR ACCELERATING DEPOLARIZATION OF POLARIZED BATTERY TO FACILITATE BATTERY TESTING
分極したバッテリーの減極を加速させてバッテリー試験を容易にする方法 - 特許庁 - DISK DRIVING DEVICE AND METHOD FOR TESTING FALL SENSOR IN DISK DRIVING DEVICE
ディスク・ドライブ装置及びディスク・ドライブ装置において落下センサをテストする方法 - 特許庁 - Example methods, apparatus and articles for testing batch configurations are disclosed.
バッチ構成を試験するための例示的方法、装置、および物品を開示する。 - 特許庁 - TRAY FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE
電子部品基板用トレイ、電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁 - BIOCHEMICAL TREATMENT APPARATUS, AND METHOD AND APPARATUS FOR TESTING BIOCHEMICAL REACTION CARTRIDGE
生化学反応カートリッジの検査方法および検査装置と生化学処理装置 - 特許庁 - INTEGRATED CIRCUIT WITH TEST MODE AND TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT
テストモードを備えた集積回路および集積回路のテストのためのテスト装置 - 特許庁 - To shorten testing time in a product test of a semiconductor storage device.
半導体記憶装置の製品テストにおけるテスティング時間の短縮化を図る。 - 特許庁 - METHOD FOR GENERATING TEST STREAM TO SUPPORT VARIOUS STANDARDS AND TESTING LEVELS AND APPARATUS
様々な標準やテストレベルを支援するテストストリームの作成方法及び装置 - 特許庁 - To provide a method for reducing the time required for testing a semiconductor chip.
半導体チップのテスト所要時間を短縮する方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a pulse testing system or the like capable of miniaturizing a measuring instrument.
測定器の小型化を図ることができるパルス試験システム等を提供する。 - 特許庁
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